计量设备以及制造方法

文档序号:1966857 发布日期:2021-12-14 浏览:14次 >En<

阅读说明:本技术 计量设备以及制造方法 (Metrology apparatus and method of manufacture ) 是由 乔纳森·哈克特 于 2020-03-16 设计创作,主要内容包括:本文描述了计量设备以及制造用于计量设备的滑架组件的方法。滑架组件被配置为支撑测量探针。滑架组件包括:孔,被配置为收容具有纵轴的基准轨,并且被配置为允许基准轨从孔中滑过;通道,被配置为收容具有纵轴的导轨,并且被配置为允许导轨从通道中滑过,其中,导轨平行于基准轨。孔和通道中的至少一个包括与滑架组件一体形成的偏置装置,该偏置装置用于禁止滑架组件在除了沿基准轨或导轨的对应纵轴以外的方向上相对于对应的基准轨或导轨移动。(Metrology apparatus and methods of manufacturing a carriage assembly for a metrology apparatus are described herein. The carriage assembly is configured to support a measurement probe. The carriage assembly includes: a bore configured to receive a reference rail having a longitudinal axis and configured to allow the reference rail to slide through the bore; a channel configured to receive a rail having a longitudinal axis and configured to allow the rail to slide therethrough, wherein the rail is parallel to the reference rail. At least one of the aperture and the channel includes a biasing means integrally formed with the carriage assembly for inhibiting movement of the carriage assembly relative to the corresponding reference rail or guide rail in directions other than along the corresponding longitudinal axis of the reference rail or guide rail.)

计量设备以及制造方法

技术领域

本发明涉及用于计量设备的滑架组件(carriage assembly,也称为托架组件)、包括该滑架组件的计量设备、以及制造该滑架组件的方法。

背景技术

一些类型的计量设备(例如表面测量仪器)包括测量探针和传感器,测量探针用于跟随工件表面,传感器响应于表面特征(例如纹理或形状)提供取决于测量探针的移动的信号。为了跟随工件表面,需要以最小化系统误差或随机误差的方式构造计量设备。

S-100系列表面粗糙度测试仪是被配置为对工件进行表面测量的计量设备的示例。S100包括安装在沿基准轨(datum rail)和导轨(guide rail)滑动的滑架组件上的测量探针。滑架组件由若干部件(见图1和图2以及下面的描述)制造,并且这些部件被精确地布置以有效地连接在一起。

以这种方式布置这些部件和制造S-100的滑架组件是耗时且复杂的,特别是因为围绕基准轨的部件(例如轴衬)需要仔细对齐,以便滑架组件能够沿基准轨平稳地滑动。此外,如果在制造过程中产生任何误差,这可能导致计量测量存在系统误差。

因此,现有技术的问题是与组装滑架组件相关联的时间、复杂度、以及困难度。本公开的实施例可以设法减轻这些问题。

发明内容

本发明的各方面在所附权利要求中给出。可选特征在从属权利要求中给出。

在本示例中,发明人意识到,虽然滑架组件的各个不同部分在功能上非常不同(有时是矛盾的——例如,提供刚性支撑和提供偏置力),但是这些不同部分可以被制成一个整体,并且仍然执行矛盾的功能。例如,滑架组件的结构需要是刚性的,以支撑测量探针,约束滑架组件相对导轨的旋转,并获得沿基准轨的直线移动以执行精确的计量测量,同时滑架组件的结构还需要是柔性的,例如以容纳导轨和/或基准轨。

根据本公开的第一方面,提供了一种用于计量设备的滑架组件,该滑架组件被配置为支撑用于测量工件表面的测量探针。滑架组件包括被配置为收容基准轨并允许基准轨从其中滑过的孔,以及被配置为收容导轨并允许导轨从其中滑过的通道,其中,导轨平行于基准轨。孔和通道中的至少一个包括与滑架组件一体形成的偏置装置。可选地,偏置装置可以被配置为禁止滑架组件在除了沿基准轨或导轨对应的纵轴以外的方向(例如一个方向,或在一些示例中,所有方向)上相对于对应的基准轨或导轨移动。

