阅读说明：本技术 一种新型点料贴标方法 (Novel material-counting and labeling method ) 是由 李慧 顾敏烨 冯红影 于 2020-04-07 设计创作，主要内容包括：本发明提供一种新型点料贴标方法,其步骤包括：S1：将资材用X射线透视,透视后型成图片,S2：利用X射线形成的关于资材厚度堆叠的图片进行演算推算出其剩余数量,S3：识别原来的标签信息,数量计算后将新的数量打印标签并覆盖黏贴在原标签上,此方法清点数量精率高,标签黏贴准确率高上,测试一盘料时间端,标签不混乱。(The invention provides a novel material-counting and labeling method, which comprises the following steps: s1: the material is made into a picture after X-ray perspective, S2: calculating the remaining quantity by using the pictures of the material thickness stack formed by the X-ray, S3: the original label information is identified, the new quantity of labels is printed and covered and pasted on the original labels after the quantity is calculated, the counting quantity precision rate is high, the label pasting accuracy rate is high, and the labels are not disordered when a material checking time end is tested.)

一种新型点料贴标方法

技术领域

本发明主要涉及资材统计领域，尤其涉及一种新型点料贴标方法。

背景技术

传统的胶卷资材在使用后剩余资材需要回收并统计。一般的统计方法为将清点好的资材使用贴标机贴标签。先进行人工清点，清点好的数量在进行手工填写资材情况如剩余数量、记录日期以及记录人，粘贴好此标记后，再用贴标机后重新打印新的标签，其标签可扫码。

此方法在产线返还资材手动清点数量其工作量较大，精准度低，工作效率低，浪费人力，且手动进行标签重新打印黏贴会出现混淆混乱情况。

发明内容

针对现有技术的上述缺陷，本发明提供一种新型点料贴标方，包括。

一种新型点料贴标方法，其步骤包括：

S1：将资材用X射线透视，透视后型成图片，

S2：利用X射线形成的关于资材厚度堆叠的图片进行演算推算出其剩余数量，

S3：识别原来的标签信息，数量计算后将新的数量打印标签并覆盖黏贴在原标签上。

本发明的有益效果：

此方法清点数量精率高，标签黏贴准确率高上，测试一盘料时间端，标签不混乱。

具体实施方式

为了使本技术领域人员更好地理解本发明的技术方案，并使本发明的上述特征、目的以及优点更加清晰易懂，下面结合实施例对本发明做进一步的说明。实施例仅用于说明本发明而不用于限制本发明的范围。

一种新型点料贴标方法，其步骤包括：

S1：将资材用X射线透视，透视后型成图片，

S2：利用X射线形成的关于资材厚度堆叠的图片进行演算推算出其剩余数量，

S3：识别原来的标签信息，数量计算后将新的数量打印标签并覆盖黏贴在原标签上。

演算之前，测试好胶卷的单层厚度。并在实际操作时先人工清点统计不同厚度的资材的数量，不同厚度的资材同时进行X射线透视成图。互相对比盐酸出算法，得出不同厚度与透视图的关系。

此方法目前数量精率高，标签黏贴准确率高上，测试一盘料时间端。

上述实施例仅例示性说明本专利申请的原理及其功效，而非用于限制本专利申请。任何熟悉此技术的人士皆可在不违背本专利申请的精神及范畴下，对上述实施例进行修饰或改变。因此，举凡所属技术领域中具有通常知识者在未脱离本专利申请所揭示的精神与技术思想下所完成的一切等效修饰或改变，仍应由本专利请的权利要求所涵盖。