一种电子元件生产用晶圆检测设备

文档序号:746803 发布日期:2021-04-23 浏览:18次 >En<

阅读说明:本技术 一种电子元件生产用晶圆检测设备 (Wafer detection equipment is used in electronic component production ) 是由 吴禹凡 高洪庆 于 2020-12-03 设计创作,主要内容包括:本发明涉及检测设备的技术领域,特别是涉及一种电子元件生产用晶圆检测设备,其通过对晶圆进行检测,可有效节省人工检测时的时间,简化检测方式,节省人力和时间,提高工作效率,同时晶圆的检测精度提高,有效提高检测效果,提高实用性和可靠性;包括底座、放置台、顶板、侧支撑臂、中控箱和压盘,放置台安装在底座的顶端中部,顶板位于放置台的上方,顶板通过四组侧支撑臂固定在底座上,中控箱安装在顶板的前侧,顶板上设置有推动装置,推动装置的下侧伸出至顶板的下方。(The invention relates to the technical field of detection equipment, in particular to wafer detection equipment for electronic component production, which can effectively save time during manual detection, simplify a detection mode, save labor and time, improve the working efficiency, improve the detection precision of a wafer, effectively improve the detection effect and improve the practicability and reliability by detecting the wafer; including the base, place platform, roof, collateral branch brace, well accuse case and pressure disk, place the platform and install at the top middle part of base, the roof is located the top of placing the platform, and the roof is fixed on the base through four groups collateral branch braces, and well accuse case is installed in the front side of roof, is provided with thrust unit on the roof, and thrust unit&#39;s downside stretches out the below to the roof.)

一种电子元件生产用晶圆检测设备

技术领域

本发明涉及检测设备的技术领域,特别是涉及一种电子元件生产用晶圆检测设备。

背景技术

众所周知,晶圆是由硅柱切割而成的薄片,其主要作为生产电子元件的基础材料,为保证电子元件的生产质量,通常需对晶圆的圆度进行质量检测,防止其形状出现椭圆或晶圆侧壁处出现缺口等质量问题,现有检测方式为工人通过千分卡尺对晶圆不同角度的直径进行测量,然而采用此种方式时,工人需多次调整卡尺在晶圆上的位置角度,同时每个角度上取最大测量值,然后将多次测量的最大值进行对比,从而完成检测工作,检测方式较为繁琐,需花费较多人力和时间,检测效率较低,同时人工检测的准确度较低,导致检测效果较差。

发明内容

为解决上述技术问题,本发明提供一种通过对晶圆进行检测,可有效节省人工检测时的时间,简化检测方式,节省人力和时间,提高工作效率,同时晶圆的检测精度提高,有效提高检测效果,提高实用性和可靠性的电子元件生产用晶圆检测设备。