在使用时,因为滑架组件310支撑测量探针350,所以滑架组件310需要是相对坚硬的。本公开的示例的滑架组件310的整体结构提供了其他益处,例如使该设计具有所需的硬度从而滑架组件310相对坚硬。

此外,通过将活动表面(running surface)(即,通道和孔的内表面)一体地形成到滑架组件中,这些表面被固有地对齐,因此这去除了对沉降(settling)和随后的胶合(gluing)的需要。

可选地,包括偏置装置的滑架组件可以由单个整体件形成。进一步可选地,孔、通道、和/或偏置装置可以由相同的材料形成。可选地,上述材料可以是聚醚醚酮(polyetherether ketone,PEEK),可选地,上述材料可以通过碳纤维增强,和/或可选地,上述材料还包含聚四氟乙烯(polytetrafluoroethylene,PTFE)。

在一些示例中,上述孔包括第一偏置装置,该第一偏置装置被配置为禁止滑架组件绕横向于基准轨的纵轴的轴旋转,从而基准轨被孔固定,但被配置为在该孔内滑动。

滑架组件的水平轴穿过孔和通道。在一些示例中,通道包括第二偏置装置,该第二偏置装置被配置为在通道中偏置导轨。来自通道的第二偏置装置的偏置的至少一个分量可以在横向于水平轴和横向于导轨的纵轴的方向上。

滑架组件的通道可以还包括与第二偏置装置相对的导向垫(guide pad)。导向垫和第二偏置装置均可以与滑架组件一体形成。在使用时,导向垫和第二偏置装置可以被配置为与导轨接触并允许导轨在导向垫和第二偏置装置之间滑动。可选地,导向垫可以被成型为允许滑架组件沿导轨移动并减小导向垫和导轨之间的摩擦。例如,导向垫可以被配置为以至少部分圆形表面与导轨接触。导向垫可以足够长,以保持坚硬和稳定性,但也要足够短,以使其接触实际为点接触,因此仅限制滑架绕基准轨的旋转,而不影响移动的平直度。为此,导向垫的固定/刚性侧以圆柱表面接触导轨,圆柱表面的轴与导轨轴交叉,因此产生单个接触点。第二偏置装置的接触面可以是圆形的,以便当摩擦阻力在移动期间对每个梁(beam)施加扭矩使其旋转时,第二偏置装置仍然对导轨呈现相同的表面形状。

在一些示例中,滑架组件可以被配置为连接到移动装置,该移动装置被配置为沿基准轨和导轨移动滑架组件。滑架组件可以被配置为在一个方向上同时偏置基准轨或导轨,并且当滑架组件被移动装置移动时,允许相应的基准轨或导轨在横向方向上滑过对应的孔或通道。例如,当滑架组件被移动装置移动时,偏置装置可以被配置为同时偏置基准轨或导轨并允许相应的基准轨或导轨滑过对应的孔或通道。

移动装置可以是适于向滑架组件提供力以迫使滑架组件沿基准轨和导轨移动的任何设备。移动装置可以包括马达、引擎、移动重物的系统、滑轮系统、或用于使滑架组件沿导轨和基准轨移动的任何其他合适的装置。

滑架组件可以包括用于收容移动装置的接口(例如,槽口(slot))。接口可以被配置为可释放地连接到移动装置。例如,滑架组件可以包括连接通道和孔的前面板。前面板可以包括用于收容移动装置的槽口,使得滑架组件可以从移动装置移除(例如用于维修或检查)。

