具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明做进一步说明。

实施例一

如图1所示为本发明提供的一种共聚焦三维测量系统利用标定装置进行标定的示意图，其中标定装置1包括：至少一层透明或半透明的介质层10，每一所述介质层10至少具有两个层析面；以及用于承载所述介质层10的支撑框架(图中未示出)。

作为进一步的改进，所述介质层10至少为两层，其中，相邻的介质层10之间贴合设置。多层介质层10可以提供更多的层析面，从而可以提供更多的深度信息，三维测量系统在进行测量时可以获取更多的层析面位置信息，从而建立更全面的映射模型。

如图1中所示，本实施例以标定装置具有两层介质层(第一介质层11、第二介质层12)进行说明，每个介质层具有两个层析面，而由于第一介质层11和第二介质层12贴合，其两个层析面重合，因而第一介质层11和第二介质层12组合后具有第一层析面21、第二层析面22、以及第三层析面23，作为优选的实施方式，各层析面之间相互平行。通过三维测量系统可获取各个层析面的位置信息，结合各个介质层的深度信息(介质的深度信息为介质的厚度)，从而可以建立一组基于一一对应的不同层析面聚焦位置和不同层析面实际深度信息的映射模型。

作为一种可选的实施方式，每一所述介质层10的厚度可以相同或可以不同。

本实施例中，各个介质的材料可以是玻璃、或空气、或其他透明或半透明的材质。各个介质层的材料可以相同也可以不同。各个介质层的表面可以镀膜或者不镀膜。

实施例二

与实施例一不同的是，如图2所示，本实施例的标定装置1a也具有两层介质层(第一介质层11a和第二介质层12a)，当然，也可以具有多于两层。其中第一介质层11a具有多个按预设数值形成的凸起部13以在该第一介质层11a上形成厚度不同的层析面(图中未标示)，与之相邻并贴合在一起的另一第二介质层12a具有与所述凸起部13对应的结构以形成不同厚度的层析面，也就是说第二介质层12a具有多个凹部与凸起部13配合形成无缝贴合。这样多个凸起部13就可以形成多个层析面，从而可以提供更多的位置信息。

参考图1中的坐标，结合图2所示，标定装置可以在X-Y平面上具有深度不同的多个凸起部13，多个凸起部13的高度相同或不同，不同的情况下，可以按照一定规律或者编码变化如类似棋盘格布局的状态，按照线性坡度变化的方式设置多个凸起部13，或者按照有规律的坡度变化方式。

在本实施例中，由多个凸起部13构成的多个层析面是相互平行的。

基于以上，可以利用不同介质的厚度变换情况，不仅可以获取在深度上分辨率更高的层析面的深度信息，而且还能对光线在X-Y平面的位置进行追踪定位。

实施例三

与实施例一不同的是，如图3所示，本实施例的标定装置1b也具有两层介质层(第一介质层11b和第二介质层12b)，当然，也可以具有多于两层。本实施例中，第一介质层11b的一个层析面(第4层析面24)为斜面以使该第一介质层11b的厚度逐步变化，与之相邻并贴合在一起的另一第二介质层12b具有与所述斜面对应的表面以使该第二介质层12b的厚度逐步变化，也就是说第二介质层12b与第一介质层11b贴合的面为斜面，第二介质层12b的厚度整体呈逐步变化的。

实施例四

如图4并结合图1所示，基于以上实施例，本发明同时提供一种共聚焦三维测量系统的标定方法，包括步骤：

S1，将标定装置1放置于所述三维测量系统2的光路方向上，其中，所述标定装置1包括至少一层透明或半透明的介质层10以及用于承载所述介质层10的支撑框架，每一所述介质层10至少具有两个层析面；

S2，通过所述三维测量系统2发射光线打在所述标定装置1的介质层上；

S3，通过所述三维测量系统2获取不同层析面的聚焦平面的位置信息；

S4，根据所述位置信息以及不同层析面的实际深度信息建立映射模型。

在本实施例中，所述介质层的数量至少为两层，相邻的两介质层之间贴合设置。

在本实施例中，至少一个所述介质层具有多个按预设数值形成的凸起部以在该介质层上形成厚度不同的层析面，与之相邻并贴合在一起的另一介质层具有与所述凸起部对应的结构以形成不同厚度的层析面。

在本实施例中，所述至少一个所述介质层的一个层析面为斜面以使该介质层的厚度逐步变化，与之相邻并贴合在一起的另一介质层具有与所述斜面对应的表面以使该介质层的厚度逐步变化。

上述实施例仅用于说明本发明的具体实施方式。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，都应属于本发明的保护范围。