具有阱搁板的测试卡

文档序号:1570437 发布日期:2020-01-24 浏览:28次 >En<

阅读说明:本技术 具有阱搁板的测试卡 (Test card with well shelf ) 是由 诺亚·门罗 雷蒙德·奥贝尔 布莱恩·利文斯顿 帕特里克·艾伦·耶比克 罗丝·米尔德 于 2017-12-22 设计创作,主要内容包括:本发明提供一种测试卡、制造测试卡的方法以及用于制造该测试卡的模具。测试卡可包括主体和阱。该主体可包括第一表面和与第一表面相对的第二表面。该阱可以限定从第一表面延伸到第二表面并且配置成在其中接收样品的开口。阱还可包括延伸到开口中的搁板,使得开口在搁板和第二表面之间比在搁板和第一表面之间更窄。(The invention provides a test card, a method for manufacturing the test card and a die for manufacturing the test card. The test card may include a body and a well. The body may include a first surface and a second surface opposite the first surface. The well may define an opening extending from the first surface to the second surface and configured to receive a sample therein. The trap may further comprise a shelf extending into the opening such that the opening is narrower between the shelf and the second surface than between the shelf and the first surface.)

具有阱搁板的测试卡

相关申请的交叉引用

本申请根据35 U.S.C.§119的规定要求于2016年12月23日提交的名称为“带阱搁板的测试卡”的美国临时申请62/438,531的优先权,其内容通过引用整体并入本文。

背景技术

样品测试卡用于快速准确地研究生物样品。通常,测试卡与光谱或其他自动分析机器结合使用。测试卡系统的一个例子是

Figure BDA0002168216930000011

微生物鉴定和抗菌药敏试验卡以及相应的

Figure BDA0002168216930000012

机器。

测试卡包含试剂并在一系列小阱中接收患者样品,所述小阱以行和列形成在卡中并通常在两侧使用胶带或其他密封膜密封。测试卡通过卡中形成的精细液压通道填充患者样品材料。

发明人发现了现有测试卡及其相应制造技术的若干改进方面。具体来说,发明人发现至少5%至20%的阱在填充期间包含气泡,这些气泡增加了测试机器的错误率并导致测试卡系统产生不准确的结果。这些气泡被发现尤其是由化学成分的疏水性质以及阱的尺寸和内部构造引起的,其中气泡由物理和化学属性的组合形成。在某些情况下,发明人发现现有的模制技术可能导致气泡的形成。例如,来自模具截面的分模线的特定方向可能会导致阱把空气困在由分模线形成的突出部分。

申请人已确定了与传统测试卡和其他相关系统相关的一些其他改进方面。通过应用的努力、独创性和创新,通过开发包含在本发明实施例中的解决方案已经解决了许多这些已确定的问题,其中许多示例在本文中详细描述。

发明内容

本文提供了测试卡及其相关的使用和制造方法,以及用于制造测试卡的相应模具。

在一个实施例中,提供了一种测试卡,其可包括主体,该主体包括第一表面和与第一表面相对的第二表面。测试卡可以包括限定开口的阱,该开口从第一表面延伸到第二表面并且配置成在其中接收样品。阱可以包括延伸到开口中的搁板,使得开口在搁板和第二表面之间比在搁板和第一表面之间更窄。

在一些实施例中,搁板和第一表面之间的第一距离可以大于搁板和第二表面之间的距离。搁板可以以0.035mm至0.05mm延伸到开口中。

在一些实施例中,阱可以限定围绕开口并在卡的第一表面和第二表面之间延伸的壁。壁的第一部分可以从搁板延伸到第一表面,并且壁的第二部分可以从搁板延伸到第二表面。搁板可以在第一部分和第二部分的接合处从壁突出。在一些实施例中,搁板可以限定基本上平行于第一表面或第二表面的搁板表面,并且搁板表面可以设置在壁的第一部分和壁的第二部分的接合处。例如,相对于阱的纵轴,搁板表面可以限定0.035mm至0.05mm的径向宽度。

在一些实施例中,开口在平行于第一或第二表面的平面内的横截面积在搁板和第一表面之间比在搁板和第二表面之间大。在一些实施例中,在所有轴向位置处,开口在平行于第一或第二表面的平面内的横截面积在所述搁板和第一表面之间比在所述搁板和第二表面之间大。