应理解,滑架组件可以支撑测量探针,并且测量探针可以被配置为在滑架组件沿基准轨和导轨移动时与滑架组件一起移动。例如,滑架组件沿基准轨和导轨的位移可以等于测量探针的位移。测量探针可以适于测量工件的表面粗糙度、表面电导、或其他表面属性。在一些示例中,可以测量滑架组件沿基准轨的相对移动,以确定测量探针的位移。可以使用传感器和/或基于提供给移动装置的能量(例如,提供给移动装置的电流)来确定滑架组件沿基准轨的移动。

在一些示例中,测量探针可以被配置为通过在垂直于和/或平行于基准轨和导轨的纵轴的方向上移动来测量工件。测量探针可以被配置为当滑架组件沿基准轨和导轨移动时被动地跟踪工件的表面高度。

偏置装置可以是任何适于对导轨和/或基准轨提供力以使得导轨和/或基准轨被滑架组件牢固地支持(例如,使得导轨和/或基准轨与相应的通道和孔具有过盈配合(interference fit))的装置。偏置装置可以是弹簧臂的形式或用作弹簧臂。弹簧臂可以与滑架组件一体形成,并且在一些示例中,弹簧臂可以由与滑架组件的其余部分相同的材料制成。然而,应理解,在一些示例中,偏置装置的形式可以是不同类型的弹簧、或弹性元件、或任何其他合适的装置。

可选地,上述孔具有至少一个沿其内表面设置的纵向凹槽。有利地,纵向凹槽可以允许任何磨损颗粒(wear particles)沿凹槽迁移并远离任何活动表面(即,远离基准轨和滑架组件之间的任何接触点)。

孔沿基准轨的纵轴延伸的距离可以大于通道沿导轨的纵轴延伸的距离。此外,可选地,孔沿基准轨的纵轴延伸的距离是通道沿导轨的纵轴延伸的距离的至少三倍。

可选地,滑架组件包括加强条,该加强条可以在孔和通道之间延伸。进一步可选地,滑架组件包括第二加强条,该第二加强条可以至少部分地沿基准轨的长度和/或孔的长度延伸。加强条可以提高滑架组件的硬度,并因此提高由使用了滑架组件的计量设备执行的测量的精度。

根据本公开的第二方面,提供了一种用于计量设备的滑架组件,该滑架组件被配置为支撑用于测量工件表面的测量探针。滑架组件包括被配置为收容基准轨并允许基准轨从其中滑过的孔。该孔包括第一偏置装置,该第一偏置装置被配置为将基准轨偏置到孔内的收容部中。基准轨具有纵轴,收容部被配置为禁止滑架组件绕横向于基准轨的纵轴的轴旋转,从而基准轨被孔固定,但被配置为在孔内滑动。在一些示例中,收容部被配置为禁止基准轨在除了沿纵轴以外的方向移动。第一偏置装置的偏置的至少一个分量可以在平行于水平轴的方向上。

可选地,收容部通常是v形的,以提供与基准轨的至少两个接触点。可选地,除了由第一偏置装置提供的接触点之外,收容部还提供与基准轨的至少三个接触点。提供这样的被配置为收容的收容部意味着无论方向如何(例如,无论是直立还是颠倒),滑架组件310都可以沿基准轨322平滑地滑动。

可选地,第一偏置装置可以包括一对偏置装置,该对偏置装置被布置成沿基准轨的长度的至少一部分隔开,以禁止滑架组件绕水平轴中的平面旋转。第一偏置装置可以被配置为在平行于滑架组件的水平轴的方向上将基准轨偏置到收容部中。在第一偏置装置包括一对偏置装置的示例中,由于这对偏置装置相对的力不相等,所以这对偏置装置中的每一个偏置装置所施加的力不一定与另一个相同。来自导轨和/或基准轨的力(重量和摩擦力)和拖动扭矩(drag torque)的组合意味着滑架组件每一端的合力可能不同。同样,如果第一偏置装置只包括一个偏置装置,那么该偏置装置在基准轨上的作用位置可能偏离中心,以平衡扭矩和力。

