二维过渡金属硫族化合物的合成方法

文档序号:728605 发布日期:2021-04-20 浏览:42次 >En<

阅读说明:本技术 二维过渡金属硫族化合物的合成方法 (Synthetic method of two-dimensional transition metal chalcogenide ) 是由 杨树斌 杜志国 于 2019-10-18 设计创作,主要内容包括:本发明公开了一种二维过渡金属硫族化合物的合成方法,包括步骤:加热步骤:在惰性气体的环境中,将过渡金属化合物原料加热至一反应温度;拓扑转化反应步骤:通入含有硫族元素的气体,或,含有硫族元素的气体与含有磷族元素的气体的混合气体,并保持该反应温度一段设定时长,使所述硫族元素,或,硫族元素和磷族元素,与所述过渡金属化合物原料发生拓扑转化反应,生成二维过渡金属硫族化合物。本发明的合成方法具有能够高度反应,产率高、能耗低以及效率高的优点,得到的二维过渡金属硫族化合物单层率高、层数分布窄,能够实现宏量制备,具有极好的工业化应用前景。(The invention discloses a synthetic method of a two-dimensional transition metal chalcogenide, which comprises the following steps: a heating step: heating a transition metal compound raw material to a reaction temperature in an inert gas environment; topology conversion reaction step: introducing gas containing chalcogen or mixed gas of the gas containing chalcogen and the gas containing phosphorus, and keeping the reaction temperature for a set time to enable the chalcogen or the chalcogen and the phosphorus to perform topological transformation reaction with the transition metal compound raw material to generate the two-dimensional transition metal chalcogenide. The synthesis method has the advantages of high reaction degree, high yield, low energy consumption and high efficiency, and the obtained two-dimensional transition metal chalcogenide has high single-layer rate and narrow layer distribution, can realize macro preparation, and has excellent industrial application prospect.)

二维过渡金属硫族化合物的合成方法

技术领域

本发明属于能源技术、物理和电子学领域,涉及金属硫族化物的制备方法,更具体地,涉及能够宏量得到二维过渡金属硫族化合物的合成方法。

背景技术

石墨烯由于优异的电学、光学以及力学性能一经报道就引起了广大科研人员的关注。与此同时,石墨烯的零带隙限制了其在电子学领域的应用。过渡金属硫族化合物,包括:MoS2、MoSe2、MoTe2、TiS2、TiSe2、WS2、WSe2、WTe2等等,是一类层间由范德华力结合的类石墨结构材料,呈现天然存在的三棱柱相(通常用2H表示)和非天然存在的四面体相(通常用1T表示)两种晶态,并且其带隙随着材料厚度的变化可调,在电子器件、光电器件、储能或催化等方面具有应用前景。

单层或少层的二维过渡金属硫族化合物的制备方法目前主要有化学气相沉积法、物理气相沉积法、机械剥离法、液相剥离法和电化学剥离法。气相沉积法,是一种用于制备均一厚度、大尺寸且更多种类的二维过渡金属硫族化合物的有效方法,但是该方法需要苛刻的反应条件(比如压力、温度、基底、前体、冷却速率)和高昂的成本,限制了该方法的进一步推广和应用。而采用剥离法,获得的二维过渡金属硫族化合物的厚度通常具有较宽的分布(单层到数十层),且该方法产率低,比如:2011年,都柏林圣三一学院的Jonathan N.Coleman等人首次报道了液相剥离制备二维材料的工作并发表在《科学》杂志上,通过在异丙醇和氮甲基吡咯烷酮里液相超声二硫化钼和二硫化钨块体并进行离心分离得到对应的二硫化钼和二硫化钨纳米片,其中得到的单层二维纳米片的产率小于1%。HaoLi Zhang等人在《德国应用化学》杂志上报道了运用乙醇和水混合溶剂剥离二硫化钼和二硫化钨块体的工作,其中,当采用35%的乙醇水溶液时剥离产率达到最大,其中单层二硫化钼和二硫化钨的剥离产率也小于1%。

因此,如何制备高效地宏量制备得到具有单层或少层的二维过渡金属硫族化合物成为目前尚未解决的技术问题。

发明内容

针对单层和少层的二维过渡金属硫族化合物难以宏量的制备的的技术问题,本发明提供一种二维过渡金属硫族化合物的合成方法,包括步骤:

