具体实施方式

以下结合附图1-10对本申请作进一步详细说明。

本申请实施例公开一种分光检测装置。

实施例1

参照图1和图2，一种分光检测装置1包括机台2、检测转盘11、检测驱动装置12和检测组件13。检测驱动装置12包括驱动电机，驱动电机可以为伺服电机也可以为步进电机，只要能够进行检测转盘11的定位转动即可，本申请实施例中选取步进电机为驱动电机，驱动电机安装于机台2的下表面，驱动电机的输出轴穿出于机台2的上表面；检测转盘11安装于机台2上表面的输出轴上。

参考图3和图4，检测转盘11的下表面可转动的与机台2的上表面抵接，检测转盘11上设有用于放置待测LED灯珠的置料位111，置料位111为开设于检测转盘11的圆周边上的第一槽口，第一槽口的径向侧壁上开设有气口113，气口113朝向第一槽口的径向开口，多个置料位111沿检测转盘11的圆周方向依次等距离排布；检测转盘11上位于相邻的置料位111之间设有用于放置标准LED灯珠的校正位112，校正位112为开设于检测转盘11的圆周边上的第二槽口，校正位112可以是一个也可以是多个，本申请实施例中采用多个校正位112，多个校正位112沿检测转盘11的圆周方向依次等距离排布。检测转盘11转动时，机台2上表面对置料位111的待测LED灯珠、校正位112的标准LED灯珠进行承托，检测转盘11转动带动置料位111的待测LED灯珠、校正位112的标准LED灯珠周向位移。

参考图3和图4，机台2上位于检测转盘11的圆周外侧设有导向板14，导向板14环绕检测转盘11，导向板14与检测转盘11的圆周边转动抵接，导向板14覆盖检测转盘11的置料位111、校正位112的径向开口；导向板14上开有用于进料的进料口141和出料的出料口142，检测转盘11转动带动置料位111、校正位112由导向板14的进料口141向导向板14的出料口142位移，在导向板进料口141，置料位111的径向开口与进料口141连通可用于待测LED灯珠上料，在导向板14出料口142，置料位111的径向开口与出料口142连通可用于待测LED灯珠出料，其中，校正位112内的标准LED灯珠随着检测转盘11转动位移时不进行出料。导向板14上还安装有盖板15，盖板15可用螺栓件固定安装。盖板15覆盖于检测转盘11的置料位111、校正位112上，盖板15和导向板14共同结合能够对置料位111、校正位112进行槽口封闭（参见图1）。盖板15位于进料口141和出料口142之间的最大位移路径上开设有检测窗口151，导向板14上对应检测窗口151的位置通过螺栓件可拆卸的安装有透光件16，透光件16覆盖检测窗口151。

参考图3和图4，机台2上位于检测转盘11的下方设有通气结构，通气结构包括有第一吹气通道22和第一吸气通道21，第一吹气通道22贯穿机台2的上下表面，第一吹气通道22的出气口113位于机台2上表面并位于检测转盘11的下方，第一吹气通道22的出气口113的位置与导向板14的出料口142的位置对应设置，第一吹气通道22的出气口113朝向导向板14的出料口142方向，置料位111随着检测转盘11转动位移至出料口142处时，第一吹气通道22的出气口113与置料位111的气口113连通，第一吹气通道22通过气口113对置料位111的待测LED灯珠进行吹气，将待测LED灯珠向出料口142外输出；第一吹气通道22的进气口113位于机台2的下表面，第一吹气通道22的进气口113通过管道连接有空气压缩机。第一吸气通道21的吸气口113位于机台2上表面并位于检测转盘11的下方，第一吸气通道21的吸气口113的位置与导向板14的进料口141的位置对应设置，第一吸气通道21的吸气口113朝向导向板14的进料口141方向，置料位111随着检测转盘11转动位移至进料口141处时，第一吸气通道21的吸气口113与置料位111的气口113连通，对输送至进料口141的待测LED灯珠进行吸取，使得待测LED灯珠进入置料位111；第一吸气通道21的抽气口113位于机台2的下表面，第一吸气通道21的抽气口113通过管道连接有真空机。