在一些示例中,上述孔沿纵轴的至少一部分延伸,并且其中,孔包括至少两个收容部,每个收容部被布置成靠近沿纵轴的上述一部分的孔的相应端部。在其他示例中,收容部在纵轴方向上沿孔的长度延伸。

在一些示例中,滑架组件还包括被配置为收容导轨并允许导轨从其中滑过的通道。导轨还具有与基准轨的纵轴平行的纵轴。滑架组件的水平轴穿过孔和通道,并且收容部被配置为禁止滑架组件绕该水平轴旋转。

可选地,第一偏置装置的偏置的至少一个分量可以在平行于水平轴的方向上。可选地,第一偏置装置可以是适于对基准轨提供力以使得基准轨紧密地配合在孔内(例如以阻止基准轨在孔内在除了沿基准轨的纵轴以外的任何方向上移动),同时允许滑架组件沿基准轨移动的任何装置。例如,第一偏置装置可以是弹簧,例如弹簧臂或一对弹簧臂,或者可以是弹性元件或任何其他合适的装置。第一偏置装置可以允许滑架组件对使用中可能产生的磨损量进行自我补偿。

通道可以包括被配置为在通道中偏置导轨的第二偏置装置,其中,来自第二偏置装置的偏置的至少一个分量在横向于水平轴的方向以及横向于导轨的纵轴的方向上。第二偏置装置可以与滑架组件一体形成。将偏置装置结合到滑架组件中可以无需将偏置装置连接(例如拧紧)到滑架组件。这可以减少预计磨损量更大的点的数量,以及减少制造时间和成本。此外,第二偏置装置还可以允许滑架组件对使用中可能产生的磨损量进行自我补偿。

滑架组件可以被配置为连接到移动装置,该移动装置被配置为沿基准轨移动滑架组件。可选地,移动装置可以是适于向滑架组件提供力以迫使滑架组件沿基准轨移动的任何设备。

可选地,移动装置可以包括马达、引擎、移动重物的系统、滑轮系统或任何其他合适的装置。

根据本公开的第三方面,提供了一种用于测量工件表面的计量设备。计量设备包括滑架组件(例如,上文参照第一方面和/或第二方面描述的滑架组件)、位于通道内的基准轨、位于孔内的导轨、与滑架组件可拆卸地连接的移动装置、以及安装在滑架设备上的测量探针,测量探针被配置为随着滑架组件沿基准轨和导轨移动而移动,并测量工件的表面粗糙度。

根据本公开的第四方面,提供了一种通过注塑(例如闭合模塑(shutoffmoulding))制造滑架组件(例如,上面参照第一方面和/或第二方面描述的滑架组件)的方法。该方法可以包括步骤:将滑架组件的模具定位到第一位置,将第一材料送入模具中,其中,第一材料处于熔融状态并且适于注塑,固化滑架组件的模具内的第一材料,将滑架组件从滑架组件的模具中移除。

附图说明

图1示出了现有技术的计量设备的透视图;

图2示出了在图1的现有技术的计量设备中使用的滑架组件、测量探针、以及导轨和基准轨的透视图;

图3示出了本公开的实施例的示例滑架组件的透视图;

图4示出了图3的示例滑架组件的端视图;

图5示出了图3和图4的示例滑架组件的俯视图;

图6示出了连接到测量探针、导轨、以及基准轨的图3、图4、以及图5的示例滑架组件的透视图;

图7是示出用于制造滑架组件(例如图3至图6的示例滑架组件)的步骤的流程图。

具体实施方式

图1示出了在上文背景技术中讨论的现有技术的S-100系列表面粗糙度测试仪计量设备。计量设备100包括承载用户界面的壳体125,用户界面包括屏幕和用户控制模块,用户控制模块包括一个或多个按钮。从壳体125中的孔127延伸的是测量探针150。测量探针150通过轴152连接到包含在壳体125内的滑架组件210。计量设备100还可以在壳体125内包含控制模块,该控制模块包括处理器、数据存储器、以及功率装置。功率装置可以包括存储能量的源,或者可以是从外部源接收能量的装置。计量设备100还可以在壳体125内包含用于通过滑架组件210移动测量探针150的移动装置226,移动装置226由功率装置驱动并由控制模块控制。