加热步骤:在惰性气体的环境中,将过渡金属化合物加热至一反应温度;

拓扑转化反应步骤:通入含有硫族元素的气体,或,含有硫族元素的气体与含有磷族元素的气体的混合气体,并保持该反应温度一段设定时长,使所述硫族元素,或,硫族元素和磷族元素,与所述过渡金属化合物发生拓扑转化反应,生成二维过渡金属硫族化合物。

在一些实施例中,所述过渡金属化合物包括MAX或MX,其中M代表过渡金属元素钪、钛、钒、钇、锆、铌、钼、铪、钽或钨中的一种或多种,A代表铝、硅、磷、硫、镓、锗、砷、镉、铟、锡、铊或铅元素中的一种或多种,X代表碳、硅、硼元素中的一种。

在一些实施例中,所述反应温度介于300℃至1100℃之间,所述设定时长小于等于360min。

在一些实施例中,所述反应温度介于800℃至1100℃之间,所述设定时长小于等于30min。

在一些实施例中,所述含有硫族元素的气体,包括高活性气态硫、硒、碲、硫化氢、硒化氢或碲化氢中的一种或多种;和/或,所述含有磷族元素的气体,包括高活性气态磷、砷、磷化氢或磷化氨中的一种或多种。

在一些实施例中,所述加热步骤之前,还包括以下制备所述MX的步骤:

刻蚀步骤:将所述MAX粉末加入酸性溶液中,使所述酸性溶液中的酸性成分刻蚀所述MAX中的所述A元素,得到含有所述MX的悬浊液;

清洗干燥步骤:将所述悬浊液经过抽滤并用去离子水反复清洗,除去所述酸性成分后,干燥处理得到所述MX。

在一些实施例中,所述MAX包括Mo2Ga2C、Mo2GeC、Ti3SiC2、Ti2SnC、Ti2AlC、Nb2AlC、Ta2AlC、TiNbAlC、Mo2TiAlC2或(W2/3Y1/3)2AlC中的一种或多种,所述MX包括Mo2C、Mo1.33C、V2C、Nb2C、Ti3C2、Ti4C3、Mo2Ti2C3、Mo2TiC2、Ta2C、Ta4C3、TiNbC、MoB或MoSi2中一种或多种。

本发明另一方面还包括一种二维过渡金属硫族化合物分散液的制备方法,将上述的合成方法得到的二维过渡金属硫族化合物置于溶剂中超声处理和离心处理,取上层液,得到二维过渡金属硫族化合物分散液。

在一些实施例中,所述溶剂包括水、N-甲基吡咯烷酮、N,N-二甲基甲酰胺、乙醇、异丙醇、丁酮或甲苯中的一种或多种。

在一些实施例中,所述超声处理的超声功率为300W至1000W,超声时间为0.5h至6h。

在一些实施例中,所述二维过渡金属硫族化合物的剥离产率小于等于37 wt.%。

本发明又一方面还包括一种二维过渡金属硫族化合物的的聚集体,所述聚集体包括粉体、分散液或压实固体,该聚集体中含有的以上述的合成方法得到的二维过渡金属硫族化合物,所述二维过渡金属硫族化合物的单层率大于30%。

在一些实施例中,该聚集体中含有的所述二维过渡金属硫族化合物的层数介于1层至5层之间。

在一些实施例中,该聚集体中含有的所述二维过渡金属硫族化合物的厚度介于0.5nm至8nm之间。

本发明再一方面还包括所述二维过渡金属硫族化合物的聚集体在在晶体管、逻辑电路、传感器、柔性器件、锂二次电池和析氢反应中的用途。

本发明的有益技术效果在于:

(1)本发明以过渡金属化合物为原料通过简单的加热步骤与硫族元素发生拓扑转化反应得到二维过渡金属硫族化合物,该拓扑转化反应能够高度反应,具有产率高的特点;