参考图4和图5，机台2上位于检测转盘11的下方、位于导向板14的进料口至出料口142的最大位移路径上设有检测位，检测位与检测窗口151的位置相对应，检测窗口151位于检测位上方，即透光件16位于检测位上方；检测位上开设有检测连接孔口23，检测连接孔口23成对设置，检测转盘11转动时，校正位112、置料位111可分别依次与检测连接孔口23对位连通。

参考图2和图4，机台2对应检测位的位置上安装检测组件13。机台2对应检测位的下表面上设有铰接座24和与铰接座24相对设置的限位座25，限位座25上开设有限位槽251，限位座25上设有连通限位槽251的侧安装开口，限位槽251内设有限位导向杆252，机台2上位于铰接座24和限位座25之间设有有电磁铁组件26，电磁铁组件26磁吸方向远离机台2表面。

参考图2，检测组件13包括检测探针组件131和光学检测组件132。检测探针组件131包括有安装于机台2检测位的下表面的探针基座1311和安装于探针基座1311上的探针1312，探针基座1311的一端与铰接座24进行铰接安装，探针基座1311的另一端上设有导向穿孔，探针基座1311远离铰接座24的一端通过限位柱侧安装开口置入限位座25的限位槽251内，限位导向杆252穿于探针基座1311的导向穿孔内，探针基座1311能够沿着限位导向杆252在限位槽251内上下位移，探针1312成对设置并安装于探针基座1311远离铰接座24的一端，同时探针1312对应的可升降的穿于机台2的检测连接孔口23内的。探针基座1311上位于铰接座24和限位座25之间的位置上设有金属件，金属件与机台2上的电磁铁组件26相对设置，电磁铁组件26通电后产生磁性，能够对金属件吸附，使得探针基座1311远离铰接座24的一端能够沿着限位导向杆252在限位槽251内向机台2表面移动，带动探针基座1311上的探针1312由检测连接孔口23向上伸出，电磁铁组件26断电后消磁，不再有吸附性，探针基座1311远离铰接座24的一端在重力作用下，沿着限位导向杆252在限位槽251内下沉，带动探针基座1311上的探针1312由检测连接孔口23向下下降缩起。光学检测组件132可以为积分球组件也可以为光纤光谱仪组件等，只要能够实现所需光学参数检测即可，本申请实施例中采用积分球组件。积分球组件安装于机台2的上表面，积分球组件的光接收口位于机台2的透光件16的上方并朝向透光件16即可。

实施例1的实施原理为：在盖板通过螺栓固定安装前，先将标准LED灯珠安装于检测转盘11的校正位112内，同时，分光检测装置1工作时，校正位112未设置气口113，第一吹气通道22不能够对校正位112的标准LED灯珠进行吹气出料，校正位112内的标准LED灯珠不从出料口142输出流转，一直位于检测转盘11上，当然校正位112上也可以开设气口113，此时则需要通过控制空气压缩机的工作状态，在校正位112位移至出料口142时，空气压缩机不工作，第一吹气通道22无气流输出，不能够对校正位112内的标准LED灯珠进行吹气出料。

驱动电机控制输出轴转动，带动输出轴上的检测转盘11转动，通过控制驱动电机的角位移，可以使得检测转盘11转动时各个校正位112沿转动方向分别依次与机台2的检测位对位，此角位移可设定为校正角位移；各校正位112与检测位对位，通过检测位上的检测组件13对各个校正位112内的标准LED灯珠进行光电参数检测，检测过程具体为：校正位112与检测位对位时，校正位112与检测连接孔口23连通，校正位112内的标准LED灯珠位于检测连接孔口23上，检测窗口151上的透光件16覆盖于校正位112上，覆盖于标准LED灯珠上。检测组件13的电磁铁组件26通电产生磁力，电磁铁组件26对探针基座1311进行吸附，吸附力使得探针基座1311远离铰接座24的一端在限位槽251内顺着限位导向杆252上移，进而带动探针1312沿着检测连接孔口23上升伸入校正位112内，并与标准LED灯珠的电极电连接，形成电回路，点亮标准LED灯珠，同时进行电参数检测；标准LED灯珠发光产生的光能够通过校正位112上的检测窗口151、透光件16被积分球组件的光接收口获取，积分球组件进行光参数检测。检测完成后，电磁铁组件26断电消磁，电磁铁组件26对探针基座1311的吸附消失，探针基座1311远离铰接座24的一端在限位槽251内在重力作用下顺着限位导向杆252下降，进而带动探针1312沿着检测连接孔口23下降缩起脱离校正位112，标准LED灯珠熄灭，驱动电机驱动检测转盘11转动，校正位112离开检测位，同时位于该校正位112后侧的校正位112与检测位对位，检测组件13重复在前的检测动作，如此循环往复，实现多个校正位112的标准LED灯珠的检测。