图2示出了现有技术的滑架组件210。滑架组件210的主体形成为L形结构。滑架组件包括用于收容基准轨222的孔214和用于收容导轨224的通道225。通道225和孔214形成在L形一侧的前面板205中,孔214沿L形另一侧的长度延伸穿过滑架组件210。

滑架组件210的前面板205通过延伸穿过前面板205中的全圆洞的轴152进一步连接到移动装置226和测量探针150,因此洞的底部防止滑架组件210被移除,除非移动装置(粘附在壳体125上)与滑架组件210一起被移除。

滑架210组件由多个部件形成。例如,两个滑动轴衬被胶合到孔214的相对端部,以允许滑架组件210在基准轨22上滑动。将滑动轴衬胶合到滑架组件210上通常需要至少24小时,以确保胶合完成而不弯曲滑架组件210的主体,并且使得两个滑动轴衬正确地对齐。通道225还包括用于接触导轨224并在导轨224上滑动的导向垫(导向垫也被胶合在适当的位置上),以及用于将导轨224相对导向垫偏置的板簧(leaf spring)。

然而,如上所述,以这种方式布置这些部件和制造滑架组件210是耗时且复杂的,特别是因为诸如围绕基准轨222的轴衬之类的部件需要仔细地对齐,以便滑架组件210可以沿基准轨222平滑地滑动。此外,由于滑架组件210由多个单独的部件制造形成,设计公差中的变化可能导致滑架组件210发生不利的弯曲和挠曲,这可能影响计量测量。

图3至图6示出了本公开的实施例的滑架组件310的示例。图3至图6的滑架组件310具有与图1和图2所示以及上文讨论的现有技术示例的共同功能。

然而,与图1和图2的滑架组件210相反,图3至图6所示的滑架组件由单个整体件构成,在此示例中,该整体件是注塑塑料,例如聚醚醚酮(PEEK),可选地,该注塑塑料通过碳纤维增强,和/或可选地,该注塑塑料还包括聚四氟乙烯(PTFE)。

与现有技术的示例一样,图3所示的滑架组件310的主体形成为L形结构。滑架组件310包括用于收容基准轨322的孔314和用于收容导轨324的通道325。通道325和孔314形成在L形一侧的前面板305中,孔314沿L形另一侧的长度延伸穿过滑架组件310。滑架组件310的水平轴穿过孔314和通道315。通道315通常为U形,并形成允许导轨324在沿水平轴的方向上滑入通道315的槽口。

导轨324平行于基准轨322。基准轨322具有纵轴,导轨324具有纵轴。因为孔314沿L形状的另一侧的长度延伸穿过滑架组件310(但通道315不这样),所以孔314沿基准轨322的纵轴延伸的距离大于通道315沿导轨324的纵轴延伸的距离,并且孔314本身具有穿过滑架组件310的纵轴。

孔314包括一体形成的第一偏置装置375,该第一偏置装置375与滑架组件310的主体一体形成(例如,第一偏置装置375与滑架组件310为整体结构)。孔314还包括与第一偏置装置375相对的收容部377,在所示的示例中,收容部377近似为V形,并在收容部377和基准轨322之间形成两个固定的接触点,第一偏置装置375与基准轨322形成第三接触点。第三点与上述两个点一起定义了与基准轨322的运动接触平面,该平面将基准轨322保持在两个固定点上。如在图5中可以更详细地看到的,第一偏置装置375包括一对弹簧臂,在所示的示例中,这对弹簧臂通过沿穿过滑架组件310的孔314的纵轴大致中间的一点耦合在一起。四个固定点(两个固定点来自于收容部377(当偏置装置将这两个固定点保持在基准轨322上时),两个固定点来自于第一偏置装置375的两个臂)提供限定的横移方向并去除四个自由度,使得仅沿基准轨322的平移和围绕基准轨322的旋转不受限制。