(2)本发明的合成方法得到的二维过渡金属硫族化合物具有单层率高和层数分布窄的突出优点,这是因为原料过渡金属化合物层间是以范德华力相结合,当发生拓扑转化反应,硫族元素在原料过渡金属化合物的层间发生原位取代,生成过渡金属硫族化合物同时能够破坏层间范德华力,使得产物过渡金属硫族化合物单层与单层之间能够分离形成膨胀态的二维片层结构;

(3)本发明的合成方法中拓扑转化反应条件简单,反应条件范围宽以及在相对短的时间(数小时或数分钟)内能够实现反应,具有工业化宏量合成的前景;

(4)本发明的合成方法得到的二维过渡金属硫族化合物由于具有膨胀态的二维片层结构,当用于剥离制备分散液时,溶剂更易于插层进入层间,因此还具有剥离产率高的优点。

附图说明

图1为本发明实施例中以Mo2C纳米片为原料合成得到的MoS2的XRD图谱;

图2为本发明实施例中以Mo2C纳米片为原料合成得到的MoS2的SEM(a)和TEM照片(b);

图3为本发明实施例中以Mo2C纳米片为原料合成得到的MoS2的横截面HRTEM照片(a)和层数分析(b);

图4为本发明实施例中以Mo2C纳米片为原料合成得到的MoSe2的横截面HRTEM照片(a)和层数分析(b);

图5为本发明实施例中以Ti2C纳米片为原料合成得到的TiSe2的横截面HRTEM照片(a)和层数分析(b);

图6 不同过渡金属化合物MX与气态成分发生拓扑转化反应的汇总表;

图7 为本发明实施例中以Mo2GeC为原料合成得到的MoS2的SEM照片;

图8为本发明实施例中以Mo2GeC为原料合成得到的MoS2的的横截面HRTEM照片(a)和层数分析(b);

图9为本发明实施例中以Mo2GeC为原料合成得到的MoSe2的XRD图谱(a)和SEM照片(b);

图10为本发明实施例中以Ti3SiC2为原料合成得到的TiSe2的XRD图谱(a)和SEM照片(b);

图11为本发明实施例中以(W2/3Y1/3)2AlC为原料合成得到的Y-WS2的XRD图谱(a)和SEM照片(b);

图12 为本发明实施例中合成得到的Y-WS2(a)与商售的WS2粉体(b)的XRD对比图谱;

图13不同过渡金属化合物与气态成分发生拓扑转化反应的汇总表;

图14 为本发明合成的MoS2分散在IPA和NMP中的照片(a,c)以及超声时间和剥离产率的关系图(b,d);

图15 为本发明制备的MoS2分散液的SEM(a)和TEM(b)照片;

图16为本发明制备的MoS2分散液的AFM厚度测试分布图;

图17为本发明合成的Y-WS2分散在IPA和NMP中的照片(a,c)以及超声时间和剥离产率的关系图(b,d);

图18为本发明的合成方法的步骤示意图;

图19为本发明的合成的Y、P- WS2的拉曼光谱图。

附图中的符号说明:

TMD 过渡金属二硫化物。

具体实施方式

以下通过具体实施例说明本发明的技术方案。应该理解,本发明提到的一个或者多个步骤不排斥在所述组合步骤前后还存在其他方法和步骤,或者这些明确提及的步骤间还可以插入其他方法和步骤。还应理解,这些实例仅用于说明本发明而不用于限制本发明的范围。除非另有说明,各方法步骤的编号仅为鉴别各方法步骤的目的,而非限制每个方法的排列次序或限定本发明的实施范围,其相对关系的改变或调整,在无实质技术内容变更的条件下,亦可视为本发明可实施的范畴。

实施例中所采用的原料和仪器,对其来源没有特定限制,在市场购买或者按照本领域内技术人员熟知的常规方法制备的即可。

应该理解,本发明提到的一个或者多个步骤不排斥在所述组合步骤前后还存在其他方法和步骤,或者这些明确提及的步骤间还可以插入其他方法和步骤。

实施例1

本实施例提供过渡金属化合物MX的制备方法,包括:

1)刻蚀步骤:将过渡金属化合物MAX的粉体,置于酸性溶液中进行刻蚀,酸性溶液中的酸性成分将A元素刻蚀后,得到含有过渡金属化合物MX的悬浊液;