本发明的一种电子元件生产用晶圆检测设备,包括底座、放置台、顶板、侧支撑臂、中控箱和压盘,放置台安装在底座的顶端中部,顶板位于放置台的上方,顶板通过四组侧支撑臂固定在底座上,中控箱安装在顶板的前侧,顶板上设置有推动装置,推动装置的下侧伸出至顶板的下方,压盘安装在推动装置的底部,压盘的位置与放置台的位置对应,压盘的下侧横向设置有左右贯穿的通槽,通槽内设置有打开装置,压盘的上侧设置为锥形面,锥形面上设置有环形导轨,环形导轨上滑动设置有转动环,转动环的顶部环形均匀设置有多组齿,压盘的顶部前侧设置有第一电机,第一电机的前侧输出端设置有转轴,转轴的中部设置有第一齿轮,第一齿轮的底部与转动环上的齿啮合,转动环的左侧和右侧均设置有第一安装板,两组第一安装板的底部均横向设置有第一直线导轨,两组第一直线导轨的下侧均滑动设置有滑块,两组滑块的底部均设置有弓形板,两组弓形板的方向相反,两组弓形板的内侧均转动设置有滚柱,打开装置的左侧和右侧均伸出至通槽的外侧并与两组滚柱的内侧接触,两组第一安装板的外端均设置有第二安装板,两组第二安装板的内侧壁上侧均设置有压力检测计,两组压力检测计的内侧均设置有弹簧,两组弹簧的内侧分别与两组滑块的外侧连接,两组第二安装板的内侧壁下侧均设置有激光测距仪,两组激光测距仪的位置分别与两组弓形板的外侧壁位置对应,中控箱分别与推动装置、打开装置、第一电机、压力检测计和激光测距仪信号连接;将晶圆放置在放置台上,晶圆的外侧边缘位置位于放置台的外侧,中控箱控制打开装置推动两组滚柱向外侧移动,两组滚柱分别通过两组弓形板带动两组滑块在两组第一直线导轨上向外侧滑动,两组滚柱分离并位于放置台上晶圆的外侧,从而将两组滚柱打开,此时两组滑块分别对两组弹簧产生挤压变形,中控箱控制推动装置推动压盘向下移动,压盘带动环形导轨、转动环、第一电机、转轴、第一齿轮、两组第一安装板、两组第一直线导轨、两组滑块、两组弓形板、两组滚柱、两组第二安装板、两组压力检测计、两组弹簧和两组激光测距仪同步向下移动,压盘的底部与放置台上晶圆的顶部接触并对其进行轻微挤压,防止其随意移动,此时两组滚柱位于晶圆的外侧,中控箱控制打开装置缓慢回收,两组第一电机分别推动两组滑块相互接近,两组滑块分别带动两组弓形板和两组滚柱相互接近,两组滚柱的内侧均与晶圆的外侧壁边缘位置接触,两组滚柱停止移动,打开装置继续回收并恢复至初始状态,此时打开装置与两组滚柱分离,两组压力检测计分别对两组弹簧的弹力值进行检测并将检测信号传递至中控箱内,根据弹力值和弹簧的弹性系数从而检测出滑块的相对位置,同时两组激光测距仪可对两组激光测距仪内侧与两组弓形板外侧壁之间的距离进行直接检测并将检测至传递至中控箱内,打开第一电机,第一电机带动转轴和第一齿轮转动,第一齿轮与转动环上的多组齿啮合,第一齿轮推动转动环在环形导轨上转动,转动环通过两组第一安装板带动两组滚柱围绕压盘转动,同时两组滚柱的内侧在晶圆的外侧壁边缘上滚动,两组滚柱在两组弓形板上转动,两组滚柱以晶圆的外侧壁为移动轨迹进行转动,两组弹簧持续对两组滑块产生推力,当晶圆外侧壁上出现凸出、缺口或晶圆的圆周形状不规则等问题时,两组滚柱向外侧移动或向内侧移动,此时两组弹簧的弹性变形量出现变化,两组弹簧对两组压力检测计的弹性压力值发生变化,中控箱通过两组弹簧的弹力值实时检测两组滚柱的移动轨迹,从而检测晶圆的圆周形状,实现对晶圆进行检测的目的,同时两组激光测距仪可对两组滚柱的移动轨迹进行二次检测,从而提高晶圆的检测精度和准确度,当晶圆检测完成后,两组第一安装板转动至初始位置,中控箱控制关闭第一电机,两组滚柱停止转动,中控箱通过打开装置推动两组滚柱远离晶圆,中控箱通过推动装置带动压盘和两组滚柱向上移动并恢复至初始位置,从而完成检测工作,通过对晶圆进行检测,可有效节省人工检测时的时间,简化检测方式,节省人力和时间,提高工作效率,同时晶圆的检测精度提高,有效提高检测效果,提高实用性和可靠性。