通道325包括与一体形成的第二偏置装置328相对的一体形成的导向垫326。通道325的导向垫326和一体形成的第二偏置装置328彼此相对的方向横向于孔314的第一偏置装置375和收容部377彼此相对的方向。在所示的示例中,第二偏置装置328包括一对弹簧臂,每个弹簧臂沿着平行于滑架组件水平轴的方向平行于另一个臂延伸。通道325的导向垫326提供第五接触点并去除第五自由度,仅在所需的行进方向上留下剩余自由度。

滑架组件310的前面板305包括可选的中央U形槽口340,槽口340延伸到滑架组件310的前面板310的一侧(在该示例中,基部)。通过限定槽口340的槽加强件341来加强中央槽口340。

在所示的示例中,滑架组件310包括可选的第一加强条342,第一加强条342在孔314和通道315之间延伸,并且在所示的示例中沿前面板305的长度延伸。在所示的示例中,第一加强条342具有靠近孔314的弯销(dog-leg),在所示的示例中,弯销容纳中心槽口340和槽口加强件341。弯销形状有两个功能。弯销在滑架组件310上保持材料的“脊椎”,这有助于材料的整体硬度,而弯销本身允许该脊椎尽可能地将孔314的最左侧V形特征推向部件的外部。这为孔314提供了尽可能宽的面积,使其在可用长度下的稳定性最大化。第一加强条342可以形成孔314和/或通道315的至少一部分。在所示的示例中,第一加强条342提供孔314的圆周的一半,并且还提供通道315的一半或一侧,并在水平轴上延伸通道315的长度。由第一加强条342形成的孔314的圆周的一半沿孔314的纵轴(以及在使用时沿基准轨322的纵轴)偏离孔314的圆周的另一半,以形成伸缩关闭(telescoping shut-off)。

第一加强条342还将通道325的导向垫326支撑在靠近第一加强条342的端部和通道315的端部,以与第二偏置装置328相对。在所示的示例中,第二偏置装置328沿通道315的一侧延伸,延伸方向平行于第一加强条342沿通道315的另一侧延伸的方向,并且延伸的程度与第一加强条342沿通道315的另一侧延伸的程度相同。在所示的示例中,如图5所示,第一加强条342沿水平轴在第二偏置装置328的两个弹簧臂之间延伸,使得第二偏置装置328的每个弹簧臂和连接到第一加强条342的导向垫326沿使用时的导轨324的纵轴彼此偏移,以在导轨324上提供相反的力矩。

滑架组件310还包括可选的第二加强条344,第二加强条344沿孔314的长度延伸并在使用时平行于基准轨322的纵轴。在所示的示例中,第一加强条342连接到第二加强条344并且具有相同的比例(即,高度和厚度)。

在图3至图6中还示出了与滑架组件310整体构成的止挡指示柱320。

孔314被配置为收容基准轨322并允许基准轨322从该孔中滑过。通道325被配置为收容导轨324并允许导轨324从该通道中滑过。

第一偏置装置375被配置为在平行于滑架组件310的水平轴的方向上将基准轨322偏置到收容部377中。第一偏置装置375的一对弹簧臂被配置为在孔314的相对端处对基准轨322施加偏置力。第一偏置装置375和收容部377被配置为禁止滑架组件310在除了沿基准轨322对应的纵轴以外的方向上相对于对应的基准轨322移动。

第二偏置装置328被配置为在使用时在横向于水平轴和横向于导轨324的纵轴的方向上将导轨324朝导向垫326偏置。

应理解,第一偏置装置375和第二偏置装置328的尺寸使得如果滑架组件310是非柔性的,基准轨322和导轨324将不能装配在在间隙中。因此,第一偏置装置375和第二偏置装置328在弯曲以容纳轨道322、轨道324时固有地承受载荷,从而提供抵抗重量和阻力的始终存在的预载荷(preload)。

