具体实施方式

下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。

在本发明的描述中，如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。

本发明的描述中，除非另有明确的限定，设置、连接等词语应做广义理解，所属技术领域技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本发明中的具体含义。

本发明的描述中，参考术语“一实施例”、“一些实施例”、“另一实施例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

在浮法玻璃生产中，玻璃板依托在锡液面上成型，锡液面的深度直接影响了玻璃板的质量。因此，需要对锡液面进行精准测量和控制，从而保障浮法玻璃成型工艺的稳定性。但是，目前锡液面的测量主要为人工测量，人工测量锡液面的方法需要打开锡槽边封，易造成锡液污染，操作费时费力，且液面测量数据误差较大。

基于此，本发明实施例提出一种液面测量方法及其装置，利用第一液面测量装置实时获取液面测量高度得到第一测量值，利用第二液面测量装置对第一测量值进行复核，通过第一液面测量装置与第二液面测量装置相互配合的方式确保了液面测量数据的准确性。

下面结合附图，对本发明实施例作进一步的阐述。

第一方面，本发明实施例公开了一种液面测量方法，参照图1，图1为本发明一实施例液面测量方法的流程图，该液面测量方法包括但不限于步骤S110、步骤S120、步骤S130、步骤S140、步骤S150和步骤S160。

步骤S110，接收测量指令；

步骤S120，根据测量指令获取第一液面测量装置的液面高度测量值，得到第一测量值；

步骤S130，根据第一测量值和预设的第一液面基准值确定第一测量误差值；

步骤S140，若第一测量误差值大于预设的误差阈值，获取第二液面测量装置的液面高度测量值，得到第二测量值；

步骤S150，根据第二测量值和预设的第二液面基准值确定第二测量误差值；

步骤S160，若第二测量误差值小于或等于误差阈值，确定第二测量值为液面测量数据，并输出液面测量数据。

需要说明的是，测量指令可由用户或计算机软件发出。

当接收到用户或计算机软件发出的测量指令后，响应于该指令获取来自于第一液面测量装置的第一测量值，若第一测量值误差大，达不到精度需求，即第一测量误差值大于预设的误差阈值，则获取来自于第二液面测量装置的第二测量值。若第二测量值满足精度需求，即第二测量误差值小于或等于误差阈值时，将第二测量值作为液面测量数据输出。当第一测量值达不到测量精度需求，第二液面测量装置对第一测量值进行复核来获取第二测量值，通过第一液面测量装置和第二液面测量装置的相互配合，保证了液面测量数据的准确性。

在一些实施例中，参照图2，图2为本发明另一实施例的液面测量方法的流程图，该测量方法包括但不限于步骤S210、步骤S220、步骤S230、步骤S240。

步骤S210，接收测量指令；

步骤S220，根据测量指令获取第一液面测量装置的液面高度测量值，得到第一测量值；

步骤S230，根据第一测量值和预设的第一液面基准值确定第一测量误差值；

步骤S240，若第一测量误差值小于或等于误差阈值，确定第一测量值为液面测量数据，并输出液面测量数据。

当接收到用户或计算机软件发出的测量指令后，响应于该指令获取来自于第一液面测量装置的第一测量值，若第一测量值满足精度需求，即第一测量误差值小于或等于误差阈值，则输出第一测量值为液面测量数据。当第一测量值满足精度要求，将第一测量值作为液面测量数据输出，通过对第一液面测量装置得到的第一测量值进行精度检验，能够保证液面测量数据的准确性。同时，当第一测量值满足精度需求，第二液面测量装置进行第二测量值的测量，能够节省时间，提高液面测量效率。

在一些实施例中，参照图3，图3是本发明一实施例图1中步骤S130的细化流程图，步骤S130包括但不限于步骤S310。

步骤S310，根据第一测量值和第一平均值确定第一测量误差值。

需要说明的是，选取第一平均值作为第一液面基准值。第一平均值为第一液面测量装置测量多次的第一测量值的平均值。第一测量误差值为第一测量值和平均值计算得到的标准差。多次测量不仅可以获得精度较高的测量值，还可以实时监控液面测量数据。

例如，若第一液面测量装置测量n次的第一测量值分别为X₁，X₂，X₃，…，Xn，则可以通过这n个第一测量值得到第一平均值X，即根据n次测量的第一测量值X1，X₂，X₃，…，Xn和第一平均值X计算得到当前第n次测量的标准差Pn，即该标准差Pn为第一测量误差值。通过多次测量液面数据，可以实时监控液面数据的变化。

