阅读说明：本技术 综合测试仪生成阶段快速校准系统及方法 (System and method for quickly calibrating generation stage of comprehensive tester ) 是由 杨超 于 2018-06-25 设计创作，主要内容包括：本发明提供一种综合测试仪生成阶段快速校准系统及方法,系统包括：处理设备,用于配置第一测试信息序列表和第二测试信息序列表,并将所述第一测试信息序列表发送给所述综合测试仪,将所述第二测试信息序列表发送给所述射频仪；综合测试仪,用于根据所述第一测试信息序列表依序向所述射频仪发送功率信号；射频仪,用于根据所述第二测试信息序列表依序对所述功率信号进行分析获得测试功率值,并将所述测量功率值发送给所述处理设备；处理设备,还用于根据所述测量功率值与对应的所述校准功率值获得增益补偿值,达到自动测试,优化测试流程,减少仪器间交互次数,提高综合测试仪的生产效率及降低生产成本。(The invention provides a system and a method for quickly calibrating a generation stage of a comprehensive tester, wherein the system comprises the following steps: the processing equipment is used for configuring a first test information sequence table and a second test information sequence table, sending the first test information sequence table to the comprehensive tester and sending the second test information sequence table to the radio frequency tester; the comprehensive tester is used for sequentially sending power signals to the radio frequency instrument according to the first test information sequence table; the radio frequency instrument is used for analyzing the power signals in sequence according to the second test information sequence table to obtain a test power value and sending the test power value to the processing equipment; the processing equipment is also used for obtaining a gain compensation value according to the measurement power value and the corresponding calibration power value, so that automatic testing is achieved, the testing process is optimized, the number of interaction times among instruments is reduced, the production efficiency of the comprehensive tester is improved, and the production cost is reduced.)

综合测试仪生成阶段快速校准系统及方法

技术领域

本发明涉及综合测试仪生成技术领域，尤其涉及一种综合测试仪生成阶段快速校准系统及方法。

背景技术

目前综合测试仪在生产过程中需要对整机的射频器件进行校准，其校准精度的好坏会对后续使用产生影响，为了保证仪器在全频段内的精度，往往需要通过减小校准频点密度的方式尽可能校准更多的频点。其中，会带来的负面影响就是校准效率的降低，这个问题严重影响到了仪器的产量，精度和效率间的冲突是行业中各仪表厂家面临的共同问题。

工厂为了提升生产效率只能通过增加校准系统的数量和人力投入的方式解决，生产成本也随之上涨，居高不下的生产成本严重影响了企业的利润，因此仪器研发企业都在寻找优化方法解决这一矛盾。

发明内容

本发明提供一种综合测试仪生成阶段快速校准系统及方法，用于解决现有技术中综合测试仪在频点校准的效率低下的问题。

第一方面，本发明提供一种综合测试仪生成阶段快速校准系统，包括处理设备、综合测试仪和射频仪，其中：

所述处理设备，用于配置第一测试信息序列表和第二测试信息序列表，并将所述第一测试信息序列表发送给所述综合测试仪，将所述第二测试信息序列表发送给所述射频仪；

所述综合测试仪，用于根据所述第一测试信息序列表依序向所述射频仪发送功率信号，所述第一测试信息序列表包括校准频点以及每个校准频点对应的校准功率值；

所述射频仪，用于根据所述第二测试信息序列表依序对所述功率信号进行分析获得测试功率值，并将所述测量功率值发送给所述处理设备，所述第二测试信息序列表包括校准频点；

所述处理设备，还用于根据所述测量功率值与对应的所述校准功率值获得增益补偿值；

其中，所述第一测试信息序列表中的校准频点和所述第二测试信息序列表中的校准频点相同。

可选地，所述综合测试仪具体用于：

根据所述第一测试信息序列表中的校准频点顺序依次确定目标校准频点，根据所述目标校准频点下的校准功率值依次向所述射频仪发送功率信号。

可选地，所述射频仪具体用于：

根据所述第二测试信息序列表中的校准频点顺序依次确定目标校准频点，并接收所述综合测试仪发来的根据目标校准频点下各个校准功率值发送的功率信号，并对各个功率信号进行分析获得对应的测试功率值。