在一些实施例中,搁板可围绕阱内的开口周向延伸。

在另一示例实施例中,可以提供一种制造测试卡的方法。测试卡可以包括主体和阱,该主体包括第一表面和与第一表面相对的第二表面,该阱限定了从第一表面延伸到第二表面并且配置成在其中接收样品的开口。阱可以包括延伸到开口中的搁板,使得开口在搁板和第二表面之间比在搁板和第一表面之间窄。该方法可包括使第一模板与第二模板对齐。第一模板可包括具有第一形状的第一销,第一形状对应于所述阱的从所述搁板延伸到所述第一表面的部分。第二模板可包括具有第二形状的第二销,第二形状对应于所述阱的从所述搁板延伸到所述第二表面的部分。第一销可以比第二销窄。该方法还可以包括在第一模板和第二模板之间模制测试板。

在该方法的一些实施例中,可以在第一模板和第二模板的交叉处创建搁板。

在又一实施例中,提供了配置成形成测试卡的模具。测试卡可包含主体和阱,该主体包括第一表面和与第一表面相对的第二表面,该阱限定从第一表面延伸到第二表面并配置成在其中接收样品的开口。该阱可以包括延伸到所述开口中的搁板,使得开口在搁板和第二表面之间比在搁板和第一表面之间窄。该模具可以包括限定第一销的第一模板,该第一销具有第一形状,该第一形状对应于所述阱的从所述搁板延伸到所述第一表面的部分,以及限定第二销的第二模板,该第二销具有第二形状,该第二形状对应于所述阱的从所述搁板延伸到所述第二表面的部分。第一销可以比第二销窄

在模具的一些实施例中,第一销可以比第二销高。

在一些另外的实施例中,第一销的远端可以比第二销的远端窄0.07mm至0.1mm。

附图说明

已经概括地描述了本发明,现在将参考附图,附图不一定按比例绘制,并且其中:

图1示出了根据本文讨论的一些实施例的测试卡的主视图;

图2示出了根据本文讨论的一些实施例的具有搁板的测试卡阱的立体图;

图2A示出了图2的测试卡的立体照片;

图3示出了根据本文讨论的一些实施例的具有搁板的测试卡阱的另一立体图;

图3A示出了图3的测试卡的立体照片;

图4示出了根据本文讨论的一些实施例的阱中搁板的另一种配置的立体图;

图5示出了根据本文讨论的一些实施例的具有搁板的测试卡阱的横截面视图;

图6示出了根据本文讨论的一些实施例的用于测试卡的模板;

图6A示出了图6的模板的立体照片;

图7A-7E示出了根据本文讨论的一些实施例的阱的各种视图;和

图8是根据本文讨论的一些实施例,包括104个图2-3的测试卡阱的测试卡主视立体图;

图9是包括图2-3的测试卡阱的测试卡的后视立体图;

图10是包括图2-3的测试卡阱的测试卡的主视图;

图11是包括图2-3的测试卡阱的测试卡的后视图;

图12是包括图2-3的测试卡阱的测试卡的右侧主视图;

图13是包括图2-3的测试卡阱的测试卡的左侧主视图;

图14是包括图2-3的测试卡阱的测试卡的俯视图;

图15是包括图2-3的测试卡阱的测试卡的仰视图;

图16是包括图8中所示的图2-3的测试卡阱的测试卡的详细视图;

图17是包括图9中所示的图2-3的测试卡阱的测试卡的详细视图;

图18是沿着图16中的线18-18截取的一部分的横截面;

图19是沿着图16中的线19-19截取的一部分的横截面;

图20是沿着图16中的线20-20截取的一部分的横截面;

图21是沿着图16中的线21-21截取的一部分的横截面;

图22是根据本文讨论的一些实施例,包括图2-3的104个测试卡阱的测试卡的主视立体图;

图23是包括图2-3的测试卡阱的测试卡后视立体图;

图24是包括图2-3的测试卡阱的测试卡的主视图;

图25是包括图2-3的测试卡阱的测试卡的后视图;

图26是包括图2-3的测试卡阱的测试卡的右侧主视图;

图27是包括图2-3的测试卡阱的测试卡的左侧主视图;

图28是包括图2-3的测试卡阱的测试卡的俯视图;

图29是包括图2-3的测试卡阱的测试卡的仰视图;

图30是图22中所示的详细视图;

图31是图23中所示的详细视图;

图32是沿图30中的线32-32截取的横截面;

图33是沿图30中的线33-33截取的横截面;

图34是沿图30中的线34-34截取的横截面;

图35是沿图30中的线35-35截取的横截面;

图36是根据本文讨论的一些实施例,包括图2-3中的104个测试卡阱的测试卡的主视立体图;

图37是包括图2-3的测试卡阱的测试卡的后视立体图;

图38是包括图2-3的测试卡阱的测试卡的主视图;

图39是包括图2-3的测试卡阱的测试卡的后视图;

