一种纳米晶带材检测装置

文档序号:1874368 发布日期:2021-11-23 浏览:25次 >En<

阅读说明:本技术 一种纳米晶带材检测装置 (Nanocrystalline strip detection device ) 是由 陆宣凯 王建中 徐毅 裴杰 李少波 于 2021-08-20 设计创作,主要内容包括:本发明提供了一种纳米晶带材检测装置,包括传送滚轮、检测台及照相机;检测台相对的两侧分别设置有所述传送滚轮;检测台包括透明玻璃板;透明玻璃板相对的两面分别设置有所述照相机;本发明传送带无需停止,能够持续进行纳米晶带材的检测,因检测台上包括透明玻璃板,相对设置的相机能够同时拍摄到纳米晶带材的正反两面,提高检测的准确性,传送滚轮及相机都能够自动运行,实现对纳米晶带材的自动检测,节约了人工成本且更加高效。(The invention provides a nanocrystalline strip detection device, which comprises a conveying roller, a detection table and a camera; the two opposite sides of the detection table are respectively provided with the conveying rollers; the detection platform comprises a transparent glass plate; the two opposite surfaces of the transparent glass plate are respectively provided with the cameras; the conveyor belt does not need to be stopped, the nanocrystalline strips can be continuously detected, the opposite cameras can shoot the front and back sides of the nanocrystalline strips simultaneously due to the transparent glass plates arranged on the detection table, the detection accuracy is improved, the conveying rollers and the cameras can automatically run, the automatic detection of the nanocrystalline strips is realized, the labor cost is saved, and the efficiency is higher.)

一种纳米晶带材检测装置

技术领域

本发明涉及质量检测领域,尤其涉及一种纳米晶带材检测装置。

背景技术

因纳米晶拥有较高的磁导率和饱和磁感应强度,是较为理想的导磁和电磁屏蔽材料,故纳米晶已成为无线充电

技术领域

较理想的加工原材料。但因为纳米晶也存在着电阻率小及损耗高的特性,在充电过程中会降低材料的充电效率,在实际的应用中通常会通过碎磁处理将纳米晶分割成一个个小的单元,从而减少充电过程中的损耗,实现效率的提高。

在碎磁处理的过程中,纳米晶带材经过碎磁辊碾压后,会有少量碎屑颗粒产生和表面碎裂裂纹。因在最终产品中所使用的纳米晶成品是多层复合而成,中间夹杂异物颗粒后会出现表面鼓包,影响产品的性能和安全性,故现有技术中通常会引入相应的检测手段。目前的检测手段大都是使用人工检测,存在效率低容易漏失,对检测人员的培训要求较高,新人上手慢导致不良物料未被检测而漏失到下个工站导致物料浪费的问题,并且当物料表面的鼓包凸起或凹点较小时,人眼很难准确快速判断。纳米晶颗粒鼓包和碎裂又具有较大的潜在的危害如刺破接收端线圈的绝缘层,导致充电效率降低;厚度超标,在充电过程中造成电池爆炸;屏蔽性能减弱,散热效率降低等。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是:提供一种纳米晶带材检测装置,实现对纳米晶自动化的缺陷检测。

为了解决上述技术问题,本发明采用的一种技术方案为:

一种纳米晶带材检测装置,其特征在于,包括传送滚轮、检测台及照相机;

所述检测台相对的两侧分别设置有所述传送滚轮;

所述检测台包括透明玻璃板;

所述透明玻璃板相对的两面分别设置有所述照相机。

本发明的有益效果在于:设置传送管轮、检测台及照相机,传送滚轮设置在检测台相对的两侧,检测台包括透明玻璃板,相机与透明玻璃板相对的两面对应设置,两侧的传送滚轮能够将待检测的纳米晶带材送上检测台并带离检测台,则传送带无需停止,能够持续进行纳米晶带材的检测,因检测台上包括透明玻璃板,相对设置的相机能够同时拍摄到纳米晶带材的正反两面,提高检测的准确性,传送滚轮及相机都能够自动运行,实现对纳米晶带材的自动检测,节约了人工成本且更加高效。

附图说明

图1为本发明实施例的一种纳米晶带材检测装置的整体结构示意图;

图2为本发明实施例的一种纳米晶带材检测装置的检测台的俯视图;