本发明的一种电子元件生产用晶圆检测设备,打开装置包括第二电机、第二齿轮、两组第二直线导轨、两组推动滑杆和两组弧形推板,第二电机安装在压盘的顶部,第二电机的下侧输出端穿过压盘并伸入至通槽内部,第二齿轮位于通槽中部并安装在第二电机的下侧输出端上,两组第二直线导轨分别横向安装在通槽的内壁前侧和后侧,两组推动滑杆分别滑动安装在两组第二直线导轨上,两组推动滑杆的内侧壁上均设置有多组齿,第二齿轮的前侧和后侧分别与两组推动滑杆内侧壁上的多组齿啮合,两组弧形推板分别安装在后侧推动滑杆的左侧和前侧推动滑杆的右侧,两组弧形推板的外侧分别通过通槽的左侧和右侧伸出至通槽的外侧,两组弧形推板的位置分别与两组推动滑杆的位置交错并相互分离,两组弧形推板分别与两组滚柱位置对应,第二电机与中控箱信号连接;中控箱控制打开第二电机,第二电机带动第二齿轮转动,第二齿轮分别与两组推动滑杆上的齿啮合,第二齿轮带动后侧推动滑杆向左移动并带动前侧推动滑杆向右移动,两组推动滑杆的移动方向相反,两组推动滑杆分别推动其上的两组弧形推板向外侧移动,两组弧形推板的外侧分别与两组滚柱的内侧接触并推动两组滚柱向外侧移动,两组滚柱相互远离,反向运行第二电机,两组弧形推板均向内侧移动并会收入通槽内,由于两组弧形推板的位置分别与两组推动滑杆的位置交错并相互分离,两组弧形推板移动形式均不会对两组推动滑杆产生碰撞影响,提高实用性和可靠性。

本发明的一种电子元件生产用晶圆检测设备,推动装置包括四组螺套、四组丝杠、四组第三齿轮、第三安装板、第三电机和第四齿轮,四组螺套均匀穿插在顶板上,四组丝杠的底部均匀转动安装在压盘的顶部,四组丝杠的底部均与第二电机分离,四组丝杠的顶部分别穿过四组螺套并伸出至顶板的上方,四组丝杠分别与四组螺套螺装连接,四组第三齿轮分别安装在四组丝杠的顶部,第三安装板安装在四组第三齿轮的顶部,四组第三齿轮均与第三安装板转动连接,第三电机安装在第三安装板的顶部,第三电机的下侧输出端穿过第三安装板并伸出至第三安装板的下方,第四齿轮位于四组第三齿轮之间,第四齿轮的外侧与四组第三齿轮的内侧啮合,第四齿轮的顶部安装在第三电机的下侧输出端上,第三电机与中控箱信号连接;中控箱控制打开第三电机,第三电机带动第四齿轮转动,第四齿轮均与四组第三齿轮相互啮合,第四齿轮带动四组第三齿轮同步转动,四组第三齿轮带动四组丝杠同步转动,四组丝杠分别与四组螺套螺装连接,四组丝杠分别在四组螺套上同步上下移动,四组丝杠带动压盘同步上下移动,从而带动压盘上的两组滚柱同步移动,四组丝杠上下运动时带动四组第三齿轮、第三安装板、第三电机和第四齿轮同步上下移动,提高实用性。

本发明的一种电子元件生产用晶圆检测设备,还包括弓形加强杆、第四安装板和转盘,弓形加强杆位于第二电机的上侧,弓形加强杆的底部左侧和右侧分别安装在两组第一安装板上,第四安装板安装在弓形加强杆的中部,转盘的顶部安装在弓形加强杆底部,转盘的底部转动安装在第二电机的顶部;两组第一安装板转动时,两组第一安装板带动弓形加强杆、第四安装板和转盘进行转动,转盘在第二电机上转动,通过设置弓形加强杆、第四安装板和转盘,可方便对两组第一安装板进行支撑和连接,防止其转动时发生弯曲塌落,提高两组第一安装板的牢固性。

本发明的一种电子元件生产用晶圆检测设备,还包括四组第一导向杆和四组封盘,四组第一导向杆的顶部均固定在顶板上,四组第一导向杆的顶部均穿过第三安装板的外侧并伸出至第三安装板的上方,四组第一导向杆均与第三安装板滑动连接,四组封盘分别安装在四组第一导向杆的顶部;第三安装板上下移动时,第三安装板在四组第一导向杆上滑动,四组第一导向杆可对第三安装板进行支撑,四组封盘可对四组第一导向杆的顶部进行封堵,防止第三安装板向上移动时与四组第一导向杆发生脱离,提高实用性。