在一些实施例中，参照图4，图4是本发明一实施例图1中步骤S150的细化流程图，步骤S150包括但不限于步骤S410。

步骤S410，根据第二测量值和第二平均值确定第二测量误差值。

需要说明的是，选取第二平均值作为第二液面基准值。第二平均值为第二液面测量装置测量多次的第二测量值的平均值。第二测量误差值为第一测量值和平均值计算得到的标准差。多次测量不仅可以获得精度较高的测量值，还可以实时监控液面测量数据。

例如，若第二液面测量装置测量m次的第二测量值分别为Y₁，Y₂，Y₃，…，Ym，则可以通过这m个第二测量值得到第二平均值Y，即根据m次测量的第二测量值Y₁，Y₂，Y₃，…，Ym和第二平均值Y计算得到当前第m次测量的标准差Pm，即该标准差Pm为第二测量误差值。通过多次测量液面数据，可以实时监控液面数据的变化。

在一些实施例中，参照图5，图5是本发明另一实施例的液面测量方法，该测量方法包括但不限于步骤S510、步骤S520和步骤S530。

步骤S510，若第二测量误差值大于误差阈值，重新获取第一液面测量装置测量的第一测量值，得到重测值；

步骤S520，根据重测值和第一液面基准值确定重测误差值；

步骤S530，若重测误差值小于或等于误差阈值，则重测值为液面测量数据，并输出液面测量数据。

需要说明的是，重测误差值与第一测量误差值、第二测量误差值的计算方式相同，在此不做赘述。

当获取来自第二液面测量装置的第二测量值对来自第一液面测量装置的第一测量值进行复核，但是对第二测量值检验后，发现第二测量值并不能满足精度需求，即第二测量误差值大于误差阈值，则需要重新获取第一测量值得到重测值。根据重测值和第一液面基准值确定重测误差值，若重测误差值小于或等于误差阈值，说明重测值达到精度需求，则输出重测值为液面测量数据。第二液面测量装置可以对第一测量装置进行复核，同样地，第一液面测量装置也可以对第二测量装置进行复核，第一测量装置和第二测量装置之间构成闭合的反馈网络，通过第一测量装置和第二测量装置相互配合，实现了液面测量数据的准确测量。

进行液面高度测量时，接收用户或计算机软件发出的测量指令，响应于该指令获取来自于第一液面测量装置的第一测量值，根据第一测量值和预设的第一液面基准值确定第一测量误差值，并判断第一测量误差值是否大于预设的误差阈值。若第一测量误差值小于或等于误差阈值，则输出第一测量值作为液面测量数据。若第一测量误差值大于误差阈值，则获取第二液面测量装置的第二测量值，根据第二测量值和预设的第二液面基准值确定第二测量误差值，判断第二测量误差值是否大于预设的误差阈值。若第二测量误差值小于或等于误差阈值，则输出第二测量值作为液面测量数据。若第二测量误差值大于误差阈值，则重新获取第一液面测量装置测量的第一测量值，得到重测值，根据重测值和第一液面基准值确定重测误差值并判断重测误差值是否大于误差阈值。若重测误差值小于或等于误差阈值，则输出重测值为液面测量数据。若重测误差值大于误差阈值，则获取第二液面测量装置的第二测量值，并判断第二测量值是否符合要求。通过第一液面测量装置和第二液面测量装置相互配合，提高了测量数据的准确性。

值得理解的是，上述对于测量方法的描述仅是示例性说明，而不是对发明的具体限制。

第二方面，本发明实施例还公开了一种液面测量系统。

在一些实施例中，参照图6，液面测量系统610包括：

第一液面测量装置620，用于获取待测液面高度测量值，得到第一测量值；

第二液面测量装置630，用于获取待测液面高度测量值，得到第二测量值；

控制处理装置640，控制第一液面测量装置620和第二液面测量装置630相互配合进行液面高度测量，控制处理装置640执行如第一方面的测量方法。

在一些实施例中，待测液面为锡液面，将液面测量系统610应用于浮法玻璃生产领域以进行锡液面高度测量。利用第一液面检测装置620实时获取待测锡液液面的高度测量值，得到第一测量值，利用第二液面测量装置630实时获取同一待测锡液液面的高度测量值，控制处理装置640根据第一测量值和第二测量值控制第一液面测量装置620和第二液面测量装置630相互配合，输出最终的待测锡液液面高度。上述液面测量系统610能够实现自动实时测量，操作简单易行，在节省时间的同时，保证了待测液面测量数据的准确性，相比于人工测量，测量的准确率和效率均有提高，从而保证浮法玻璃生产工艺的稳定性。