图40是包括图2-3的测试卡阱的测试卡的右侧主视图;

图41是包括图2-3的测试卡阱的测试卡的左侧主视图;

图42是包括图2-3的测试卡阱的测试卡的俯视图;

图43是包括图2-3f的测试卡阱的测试卡的底部平面图;

图44是图36中所示一部分的详细视图;

图45是图37中所示一部分的详细视图;

图46是沿图44中的线46-46截取的一部分的横截面;

图47是沿图44中的线47-47截取的一部分的横截面;

图48是沿图44中的线48-48截取的一部分的横截面;和

图49是沿图44中的线49-49截取的一部分的横截面。

具体实施方式

现在将在下文中参考附图更全面地描述本发明的一些实施例,附图中示出了本发明的一些但非全部实施例。实际上,本发明可以以多种形式实施,并且不应被解释为限于本文阐述的实施例;相反,提供这些实施例是为了使本公开满足适用的法律要求。相同的数字始终指代相同的元件。

通过将

Figure BDA0002168216930000061

卡放入真空室中来填充本文讨论的样品测试卡的阱。卡的两侧都用透明胶带覆盖,并且将一根小的吸管或导管附接到卡的侧面,然后通过含有液体样品的试管中的吸管将空气从卡中吸出抽成真空。然后,真空被释放,液体通过吸管被推入阱内,通过通向卡上每个阱的通道填充每个阱。然后可以允许样品中的微生物生长或进行反应,通常在长达几小时的时间内进行,尽管该时间随细菌或所分析的其它物质和所用样品的类型而变化。每个阱都含有干燥的化学物质,这些化学物质在填充和干燥过程中已经放入卡中。在美国专利编号5762873、5888455、5965090、6024921、6086824、6136270、6156565和7601300中进一步描述用于读取测试卡的示例性仪器和用于容纳卡的培养转盘,其内容均以引用的方式整体并入本文。例如,在美国专利编号5609828、5746980、5869005、5932177、5951952、USD414272;美国专利公开编号US2012/0141325A1和US2012/0088263A1中进一步描述示例测试卡,其内容均以引用方式整体并入本文中。

测试卡可用于容纳大量样品以用于测试和分析。专用机器可以在测试卡内全部自动化或部分自动化进行样品制备、培养和分析。当填充样品时,传统的测试卡可能在阱中形成气泡,这可能会降低得到的数据的质量。这些气泡可能是由样品的化学性质和阱的物理形状造成的,这些气泡可以结合以捕获阱内的空穴空气。

如本文所述的样品测试卡可以具有通常为矩形的形状,其标准尺寸为宽约90mm至95mm、高约55mm至60mm、厚约4mm至5mm。在一个实施例中,本公开的样品测试卡宽约90mm、高约56mm、厚约4mm。

本文所述的测试卡可包括80至140个单个样品阱,或约96到126个单个的样品阱,每个样品阱接收测试样品,例如,从患者的血液、其他流体、组织或其他材料中提取的生物样品,用于进行光谱或其他自动化分析。在其他实施例中,样品测试卡可包括80、88、96、104、108、112、120、126、135或140个单个的样品阱。在具体实施例中,样品测试卡包括96个单个的样品阱。在另一具体实施例中,样品测试卡包括104个单个的样品阱。在又一具体实施例中,样品测试卡包含112个单个的样品阱。样品阱通常排列成一系列水平行和垂直列,并且可包括约8至10行、约10至16列的阱。

样品阱可以以各种形状和尺寸存在。例如,在一些实施例中,阱204可以是圆形的。在一些实施例中,阱204可以基本上是圆形的。在一些实施例中,阱204可以是矩形的。在一些实施例中,阱204可以基本上是矩形的。在一些实施例中,阱204可以是具有弯曲拐角的矩形(例如,在图7A的实施例中所示的0.5mm曲率半径)。在一些实施例中,阱204可以是菱形的。在一些实施例中,阱204可以基本上是菱形的。在一些实施例中,阱204可以是椭圆形的。在一些实施例中,阱204可以基本上是椭圆形的。