可选地，在所述处理设备还配置功率触发规则，并将功率触发规则发送给所述射频仪后，所述射频仪具体用于：

接收所述综合测试仪发送的根据第一个校准频点下第一个校准功率值发送的功率信号，并对功率信号进行分析获得第一个测试功率值；

当第一个测试功率值大于预设功率值后，开启执行所述第二测试信息序列表。

可选地，所述第一测试信息序列表和第二测试信息序列表中均包括：相邻校准频点之间的切换触发间隙时间。

第二方面，本发明实施例提供一种基于上述系统的快速校准方法，包括：

所述处理设备配置第一测试信息序列表和第二测试信息序列表，并将所述第一测试信息序列表发送给所述综合测试仪，将所述第二测试信息序列表发送给所述射频仪；

所述综合测试仪根据所述第一测试信息序列表依序向所述射频仪发送功率信号，所述第一测试信息序列表包括校准频点以及每个校准频点对应的校准功率值；

所述射频仪根据所述第二测试信息序列表依序对所述功率信号进行分析获得测试功率值，并将所述测量功率值发送给所述处理设备，所述第二测试信息序列表包括校准频点；

所述处理设备根据所述测量功率值与对应的所述校准功率值获得增益补偿值；

其中，所述第一测试信息序列表中的校准频点和所述第二测试信息序列表中的校准频点相同。

可选地，所述综合测试仪根据所述第一测试信息序列表中的校准频点顺序依次确定目标校准频点，根据所述目标校准频点下的校准功率值依次向所述射频仪发送功率信号。

可选地，所述射频仪根据所述第二测试信息序列表中的校准频点顺序依次确定目标校准频点，并接收所述综合测试仪发来的根据目标校准频点下各个校准功率值发送的功率信号，并对各个功率信号进行分析获得对应的测试功率值。

可选地，在所述处理设备还配置功率触发规则，并将功率触发规则发送给所述射频仪后，所述射频仪具体接收所述综合测试仪发送的根据第一个校准频点下第一个校准功率值发送的功率信号，并对功率信号进行分析获得第一个测试功率值；当第一个测试功率值大于预设功率值后，开启执行所述第二测试信息序列表。

可选地，所述第一测试信息序列表和第二测试信息序列表中均包括：相邻校准频点之间的切换触发间隙时间。

由上述技术方案可知，本发明实施例提供的一种综合测试仪生成阶段快速校准系统，通过综合测试仪和射频仪同步执行用于频点功率测试的信息序列表，达到自动测试，优化测试流程，减少仪器间交互次数，提高综合测试仪的生产效率及降低生产成本。

附图说明

图1为本发明一实施例提供的综合测试仪生成阶段快速校准系统的结构示意图；

图2为本发明一实施例提供的综合测试仪生成阶段快速校准方法的流程示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例，对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明，但不用来限制本发明的范围。

图1示出了本发明一实施例提供一种综合测试仪生成阶段快速校准系统，包括处理设备11、综合测试仪12和射频仪13，其中：

所述处理设备，用于配置第一测试信息序列表和第二测试信息序列表，并将所述第一测试信息序列表发送给所述综合测试仪，将所述第二测试信息序列表发送给所述射频仪；

所述综合测试仪，用于根据所述第一测试信息序列表依序向所述射频仪发送功率信号，所述第一测试信息序列表包括校准频点以及每个校准频点对应的校准功率值；

所述射频仪，用于根据所述第二测试信息序列表依序对所述功率信号进行分析获得测试功率值，并将所述测量功率值发送给所述处理设备，所述第二测试信息序列表包括校准频点；

所述处理设备，还用于根据所述测量功率值与对应的所述校准功率值获得增益补偿值；

其中，所述第一测试信息序列表中的校准频点和所述第二测试信息序列表中的校准频点相同。

在本发明实施例中，为了更好的对综合测试仪中的所有频点进行功率测试。处理设备会将所有频点在测试过程中所需的参数均记录在测试信息序列表中。在本实施例中，针对将序列表发送对象的不同，可设置第一测试信息序列表，用于发送给所述综合测试仪。还可设置第二测试信息序列表，用于发送给所述射频仪。所述第一测试信息序列表至少包括校准频点以及每个校准频点对应的校准功率值。所述第二测试信息序列表至少包括校准频点。其中，所述第一测试信息序列表中的校准频点和所述第二测试信息表中的校准频点相同。同时要保证综合测试仪执行第一测试信息序列表与射频仪执行第二测试信息序列表的时间同步。即：综合测试仪执行信息序列表中的A频点，并向射频仪发送A频点下的各个测试功率值。射频仪也要执行信息序列表中的A频点，并接收对应A频点下的各个测试功率值的功率信号。直到综合测试仪开始执行B频点，射频仪也同时执行B频点。

