一种led灯珠抗硫化测试装置

文档序号:1962828 发布日期:2021-12-14 浏览:7次 >En<

阅读说明:本技术 一种led灯珠抗硫化测试装置 (Anti vulcanization testing arrangement of LED lamp pearl ) 是由 王国君 朱小清 张耀华 杜元宝 张庆豪 于 2021-09-24 设计创作,主要内容包括:本发明公开了一种LED灯珠抗硫化测试装置,包括测试容器和密封盖,测试容器内为测试腔,测试腔底部设有用以盛放测试试剂的试剂杯,测试腔的底部还设有用以安装LED灯珠的安装板,安装板位于试剂杯外。测试过程中,试剂杯设置在测试腔中,测试试剂和LED灯珠分别位于试剂杯内和试剂杯外。测试试剂挥发进入测试容器内的气体中,测试容器通过密封盖密封,因而挥发后的测试试剂会与LED灯珠接触,进而使LED灯珠发生硫化。经过一定时间的测试后,对LED灯珠通电,对比测试前和测试后LED灯珠亮度的变化可确定LED灯珠的抗硫化能力。测试过程直接对LED灯珠进行硫化,测试结果更加准确,同时不需要解剖LED灯珠,降低了测试结果的分析难度,提高了分析效率。(The invention discloses an anti-vulcanization testing device for LED lamp beads, which comprises a testing container and a sealing cover, wherein a testing cavity is arranged in the testing container, a reagent cup used for containing a testing reagent is arranged at the bottom of the testing cavity, an installation plate used for installing the LED lamp beads is also arranged at the bottom of the testing cavity, and the installation plate is positioned outside the reagent cup. In the testing process, the reagent cup is arranged in the testing cavity, and the testing reagent and the LED lamp beads are respectively positioned in the reagent cup and outside the reagent cup. In the test reagent volatilizees the gas that gets into in the test container, the test container is sealed through sealed lid, therefore the test reagent after volatilizing can contact with LED lamp pearl, and then makes LED lamp pearl take place to vulcanize. After a certain time of testing, the LED lamp beads are electrified, and the anti-vulcanization capacity of the LED lamp beads can be determined by comparing the brightness change of the LED lamp beads before and after the testing. The LED lamp beads are directly vulcanized in the testing process, the testing result is more accurate, the LED lamp beads do not need to be dissected, the analyzing difficulty of the testing result is reduced, and the analyzing efficiency is improved.)

一种LED灯珠抗硫化测试装置

技术领域

本发明涉及照明设备检测技术领域,特别涉及一种LED灯珠抗硫化测试装置。

背景技术

现有的LED灯珠普遍采用镀银支架封装,而LED灯珠在制造、运输、储存和使用的过程中不可避免地会接触到硫元素。当银与硫相遇会产生化学反应生产硫化银,导致LED灯珠发黑变色设置失效。因此LED灯珠的抗硫化能力是其重要的性能指标之一,LED灯珠出厂前需要进行抗硫化能力检测。

目前常规的测试方法包括红墨水实验和硫化氢测试。红墨水实验是把封装好的LED灯珠浸泡在红墨水进行蒸煮,或者浸泡在红墨水酒精混合溶液里。一定时间后观察红墨水在LED灯珠内部的渗透程度进而推测LED灯珠的抗硫化性能,不足之处是红墨水实验只能测试部分性能,不能完全反应LED灯珠的抗硫化能力。而且实验结果分析时,需要解剖LED灯珠进行判断,分析难度较大,准确性相对较低。硫化氢测试则需要购买专门的大型测试设备,且硫化氢气体属于易燃、剧毒气体,需要具备相应的操作资质。不具备操作资质的厂商需要委托第三方实验室进行实验,成本很高且时效性很差。

因此,如何提供一种准确性高、实验难度低的LED灯珠抗硫化测试装置是本领域技术人员急需解决的技术问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种LED灯珠抗硫化测试装置,将测试试剂和LED灯珠分别设置在试剂杯的内侧和外侧,测试试剂挥发后与LED灯珠接触,使LED灯珠发生硫化,进而测试得到准确的LED灯珠抗硫化性能。

为实现上述目的,本发明提供一种LED灯珠抗硫化测试装置,包括测试容器和密封盖,所述测试容器内为测试腔,所述测试腔底部设有用以盛放测试试剂的试剂杯,所述测试腔的底部还设有用以安装LED灯珠的安装板,所述安装板位于所述试剂杯外。