在一些实施例中,阱204可以在第一表面的平面内限定长尺寸和短尺寸。在图7A所示的实施例中,长尺寸为2.550mm且短尺寸为1.750mm。在一些实施例中,长尺寸可以为1mm、1.25mm、1.5mm、1.75mm、2mm、2.25mm、2.5mm 2.75mm、3mm、3.25mm、3.5mm、3.75mm、4mm、4.25mm、4.5mm、4.75mm、5mm、5.25mm、5.5mm、5.75mm、6mm、6.25mm、6.5mm、6.75mm、7mm、7.25mm、7.5mm、7.75mm、8mm、8.25mm、8.5mm、8.75mm、9mm、9.25mm、9.5mm、9.75mm、或10mm。在一些实施例中,短尺寸可以为1mm、1.25mm、1.5mm、1.75mm、2mm、2.25mm、2.5mm、2.75mm、3mm、3.25mm、3.5mm、3.75mm、4mm、4.25mm、4.5mm、4.75mm、5mm、5.25mm、5.5mm、5.75mm、6mm、6.25mm、6.5mm、6.75mm、7mm、7.25mm、7.5mm、7.75mm、8mm、8.25mm、8.5mm、8.75mm、9mm、9.25mm、9.5mm、9.75mm或10mm。

在一些实施例中,阱204可限定在第一表面和第二表面之间延伸的厚度。在图7C所示的实施例中,厚度为3.2mm。在一些实施例中,厚度可为1mm、1.25mm、1.5mm、1.75mm、2mm、2.25mm、2.5mm、2.75mm、3mm、3.25mm、3.5mm、3.75mm、4mm、4.25mm、4.5mm、4.75mm、5mm、5.25mm、5.5mm、5.75mm、6mm、6.25mm、6.5mm、6.75mm、7mm、7.25mm、7.5mm、7.75mm、8mm、8.25mm、8.5mm、8.75mm、9mm、9.25mm、9.5mm、9.75mm、或是10mm。

生物样品可以是来自患者的直接样品,或者是在溶液或其他东西中以提取、稀释、悬浮或其他方式处理的患者样品。本发明的样品测试卡通常以横向方向使用。

测试卡可以由聚苯乙烯、聚酯或任何其他合适的塑料或其他材料制成。测试卡可以在制造过程中用软化材料进行回火,从而降低了晶体的刚度以及由此产生的开裂或碎裂倾向。例如,测试卡可以由聚苯乙烯(约90%或更多)的混合物以及丁基橡胶的添加剂制成,以使卡稍微更柔韧并且耐损坏。在一些实施例中,测试卡还可以掺杂着色试剂,例如氧化钛,以在需要时产生白色。

本文所述的测试卡可用于识别和/或计数任何数量的微生物,例如细菌和/或其他生物试剂。如本领域已知的,许多细菌在培养后可适应于自动光谱分析、荧光分析和类似的分析。光的透射和吸收受样品的浊度、密度和量热特性的影响。荧光反应可以单独进行,也可以与光谱或其他测量一起进行。如果收集荧光数据,则优选使用测试卡中的着色试剂,因为不透明卡减少或消除了荧光辐射在整个卡中的散射,如半透明材料可能会发生的那样。其他类型的检测和分析能够在测试卡上进行,包括测试微生物对不同类型、不同浓度的抗生素的敏感性,使得测试卡是通用的。

参考图1,示出了具有多个样品阱204的测试卡202的实施例的主视图。测试卡202可具有第一表面或前表面206和与所述前表面206相对的第二表面或后表面(如图5、7B和7C所示)、第一或前侧边缘210、第二或后侧边缘212、顶边缘214和底边缘216。如图1所示,测试卡202可包括96个单个的样品阱,这些样品阱以8个样品阱204为1列排列成12列。当测试流体(即,患者样品或其他溶液)进入引入口时,它聚集在引入储液器222中并且沿着远离引入储液器的分配通道230行进。分配通道230包括相对长的通道,其在多列样品阱204中迂回经过测试卡202的前表面206。如图所示,分配通道230首先水平地延伸经过样品阱204的第一列的顶部,然后沿着测试卡204的前表面206在样品阱204的平行的组或列(每一列包括八个样品阱204)之间垂直地向下延伸(或下降)(即下降分支232)。在第一下降分支232的底部,分配通道230包括横向分支234,其以水平的方式横穿经过卡202的表面。分配通道230然后沿着测试卡202的前表面206在第二组的样品阱204的列之间垂直地向上延伸(或上升)(即上升分支233)。在第二组的样品阱列的顶部,分配通道230包括另一个横向分支234,其以水平的方式横穿经过卡的表面至第三组的样品阱列的顶部并且然后在样品阱204的列之间垂直地向下延伸或向下下降(即下降分支232)。与横向通道分支234互连的分配通道的下降分支232和上升分支233交替的这种模式继续穿过测试卡202的前表面206,由此允许分配通道230在测试卡202上的所有垂直排列的样品阱列之间迂回。在一个实施例中,第一分配通道230可包括具有约0.5mm宽度和约0.5mm深度(即,约0.25mm2的横截面)的流体流动通道。

