具体实施方式

应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

需要说明，本发明实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

另外，在本发明中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范围之内。

在TV整机生产、运输或者使用的过程中，常常会出现竖线不良的问题。在进行整机可靠性实验的过程中，也常常会出现单根竖线或者多根竖线的不良问题。若要对这些竖线类不良进行解析，拿到整机竖线不良品之后，首先必须定位出竖线不良所在的具体位置，即需要先定位不良竖线所在列的列序号，才能做进一步解析。

目前，定位不良竖线需要特殊的大型贵重设备如光学显微镜，每台OM设备需要耗费上百万，很多公司没有这样的设备，需要委外或者甚至无法进行分析，影响项目进展。并且，在对整机进行拆卸和安装过程中，很容易将不良OC损坏，尤其在光学显微镜下寻找不良竖线位置的过程中，常常会因为扎针刮到玻璃数据走线造成更多的竖线不良。因此，传统分析方法具有非常多的限制和不足之处需要改进。

基于上述现象，本发明提供一种不良竖线定位电路，参照图3，在一实施例中，该不良竖线定位电路包括像素阵列10、数据驱动电路20、控制电路30、以及与所述像素阵列的列数量相匹配的列开关管单元40，所述列开关管单元40的输出端分别与所述像素阵列10的列输入端连接，所述列开关管单元40的输入端与所述数据驱动电路20的输出端连接，所述列开关管单元40的控制端与所述控制电路30连接；

所述控制电路30，用于发出预设列选择信号，以使所述列开关管单元40控制所述像素阵列10显示出差异竖线；当所述差异竖线与不良竖线重合时，像素阵列中显示所述差异竖线的列像素单元的序号则为不良竖线所在的列序号。

本实施例中，所述控制电路30可以为时序控制器TCON或片上系统SOC，通过TCON或SOC下发列选择信号至所述开关管单元40。所述列选择信号可以是使列开关管单元关断的关断信号，也可以是使开关管单元导通的导通信号，可以理解的，所述列选择信号中还包括与所述像素阵列10中列像素单元对应的列序号，以使指定序号的列开关管单元关断或导通。例如，所述列选择信号为：使列序号为1366的列开关管单元关断，则与所述像素阵列10中列号为1366的列像素单元相连接的列开关管单元关断，第1366列像素单元接收不到数据驱动电路20输出的数据信号，其它列像素单元仍然可以正常接收到数据驱动电路20输出的数据信号。参照图4，当数据信号为显示固定画面或固定灰阶时，不良竖线所在的列像素单元因线路损伤无法正常显示，而出现不良竖线a，第1366列像素单元因不能接收到数据信号，而在显示面板上表现为一条差异竖线a’。假设不良竖线为一条，此时，面板上显示是第1366列像素单元的差异线a’和不良竖线a，则可以断定，不良竖线a不在第1366列中；以此类推，当列选择信号为使列序号为1355的列开关管关断时，若此时面板中只出现一条不良竖线，即差异竖线与不良竖线重合，则可以认定，不良竖线在第1355列。当不良竖线为两条或多条时，也可以分别定位出每条不良竖线所在的列序号。当然，所述差异竖线的效果可以是变亮或者变暗或者其它效果，通过数据信号可以进行相应的设置。

需要说明的是，发出列选择信号可以按列序号由小到大或由大到小依次按照预设时间发出，也可以是只按某段列区间中的序号发出，或者是按某个列序号发出。具体情况可以依据不良竖线出现在面板的位置先做列序号估计，再按估计的列序号或者列序号区间设定所述预设列选择信号。

所述像素阵列10中的行输入端分别接收对应的行扫描信号G，在面板显示固定画面或固定灰阶时，此时行扫描信号为相应的驱动信号，在此不进行赘述。

本方案通过在数据驱动电路20和像素阵列10之间设置列开关管单元40，控制电路30发出预设列选择信号后，可以使对应的列像素单元显示出差异竖线，即显示面板上出现差异竖线，当预设列选择信号控制显示的差异竖线与需要定位的不良竖线重合时，则可以判断出该差异竖线的列序号即为不良竖线的列号。从而实现了由软、硬件定位不良竖线的位置，不需要对数据走线扎针检测，解决了在不良竖线位置定位的过程中，容易对数据走线造成损坏的问题，而且，不再需要将OC从整机上进行拆卸，避免了因定位不良竖线而给OC带来损伤的风险，使对不良竖线定位的过程中，没有二次损伤，并且不需要使用昂贵的光学显微镜，降低了检测成本。

进一步地，所述列开关管单元40包括TFT开关管，所述TFT开关管的输入端与所述数据驱动电路20的输出端连接，所述TFT开关管的输出端与所述像素阵列10的对应列输入端连接，所述TFT开关管的控制端与所述控制电路30连接。

所述开关管单元40的数目根据实际需要进行设置，所述开关管的类型也可以根据实际情况进行选取。参照图5，以HD 1368根数据走线为例，像素阵列10包括1368个列像素单元，需要设置1368个开关管单元40，即数据驱动电路20的1368个数据通道分别通过TFT管与像素阵列10的1368个列像素单元连接，以输出数据信号至像素阵列10。所述数据驱动电路20可以包括S-IC(Source driver IC，源驱动集成电路)。