优选地,所述试剂杯和所述测试腔底面的中心重合。

优选地,所述试剂杯与所述测试容器为一体成型结构件。

优选地,所述测试容器和所述试剂杯均为透明玻璃材料制成,所述试剂杯的侧壁具有用以指示测试试剂量的刻度线。

优选地,所述安装板为多块,且在所述试剂杯和所述测试腔的内侧壁之间沿所述试剂杯的周向均匀分布。

优选地,所述安装板为PCB板,所述PCB板设有用以安装LED灯珠的检测工位和正极连接点、负极连接点,所述正极连接点和所述负极连接点与各所述检测工位电连接。

优选地,所述PCB板为铝基线路板。

优选地,所述检测工位在所述安装板上沿mⅹn矩阵分布,m和n均为正整数。

优选地,所述安装板的下侧面设有用以与所述测试容器的底部相连的连接部。

优选地,所述测试容器的底部设有用以与所述安装板卡接固定的卡接槽。

本发明所提供的LED灯珠抗硫化测试装置,包括测试容器和密封盖,测试容器内为测试腔,测试腔底部设有用以盛放测试试剂的试剂杯,测试腔的底部还设有用以安装LED灯珠的安装板,安装板位于试剂杯外。

测试过程中,试剂杯设置在测试腔中,测试试剂和LED灯珠分别位于试剂杯内和试剂杯外。测试试剂挥发进入测试容器内的气体中,测试容器通过密封盖密封,因而挥发后的测试试剂会与LED灯珠接触,进而使LED灯珠发生硫化。经过一定时间的测试后,对LED灯珠通电,对比测试前和测试后LED灯珠亮度的变化可确定LED灯珠的抗硫化能力。测试过程直接对LED灯珠进行硫化,测试结果更加准确,同时不需要解剖LED灯珠,降低了测试结果的分析难度,提高了分析效率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据提供的附图获得其他的附图。

图1为本发明所提供的LED灯珠抗硫化测试装置的侧视图;

图2为图1中LED灯珠抗硫化测试装置的俯视图;

图3为图1中容器的侧视图;

图4为图1中容器的俯视图;

图5为图1中线路板的结构示意图;

图6为图1中线路板的侧视图。

其中,图1至图6中的附图标记为:

测试容器1、密封盖2、测试试剂3、安装板4、LED灯珠5、试剂杯11、铝基线路板41、正极连接点42、负极连接点43、双面胶44。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。

为了使本技术领域的技术人员更好地理解本发明方案,下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步的详细说明。

请参考图1至图6,图1为本发明所提供的LED灯珠抗硫化测试装置的侧视图;图2为图1中LED灯珠抗硫化测试装置的俯视图;图3为图1中容器的侧视图;图4为图1中容器的俯视图;图5为图1中线路板的结构示意图;图6为图1中线路板的侧视图。

本发明所提供的LED灯珠抗硫化测试装置,结构如图1和图2所示,包括测试容器1和密封盖2。测试容器1内为测试腔,测试腔内设有试剂杯11和安装板4,测试试剂3盛放在试剂杯11中,试剂杯11设置在测试腔底部。LED灯珠5固定在安装板4上,安装板4位于测试腔的底部,并位于试剂杯11外,LED灯珠5不会与测试试剂3直接接触。测试试剂3可采用硫粉、含硫溶液或含氯、溴的可挥发物质等。测试试剂3具有挥发性,其挥发后与LED灯珠5接触,测试试剂3中的硫与LED灯珠5中的银反应生成硫化银。该过程更接近于LED灯珠5的实际工作状况,因而测试结果会更加准确。测试过程中可对测试容器1进行不同温度、不同时长的加热,进一步使实验条件接近与LED灯珠5的使用条件。

安装板4通常为多块,每块安装板4可安装多个LED灯珠5,因而一次实验可对多个LED灯珠5进行测试,提高了测试效率。密封盖2安装在测试容器1的开口处,对测试腔进行密封,从而避免挥发的测试试剂3进入空气中,造成空气污染。实验结束后可在通风橱等处开启密封盖2,取出LED灯珠5。