本发明的一种电子元件生产用晶圆检测设备,还包括防护挡罩,防护挡罩位于第一电机、转轴和第一齿轮的外侧,防护挡罩的底部后侧安装在压盘上;通过设置防护挡罩,可方便对第一电机、转轴和第一齿轮进行遮挡防护,同时方便对第一齿轮与转动环上的齿的啮合位置进行遮挡,提高实用性。

本发明的一种电子元件生产用晶圆检测设备,还包括稳定板,稳定板位于防护挡罩内,稳定板的上侧转动安装在转轴的前端,稳定板的下侧安装在压盘上;通过设置稳定板,可方便对转轴和第一齿轮进行支撑,从而使第一齿轮始终保持与转动环上的齿的啮合状态,防止其发生脱节现象。

本发明的一种电子元件生产用晶圆检测设备,还包括两组第二导向杆,两组第二导向杆的内侧分别固定在两组弓形板的外侧壁下侧,两组第二导向杆的外侧均穿过两组第二安装板的下侧并伸出至两组第二安装板的外侧;两组弓形板可带动两组第二导向杆分别在两组第二安装板上滑动,通过设置两组第二导向杆,可方便对两组第二安装板的下侧和两组弓形板的下侧进行连接和导向,提高设备的牢固性和稳定性,提高实用性和可靠性。

与现有技术相比本发明的有益效果为:将晶圆放置在放置台上,晶圆的外侧边缘位置位于放置台的外侧,中控箱控制打开装置推动两组滚柱向外侧移动,两组滚柱分别通过两组弓形板带动两组滑块在两组第一直线导轨上向外侧滑动,两组滚柱分离并位于放置台上晶圆的外侧,从而将两组滚柱打开,此时两组滑块分别对两组弹簧产生挤压变形,中控箱控制推动装置推动压盘向下移动,压盘带动环形导轨、转动环、第一电机、转轴、第一齿轮、两组第一安装板、两组第一直线导轨、两组滑块、两组弓形板、两组滚柱、两组第二安装板、两组压力检测计、两组弹簧和两组激光测距仪同步向下移动,压盘的底部与放置台上晶圆的顶部接触并对其进行轻微挤压,防止其随意移动,此时两组滚柱位于晶圆的外侧,中控箱控制打开装置缓慢回收,两组第一电机分别推动两组滑块相互接近,两组滑块分别带动两组弓形板和两组滚柱相互接近,两组滚柱的内侧均与晶圆的外侧壁边缘位置接触,两组滚柱停止移动,打开装置继续回收并恢复至初始状态,此时打开装置与两组滚柱分离,两组压力检测计分别对两组弹簧的弹力值进行检测并将检测信号传递至中控箱内,根据弹力值和弹簧的弹性系数从而检测出滑块的相对位置,同时两组激光测距仪可对两组激光测距仪内侧与两组弓形板外侧壁之间的距离进行直接检测并将检测至传递至中控箱内,打开第一电机,第一电机带动转轴和第一齿轮转动,第一齿轮与转动环上的多组齿啮合,第一齿轮推动转动环在环形导轨上转动,转动环通过两组第一安装板带动两组滚柱围绕压盘转动,同时两组滚柱的内侧在晶圆的外侧壁边缘上滚动,两组滚柱在两组弓形板上转动,两组滚柱以晶圆的外侧壁为移动轨迹进行转动,两组弹簧持续对两组滑块产生推力,当晶圆外侧壁上出现凸出、缺口或晶圆的圆周形状不规则等问题时,两组滚柱向外侧移动或向内侧移动,此时两组弹簧的弹性变形量出现变化,两组弹簧对两组压力检测计的弹性压力值发生变化,中控箱通过两组弹簧的弹力值实时检测两组滚柱的移动轨迹,从而检测晶圆的圆周形状,实现对晶圆进行检测的目的,同时两组激光测距仪可对两组滚柱的移动轨迹进行二次检测,从而提高晶圆的检测精度和准确度,当晶圆检测完成后,两组第一安装板转动至初始位置,中控箱控制关闭第一电机,两组滚柱停止转动,中控箱通过打开装置推动两组滚柱远离晶圆,中控箱通过推动装置带动压盘和两组滚柱向上移动并恢复至初始位置,从而完成检测工作,通过对晶圆进行检测,可有效节省人工检测时的时间,简化检测方式,节省人力和时间,提高工作效率,同时晶圆的检测精度提高,有效提高检测效果,提高实用性和可靠性。