2)清洗干燥步骤:将步骤1)得到的悬浊液抽滤并用去离子水反复清洗,除去酸性成分后,干燥处理得到过渡金属化合物MX的粉体;

其中,过渡金属化合物MAX中,M代表过渡金属元素钪、钛、钒、钇、锆、铌、钼、铪、钽、钨等过渡金属元素中的一种或多种,A代表铝、硅、磷、硫、镓、锗、砷、镉、铟、锡、铊、铅等元素中的一种,X代表碳、硅、硼元素中的一种。MAX为层状材料,当其中的A元素层被酸性成分刻蚀后,得到的MX为单层或少层的纳米片结构。

其中,用于所述加热步骤中加热的装置包括管式炉、箱式炉、快速退火炉、化学气相沉积系统、微波炉或等离子系统中的一种。

实施例2

本实施例以Mo2C纳米片为例,说明本发明中MX的制备方法,包括步骤:

1)刻蚀步骤:将原料Mo2Ga2C的粉体置于氢氟酸水溶液中进行刻蚀,HF将Ga元素刻蚀后得到含有Mo2C纳米片的悬浊液;

2)清洗干燥步骤:将步骤1)得到的悬浊液抽滤并用去离子水反复清洗,除去HF成分后,冷冻干燥处理得到Mo2C纳米片的粉体。

实施例1和实施例2所述的MX纳米片的制备方法,其中,优选的原料MAX,包括Mo2Ga2C、Mo2GeC、Ti3SiC2、Ti2SnC、Ti2AlC、Nb2AlC、Ta2AlC、TiNbAlC、Mo2TiAlC2或(W2/3Y1/3)2AlC中的一种或多种。通过该些优选的原料MAX制备得到的用于本发明的合成方法的MX纳米片,包括:Mo2C、Ti3C2、Ti2C、Nb2C、Ta2C、TiNbC、Mo2TiC2或(W2/3Y1/3)2C中的一种或多种。

实施例3

本实施例提供一种二维过渡金属硫族化合物的合成方法,如图18所示,包括步骤:

1)加热步骤:在惰性气体的环境中,将原料过渡金属化合物MX加热至一反应温度;

2)拓扑转化反应步骤:通入含有硫族元素的气体,或,含有硫族元素的气体与含有磷族元素的气体的混合气体,并保持该反应温度一段设定时长,使所述硫族元素,或,硫族元素和磷族元素,与过渡金属化合物MX发生拓扑转化反应,生成二维过渡金属硫族化合物。

其中,含有硫族元素的气体是指高活性气态硫、硒、碲、硫化氢、硒化氢或碲化氢中的一种或多种;含有磷族元素的气体,包括高活性气态磷、砷、磷化氢或磷化氨中的一种或多种。磷族元素在拓扑转化反应中能够起到调节产物二维过渡金属硫族化合物的相态结构的作用。惰性气体是指非氧气体,包含氩气、氦气、氮气等其中一种或多种。

实施例4

本实施例以合成二硫化钼(MoS2)为例,说明本发明的合成方法,其中原料过渡金属化合物MX采用实施例2中制备的Mo2C纳米片,包括步骤:

1)加热步骤:将100 mg Mo2C纳米片的粉体放入刚玉磁舟置于管式炉中间区域,管内通入保护气体(氩气,纯度>99.999%)的条件下,将管内温度以10℃/min的速率升高至反应温度600℃。

2)拓扑转化反应步骤:切换气氛为H2S的质量分数为10%的H2S与氩气的混合气体,并保持管式炉中间区域的反应温度600℃,反应时间1h后,切换气氛为保护气体至管内温度降至室温。

收集步骤2)得到的产物,进行XRD测试其结果如图1所示,特征衍射峰符合MoS2(JCPDS 卡号. 37-1492)的特征,并且没有Mo2C的特征衍射峰出现,证明了在该反应条件下,S元素取代了Mo2C纳米片中的C元素,得到的反应产物为MoS2,反应产率为100%。

为了证明反应产物为MoS2结构,进行扫描电镜(SEM)和透射电镜(TEM)表征,图2a和2b分别给出了MoS2的SEM和TEM照片,可见MoS2的微观形貌为超薄二维片层结构,片径大小在2μm~10μm。证明反应产物MoS2为MoS2二维片层,说明在拓扑转化反应步骤中H2S与Mo2C发生了拓扑转化反应,得到的MoS2仍然保留了Mo2C纳米片的形貌结构。