校正位112检测后，若要进行待测LED灯珠的批量化检测生产，控制驱动电机调整变换角位移转动，调整为置料位111与机台2的检测位的对位，此角位移设定为置料角位移；当置料位111与机台2的检测位对位时，检测组件13对置料位111的待测LED灯珠的检测动作与检测组件13对校正位112的标准LED灯珠的检测动作相同。另外，分光检测装置1的置料位111的待测LED灯珠的流转过程为：在导向板14的进料口，置料位111的气口113与第一吸气通道21连通，将位于进料口的待测LED灯珠吸取入置料位111内，然后随着检测转盘11的转动，放置有待测LED灯珠的置料位111位移至检测位，检测组件13对待测LED灯珠进行光电参数检测，经过检测的待测LED灯珠随着置料位111位移至导向板14的出料口142，置料位111的气口113与第一吹气通道22连通，将置料位111内的待测LED灯珠向出料口142吹出以流转，置料位111空余，并随着检测转盘11的转动位移至导向板14的进料口，重复前述检测流转过程，如此实现待测LED灯珠的批量化生产检测。

在批量化生产检测过程中需要进行标准LED灯珠复测的时候，在先置料位111的待测LED灯珠检测完成后，驱动电机控制由置料角位移切换为校正角位移，由在先置料位111与检测位的对位切换为位于在先置料位111和在后置料位111之间的校正位112与机台2的检测位的对位，进行标准LED灯珠复测，复测合格后，驱动电机直接控制校正角位移切换为置料角位移，在后置料位111直接与机台2的检测位对位，进行下一批量化生产检测。若复测不合格，驱动电机保持校正角位移转动，使得各个校正位112依次与检测位对位，进行多个校正位112的标准LED灯珠的校正检测，直至检测结果合格。其中，通过控制检测转盘11的转动圈数，可以保证多圈复测后位于检测位上的校正位112即复测开始时的校正位112，则复测结束后，控制驱动电机切换为置料角位移转动时，是原在后置料位111与检测位对位，顺利进行下一批量化生产检测。

实施例2

参照图6，本实施例与实施例1的不同之处在于，检测转盘11上校正位112内设有承托标准LED灯珠的底板114，底板114上开设有能与检测位的检测连接孔口23对应连通的通孔，通孔对应检测连接孔口23成对设置，各通孔内均填充有金属块115，底板114上标准LED灯珠的电极分别与各金属块115接触连接。

实施例2的实施原理为：在检测转盘11转动过程中，校正位112的底板114的承托作用能够使得标准LED灯珠的电极不会长期与机台2表面摩擦，电极不会磨损；当校正位112与检测位对位的时候，检测组件13的探针与底板114的金属块115连接，进而与标准LED灯珠的电极连接。

优选的，为了减少标准LED灯珠随着检测转盘的长时间转动而移出校正位的情况，还可以在底板上设置限位台，所述限位台位于校正位的径向开口上，通过限位台可限制标准LED灯珠在校正位上的径向位移，降低标准LED灯珠移出校正位的情况。

本申请实施例还公开一种分光机。

实施例3

参照图7，一种分光机，包括上料装置3、上述分光检测装置1、分料装置4和工控主机，上料装置3为盛放有待测LED灯珠的振动盘，振动盘的输出通道的出料端与分光检测装置1的进料口连接，振动盘向分光检测装置1振动输送待测LED灯珠；上料装置3的出料端和分光检测装置1的进料口之间还设有第一光纤传感组件5，第一光纤传感组件5用于上料装置3和分光检测装置1之间的待测LED灯珠的检测计数。