附图说明

图1是本发明的前视结构示意图;

图2是本发明的右下斜视结构示意图;

图3是图1中压盘左侧剖视斜视结构示意图;

图4是图2中A处局部放大结构示意图;

图5是图3中B处局部放大结构示意图;

图6是图2中第三安装板放大结构示意图;

附图中标记:1、底座;2、放置台;3、顶板;4、侧支撑臂;5、中控箱;6、压盘;7、环形导轨;8、转动环;9、第一电机;10、转轴;11、第一齿轮;12、第一安装板;13、第一直线导轨;14、滑块;15、弓形板;16、滚柱;17、第二安装板;18、压力检测计;19、弹簧;20、激光测距仪;21、第二电机;22、第二齿轮;23、第二直线导轨;24、推动滑杆;25、弧形推板;26、螺套;27、丝杠;28、第三齿轮;29、第三安装板;30、第三电机;31、第四齿轮;32、弓形加强杆;33、第四安装板;34、转盘;35、第一导向杆;36、封盘;37、防护挡罩;38、稳定板;39、第二导向杆。

具体实施方式

下面结合附图和实施例,对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明,但不用来限制本发明的范围。

如图1至图6所示,本发明的一种电子元件生产用晶圆检测设备,其在工作时,将晶圆放置在放置台2上,晶圆的外侧边缘位置位于放置台2的外侧,中控箱5控制打开装置推动两组滚柱16向外侧移动,两组滚柱16分别通过两组弓形板15带动两组滑块14在两组第一直线导轨13上向外侧滑动,两组滚柱16分离并位于放置台2上晶圆的外侧,从而将两组滚柱16打开,此时两组滑块14分别对两组弹簧19产生挤压变形,中控箱5控制推动装置推动压盘6向下移动,压盘6带动环形导轨7、转动环8、第一电机9、转轴10、第一齿轮11、两组第一安装板12、两组第一直线导轨13、两组滑块14、两组弓形板15、两组滚柱16、两组第二安装板17、两组压力检测计18、两组弹簧19和两组激光测距仪20同步向下移动,压盘6的底部与放置台2上晶圆的顶部接触并对其进行轻微挤压,防止其随意移动,此时两组滚柱16位于晶圆的外侧,中控箱5控制打开装置缓慢回收,两组第一电机9分别推动两组滑块14相互接近,两组滑块14分别带动两组弓形板15和两组滚柱16相互接近,两组滚柱16的内侧均与晶圆的外侧壁边缘位置接触,两组滚柱16停止移动,打开装置继续回收并恢复至初始状态,此时打开装置与两组滚柱16分离,两组压力检测计18分别对两组弹簧19的弹力值进行检测并将检测信号传递至中控箱5内,根据弹力值和弹簧19的弹性系数从而检测出滑块14的相对位置,同时两组激光测距仪20可对两组激光测距仪20内侧与两组弓形板15外侧壁之间的距离进行直接检测并将检测至传递至中控箱5内,打开第一电机9,第一电机9带动转轴10和第一齿轮11转动,第一齿轮11与转动环8上的多组齿啮合,第一齿轮11推动转动环8在环形导轨7上转动,转动环8通过两组第一安装板12带动两组滚柱16围绕压盘6转动,同时两组滚柱16的内侧在晶圆的外侧壁边缘上滚动,两组滚柱16在两组弓形板15上转动,两组滚柱16以晶圆的外侧壁为移动轨迹进行转动,两组弹簧19持续对两组滑块14产生推力,当晶圆外侧壁上出现凸出、缺口或晶圆的圆周形状不规则等问题时,两组滚柱16向外侧移动或向内侧移动,此时两组弹簧19的弹性变形量出现变化,两组弹簧19对两组压力检测计18的弹性压力值发生变化,中控箱5通过两组弹簧19的弹力值实时检测两组滚柱16的移动轨迹,从而检测晶圆的圆周形状,实现对晶圆进行检测的目的,同时两组激光测距仪20可对两组滚柱16的移动轨迹进行二次检测,从而提高晶圆的检测精度和准确度,当晶圆检测完成后,两组第一安装板12转动至初始位置,中控箱5控制关闭第一电机9,两组滚柱16停止转动,中控箱5通过打开装置推动两组滚柱16远离晶圆,中控箱5通过推动装置带动压盘6和两组滚柱16向上移动并恢复至初始位置,从而完成检测工作,通过对晶圆进行检测,可有效节省人工检测时的时间,简化检测方式,节省人力和时间,提高工作效率,同时晶圆的检测精度提高,有效提高检测效果,提高实用性和可靠性。