为了验证MoS2二维片层中的层数,将MoS2二维片层埋入Spurr树脂中,然后在70℃的条件下,在Spurr树脂中固化24小时得到固块,再通过用金刚石刀在室温下用超薄切片机(Leica EM UC7)切割固块获得的超薄切片,将超薄切片分散在裸露的碳网格上,用于横截面HRTEM测量,图3a给出了横截面HRTEM照片,从图3a中可以看到单层的MoS2二维片层,对HRTEM测试中MoS2二维片层的层数进行了统计分析,如图3b所示,可以看出采用本发明的合成方法得到的MoS2二维片层的层数为单层和2层,且单层率为95%,说明本发明的合成方法得到的单层和少层的二维过渡金属硫族化合物,且得到的二维过渡金属硫族化合物层数分布窄、产率高和单层率高的显著特点。

实施例5

本实施例以二硒化钼(MoSe2)为例,说明本发明的合成方法,其中原料MX采用实施例2中制备的Mo2C纳米片,包括步骤:

1)加热步骤:将100 mg Mo2C纳米片的粉体放入刚玉磁舟置于管式炉中间区域,并将装有适量(1g)硒粉的刚玉磁舟置于可独立控温的管式炉上游,在管内通入保护气体(氩气,纯度>99.999%)的条件下,将管内温度以10℃/min的速率升高至反应温度600℃。

2)拓扑转化反应步骤:开启装有硒粉部分的加热装置的开关,加热至160℃,使硒粉受热产生气态硒进入管式炉中间区域,从该上游管内的温度到达设定温度160℃时,开始反应计时,保持管式炉中间区域的反应温度600℃,反应时间1h后,反应终止自然降温。

收集步骤2)得到的产物为MoSe2二维片层。图4a和4b分别给出了MoSe2二维片层的横截面HRTEM照片和分析,可以看出MoSe2二维片层的层数分布为单层、2层和3层,其中单层率为70%。

实施例6

将实施例5中的原料替换为Ti2C纳米片的粉体,得到产物为TiSe2二维片层,图5a和5b分别给出了TiSe2二维片层的横截面HRTEM照片和分析,可以看出TiSe2二维片层的层数分布为单层、2层和3层,其中单层率为80%。

其中,Ti2C纳米片的粉体制备方法,包括步骤:

1)刻蚀步骤:将Ti2AlC置于5mol/L的HCl溶液中进行刻蚀,HCl将Al元素刻蚀后得到得到含有Ti2C纳米片的悬浊液;

2)清洗干燥步骤:将步骤1)得到的悬浊液抽滤并用去离子水反复清洗,除去HCl成分后,冷冻干燥处理得到Ti2C纳米片的粉体。

采用实施例3~5中所述的合成方法,使用不同过渡金属化合物MX与气态成分反应,能够得到的系列二维过渡金属硫族化合物的产物,图6中的表格中具体例举了不同过渡金属化合物MX与气态成分发生拓扑转化反应的汇总表。其中,P代表气态的磷,其作用在于调节产物的相态(2H或1T相)。具体实施中,发生拓扑转化反应的反应温度在300℃至1100℃的区间,反应温度越高,需要的反应时间越越少,当反应温度为300℃时,保持反应时间4h,当反应温度为800℃时,反应时间小于30min,当反应温度为1100℃时,反应时间小于10min。

实施例6

本实施例提供另一种二维过渡金属硫族化合物的合成方法,与实施例3中所述的合成方法一样,如图18所示包括步骤:

1)加热步骤:在惰性气体的环境中,将原料过渡金属化合物MAX加热至一反应温度;

2)拓扑转化反应步骤:通入含有硫族元素的气体,或,含有硫族元素的气体与含有磷族元素的气体的混合气体,并保持该反应温度一段设定时长,使所述硫族元素,或,硫族元素和磷族元素,与过渡金属化合物MAX发生拓扑转化反应,生成二维过渡金属硫族化合物。