参照图8和图9，分料装置4设于分光检测装置1的机台2上，分料装置4位于分光检测装置1的出料口142的一侧，分料装置4和分光检测装置1之间设有第二光纤传感组件6，第二光纤传感组件6用于分料装置4和分光检测装置1之间LED灯珠的检测计数。分料装置4包括分料转盘41和驱动分料转盘41转动的分料驱动装置，分料驱动装置安装于机台2下表面，分料驱动装置的驱动轴穿出机台2的上表面，分料转盘41安装于机台2的上表面的驱动轴上，分料转盘41可转动的抵于机台2的上表面，分料转盘41的圆周边上还设有容纳LED灯珠的分料槽口411，机台2上设有环绕分料转盘41的分料导板42，分料转盘41的圆周边可转动的与分料导板42抵接，分料导板42上对应分光检测装置1的出料口142的位置开设分料进料口421，分料导板42上沿圆周方向均匀开设有多个落料口422，各个落料口422分别对应一个分类区间，机台2上位于分料导板42的下方开设有多个落料通道，各落料通道与分料导板42的落料口422一一对应设置，机台2下表面安装有多个物料盒，各个物料盒分别与各落料通道一一对应连接。经过分光检测装置1检测的LED灯珠由分光检测装置1的出料口142输出，经由分料装置4的分料进料口421进入分料转盘41的分料槽口411，工控机根据分光检测装置1的检测结果进行LED灯珠的分类区间的确定，同时控制分料转盘41带动LED灯珠转动至对应分类区间的落料口422处，进行LED灯珠落料归集。

参照图8和图9，机台2上位于分料转盘41的下方还开设有第二吸气通道27和多个第二吹气通道28，各个第二吹气通道28与分料导板42的落料口422一一对应设置，第二吹气通道28的吹气口113朝向落料口422，第二吹气通道28的进气口113位于机台2的下表面，进气口113上安装有电磁阀，各个第二吹气通道28的进气口113通过多通接头共同与空气压缩机连接，通过控制各个第二吹气通道28的进气口113的电磁阀的启闭可控制各个第二吹气通道28的吹气状态。分料转盘41的分料槽口411的径向侧壁上开设有分料气孔，当分料槽口411与落料口422对应时，分料气孔与该落料口422对应的第二吹气通道28连通，第二吹气通道28的吹气口113通过分料气孔将分料槽口411内的LED灯珠吹入对应的落料口422内。第二吸气通道27与导向分料导板42的分料进料口421对应设置，第二吸气通道27的吸气口113朝向分料进料口421，第二吸气通道27的抽气口113位于机台2的下表面，抽气口113通过气管与真空机连接。分料转盘41的分料槽口411与分料进料口421对应时，分料气孔与第二吸气通道27连通。

参照图7，分料导板42上还安装有分料盖板43，分料盖板43覆盖分料转盘41的分料槽口411。

本申请实施例一种分光机的实施原理为：上料装置3、分光检测装置1、分料装置4分别与工控主机连接；上料装置3向分光检测装置1输送待测LED灯珠，分光检测装置1对待测LED灯珠进行参数检测并输送给分料装置4，工控主机根据分光检测装置1的检测结果对待测LED灯珠进行分类，工控主机根据分类结果控制分料装置4将待测LED灯珠进行分类归集。分光机通过分光检测装置1能够实现在线标准LED灯珠复测。在分光机进行标准LED灯珠复测时，在先批量检测的待测LED灯珠和在后批量检测的待测LED灯珠可直接在检测转盘11上分别位于校正位112前后的在前置料位111和在后置料位111上，在先批量检测的待测LED灯珠检测完后，控制校正位112对位检测，检测完成后可立即对在后批量检测的待测LED灯珠的置料位111对位检测，进行批量化检测生产。节省了复测完成后在后批量检测的待测LED灯珠由上料装置3到检测转盘11进料口、由检测转盘11进料口至检测组件13的流转区，在先批量检测的待测LED灯珠和在后批量检测的待测LED灯珠之间的流转间断性低，提高了待测LED灯珠的批量检测生产的连续性，改善了标准LED灯珠复测时的生产间断问题。