滑架组件310的前面板305被配置为经由轴352连接到移动装置326和测量探针350。具体地,如图6所示以及在下文更详细地描述的,中央槽口340和槽口加强件341被配置为允许可拆卸地连接到移动装置326和/或与测量探针350连接的轴352。这简化了包含滑架组件和移动装置的计量设备的组装过程,并便于容易地移除计量设备的部件以进行维修和检查。例如,这意味着可以从壳体中移除滑架组件310,同时将移动装置326留在适当位置。

在所示的示例中,孔314不是圆形的(相反,孔314由两个大致三角形的半部形成以构成近似的菱形或平行四边形),并且第一偏置装置375与收容部377一起被配置为与基准轨322形成三点运动连接。第一偏置装置375被配置为偏置基准轨322,以在孔314中的收容部377内保持该连接。这样的三点运动连接可以有助于禁止滑架组件310在除了沿基准轨322的纵轴或围绕基准轨322的纵轴以外的方向上相对于基准轨322运动。

通道325被配置为收容导轨324。第二偏置装置328被配置为在使用时沿横向于滑架组件310的水平轴、横向于孔314的纵轴、以及横向于导轨324和基准轨322的纵轴的方向将导轨324偏置到滑架组件310的导向垫326上。第二偏置装置328还被配置为在横向于第一偏置装置375的偏置方向的方向上将导轨324偏置到滑架组件310的导向垫326上。

滑架组件310被配置为沿导轨324和基准轨322的纵轴沿导轨324和基准轨322滑动(例如,由移动装置326实现)。因此,滑架组件310被配置为易于在一个自由度(例如,在一个轴,例如平行于孔314的纵轴以及在使用时的导轨324和基准轨322的纵轴的轴)上运动,但禁止在所有其他自由度上运动。滑架组件310可以被配置为提供与导轨324和基准轨322的低摩擦度。例如,滑架组件310可以由与金属具有低摩擦度的材料(例如聚醚醚酮(PEEK)和/或聚四氟乙烯(PTFE))制成或包括一定比例的上述材料。

孔314的收容部377被配置为禁止滑架组件310绕横向于基准轨322的纵轴的轴旋转,使得基准轨322被孔314固定,但被配置为在孔314内滑动。收容部377和第一偏置装置375被配置为使得基准轨322可以在比其他情况下更大的公差下使用,从而在经过连续使用的一定程度的磨损之后,在孔314和基准轨322之间仍然保持过盈配合。

在图3至图6的示例中所示的孔314的可选伸缩关闭布置被配置为帮助基准轨322在孔314内的对齐。这意味着不再需要滑动轴衬,因此因为不需要胶合轴衬,所以这简化了制造过程。如上所述,否则胶水将需要24小时来凝固,因此这显著减少了滑架组件310的制造时间。如图3至图6的示例所示的孔314的伸缩关闭设计可以使滑架组件310的注塑更简单和更高效。

止挡指示柱320可以被配置为阻止滑架组件310沿基准轨322移动太远/超出范围,和/或作为测量的零点基准,从而可以测量滑架组件310相对于基准轨322的相对位移。例如,计量设备可以包括传感器(例如,光门),用于感测止挡指示柱320的位置。

在使用时,类似于上面参照图1和图2描述的示例,本公开的实施例的滑架组件310位于计量设备的壳体内。壳体包括连接到壳体的导轨324和基准轨322。滑架组件310安装在导轨324和基准轨322上,并通过延伸穿过壳体中的孔的轴352支撑壳体外部的测量探针350。

滑架组件310连接到移动装置326,并由移动装置326沿导轨324和基准轨322驱动。与参照图1和图2描述的现有技术示例一样,移动装置326可以由控制模块操作。因为滑架组件310支撑测量探针350,所以当滑架组件310沿基准轨322和导轨324移动时,测量探针350(例如,相对于被测量工件)移动。