填充通道236可以是相对短的通道(其可以是扭结的),其从分配通道230延伸到样品阱204,起到连接的作用,并且由此填充测试卡202的单个样品阱204。在一个实施例中,填充通道236可以包括具有约0.2至约0.4mm的宽度和约0.3至约0.5mm的深度(即约0.06至0.2mm2的横截面)的流体流动通道。在另一实施例中,填充通道234具有约0.3mm的宽度和约0.4mm的深度(即,约0.12mm2的横截面)。除了下面详述的搁板外,测试卡还可以包括气泡捕捉器250和连接的通道252,以接收任何被搁板阻挡在阱内的气泡。这种设计构思的测试卡202还可以包括一系列传感器止动孔260、条型码或其他的数据标记(未示出)、锥形的斜面边缘270和/或下和上轨道280、282,该下和上轨道280、282可选地具有相关联的前缘284或尾部截断286。

参考图2-3,所描述的实施例包括延伸到阱204的开口310中的搁板300。阱204的开口310可以从卡202的第一或前表面206延伸到第二或后表面207(如图5、7B和7C所示)。阱204的开口310可以由从第一表面206延伸到第二表面207的壁320限定。壁320可包括限定在搁板300和第一表面206之间的第一部分322,以及限定在搁板300和第二表面207之间的第二部分324(如图5、7B和7C所示),使得搁板300形成了壁的第一和第二部分之间的连接。测试卡202可包括任何形式的供应导管290和气泡捕捉器250。

参考图4,描述了图3中所示的阱204的另一实施例。在图4的实施例中,搁板300仅形成在壁320的处于供应导管290下方的一部分处,其中壁在第一部分322和第二部分324之间的其余区域基本上是平坦的。搁板300可另外包括本文讨论的搁板的相同特性、尺寸和特征。例如,图4中所示的搁板300可以包括图5和图7B-7C中任何一个所示的相同横截面,虽然仅在壁320的处于供应导管290下方的部分处,壁的搁板上方的第一部分322比壁的搁板下方的第二部分324宽。如在本文讨论的实施例中所述,在所有轴向位置(例如,沿图5中所示的轴线A)处,开口310在第二部分324的平面中可以比在第一部分322的平面处窄。

继续参考图4,所描述的搁板300可包括与如图所示的壁320接合的圆形边缘。在一些实施例中,搁板300可以仅设置在供应导管290的下方(例如,在轴线A方向上与供应导管直接对齐)。在一些实施例中,搁板300可以在供应导管290正下方的部分中包括恒定宽度,并可弯曲或逐渐变细以与供给导管的任一侧的壁320齐平。在一些实施例中,搁板300可设置在阱204的壁320的一个表面上(例如,在具有矩形或基本矩形形状的实施例中,搁板可设置在阱的四个侧中的一个上)。

参考图5,示出了简化测试卡202中的阱204的横截面图。阱204包括由壁320界定的开口310,壁320具有如上所述的第一部分322和第二部分324。在一些实施例中,阱204可包括延伸到开口310中的搁板300。搁板300可以限定朝向开口的中心突出的搁板表面330。当沿纵向A移动时,搁板300可基本上横向延伸(例如,搁板表面330可以限定在垂直于开口310的纵轴A并且平行于第一表面206或第二表面207的平面中)以改变阱204的内部横截面。在这样的实施例中,垂直于搁板表面330的矢量可以沿纵向A定向。

当相对于垂直于纵轴A的平面(例如,平行于第一表面206或第二表面207的平面)截取时,搁板300可以使壁320的第二部分324具有比壁的第一部分322更小的横截面积。换句话说,开口310在搁板300下方的部分324中比在搁板上方的部分322窄。在使用中,较窄部分324可以重力地定位在壁320的较宽部分322和开口310的下方,以防止气泡卡在壁上。在这样的实施例中,气泡可以从阱204中释放并捕获在气泡捕捉器250中(如图1-4、7A、7D和7E所示)。在一些实施例中,当向下移动时(例如,沿着纵轴A从第一表面206移动到第二表面207),壁304的横截面积和/或直径基本上可以减小。保持仅当气泡从第二表面207附近向第一表面206浮动时才会加宽的开口310,以防止将气泡保留在阱204内的任何拧压点,并且本文所述的搁板300促进并导致气泡释放。

如本文所用,术语“基本上”或“大致”表示不需要用数学精度来实现所附带的尺寸,而是如本领域普通技术人员所理解的,指定尺寸在制造公差和物理极限内达到标准误差范围。例如,尽管要求边缘略微倒圆的模制和压制技术有限,但是阱的边缘可以被称为“大约90度”。类似地,当从第一表面206朝向第二表面207沿纵向A向下行进时,开口310可以基本上不变宽;然而,这并不排除上述圆形边缘在制造极限内略微向内弯曲。