本申请实施例还公开一种检测校正方法。

实施例4

参照图10，一种检测校正方法，包括如下步骤：

制备标准LED灯珠；

采用标准机对标准LED灯珠进行参数检测，标准机检测获得的参数为标准参数；其中，标准机可以为标准分光机也可以为标准检测机；

将标准LED灯珠置于前述实施例3的分光机的校正位上，同时在工控主机上根据待测LED灯珠的特性，对分光机进行检测参数设置，同时输入标准参数、允许误差范围值；检测参数设置包括有检测条件、分类条件；

分光机进入校正模式，控制检测组件对校正位上的标准LED灯珠进行参数检测，分光机对标准LED灯珠检测获得的参数为校正参数，分光机将校正参数和标准参数进行比较，以获取校正参数和标准参数之间的偏差值，分光机依据偏差值进行校正使得校正参数和标准参数一致，然后分光机根据校正后的校正参数、预先输入的允许误差范围值自动生成误差区间；其中，校正时，检测组件可以是以一个校正位上的标准LED灯珠的校正参数直接作为校正标准；也可以是依次对多个校正位上的标准LED灯珠进行检测校正，实现多次的校正调试，并且通过设置检测转盘的转动周次以确定校正终点，通过校正调试的次数增加能够有利于缩小偏差，提高校正效果；

分光机进入首测模式，控制检测组件依次对多个校正位上的标准LED灯珠进行首测，此时分光机对标准LED灯珠检测获得的参数为首测参数，将首测参数和误差区间进行比较，判断首测参数是否属于误差区间范围内，若首测参数位于误差区间范围内则可进行批量化生产；若首测参数超出误差区间范围，则分光机重新进入校正模式；其中，可通过设定检测转盘的转动周次以限定首测时分光机对校正位的标准LED灯珠的检测数；

批量化生产过程中，分光机根据预设的时间阈值或者预设的检测数量阈值，定期地对标准LED灯珠进行复测，本申请实施例中，分光机可根据分光检测装置的检测转盘的转动圈数进行定期复测的周期限定。分光机复测时，控制检测组件对校正位上的标准LED灯珠进行参数检测，分光机将对标准LED灯珠的复测结果与误差区间进行比较，若复测结果在误差区间内，继续批量化生产；若复测结果超出误差区间，则分光机重新进入校正模式，而且，分光机也可以进行声光报警警示工作人员。

通过采用上述技术方案，标准LED灯珠设于检测转盘上，分光机可以直接在线控制检测转盘的校正位和检测组件之间的检测对位，通过校正位上标准LED灯珠的在线检测自动进行检测校正，简化了工作人员对于分光机的安装校正调试等人工操作工序，提高校正检测的效率，降低工作人员的工作强度。

实施例5

实施例5和实施例4的区别在于，实施例5的检测校正方法中分光机的首测模式为：选一批待测LED灯珠在分光机上进行检测分类流转，该过程中，分光机控制检测组件对置料位上的待测LED灯珠进行参数检测；待测LED灯珠批量检测完成后，采用标准分光机对待测LED灯珠进行抽检，判断抽检结果是否与检测分类结果相符合，若符合则可进行批量化生产；若不符合，重新进入校正模式。该批待测LED灯珠的个数可以为100也可以为500也可以为1000，具体的个数可以根据使用需求进行选择设定。

实施例6

实施例6和实施例4的区别在于，实施例6的检测校正方法中分光机的首测模式为：分光机先控制检测转盘的校正位与检测组件对位检测，先对校正位上的标准LED灯珠进行首测，若首测参数位于误差区间范围内则可进行首批待测LED灯珠的首测；若首测参数超出误差区间范围，则分光机重新进入校正模式。其中，首批待测LED灯珠的首测：分光机控制检测转盘的置料位与检测组件对位检测，选一批待测LED灯珠在分光机上进行检测分类流转，该过程中，分光机控制检测组件对置料位上的待测LED灯珠进行参数检测；待测LED灯珠批量检测完成后，采用标准分光机对待测LED灯珠进行抽检，判断抽检结果是否与检测分类结果相符合，若符合则可进行批量化生产；若不符合，重新进入校正模式。

以上均为本申请的较佳实施例，并非依此限制本申请的保护范围，故：凡依本申请的结构、形状、原理所做的等效变化，均应涵盖于本申请的保护范围之内。