在一些示例中,孔314包括至少两个收容部377。例如,每个收容部377可以设置为靠近沿基准轨322的纵轴的对应部分的孔314的相应端部。

滑架组件310可以由单一材料形成(或者可以由相同的材料混合物形成,使得其结构是均质的),从而孔314、通道325、和/或偏置装置375、偏置装置328可以由相同的材料形成。滑架组件310可以例如由聚醚醚酮(PEEK)形成。这可以通过碳纤维来加强。另外或替代地,滑架组件310还可以包含聚四氟乙烯。

在一些示例中,应理解,孔314可以不具有收容部377。例如,孔314可以基本上是圆形的。在这样的示例中,孔314也可以不包括第一偏置装置375。

在一些示例中,孔314的内表面可以包括一个或多个凹槽。这些凹槽可以延伸穿过孔。凹槽可以被配置为使得捕获在孔中的任何颗粒,特别是在基准轨322和孔314之间捕获的任何颗粒被容纳在凹槽内。因此,这些颗粒将在基准轨322和滑架组件310之间引起较少的摩擦和/或磨损。由于凹槽的存在,通过沿基准轨322操纵滑架组件310,也更有可能从孔314移除颗粒。注意,虽然在一些实施例中可以采用多个凹槽,但是可以只需要一个凹槽来实现该效果。在一些实施例中,凹槽可以彼此等距间隔,并且在其他实施例中,凹槽可以沿孔的内表面以随机间隔分开。注意,凹槽的存在是整体滑架组件310的可选特征。

图7是示出用于制造滑架组件(例如图3至图6的滑架组件)的方法700的流程图。

该方法包括步骤:将滑架组件的模具定位710到第一位置,将第一材料送入720(例如,注射)模具中,固化730在滑架组件的模具内的第一材料,将滑架组件从滑架组件的模具中移除740。

该模具可以由耐磨材料制造,例如金属(如铝或钢)。钢可能更耐磨,但使用铝可能更便宜。可以基于一些技术和商业考虑来选择模具的材料。第一材料可以是任何适于注塑的材料,并且可以是液体形式。例如,该材料可能是热塑性塑料、热固性材料、以及弹性体。该材料可以是多种材料的合金或共混物。常用的注塑材料有尼龙、聚乙烯、以及聚苯乙烯。可以通过使材料的温度降低到材料的熔点以下或通过压力的变化来固化材料。

一旦材料固化,就形成了滑架组件。滑架组件的移除可以通过由两个或多于两个部件形成的模具来实现,这两个或多于两个部件可以被拆卸以使得滑架组件可以被移除。例如,模具可以具有顶出梢(ejector pin),使得可以容易、可靠、以及快速地打开模具,以允许移除滑架组件。

从上述讨论中应理解,图中所示的实施例仅仅是示例性的,并且包括如本文所描述的和如权利要求中给出的可以概括、移除、或替换的特征。总体上参照附图,应理解,使用示意性功能框图来指示本文描述的系统和设备的功能。然而,应理解,功能不需要以这种方式划分,并且不应被认为意味着除了下文描述和要求的硬件结构之外的任何特定的硬件结构。在附图中示出的一个或多个元件的功能可以进一步细分,和/或分布在本公开的整个设备中。在一些实施例中,图中所示的一个或多个元件的功能可以集成到单个单元中。

上述实施例应理解为说明性示例。还设想了其他实施例。应理解,关于任何一个实施例所描述的任何特征可以单独使用,或者与所描述的其他特征结合使用,并且还可以与任何其他实施例的一个或多个特征结合使用,或者与任何其他实施例的任何组合结合使用。此外,在不脱离所附权利要求中定义的本发明的范围的情况下,也可以采用上文未描述的等价物和修改。

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