在一些实施例中，参照图7，液面测量系统610还包括容纳区710，容纳区710用于容纳待测液体，第一液面测量装置620包括：

U型管720，与容纳区710连通，U型管720上设有刻度，该刻度用于指示容纳区710内待测液体的液面高度；

取压连通管730，一端与容纳区710连通，另一端与U型管720连通，用于调节U型管720两侧待测液体的压力相同；

恒温加热装置740，设置于U型管720和取压连通管730上，用于控制U型管720两侧待测液体的温度相同。

需要说明的是，第一液面测量装置620适用于所有液体的液面高度检测。第一液面测量装置620采用连通器原理进行液面高度测量，当利用第一液面测量装置620测量待测锡液面高度时，由于锡液温度高达600摄氏度至650摄氏度，所以容纳区710和U型管720的材质要选择耐高温材料以容纳高温锡液。其中，容纳区710和U型管720为透明材质，便于观察容纳区710与U型管720液面高度齐平，从而进行液面测量。例如，容纳区710与U型管720的材料可以为石英玻璃。

在第一液面测量装置620上设置取压连通管730和恒温加热器740，使U型管720两侧的液体压力相同、温度相同，从而保证U型管720内的液体静止，避免因U型管720内的液体流动造成液面测量数据不准确。U型管720上设有刻度，可用于液面测量数据的读取。恒温加热器740的加热温度可通过程序或人工调节。

在一些实施例中，参照图8，液面测量系统610还包括容纳区710，容纳区710用于容纳待测液体，第二液面测量装置630包括：

升降组件810，设置于容纳区710旁，升降组件810上设有刻度，该刻度用于指示容纳区710内待测液体的液面高度；

测量组件820，测量组件820设置于升降组件810上，该测量组件820包括：

测量电路821，测量电路821设置有指示灯822；

第一导电探针823和第二导电探针824，分别与测量电路821电连接，第一导电探针823设于容纳区710的待测液体内，第二导电探针824用于接触该待测液体；

其中，测量组件820沿升降组件810上下移动以使第二导电探针824接触到待测液面，当导电探针824接触到待测液面时，测量电路821与第一导电探针823、第二导电探针824之间构成闭合回路，指示灯822亮。

需要说明的是，第二液面测量装置630利用待测液体的导电性能进行液面高度测量。当待测液面为锡液面，利用第二液面测量装置630进行锡液液面高度测量时，升降组件810调节测量组件820上下移动，从而使第二导电探针824上下移动，当该第二导电探针824接触到锡液时，由于锡液的导电性能，测量电路821与第一导电探针823、第二导电探针824之间构成闭合回路，指示灯822亮。指示灯822亮说明第二导电探针824接触到待测锡液液面，可以进行液面数据测量，否则升降组件810继续调节测量组件820，直至第二导电探针824接触到待测锡液液面。其中，升降组件810上设有刻度，可以用于待测锡液液面测量数据的读取。

液面测量系统610执行本发明第一方面实施例的测量方法，使第一液面测量装置620和第二液面测量装置630相互配合，提高了测量数据的准确性。

以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。

本领域普通技术人员可以理解，上文中所公开方法中的全部或某些步骤、系统可以被实施为软件、固件、硬件及其适当的组合。某些物理组件或所有物理组件可以被实施为由处理器，如中央处理器、数字信号处理器或微处理器执行的软件，或者被实施为硬件，或者被实施为集成电路，如专用集成电路。这样的软件可以分布在计算机可读介质上，计算机可读介质可以包括计算机存储介质(或非暂时性介质)和通信介质(或暂时性介质)。如本领域普通技术人员公知的，术语计算机存储介质包括在用于存储信息(诸如计算机可读指令、数据结构、程序模块或其他数据)的任何方法或技术中实施的易失性和非易失性、可移除和不可移除介质。计算机存储介质包括但不限于RAM、ROM、EEPROM、闪存或其他存储器技术、CD-ROM、数字多功能盘(DVD)或其他光盘存储、磁盒、磁带、磁盘存储或其他磁存储装置、或者可以用于存储期望的信息并且可以被计算机访问的任何其他的介质。此外，本领域普通技术人员公知的是，通信介质通常包含计算机可读指令、数据结构、程序模块或者诸如载波或其他传输机制之类的调制数据信号中的其他数据，并且可包括任何信息递送介质。

上面结合附图对本发明实施例作了详细说明，但是本发明不限于上述实施例，在所属技术领域普通技术人员所具备的知识范围内，还可以在不脱离本发明宗旨的前提下作出各种变化。此外，在不冲突的情况下，本发明的实施例及实施例中的特征可以相互组合。