短焦距非接触自动测试跳线
阅读说明：本技术 短焦距非接触自动测试跳线 (Short-focus non-contact automatic test jumper ) 是由 邹支农 朱松根 于 2021-01-07 设计创作，主要内容包括：本发明提供一种短焦距非接触自动测试跳线,包括测试跳线产品、测试跳线套管,测试跳线套管设于测试跳线产品内、非接触跳线短焦距测试装置,所述非接触跳线短焦距测试装置包括定位插芯、短焦准直透镜单元；光纤透镜采用胶固的方式在定位插芯内固定.实际使用时,将测试线尾柄插芯插入测试器件,带尾柄测试跳线在前盖端定位焦距,激光透过光纤透镜聚焦,焦点落在光纤纤芯内,最终实现非接触测试作业。(The invention provides a short-focus non-contact automatic test jumper, which comprises a test jumper product and a test jumper sleeve, wherein the test jumper sleeve is arranged in the test jumper product; during actual use, the test wire tail handle insertion core is inserted into a test device, the test jumper with the tail handle is used for positioning the focal length at the front cover end, laser penetrates through the optical fiber lens to be focused, the focal point falls in the optical fiber core, and finally non-contact test operation is achieved.)
技术领域：
本发明涉及通信技术领域，主要是涉及一种光纤跳线的测试，特别是一种短焦距非接触自动测试跳线。
背景技术：
光纤通信技术已广泛应用于各个领域，随着传输速率和距离的提高，光纤通质量和光纤端面质量的要求也越来越高。现有光纤对接与原有电缆对接有很大不同，电缆只要接触良好即可，而光纤端面对接需要在上下、左右、前后、倾角等方面做严格的控制，才能达到很好的插损要求。由于光纤真正用于通光的部分尺寸较小，基本在微米量级，不方便对接操作，实际使用中常需要在光纤外加装配对接装置。 或者是采用接触式对接方式进行光纤测试跳线的对接。
传统的测试跳线在现实测试作业过程中，为保证测试损耗尽量小且可控,均采用接触测试的方法，但接触测试带来的现实管控风险非常高，受脏污等外界因素影响,往往容易因对接导致测试插芯端面损伤或测试产品端面损伤和脏污，如果采用其他的专用的测试设备，不仅设备价格高，且操作困难，难以保证产品质量和生产周期，并且也会大幅度增加加工成本，而且质量得不到保证。
中国专利公告号为CN1106327019A《一种非接触式无损光纤跳线及制作方法》，具体公开了一种非接触式无损光纤跳线及制作方法，包括陶瓷插芯、适配器金属外壳、陶瓷套筒、适配器段插芯、 光纤，所述陶瓷插芯和适配器段插芯的内部预埋 光纤，陶瓷插芯和适配器段插芯的一端对接，所述陶瓷插芯和适配器段插芯对接处的外部套设有陶瓷套筒，所述陶瓷套筒置于适配器金属外壳内，其特征在于：所述陶瓷插芯的端面沿光纤的外围设置有环形凹槽。本发明的优点是实现了跳 线与跳线，跳线与适配器中光纤端面之间的非接触式对准，避免了光纤端面的对接损伤。从上述所公开的技术方案可以看出，其是不能实现光线的自动聚焦对接，其是对现有的跳线对接设备的改进，且装置结构复杂，制备成本高。
还有如专利公告号为CN111089706A《多通道光学测试仪》，其具体公开的多通道光学测试仪用于测试位于多根待测试跳线两端的光纤连接器的光纤连接质量，并且包括光源、光学开关和一个插入损耗探测器。光源用于向待测试跳线发射测试光束。光学开关通过自动 切换能够将光源光学连接到所述多根待测试跳线中的每一根。所述一个插入损耗探测器能够光 学连接到所述多根待测试跳线中的每一根，用于 测试光纤连接器的插入损耗。所述一个插入损耗 探测器通过光纤束连接到所述多根待测试跳线， 所述光纤束由多根光纤构成，并且所述多根光纤 在第一端束缚在一起，并且在第二端分散成单独 的光纤线。
从上述所公开的光纤跳线的技术方案可以看出，现有的技术要么就是增加一个跳线对接的测试设备，要么就是对现有的跳线进行改进，但是其均不能提供对跳线的测试既可防止对插芯端面损伤或测试产品端面损伤.，同时又能防止对对跳线的接触面污损。