本实施例与实施例3中的合成方法区别在于,本实施例中的原料为过渡金属化合物MAX或MX(其中X代表元素C、Si、B中的一种)。

实施例7

本实施例同样以合成MoS2为例,说明本发明的合成方法,其中,过渡金属化合物MAX选用Mo2GeC,包括步骤:

1)加热步骤:将100 mg Mo2GeC的粉体放入刚玉磁舟置于管式炉中间区域,管内通入保护气体(氩气,纯度>99.999%)的条件下,将管内温度以10℃/min的速率升高至反应温度800℃。

2)拓扑转化反应步骤:切换气氛为H2S的质量分数为10%的H2S与氩气的混合气体,并保持管式炉中间区域的反应温度800℃,反应时间1h后,切换气氛为保护气体至管内温度降至室温。

收集步骤2)得到的产物MoS2,对该产物MoS2和原料Mo2GeC进行XRD测试,结果与图1中所示的XRD曲线相似,所得的产物MoS2的XRD图谱中的可见特征衍射峰,与MoS2(JCPDS 卡号. 37-1492)的特征相对应,且在产物MoS2的XRD图谱中没有任何原料Mo2GeC的特征峰,表明在合成中H2S中的S元素取代了Mo2GeC中的Ge和C元素,合成反应得到MoS2的产率为100%。图7为产物MoS2的SEM照片,可以看出得到的产物MoS2为膨胀态的二维片层材料。图8为产物MoS2的的横截面HRTEM照片和层数分析,可以看出MoS2二维片层的层数分布为1层至5层,集中分布在1层至3层,其中单层率为31%。

实施例8

本实施例以合成MoSe2为例,说明本发明的合成方法,其中,过渡金属化合物MAX选用Mo2GeC,包括步骤:

1)加热步骤:将100 mg Mo2GeC的粉体放入刚玉磁舟置于管式炉中间区域,并将装有适量(1g)硒粉的刚玉磁舟置于可独立控温的管式炉上游,在管内通入保护气体(氩气,纯度>99.999%)的条件下,将管内温度以10℃/min的速率升高至反应温度800℃。

2)拓扑转化反应步骤:开启装有硒粉部分的加热装置的开关,加热至160℃,使硒粉受热产生气态硒进入管式炉中间区域,从该上游管内的温度到达设定温度160℃时,开始反应计时,保持管式炉中间区域的反应温度800℃,反应时间1h后,反应终止自然降温。

收集步骤2)得到的产物MoSe2,对该产物MoSe2和原料Mo2GeC进行XRD测试,结果如图9a所示,产物MoSe2的XRD图谱中的一系列衍射峰,与六方晶型MoSe2(JCPDS卡号29-0914)的特征相对应,且在产物MoSe2的XRD图谱中没有任何原料Mo2GeC的特征峰,表明在合成中Se元素取代了Mo2GeC中的Ge和C元素,合成反应得到MoSe2的产率为100%。图9b为产物MoSe2的SEM照片,可以看出得到的产物MoSe2为膨胀态的二维片层材料。

实施例9

本实施例采用与实施例8相同的合成方法,但区别在于,加热步骤中将原料替换为Ti3SiC2,反应温度为900℃,反应时间为30min,得到产物为TiSe2。图10a和10b分别给出了产物的XRD谱图和SEM照片,从图11a中以看出产物TiSe2的XRD图谱中的一系列衍射峰,与TiSe2(JCPDS卡号30-1383)的特征相对应,且在产物TiSe2的XRD图谱中没有任何原料Ti3SiC2的特征峰,表明在合成中Se元素取代了Ti3SiC2中的Si和C元素,合成反应得到的TiSe2产率为100%。图10b为产物TiSe2的SEM照片,可以看出得到的产物TiSe2为膨胀态的二维片层材料。

实施例10

本实施例采用与实施例7相同的合成方法,但区别在于,加热步骤中将原料替换为(W2/ 3Y1/3)2AlC,反应温度为1000℃,反应时间为30min,得到产物为Y元素掺杂的WS2(Y-WS2)。图11a和11b分别给出了产物的XRD谱图和SEM照片,从图11a中以看出产物Y-WS2的XRD图谱中的一系列衍射峰,与六方晶型的WS2(JCPDS卡号08-0237)的特征相对应,且在产物Y-WS2的XRD图谱中没有任何原料(W2/3Y1/3)2AlC的特征峰,表明在合成中Se元素取代了(W2/3Y1/3)2AlC中的Al和C元素,合成反应得到的Y-WS2产率为100%。图11b为产物Y-WS2的SEM照片,可以看出得到的产物Y-WS2为膨胀态的二维片层材料。