在一些实施例中,搁板300可定位在阱204内的任何垂直位置(例如,沿纵轴A的任何点)。在一些实施例中,搁板300可以定位在阱204的(例如,比第一表面206更靠近第二表面207的)中间点下方。在一些另外的实施例中,搁板300可以沿着阱204的纵向以任何增量(例如,1/8、1/4、1/3、3/8、1/2、5/8、2/3、3/4、7/8或其任何子增量)定位。

搁板300可以充分地突出到开口310中以防止气泡附着到壁320。在一些实施例中,搁板300可以以0.035mm(0.0014英寸)的径向宽度延伸到阱204中(例如,尺寸B,在垂直于纵轴A的方向上)。在一些实施例中,搁板可以以0.035mm(0.0014英寸)或更大的径向宽度延伸到阱204中(例如,尺寸B,在垂直于纵轴A的方向上)。在一些实施例中,搁板300可以以0.05mm(0.0020英寸)的径向宽度延伸到阱204中(例如,尺寸B,在垂直于纵向轴线A的方向上)。在一些实施例中,搁板300可以以0.05mm(0.0020英寸)或更大的径向宽度延伸到阱204中(例如,尺寸B,在垂直于纵轴A的方向上)。在一些实施例中,搁板300可以以0.05mm(0.0020英寸)或更小的径向宽度延伸到阱204中(例如,尺寸B,在垂直于纵轴A的方向上)。在一些实施例中,搁板300可以以0.035mm(0.0014英寸)至0.05mm(0.0020英寸)的径向延伸到阱204中(例如,尺寸B,在垂直于纵轴A的方向上)。

在本文详述的实施例中,壁320的第一部分322处的开口310的宽度可与壁的第二部分324处的开口宽度不同,具体视情况而定,由阱两侧的搁板的组合宽度决定。例如,在具有0.035mm(0.0014英寸)宽的搁板300的实施例中,搁板300完全围绕阱204周向延伸,对于在第一表面和第二表面之间延伸的每个横截面(例如,垂直于纵轴A的每个轴),搁板300正下方的第二部分324比搁板300正上方的第一部分322窄0.07mm(0.0028英寸)。类似地,在具有0.05mm(0.0020英寸)宽的搁板300的实施例中,搁板300完全围绕阱204周向延伸,对于在第一表面和第二表面之间延伸的每个横截面(例如,垂直于纵轴A的每个轴),搁板300正下方的第二部分324比搁板300正上方的第一部分322窄0.1mm(0.0040英寸),因此,例如,在径向宽度为0.035至0.05mm的实施例中,开口310的宽度可在搁板上方和下方相差0.07至0.1mm。该区域可以类似地由本文详述的阱的尺寸确定。在仅在壁的一部分上具有搁板300的实施例中(例如,如图4所示),宽度仅可与本文详述的径向宽度相差1倍。

在一些实施例中,对于相对于纵轴A的给定角度位置,搁板300的延伸可以被测量为搁板300上方和下方的半径差。在一些实施例中,阱204可以是圆形的,且在一些实施例中,阱204可以是非圆形的(例如,基本上矩形或椭圆形)。在一些实施例中,搁板300可以围绕圆周方向(例如,围绕纵轴A的圆周方向)均匀地延伸到开口310中,使得壁320的第一部分322和第二部分324之间的半径差是恒定的。在一些实施例中,搁板300可以是不均匀的,并且壁320的第一部分322和第二部分324之间的半径可以随角度位置而变化。

在一些实施例中,搁板300可以仅在阱204的选定部分处延伸到开口310中。例如,在一些实施例中,搁板300可定位在供应导管290的正下方。在一些实施例中,搁板300可以从供应导管290横跨阱204定位。在这样的实施例中,壁310在纵向A上可以具有基本恒定的半径,而在其他地方没有任何搁板。在一些实施例中,搁板300可以围绕整个开口310周向延伸。

参考图6,示出了用于制造本文所述的任何测试卡202的模板400。模板400可包括对应于第一表面206或第二表面207的第一或第二表面406(如图5、7B和7C所示)(例如,取决于参考模具的哪一半)。模板400还可以包括多个销410,其形状与开口310的一部分相反。例如,在图6所示的实施例中,示出了代表第二表面的第二模板,并且顶模板包括基本上相同的销,尽管如图1-5和7A-7E所示,具有不同宽度的附加通道。