本实施例中，通过TFT管阵列的设置，可以精准的实现对像素阵列10的控制。

进一步地，所述TFT开关管设置于显示面板内。通过将TFT管阵列设置在显示面板内，可以使TFT电路更不易收到损伤，电路更稳定。

进一步地，所述列开关管单元包括MOS管，所述MOS管的输入端与所述数据驱动电路的输出端连接，所述MOS管的输出端与所述像素阵列的对应列连接，所述MOS管的控制端与所述控制电路连接。

进一步地，所述MOS管集成在数据驱动电路20中。可以将MOS管集成在S-IC中，或者也可以直接选用已经集成了MOS管的S-IC。

本方案中在面内和数据驱动电路20之间设置开关管，以根据控制电路30输出的代码控制相应通道的通断，从而实现快速准确的对该通道像素单元的控制。开关管的类型的选取也可以根据实际电路中控制电压的不同进行选取，也可以根据将开关管集成的位置进行选取。

本发明提供一种不良竖线定位方法，参照图6，在一实施例中，该不良竖线定位方法包括步骤：

步骤S10，发出预设列选择信号，以使显示面板中显示差异竖线；

步骤S20，当所述差异竖线与不良竖线重合时，显示所述差异竖线的列像素单元的序号则为不良竖线所在的列序号。

所述不良竖线定位方法应用于上述任意一实施例中的不良竖线定位电路，所述列选择信号中包括与所述像素阵列10中列像素单元对应的列序号信息，可以包含某列或某几列等，当列开关管单元集成在面内或S-IC芯片中时，还可以在S-IC芯片中预设列选择信号，以对被选择的一列像素单元输出与其它列不同的信号，使显示面板中出现差异竖线；所述列选择信号中还可以包括控制列开关管单元导通或关断的导通信号或关断信号，通过控制列开关管单元的导通或截止，使被选择的一列像素单元输出与其它列不同的信号，即显示面板中出现差异竖线。

为了使差异竖线显示的更明显，也可以在发出预设列选择信号前，通过控制像素阵列10的列输入的数据信号，使显示面板显示固定的画面，如白画面或者特定灰阶。

本实施例，通过发出预设列选择信号，可以使像素阵列10中对应的列像素单元显示出差异竖线，即显示面板上出现差异竖线，当预设列选择信号控制显示的差异竖线与需要定位的不良竖线重合时，则可以判断出该差异竖线的列序号即为不良竖线的列号。从而实现了对不良竖线位置的定位，不需要对数据走线扎针检测，也不需要对OC进行拆卸，避免了对不良竖线定位过程中可以对OC和电路带来的损伤。

进一步地，所述发出预设列选择信号，以使显示面板中显示差异竖线的步骤，包括：

发出预设列选择信号，关断对应的列开关管单元，以控制像素阵列根据数据驱动电路发出的数据信号在显示面板中显示所述差异竖线。

列开关管单元关断时，断开了像素阵列中对应的列像素单元与数据驱动电路20的连接，从而使该列像素单元接收不到列数据信号，而其它列像素单元则正常收到数据信号，显示数据信号对应的亮度，从而使显示面板中出现差异竖线。

进一步地，所述发出预设列选择信号，以使显示面板中显示差异竖线的步骤之前，还包括：

根据不良竖线在显示面板中的位置，确定不良竖线对应像素阵列中列像素单元的序号区间；

根据所述序号区间，生成预设列选择信号。

可以理解的，根据经验或者有限次实现，可以根据不良竖线在显示面板中的位置估计出不良竖线对应像素阵列中列像素单元的大致序号区间，因此，可以根据该区间设定列选择信号，列选择信号可以包含列序号区间或者单独的某一列序号。

所述根据不良竖线在显示面板中的位置，确定不良竖线对应像素阵列中列像素单元的序号区间的方法，可以是在面板前端设定图像获取装置以获取显示不良竖线的面板图像，从而可以智能的得出序号区间，智能的下发列选择信号。以使对不良竖线的定位更快速，节省人力成本，提高检测效率。

本发明提供一种显示模组，在一实施例中，该显示模组包括存储器、处理器及存储在所述存储器并可在所述处理器上运行的不良竖线定位程序，所述不良竖线定位程序被所述处理器执行时实现上述不良竖线定位方法各实施例的步骤。

可以理解的，所述处理器可以是显示模组中的控制电路，如时序控制器TCON或片上系统SOC，所述存储器可以是TCON或SOC中的存储单元。

本发明提供一种电视机，在一实施例中，该电视机包括显示屏和不良竖线定位电路，所述不良竖线定位电路用于确定显示屏上不良竖线的列序号，其中，所述不良竖线定位电路的结构可参照上述实施例，在此不再赘述。理所应当地，由于本实施例的电视机采用了上述不良竖线定位电路的技术方案，因此该电视机具有上述不良竖线定位电路所有的有益效果。

需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者系统不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者系统所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者系统中还存在另外的相同要素。

上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。

以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。