在本发明实施例中，所述综合测试仪根据所述第一测试信息序列表依序向所述射频仪发送功率信号。即：综合测试仪根据第一测试信息序列表中的按序排列的校准频点进行每个校准频点的功率测试，在每个校准频点中会对应需要测试的多个校准功率值。综合测试仪启动后，会按照序列表中的参数进行按序执行，实现自动执行，无需对每个校准频点进行单独设置参数进行测试。具体执行时，根据所述第一测试信息序列表中的校准频点顺序依次确定目标校准频点，根据所述目标校准频点下的校准功率值依次向所述射频仪发送功率信号。

所述射频仪根据所述第二测试信息序列表依序对所述功率信号进行分析获得测试功率值，并将所述测量功率值发送给所述处理设备。即：射频仪依序对各个功率信号进行分析获得对应的测试功率值，并将所述测量功率值发送给所述处理设备。具体执行时，根据所述第二测试信息序列表中的校准频点顺序依次确定目标校准频点，并接收所述综合测试仪发来的根据目标校准频点下各个校准功率值发送的功率信号，并对各个功率信号进行分析获得对应的测试功率值。

所述处理设备再根据所述测量功率值与对应的所述校准功率值获得增益补偿值。

在本发明实施例中，还需要说明的是，为了更好的保持综合测试仪和射频仪能够同步执行序列表，则所述处理设备还配置功率触发规则，并将功率触发规则发送给所述射频仪后，所述射频仪具体用于：

接收所述综合测试仪发送的根据第一个校准频点下第一个校准功率值发送的功率信号，并对功率信号进行分析获得第一个测试功率值；

当第一个测试功率值大于预设功率值后，开启执行所述第二测试信息序列表。

由此可知，本发明实施例所述功率触发规则可为：当第一个测试功率值大于预设功率值后，开启执行所述第二测试信息序列表。

在本发明实施例中，还需要说明的是，所述第一测试信息序列表和第二测试信息序列表中均包括：相邻校准频点之间的切换触发间隙时间。通过切换触发间隙时间的设置，可保证各个序列表中的参数能够全部被执行。

本发明实施例提供的一种综合测试仪生成阶段快速校准系统，通过综合测试仪和射频仪同步执行用于频点功率测试的信息序列表，达到自动测试，优化测试流程，减少仪器间交互次数，提高综合测试仪的生产效率及降低生产成本。

图2示出了本发明一实施例提供的一种基于上述系统的快速校准方法，包括：

S21、所述处理设备配置第一测试信息序列表和第二测试信息序列表，并将所述第一测试信息序列表发送给所述综合测试仪，将所述第二测试信息序列表发送给所述射频仪；

S22、所述综合测试仪根据所述第一测试信息序列表依序向所述射频仪发送功率信号，所述第一测试信息序列表包括校准频点以及每个校准频点对应的校准功率值；

S23、所述射频仪根据所述第二测试信息序列表依序对所述功率信号进行分析获得测试功率值，并将所述测量功率值发送给所述处理设备，所述第二测试信息序列表包括校准频点；

S24、所述处理设备根据所述测量功率值与对应的所述校准功率值获得增益补偿值；

其中，所述第一测试信息序列表中的校准频点和所述第二测试信息序列表中的校准频点相同。

由于本发明实施例所述方法为基于上述实施例所述系统所实现，其执行原理与上述系统原理的描述相同，在此不再赘述。

本发明实施例提供的一种综合测试仪生成阶段快速校准方法，通过综合测试仪和射频仪同步执行用于频点功率测试的信息序列表，达到自动测试，优化测试流程，减少仪器间交互次数，提高综合测试仪的生产效率及降低生产成本。

此外，本领域的技术人员能够理解，尽管在此所述的一些实施例包括其它实施例中所包括的某些特征而不是其它特征，但是不同实施例的特征的组合意味着处于本发明的范围之内并且形成不同的实施例。例如，在下面的权利要求书中，所要求保护的实施例的任意之一都可以以任意的组合方式来使用。

应该注意的是上述实施例对本发明进行说明而不是对本发明进行限制，并且本领域技术人员在不脱离所附权利要求的范围的情况下可设计出替换实施例。在权利要求中，不应将位于括号之间的任何参考符号构造成对权利要求的限制。单词“包含”不排除存在未列在权利要求中的元件或步骤。位于元件之前的单词“一”或“一个”不排除存在多个这样的元件。本发明可以借助于包括有若干不同元件的硬件以及借助于适当编程的计算机来实现。在列举了若干装置的单元权利要求中，这些装置中的若干个可以是通过同一个硬件项来具体体现。单词第一、第二、以及第三等的使用不表示任何顺序。可将这些单词解释为名称。

本领域普通技术人员可以理解：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明权利要求所限定的范围。