在制造期间,两个模板400(例如,第一模板和第二模板)可以将表面406与表面406对齐,其中销410的端部彼此邻接。各个模板400的销410的尺寸可以不同以形成搁板300(如图2-5和7A-7E所示)。特别地,销可以根据期望的搁板表面330尺寸(包括上面讨论的每组可能的尺寸)的确切形状而不同。例如,在搁板表面在开口330中延伸0.035mm至0.05mm的实施例中,第一模板的第一个销的半径可比第二模板的第二个销宽相同的0.035mm至0.05mm。当模板400应用于测试卡材料时,搁板300由此形成在半模之间的分模线处,使得搁板表面330平行于模板的销的端部。在一些实施例中,测试卡202可以通过在两个板之间注射模制、通过在两个板之间冲压柔韧材料或通过任何其他制造技术来形成。

因此,在制造期间,可通过将第一模板与第二模板对齐来产生测试卡202。第一模板可包括具有第一形状的第一销,该第一形状对应于阱204的从搁板300延伸到第一表面206的部分。类似地,第二模板可包括具有第二形状的第二销,该第二形状对应于阱的从搁板延伸到第二表面的部分。第一销可以比第二销窄,在销之间具有与上述的搁板300相同的尺寸。一旦对齐,该方法可包括在第一模板和第二旧模板之间模制测试卡202。

图7A-7E示出了根据本文讨论的一些实施例的阱的各种视图。图7A-7E中描绘的尺寸以毫米表示,角度以度表示,图7A-7E按比例绘制。图7A示出了卡的第一表面的俯视平面图,示出了阱204和气泡捕集器250。图7B示出了沿D1轴截取的图7A的阱204的横截面图。如图7B所示,搁板300限定在阱204的壁320中,其中第一部分322从搁板延伸到第一表面,并且第二部分324从搁板延伸到第二表面。

图7C示出了沿D2轴截取的图7A的阱204的横截面图。在所示实施例中,壁320的第一部分322相对于从搁板300开始并在第一表面处结束的方向向外倾斜约3度。在一些实施例中,第一部分可以倾斜1度、2度、4度、5度、6度、7度、8度、9度、10度、11度、12度、13度、14度、15度、16度、17度、18度、19度、20度、21度、22度、23度、24度或25度。继续参考图7C,壁的第二部分324可以没有倾斜,或者可以相对于从搁板300开始并在第二表面处结束的方向向外倾斜约0.5度。在一些实施例中,第一部分322的倾斜有助于释放气泡。在一些实施例中,壁320的倾斜有助于将卡从本文详述的模具中释放。在具有倾斜壁部分的实施例中,在开口310的每个纵向和径向位置处,第二部分324可以比第一部分322的任何部分更窄(例如,穿过开口的距离更窄)。在具有倾斜壁部分的实施例中,随着第二部分接近第二表面,第二部分324可等于第一部分322或变得比第一部分322更宽(例如,穿过开口的距离相等或更宽)。在上述每一实施例中,搁板300可向外突出,使得无论倾斜如何,开口310在紧邻搁板300的第一部分322处比紧邻搁板的第二部分344处更宽。

继续参考图7C,卡可以是大约3.2mm(0.126英寸)厚。在一些实施例中,如上文所讨论,搁板300可设置在厚度的中点处(例如,第一表面和第二表面之间的中点处)。在所示实施例中,搁板300位于距第二表面1mm(0.039英寸)和距第一表面2.2mm(0.087英寸)的位置,是距第二表面厚度的31.25%。在一些实施例中,搁板300可设置在距第二表面厚度的三分之一和距第一表面厚度的三分之二处。在一些另外的实施例中,搁板300可以沿着阱204的纵向方向以任何增量(例如,1/8、1/4、1/3、3/8、1/2、5/8、2/3、3/4、7/8或其任何子增量)定位。

参考图7D,示出了图7A中的区域D3的放大俯视图。气泡捕集器7D可包括相对于阱204和通道252所描绘的尺寸和方向。参考图7E,示出了气泡捕捉器250沿图7D中的轴线D4截取的横截面图。如图7D-7E所示,气泡捕集器250的壁可以相对于朝向第一表面的方向向外倾斜,例如3度。气泡捕集器250可在卡内终止,并可在第二表面附近停止。

受益于前述描述和相关附图中呈现的教导,本发明的这些实施例将使所属领域的技术人员想到本文所阐述的本发明的许多修改和其他实施例。因此,应该理解,本发明的实施例不限于所公开的具体实施例,并且修改和其他实施例旨在包括在所附权利要求的范围内。尽管本文使用了特定术语,但它们仅用于一般性和描述性意义,而不是出于限制的目的。