因此，如何来提供一种非接触短焦距的可自动测试的跳线，在光纤跳线对接过程中，采用非接触测试跳线的方法，从而防止对因对接导致测试插芯端面损伤或测试产品端面损伤与污损的现实问题。且测试跳线测试方法简单，实用性强，成本低。
发明内容
：本发明的目的就是要提供一种短焦距非接触自动测试跳线，包括测试跳线产品、测试跳线套管，测试跳线套管设于测试跳线产品内、非接触跳线短焦距测试装置，所述非接触跳线短焦距测试装置包括定位插芯、短焦准直透镜单元；光纤透镜采用胶固的方式在定位插芯内固定.实际使用时，将测试线尾柄插芯插入测试器件，带尾柄测试跳线在前盖端定位焦距，激光透过光纤透镜聚焦,焦点落在光纤纤芯内，最终实现非接触测试作业。
本发明公开的一种短焦距非接触自动测试跳线，包括测试跳线产品、测试跳线套管，测试跳线套管设于测试跳线产品内、非接触跳线短焦距测试装置，其所述非接触跳线短焦距测试装置包括短焦非接触跳线器，所述短焦非接触式跳线器包括定位插芯、短焦准直透镜单元，所述短焦准直透镜单元包括短焦距聚焦透镜、带尾柄测试跳线、限位套管和准直透镜固定防护部；所述短焦距聚焦透镜设于定位插芯与测试跳线产品相对应一端上，定位插芯另一端相对应的连接于限位套管的一端，限位套管另一端固定连接于带尾柄测试跳线的一端，所述准直透镜固定防护部设于限位套管内腔。
所述的一种短焦距非接触自动测试跳线，其所述准直透镜固定防护部包括准直透镜、固定尾胶、光纤细管、防护套管；所述准直透镜和光纤细管相连接通并设于防护套管内腔，所述光纤细管与准直透镜相连接的另一端通过固定尾胶固定封装并与带尾柄测试跳线的一端相连接通，准直透镜与光纤细管相连接的另一端则与定位插芯的一端相对应连接通，防护套管则设于限位套管内。
优选的，是所述短焦距聚焦透镜2与定位插芯1相连接触面为成内锥度α角，控制内锥度α角为45-55度。
进一步的，是所述短焦距聚焦透镜与定位插芯相连接触面成内圆弧面连接。
优选的，所述测试跳线产品与限位套管的限位接触端面之间相接触端设防测试插芯和产品插芯相接触的防接触卡件。
所述的一种短焦距非接触自动测试跳线，控制所述定位插芯1的外径D为：1.2490±0.0001mm，且端面倒角处理，控制其内孔d>0.35mm。
所述定位插芯1的一端过盈配合的套设于限位套管一端并与准直透镜相对应连通。
所述的一种短焦距非接触自动测试跳线，其所述防护套管为透明玻璃管或透明塑料管。
本发明所述的内锥度α角是指定位插芯中心线与短焦距聚焦透镜与定位插芯1相接触的圆锥面的切线所形成的夹角。
本发明的短焦距聚焦透镜2与定位插芯1采用上述结构连接，从而确保从带尾柄测试跳线3发射过来的光纤光线，形成直光聚焦，使光斑焦点落于指定位置，从而保证了短焦距透镜测试的一致性。也能确保每次插拨测试时，使跳线与测试跳线产品精准对位并保证对位精度小于0.5um，IL测试误差小于0.3dB。
本发明公开的一种非接触自动测试跳线，采用上述结构其具有以下优点：一是本发明的一种非接触自动测试跳线，实现跳线与跳线的端面之间的非接触自动的对准对接，避免了接触时的损伤； 二是本发明提供的一种非接触短焦距测试跳线，其光纤透镜定位插芯或是陶瓷插芯,采用研磨工艺制作光纤短焦距聚焦透镜2、准直透镜5，通过控制短焦距聚焦透镜2与定位插芯1相接触面间的内锥度α角或是内圆弧面15，从而保证短焦距聚焦透镜2射出的光聚焦，使光斑焦点落于指定位置，从而确保重复测试的一致性，且保证了测试的良率及效果；
本发明的短焦距非接触自动测试跳线通过光纤的3D管控测试，实现了光纤的焦距光斑可控，准直透镜5、防护套管14均采用胶固的方式固定于限位套管402内，光线细管13测套装于防护套管14内，同时防护套管14采用透明玻璃管或透明塑料管，这样即能确保光线细管13等精密器件的定位固定安装操作，进而保证了跳线的产品质量；在实际使用时，将测试线尾柄插芯插入测试器件,尾柄在前盖端定位焦距,激光透过光纤透镜聚焦,焦点落在光纤插芯内,最终实现非接触测试作业；三是本发明可有效的解决传统对接测试过程中出现的测试损伤问题，由于在限位金属管体4的前端面（图中为左端面）与测试产品之间插入防接触卡件11，使测试跳线产品的插芯与定位插芯之间留有间隙S，测试作业时，激光从带尾柄的测试跳线3射出，通过准直透镜5变成平行光线10，射入聚焦透镜2，通过限位金属管体4在限位接触面的焦距定位，透过聚焦透镜的光，汇聚成的光斑落在测试跳线产品6的光纤纤芯，从而实现非接触测试。
且结构简单，对作业过程中的良率有明显改善,有效降低了产品的制作成本。
附图说明：
图1所示，为本发明的短焦距非接触自动测试跳线结构剖面示意图，
图2所示，为本发明短焦距非接触自动测试跳线测试跳线工作显示示意图，
图3所示，为本发明短焦距非接触自动测试跳线测试跳线短焦距聚焦透镜与定位插芯1结合为内锥度α角时的结构示意图，
图4所示，为图1中沿I部放大示意图；