可选的,试剂杯11和测试腔底面的中心重合,试剂杯11与测试腔的内侧壁之间形成环形的空间,全部安装板4在该环形空间的底部沿其周向均匀设置。因而每块安装板4与试剂杯11之间的距离大致相等,安装板4上的LED灯珠5接触到硫元素的机会均等,避免硫元素在挥发时直射扩散的随机性对测试结果造成影响。

可选的,试剂杯11与测试容器1为一体成型结构件,试剂杯11与测试容器1的底部固定。避免了测试容器1移动时,试剂杯11与测试容器1产生相对运动。进而避免了试剂杯11与测试容器1产生碰撞或测试试剂3意外洒出。同时也提高了试剂杯11定位的准确性。当然,用户也可根据需要将试剂杯11独立设置,并通过内嵌等方式与测试容器1相连,在此不做限定。另外,用户也可将测试容器1中环形部分作为试剂杯11,将安装板4放置在测试容器1的中央。

另外,图4中测试容器1和试剂杯11横截面均为圆形,用户也可根据需要采用其他形状的测试容器1和试剂杯11,例如正方形、矩形、正六边形或正八边形等,在此不做限定。

为提高测试的准确性,测试过程需要对测试试剂3的用量进行严格控制。为方便确定测试试剂3量,测试容器1和试剂杯11均采用透明玻璃材料制成。测试人员从外部可观察测试试剂3的使用量和测试过程中测试试剂3的剩余量。另外,试剂杯11的侧壁具有刻度线,方便测试人员准确判断测试试剂3的剂量。

测试前和测试后需要对LED灯珠5通电,并对比测试前后LED灯珠5的光参数变化。为方便测试LED灯珠5的光参数,安装板4可采用PCB板,PCB板设有正极连接点42、负极连接点43和检测工位。正极连接点42和负极连接点43与各检测工位电连接。PCB板通过正极连接点42、负极连接点43与电源相连,LED灯珠5通过回流焊的方式固定在PCB板上。将正极连接点42和负极连接点43连接电源,即可一次性完成整块PCB板上的LED灯珠5的光参数测试,进一步提高了测试效率。

可选的,PCB板为铝基线路板41,铝基线路板41具有更好的导热性,能够实现电路的连接和散热。

可选的,检测工位在安装板4上可沿mⅹn矩阵分布,m和n均为正整数。图2中测试工位沿4ⅹ3矩阵分布,用户也可根据需要自行设定m和n的数值,在此不做限定。测试工位之间可采用串联、并联或串并混合的方式进行连接,例如图2中安装板4上可设置4条并联支路,每条并联支路上串联3个测试工位。当然,用户可根据需要自行设定测试工位之间的连接方式,在此不做限定。

为避免测试过程中安装板4发生位移,安装板4的下侧面设有连接部,连接部将安装板4与测试容器1的底部固定连接。如图6所示,本申请的一种具体实施方式中,连接部为双面胶44,双面胶44将安装板4粘接固定在测试容器1的底部,测试完成后将安装板4揭下即可。

可选的,本申请的另一种具体实施方式中,测试容器1的底部设有卡接槽,安装板4通过卡接槽与测试容器1的底部卡接固定。卡接槽可由金属或塑料弹片等制成,其可产生弹性形变,进而对安装板4卡接固定。卡接槽的结构可参考现有技术,在此不再赘述。当然用户也可将安装板4直接放置在测试容器1的底部,在此不做限定。

本实施例中,LED灯珠抗硫化测试装置在测试容器1内设置了试剂杯11,在试剂杯11中盛放测试试剂3,并在其他位置放置安装有LED灯珠5的安装板4。测试试剂3挥发后与LED灯珠5接触,进而模拟LED灯珠5实际使用时的硫化过程,使测试结果更加准确。硫化实验完成后,对安装板4通电,进而将安装板4上的全部LED灯珠5点亮,对比测试前后LED灯珠5的光参数变化可确定LED灯珠5的抗硫化性能。LED灯珠抗硫化测试可一次对多颗LED灯珠5进行测试,显著提高了测试效率。

需要说明的是,在本说明书中,诸如第一和第二之类的关系术语仅仅用来将一个实体与另外几个实体区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体之间存在任何这种实际的关系或者顺序。

以上对本发明所提供的LED灯珠抗硫化测试装置进行了详细介绍。本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想。应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明原理的前提下,还可以对本发明进行若干改进和修饰,这些改进和修饰也落入本发明权利要求的保护范围内。

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