图3为本发明实施例的沿图2中a-a方向的剖面图;

标号说明:

1、收料轴;2、收料滚轮;3、供料滚轮;4、供料轴;5、检测台;51、导流缝隙;52、上载板;521、喷管射流板;522、倾斜面;53、上玻璃板;54、挡板;541、限位块;55、下玻璃板;56、下载板;561、倾斜坡的顶端;562、倾斜坡;6、气管;7、同轴光源;8、镜头;9、照相机;10、安装板。

具体实施方式

为详细说明本发明的技术内容、所实现目的及效果,以下结合实施方式并配合附图予以说明。

请参照图1,一种纳米晶带材检测装置,包括传送滚轮、检测台及照相机;

所述检测台相对的两侧分别设置有所述传送滚轮;

所述检测台包括透明玻璃板;

所述透明玻璃板相对的两面分别设置有所述照相机。

从上述描述可知,本发明的有益效果在于:设置传送管轮、检测台及照相机,传送滚轮设置在检测台相对的两侧,检测台包括透明玻璃板,相机与透明玻璃板相对的两面对应设置,两侧的传送滚轮能够将待检测的纳米晶带材送上检测台并带离检测台,则传送带无需停止,能够持续进行纳米晶带材的检测,因检测台上包括透明玻璃板,相对设置的相机能够同时拍摄到纳米晶带材的正反两面,提高检测的准确性,传送滚轮及相机都能够自动运行,实现对纳米晶带材的自动检测,节约了人工成本且更加高效。

进一步地,还包括气管;

所述检测台包括上载板、下载板、上玻璃板及下玻璃板;

所述上载板及所述下载板之间具有间隙,且所述上载板及所述下载板周围设置有挡板;

所述上载板上设置有与所述上载板的宽度适配的导流缝隙;

所述上载板及所述下载板上分别设置有一通孔;

所述上玻璃板嵌设在所述上载板的通孔内,所述下玻璃板嵌设在所述下载板的通孔内;

所述挡板、所述上载板及所述下载板围成空腔;

所述气管的一端贯穿所述挡板连通所述空腔,另一端用于连接压缩空气机。

由上述描述可知,检测台的上载板和下载板上设置有通孔,分别嵌设上玻璃板和下玻璃板,并且和挡板构成空腔,气管的一端联通空腔,另一端用于连接压缩空气机,上载板上还设置有导流缝隙,则通过压缩空气机向空腔内注入高速流动的压缩空气,使得空腔内的气流流速加快、压力减小空腔外的气压不便,则在导流缝隙附近产生压力差,形成吸力,能够吸附检测台上的待检测纳米晶带材,保证相机拍摄图片的质量,从而提高检测的准确性。

进一步地,还包括喷管射流板;

所述喷管射流板包括一倾斜面;

所述喷管射流板设置在所述上载板靠近下载板的一侧,且所述倾斜面与所述导流缝隙相对设置。

由上述描述可知,在上载板靠近下载板的一侧设置喷管射流板,且倾斜面和导流缝隙相对设置,则气管喷射出的压缩空气会被喷管射流板阻挡,不会从导流缝隙中流出,避免了压缩空气从导流缝隙溢出抵抗吸力作用甚至吹起待检测纳米晶带材的情况,保证了相机能够获取到所需要的稳定图像。

进一步地,所述下载板靠近所述上载板的一侧具有倾斜坡;

所述倾斜坡的顶端与所述倾斜面的底端相对设置。

由上述描述可知,倾斜坡的顶端与倾斜面的底端相对,减小了靠近导流缝隙附近压缩空气在空腔内能够通过的通道面积,使得压缩空气的流速增加,则能够使得导流缝隙附近的吸力更大。

进一步地,所述检测台未设置有传送滚轮的两侧上分别设置有限位块;

所述限位块高于所述上玻璃板。

由上述描述可知,所述检测台在未设置有传送滚轮的两侧上分别设置有限位块,且限位块高于上玻璃板,则在纳米晶带材前进的过程中,两侧的限位块避免了纳米晶带材在非前进方向上的左右移动,保持了纳米晶带材的传送稳定性,从而保证了相机所获取的纳米晶带材的图片的质量,在实现自动化检测的基础上保证了检测结果的准确性。