图中，1、定位插芯，2、短焦距聚焦透镜，3、带尾柄测试跳线，402、限位套管，5、准直透镜，6、测试跳线产品，7、光束，8、限位接触面，9、固定尾胶， 10、平行光线，11、防接触卡件，12、短焦非接触跳线器，13、光线细管，14、防护套管，15、内圆弧面。
具体实施方式
：
下面根据具体实施例及附图对发明作进一步的详细说明。
如图1-4所示，本发明公开的一种短焦距非接触测试跳线的技术方案是：包括测试跳线产品6、测试跳线套管601，测试跳线套管601设于测试跳线产品6内、非接触跳线短焦距测试装置，其所述非接触跳线短焦距测试装置包括短焦非接触跳线器12，所述短焦非接触式跳线器12包括定位插芯1、短焦准直透镜单元，所述短焦准直透镜单元包括短焦距聚焦透镜2、带尾柄测试跳线3、限位套管402和准直透镜固定防护部；所述短焦距聚焦透镜2设于定位插芯1与测试跳线产品6相对应一端上，定位插芯1另一端相对应的连接于限位套管402的一端，限位套管402另一端固定连接于带尾柄测试跳线3的一端，所述准直透镜固定防护部设于定位插芯1一端与带尾柄测试跳线3相对应端的限位套管402内腔。
所述的准直透镜固定防护部包括准直透镜5、固定尾胶9、光纤细管13、防护套管14；所述准直透镜5和光纤细管13相连接通并设于防护套管14内腔，所述光纤细管13与准直透镜5相连接的另一端通过固定尾胶9固定封装并与带尾柄测试跳线3的一端相连接通，准直透镜5与光纤细管13相连接的另一端则与定位插芯1的一端相对应连接通，防护套管14则设于限位套管402内。
进一步的是，所述短焦距聚焦透镜2与定位插芯1相连接触面为成内锥度α角，控制内锥度α角为45-55度；或成内圆弧面15连接。进一步优选的是控制内锥度α角为45度为最佳。
所述测试跳线产品6与限位套管402的限位接触端面8之间相接触端设防测试插芯和产品插芯相接触的防接触卡件11。 从而保证了测试跳线套管601的端面与限位套管402之间留有间隙S，防止测试作业时两端面的接触，造成对测试跳线的损伤。
控制所述定位插芯1的外径D为：1.2490±0.0001mm，且端面倒角处理，控制其内孔d>0.35mm。
所述定位插芯1的一端过盈配合的套设于限位套管402一端并与准直透镜5相对应连通。
所述限位套管402与定位插芯1相连接触的一端面为定位基准面端或叫限位接触面8即Receptacle的前盖端面，保证每次跳线与测试跳线产品对接时定位基准面与测试产品的Receptacle的端面贴平，使聚焦光束7落于测试产品插芯的相对固定位置，提高测试精度。
所述准直透镜5与短焦距聚焦透镜2采用胶固的封装结构分别固定封装于定位插芯1和限位套管402内。
本发明所述的一种短焦距非接触测试跳线，控制所述定位插芯1的外径D为：1.2490±0.0001mm，且端面倒角处理，控制其内孔d>0.35mm。本发明使用的定位插芯1可以使用陶瓷插芯。
本发明的短焦距非接触测试跳线，测试工作方式是将非接触式测试跳线12，与测试跳线产品6相套接，将定位插芯1插入测试跳线产品套管601孔内，并于限位金属管体或叫限位套管4的前端面，如图1、2中为左端面与测试跳线产品6相对应的端面之间插入防接触卡件11，使测试跳线产品6的插芯与定位插芯1的相对应的端面即限位接触面8之间留有间隙S。测试作业时，激光从带尾柄测试跳线3射出，通过准直透镜5变成平行光线10，射入短焦距聚焦透镜2，通过限位套管402在限位接触面8的焦距定位，透过聚焦透镜2射出的光束7的光焦点落于相应的指定位置，汇聚成的光斑落在测试跳线产品6的光纤纤芯，从而实现非接触测试激光光源在带尾柄测试跳线3传输并从带尾柄测试跳线3射出激光光线，进而确保重复测试的一致性，通过限位金属套管件4的定位基准面端11即器件前盖端面的焦距定位，透过聚焦透镜2的光束10，汇聚成的光斑落在器件光纤纤芯；从而实现非接触测试。每次插拨测试跳线时使跳线与测试跳线产品6的精准对位，从而达到了控制测试精度小于0.5um，IL测试误差小于0.3dB。
上述说明仅是本发明技术方案的概述，而可依照说明书的内容予以实施，仅为本发明的较佳实施例，并非对本发明做任何形式上的限制。任何熟悉本领域的技术人员，在不脱离本发明技术方案范围情况下，都可利用上述所述技术内容对本发明技术方案做出许多可能的变动和修饰，或修改为等同变化的等效实施例。因此，凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术对以上实施例所做的任何改动修改、等同变化及修饰，均属于本技术方案的保护范围。本发明与现有技术相比,可有效的解决传统对接测试过程中出现的测试损伤问题,且结构简单,对作业过程中的良率有明显改善,有效降低了产品的制作成本。
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