权利要求书(按照条约第19条的修改)

1.一种测试卡,包括:

主体,其包括第一表面和与所述第一表面相对的第二表面;

至少一个阱,其限定从所述第一表面延伸到所述第二表面并配置成在其中接收样品的开口;其中,所述至少一个阱包括:

搁板,其延伸到所述开口中,使得所述开口在所述搁板和所述第二表面之间比在所述搁板和所述第一表面之间更窄。

2.如权利要求1所述的测试卡,其中,所述搁板和所述第一表面之间的第一距离大于所述搁板和所述第二表面之间的距离。

3.如权利要求1所述的测试卡,其中,所述搁板以0.035mm至0.05mm延伸进入所述开口。

4.如权利要求1所述的测试卡,其中,所述至少一个阱限定了壁,所述壁界定开口并且在所述测试卡的第一表面和第二表面之间延伸,其中,所述壁的第一部分从所述搁板延伸到所述第一表面,并且所述壁的第二部分从所述搁板延伸到所述第二表面,并且其中,所述搁板在所述第一部分和第二部分的接合处从所述壁突出。

5.如权利要求4所述的测试卡,其中,所述搁板限定了基本平行于所述第一表面或第二表面的搁板表面,并且其中,所述搁板表面设置在所述壁的第一部分与所述壁的第二部分的接合处。

6.如权利要求5所述的测试卡,其中,所述搁板表面相对于所述至少一个阱的纵轴限定0.035mm至0.05mm的径向宽度。

7.如权利要求1所述的测试卡,其中,所述开口在平行于所述第一表面或第二表面的平面内的横截面积在所述搁板和第一表面之间比在所述搁板和第二表面之间更大。

8.如权利要求7所述的测试卡,其中,在所有轴向位置处,所述开口在平行于所述第一表面或第二表面的平面内的横截面积在所述搁板和第一表面之间比在所述搁板和第二表面之间更大。

9.如权利要求1所述的测试卡,其中,所述搁板围绕所述至少一个阱内的开口周向延伸。

10.如权利要求1所述的测试卡,其中,所述至少一个阱包括多个阱。

11.如权利要求10所述的测试卡,其中,所述至少一个阱包括104个阱。

12.一种制造测试卡的方法,所述测试卡包括主体和至少一个阱,所述主体包括第一表面和与所述第一表面相对的第二表面,所述至少一个阱限定从所述第一表面延伸到所述第二表面并配置成在其中接收样品的开口;其中,所述至少一个阱包括搁板,所述搁板延伸到所述开口中,使得所述开口在所述搁板和所述第二表面之间比在所述搁板和所述第一表面之间更窄;所述方法包括:

使第一模板与第二模板对齐,其中,所述第一模板包括具有第一形状的第一销,所述第一形状对应于所述至少一个阱的从所述搁板延伸到所述第一表面的部分,其中,所述第二模板包括具有第二形状的第二销,所述第二形状对应于所述至少一个阱的从所述搁板延伸到所述第二表面的部分,其中,所述第二销比所述第一销窄;并且

在所述第一模板和第二模板之间模制测试板。

13.如权利要求12所述的方法,其中,在所述第一模板和第二模板的交叉处形成所述搁板。

14.如权利要求12所述的方法,其中,所述至少一个阱包括多个阱。

15.如权利要求14所述的方法,其中,所述至少一个阱包括104个阱。

16.一种模具,其被配置成形成测试卡,所述测试卡包括主体和至少一个阱,所述主体包括第一表面和与所述第一表面相对的第二表面,所述至少一个阱限定从所述第一表面延伸到所述第二表面并配置成在其中接收样品的开口;其中,所述至少一个阱包括搁板,所述搁板延伸到所述开口中,使得所述开口在所述搁板和第二表面之间比在所述搁板和所述第一表面之间窄;所述模具包括:

第一模板,其限定具有第一形状的第一销,所述第一形状对应于所述至少一个阱的从所述搁板延伸到所述第一表面的部分;

第二模板,其限定具有第二形状的第二销,所述第二形状对应于所述至少一个阱的从所述搁板延伸到所述第二表面的部分;并且

其中,所述第二销比所述第一销窄。

17.如权利要求16所述的模具,其中,所述第一销比所述第二销高。

18.如权利要求16所述的模具,其中,所述第二销的远端比所述第一销的远端窄0.07mm至0.1mm。

19.如权利要求16所述的模具,其中,所述至少一个阱包括多个阱。

20.如权利要求19所述的模具,其中,所述至少一个阱包括104个阱。

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