本发明所实现的主要功能为:通过对晶圆进行检测,可有效节省人工检测时的时间,简化检测方式,节省人力和时间,提高工作效率,同时晶圆的检测精度提高,有效提高检测效果;打开装置的工作方式为,中控箱5控制打开第二电机21,第二电机21带动第二齿轮22转动,第二齿轮22分别与两组推动滑杆24上的齿啮合,第二齿轮22带动后侧推动滑杆24向左移动并带动前侧推动滑杆24向右移动,两组推动滑杆24的移动方向相反,两组推动滑杆24分别推动其上的两组弧形推板25向外侧移动,两组弧形推板25的外侧分别与两组滚柱16的内侧接触并推动两组滚柱16向外侧移动,两组滚柱16相互远离,反向运行第二电机21,两组弧形推板25均向内侧移动并会收入通槽内,由于两组弧形推板25的位置分别与两组推动滑杆24的位置交错并相互分离,两组弧形推板25移动形式均不会对两组推动滑杆24产生碰撞影响;推动装置的工作方式为,中控箱5控制打开第三电机30,第三电机30带动第四齿轮31转动,第四齿轮31均与四组第三齿轮28相互啮合,第四齿轮31带动四组第三齿轮28同步转动,四组第三齿轮28带动四组丝杠27同步转动,四组丝杠27分别与四组螺套26螺装连接,四组丝杠27分别在四组螺套26上同步上下移动,四组丝杠27带动压盘6同步上下移动,从而带动压盘6上的两组滚柱16同步移动,四组丝杠27上下运动时带动四组第三齿轮28、第三安装板29、第三电机30和第四齿轮31同步上下移动;两组第一安装板12转动时,两组第一安装板12带动弓形加强杆32、第四安装板33和转盘34进行转动,转盘34在第二电机21上转动,通过设置弓形加强杆32、第四安装板33和转盘34,可方便对两组第一安装板12进行支撑和连接,防止其转动时发生弯曲塌落,提高两组第一安装板12的牢固性;第三安装板29上下移动时,第三安装板29在四组第一导向杆35上滑动,四组第一导向杆35可对第三安装板29进行支撑,四组封盘36可对四组第一导向杆35的顶部进行封堵,防止第三安装板29向上移动时与四组第一导向杆35发生脱离;通过设置防护挡罩37,可方便对第一电机9、转轴10和第一齿轮11进行遮挡防护,同时方便对第一齿轮11与转动环8上的齿的啮合位置进行遮挡;通过设置稳定板38,可方便对转轴10和第一齿轮11进行支撑,从而使第一齿轮11始终保持与转动环8上的齿的啮合状态,防止其发生脱节现象;两组弓形板15可带动两组第二导向杆39分别在两组第二安装板17上滑动,通过设置两组第二导向杆39,可方便对两组第二安装板17的下侧和两组弓形板15的下侧进行连接和导向,提高设备的牢固性和稳定性,提高实用性和可靠性。

本发明的一种电子元件生产用晶圆检测设备,其安装方式、连接方式或设置方式均为常见机械方式,只要能够达成其有益效果的均可进行实施;中控箱5、压力检测计18和激光测距仪20可在市场采购。

以上所述仅是本发明的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明技术原理的前提下,还可以做出若干改进和变型,这些改进和变型也应视为本发明的保护范围。

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