进一步地,所述传送滚轮的高度小于或等于所述检测台的高度。

由上述描述可知,传送滚轮的高度小于或等于检测台的高度,更加易于纳米晶带材贴紧检测台,保证相机透过玻璃也能够获取到清晰的图片。

进一步地,还包括供料轴和收料轴,所述传送滚轮包括供料滚轮和收料滚轮;

所述供料滚轮和所述收料滚轮与所述检测台所述相对的两侧对应设置;

所述供料轴设置在所述供料滚轮远离所述检测台的一侧;

所述收料轴设置在所述收料滚轮远离所述检测台的一侧;

所述供料轴用于放置待检测料带。

由上述描述可知,通过滚轮和滚轴共同合作实现纳米晶带材的运送,供料端和供料端可以同时旋转,提高运送纳米晶带材的效率。

进一步地,还包括安装板;

所述传送滚轮、所述检测台及所述照相机均设置在所述安装板上。

由上述描述可知,传送滚轮、检测台和照相机都设置在安装板上,方便进行位置的调节,使得设备整体易于搬运和调整,还可在安装板上设置不同位置的安装孔,根据不同加工阶段的纳米晶带材的特性进行对应调整,提高纳米晶带材检测的准确性。

进一步地,还包括同轴光源,所述同轴光源设置在所述检测台及所述照相机之间。

由上述描述可知,在相机和检测台之间设置同轴光源照射纳米晶带材,同轴光源垂直照射检测台能够保证相机所接收到的反射光数量最大,保证最终成像的清晰度。

进一步地,还包括相机镜头,所述相机镜头设置在所述相机及所述同轴光源之间。

由上述描述可知,相机镜头设置在相机和同轴光源之间,借助外部镜头的辅助能够更加精确地进行调焦、对焦等操作,保证成像质量。

上述的一种纳米晶带材检测装置可用于各类带材的自动检测,特别是用于纳米晶带材的检测,以下通过具体的实施方式进行说明:

请参照图1,本发明的实施例一为:

一种纳米晶带材检测装置,包括传送滚轮、检测台5及照相机9;

所述检测台5相对的两侧分别设置有所述传送滚轮,且传送滚轮的高度小于或等于所述检测台的高度;其中,传送滚轮包括供料滚轮3和收料滚轮2,即所述检测台相对的两侧分别设置有传送滚轮,一侧为供料滚轮3,另一侧为收料滚轮2,供料滚轮3转动将纳米晶带材运送向收料滚轮2;

在一种可选的实施方式中,传送滚轮的高度等于所述检测台5的高度,则传送滚轮运送的纳米晶带材可以平稳地在传送滚轮和检测台5之间进行转移;

在一种可选的实施方式中,检测台5沿相对的两侧分别设置有一个传送滚轮,一为供料滚轮3,一为收料滚轮2;

还包括供料轴4和收料轴1,所述供料轴4设置在所述供料滚轮3远离所述检测台5的一侧;所述收料轴1设置在所述收料滚轮2远离所述检测台5的一侧;所述供料轴4用于放置待检测料带;

所述检测台5包括透明玻璃板;

检测台5未设置有传送滚轮的两侧上分别设置有限位块541,限位块541高于所述上玻璃板53;

所述透明玻璃板相对的两面分别设置有所述照相机9;

还包括同轴光源7和镜头8,镜头8设置在照相机9靠近检测台5的一侧,同轴光源7设置在镜头8靠近检测台5的一侧;

还包括安装板10,传送滚轮、检测台5、镜头8、同轴光源7和照相机9均设置在安装板10上,安装板10上可设置有多个位置和规格不同的安装孔,便于安装不同种类的器件并方便进行位置的调整。

请参照图2及图3,本发明的实施例二为:

一种纳米晶带材检测装置,其与实施例一的不同之处在于:

还包括气管6;

所述检测台5包括上载板52、下载板56、上玻璃板53及下玻璃板55;所述上载板52及所述下载板56之间具有间隙,且所述上载板52及所述下载板56周围设置有挡板54;所述上载板52上设置有与所述上载板52的宽度适配的导流缝隙51;所述上载板52及所述下载板56上分别设置有一通孔;所述上玻璃板53嵌设在所述上载板52的通孔内,所述下玻璃板55嵌设在所述下载板56的通孔内;所述挡板54、所述上载板52及所述下载板56围成空腔;所述气管6的一端贯穿所述挡板连通所述空腔,另一端用于连接压缩空气机;