图12中a和b分别为本实施例得到的Y-WS2二维片层与商购的WS2的XRD谱图,从图12中对比a和b可以看出,本实施例得到的Y-WS2二维片层与商售的WS2的在衍射角14.3°、28.9°、43.9°、58.4°处分别与WS2(JCPDS卡号08-0237)的(002)、(004)、(006)和(110)晶面相对应,但本实施例中的Y-WS2二维片层的特征衍射峰的峰型较商售WS2弥散,这与本发明的合成方法得到的Y-WS2二维片层具有膨胀态的二维片层结构有关。

采用实施例6~10中所述的合成方法,使用不同过渡金属化合物MAX或MX与气态成分反应时,能够得到的系列二维过渡金属硫族化合物的产物,图13中的表格中具体例举了不同过渡金属化合物MAX或MX与不同气体成分反应生成的二维过渡金属硫族化合物的产物。具体实施中,发生拓扑转化反应的反应温度在600℃至1100℃的区间,反应温度越高,需要的反应时间越越少,当反应温度为600℃时,保持反应时间4h,当反应温度为900℃时,反应时间小于30min,当反应温度为1100℃时,反应时间小于10min。

从实施例4至6中可以看出,以经过酸性溶液处理的过渡金属化合物MX为原料的合成方法,能够得到单层率大于70%的二维过渡金属硫族化合物,并且层数分布窄(1层至3层),因此,本发明以过渡金属化合物MAX为原料的合成方法具有单层率高,且层数分布窄的突出技术效果。而对比实施例7中的合成方法,可以看出以过渡金属化合物MAX为原料的合成方法,得到二维过渡金属硫族化合物的单层率相对低一些(31%),层数分布更宽一些(1层至5层),但由于不需要进行酸性溶液的刻蚀以及清洗干燥步骤,本发明以过渡金属化合物MAX为原料的合成方法具有合成方法简单、易于工业化放大的积极技术优势。需要说明的是,现有文献报道中的剥离法得二维过渡金属硫族化合物的层数分布在1到10层,单层率小于1%。因此本发明以过渡金属化合物MAX或MX为原料的合成方法与现有文献报道中的剥离法得到的二维过渡金属硫族化合物的都具有更高的单层率和更窄的层数分布。并且本发明的合成方法在中拓扑转化反应条件简单,反应条件范围宽以及在相对短的时间(数小时或数分钟)内能够实现反应,具有工业化宏量合成的前景,与气相合成法相比,还具有能耗低、效率高和产率高的突出优点。

实施例11

本实施例以合成WS2为例,说明本发明的合成方法,其中,过渡金属化合物MAX选用(W2/ 3Y1/3)2AlC,包括步骤:

1)加热步骤:将100 mg (W2/3Y1/3)2AlC的粉体放入刚玉磁舟置于管式炉中间区域,并将装有适量(1g)磷粉的刚玉磁舟置于可独立控温的管式炉上游,在管内通入保护气体(氩气,纯度>99.999%)的条件下,将管内温度以10℃/min的速率升高至反应温度1000℃。

2)拓扑转化反应步骤:开启装有磷粉部分的加热装置的开关,加热至200℃,使磷粉受热产生气态磷进入管式炉中间区域,从该上游管内的温度到达设定温度200℃时,开始反应计时,并切换气氛为H2S的质量分数为10%的H2S与氩气的混合气体,并保持管式炉中间区域的反应温度1000℃,反应时间10min后,切换气氛为保护气体至管内温度降至室温。

收集步骤2)得到的产物为Y、P共掺杂的WS2(Y、P-WS2)进行拉曼光谱测试,结果如图19所示,图中的特征峰J1、J2、J3对应于1T相特征,E1 2g和A1g对应2H相的特征。对比实施例10中得到的Y-WS2为2H相,说明当拓扑转化反应中没有磷族元素时,得到的二维过渡硫族化合物为2H相,当拓扑转化反应加入了磷族元素,得到的二维过渡硫族化合物中含有1T相和2H相。