在一种可选的实施方式中,上玻璃板53的两侧各有一个导流缝隙51,挡板54设置在未设置有传送滚轮的两侧即与纳米晶带材运动方向相垂直方向上的两侧上,气管6设置在其中一侧挡板54上与两个导流缝隙51的中间位置相对应的位置上;则气管6中喷射出的压缩空气会往未设置挡板54的两侧流动,更易于在导流缝隙51附近形成低压区域,提升对纳米晶带材的吸附力,将气管6设置在两个导流缝隙51的中间位置,用一个气管6就能够达到气流流向两个导流缝隙51的效果,避免使用多个气管6导致空腔内气流流向复杂使得导流缝隙51附近压力不均,从而使得导流缝隙51附近不同位置吸附效果不同的情况;

空腔内上载板52上设置有喷管射流板521;所述喷管射流板521包括一倾斜面522;所述喷管射流板521设置在所述上载板52靠近下载板56的一侧,且所述倾斜面522与所述导流缝隙51相对设置;所述下载板56靠近所述上载板52的一侧具有倾斜坡562;所述倾斜坡的顶端561与所述倾斜面的底端相对设置;

在一种可选的实施方式中,倾斜坡562的坡面开始位置和倾斜面的结束位置具有预设距离,且倾斜坡562的坡面开始位置更靠近所述上载板52的边沿;则气管6喷出的压缩空气在倾斜坡的顶端561和倾斜面的底端形成的较小的通道处能够保留较高的流速使得导流缝隙51处能够产生较大的压力差实现对纳米晶带材的吸附,且在坡面位置的开口增大,气流能够快速逸散,不会在空腔内聚集导致空腔内压力上升;

在进行纳米晶带材的检测时,将纳米晶卷料安装在供料轴4,料带依次从供料滚轮3到上载板52、上玻璃板53、收料滚轮2最后到收料轴1,气管6喷出压缩空气,压缩空气在上玻璃板53和下玻璃板55中间沿喷管射流板521和倾斜坡562之间的缝隙中高速射出;根据伯努利原理,流体系统中流速快的位置压强小,喷管射流板521空气出口周边将形成负压即在导流缝隙51附近产生真空,并将料带平整的吸附在上玻璃板53表面;在收料轴1匀速转动将料带匀速拉动经过上玻璃板53表面,在料带移动过程中上玻璃板53表面两边有限位块541将料带限制在上玻璃板53表面移动不会前后摆动,与检测台5两面相对的照相机9同时曝光采图实现物料表面缺陷检测,当装置检测到料带表面有异物鼓包和碎裂时,收料轴1和供料轴4停止,并报警提示操机人员检查剔除异常物料,按启动装置再次开始检测;

请参照图3,在一种可选的实施方式中,挡板54的高度设置为高于上玻璃板53的高度,则高处上玻璃板53的部分作为限位块541起到对纳米晶带材的限位作用。

综上所述,本发明提供了一种纳米晶带材检测装置,检测台包括透明的上玻璃板和下玻璃板,分别嵌设在上载板和下载板上,上载板、下载板和挡板构成空腔,上载板上设置有导流缝隙,气管的一端连通空腔,另一端用于输入外部的压缩空气;检测台相对的两面分别设置有一台照相机,则气管喷出的压缩空气气流使得空腔内的气压减小,从而在导流缝隙附近产生气压差将带材吸附在载台上贴紧上玻璃板,在待检测的纳米晶带材到达检测台时,能够被压紧吸附在上玻璃板上,则设置在玻璃板相对两面的相机能够同时获取到纳米晶带材正反面的图像,同时对纳米晶带材的正反面进行检测;并且设置有供料轴、供料滚轮、传送轴和传送滚轮,纳米晶带材防止在供料轴上,另一端设置在收料轴上,则通过供料轴和收料轴的转动能够实现纳米晶带材的自动移动,配合照相机的自动成像共同实现对纳米晶带材的自动检测,并且提升自动检测的准确性。

以上所述仅为本发明的实施例,并非因此限制本发明的专利范围,凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等同变换,或直接或间接运用在相关的技术领域,均同理包括在本发明的专利保护范围内。

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