实施例12

本实施例以制备MoS2分散液为例,来说明本发明的二维过渡金属硫族化合物的分散液的制备方法,包括步骤:

取实施例7中得到的产物MoS2,将产物MoS2分散在异丙醇(IPA)中,配置为2 mg mL-1的分散体,然后进行超声处理,超声功率300W,超声时间为0.5h~4h,图14a给出了不同超声时间下的分散体的状态照片,然后将分散体进行离心处理,以1500 r/m的转速离心45min获得含有MoS2二维片层的上层液,即为MoS2二维片层分散液。将得到的MoS2二维片层分散液通过UV-vis-IR光谱测试,得到分散液中MoS2二维片层的浓度,并用于计算产物MoS2的剥离产率,即分散液中的MoS2二维片层与加入产物MoS2的质量比,结果如图14b所示,可见随着超声时间的增加,分散液中剥离的MoS2二维片层增加,当超声时间为4h时,产物MoS2的剥离产率达到37 wt.%。

图15a和15b为分别为上述超声4h得到的MoS2分散液样品的SEM和TEM照片。从照片中可以清晰地看到MoS2呈剥离开的二维片层状,说明经过超声处理和离心处理,产物MoS2从膨胀态的二维片层的堆积结构成功剥离为MoS2二维片层,且剥离得到的MoS2二维片层能够均匀稳定的分散在分散液中。

为了获知MoS2分散液中MoS2二维片层的厚度,对上述超声4h得到的MoS2分散液样品进行原子力显微镜测试(AFM),并将厚度结果统计如图16所示,可以看出得到的MoS2分散液中MoS2二维片层的厚度分布介于0.5nm至8nm,主要分布在以1nm至5nm的范围,进一步证实了采用本发明的合成方法能够得到单层和少层的二维过渡金属硫族化合物。

将上述溶剂异丙醇替换为N-甲基吡咯烷酮(NMP),在相同的条件下,得到的结果如图14c和14d所示,随着超声时间的增加,分散液中剥离的MoS2二维片层的增加,当超声时间为4h时,产物MoS2的剥离产率达到26 wt.%。

本实施例中MoS2分散液中的MoS2二维片层的浓度远高于现有文献报道的以商售的MoS2为原料通过剥离法得到的MoS2二维片层的剥离产率(0.6 wt.%~4wt.%)。

实施例13

本实施例取实施例10中得到的产物Y-WS2,采用与实施例11相同的方法分别置于IPA和NMP溶剂中进行超声处理和离心处理,得到的结果如图17所示。从图17中可见,随着超声时间的增加,分散液中的MoS2二维片层的含量增加,当超声时间为4h时,溶剂为IPA和NMP的Y-WS2二维片层分散液中的剥离产率分别达到了25 wt.%和15 wt.%(图17b和17d),远高于现有文献报道的以商售的WS2为原料通过剥离法得到的WS2二维片层的剥离产率(1 wt.%~2wt.%)。

本发明的制备方法能够获得高质量浓度的二维过渡金属硫族化合物分散液得益于本发明的合成方法得到的具有单层或少层的二维片层结构的过渡金属硫族化合物,其具有膨胀态的二维片层的间隙更易于溶剂分子插层进入,使单层或少层的二维片层剥离过程更易于进行。

在实施例12中,选择溶剂为IPA,超声功率300W,超声时间为4h时,给出了本发明的制备方法的最大的剥离产率的一个实施例,本发明的制备方法通过调节超声功率和超声时间、以及选择不同的溶剂能够调整二维过渡金属硫族化合物的剥离产率,其中优选地,超声剥离的超声功率为300W至1000W,超声时间为0.5h至6h。溶剂可选地包括水、N-甲基吡咯烷酮、N,N-二甲基甲酰胺、乙醇、异丙醇、丁酮或甲苯中的一种或多种。

以上实施例的仅为本发明的一些实施方式,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明创造构思的前提下,还可以做出若干变型和改进,这些都属于本发明的保护范围。

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