具体实施方式

为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请中的附图，对本申请中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

在本申请中，需要解释的是，“至少一个”是指一个或者多个，“多个”是指两个或两个以上。“和/或”，描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B的情况，其中A，B可以是单数或者复数。字符“以是一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。“以下至少一项(个)”或其类似表达，是指的这些项中的任意组合，包括单项(个)或复数项(个)的任意组合。例如，a，b，或c中的至少一项(个)，可以表示：单独a，单独b，单独c，a和b的组合，a和c的组合，b和c的组合，或a、b以及c的组合，其中a，b，c可以是单个，也可以是多个。

以下各实施例的说明是参考附加的图式，用以示例本申请可用以实施的特定实施例。本申请所提到的方向用语，例如「上」、「下」、「前」、「后」、「左」、「右」、「内」、「外」、「侧面」等，仅是参考附加图式的方向。因此，使用的方向用语是用以说明及理解本申请，而非用以限制本申请。在图中，结构相似的单元是以相同标号表示。

图1为有源矩阵有机发光二极体(Active-Matrix Organic Light-EmittingDiode，简称AMOLED)和触控与显示驱动器集成(Touch and Display Driver Integration，简称TDDI)相结合的显示面板。金属网格(Metal mesh)被切割成大小相似的矩形图案，每个矩形图案代表一个触控电极或者传感器(sensor)通道。每个触控电极通过显示面板内的金属走线连接到TDDI IC内部。

参见图1所示，所有的触控电极在显示面板上都是单端连接，也就是说，触控电极的端子仅会在TDDI IC的引脚处裸露，当显示面板的主要工艺流程结束后，绑定(bonding)TDDI IC之前，没有办法使用现有的断短路测试方案去测试各个触控电极的断短路。只能靠后端模组制程，bonding上TDDI IC之后，才能筛选出面板类不良，造成芯片资源浪费。

为此，本申请提供一种测试显示面板异常触控电极的检测电路，用于在bondingTDDI IC之前，检测各个触控电极的断短路。该检测电路包括和触控电极相同数量的检测单元，触控电极和检测单元一一对应连接，控制模块通过检测单元依次扫描各个触控电极，得到各个触控电极的积分曲线，积分曲线有异常的触控电极即为异常触控电极。和现有技术相比，本申请的方案可以在bondingTDDI IC之前将不良面板筛选出来，避免了在不良面板上bonding TDDI IC造成的资源浪费。

下面以具体地实施例对本申请的具体实现方案进行详细说明。下面这几个具体的实施例可以相互结合，对于相同或相似的概念或过程可能在某些实施例中不再赘述。下面将结合附图，对本申请的实施例进行描述。

在下面的实施例中，均以图2所示显示面板为例进行阐述。图2所示显示面板包括N行M列触控电极。本申请以第1列为例说明电路连接方式以及断短路检测方案。其他列和第1列的原理类似，本申请不再展开说明。为方便说明，参见图2所示，将第1列中从第1行到第N行的触控电极依次称为TRX(1)、TRX(2)、……、TRX(N)。

需要说明的是：如上文所描述，每个触控电极是通过显示面板内的金属走线连接到TDDI IC内部的。由于图2中有N行，因此每列应该有N条走金属走线供N个触控电极使用，图3中画出3条进行示意。

本申请提供的检测电路包括：控制模块和与控制模块连接的N×M个检测单元，N×M个检测单元和N×M个端子一一连接，N×M个端子即为图2所示显示面板上阵列排布的N×M个触控电极对应的端子。控制模块用于通过N×M个检测单元获取N×M个触控电极对应的积分曲线，并根据N×M个触控电极对应的积分曲线判断N×M个触控电极中是否存在异常触控电极。

参见图2所示，由于每列有N条金属走线，因此每列有N个端子。也就是说，每列连接N个检测单元。下面以第1列为例说明电路连接方式。其他列的连接方式和第1列类似，本申请不再一一展开赘述。

图3为第1列触控电极所连接的N个检测单元。这N个检测单元从左到右依次连接TRX(1)、TRX(2)、……、TRX(N)对应的端子。每个检测单元包括第一开关管、第二开关管和第三开关管，第一开关管、第二开关管以及第三开关管的输出端和对应的端子连接，第一开关管的输入端接第一信号，第三开关管的输入端接第二信号。

可选的，第一信号可以为LFD信号，第二信号可以为GND信号。

可选的，参见图3所示，可将N个检测单元分为N/a个检测单元组，每个检测单元组a个检测单元，示例性的，图3中从左到右第1个到第a个为一组，第a+1个到第2a个为一组，第N-a+1个到第N个为一组。

测试信号包括N/a个，分别为RX(1)、RX(2)、……、RX(N/a)。开关信号包括a组，每组包括三个开关信号，示例性的，参见图3所示，第1组开关信号包括SW(1)、SW(2)和SW(3)。第2组开关信号包括SW(4)、SW(5)和SW(6)。第a组开关信号包括SW(3a-2)、SW(3a-1)和SW(3a)。为方便说明，本申请中将每组的三个开关信号称为第一开关信号，第二开关信号和第三开关信号。

第i个检测单元组中各个第二开关管的输入端接第i个测试信号，i小于或者等于N/a，示例性的，参见图3所示，第1个组中各个第二开关管的输入端接第1个测试信号RX(1)，第2个组中各个第二开关管的输入端接第2个测试信号RX(2)，第N/a组中各个第二开关管的输入端接第N/a个测试信号RX(N/a)。

每个检测单元组中第j个检测单元接第j组开关信号，j小于或者等于a；示例性的，参见图3所示，第1组中第1个检测单元接第1组开关信号，第1组中第2个检测单元接第2组开关信号，……，第1组中第a个检测单元接第a组开关信号。

如上文描述，开关信号包括a组，每组包括三个开关信号，每组的三个开关信号可称为第一开关信号，第二开关信号和第三开关信号。检测单元中第一开关管的控制端接第一开关信号，第二开关管的控制端接第二开关信号，第三开关管的控制端接第三开关信号。

在一种可能的实现方式中，本申请提供的检测电路可以安装在显示面板内，比如图2中TDDI IC中。

在另一种可能的实现方式中，若显示面板内没有更多可用空间可以安装上述检测电路时，参见图4所示，本申请提供的检测电路也可以安装在显示面板外部，如图4中虚线示意的区域，本实现方式要求在检测完成之后进行小片切割，将检测电路切除。

在做断路检测时，在每个组内部，按照一定的顺序依次对组内各个触控电极进行检测，比如从左到右，以得到各个触控电极对应的积分曲线。对于当前正在检测的触控电极，将该触控电极所连接的检测单元中，第一开关管和第三开关管所连接的开关信号置为高电平，将第二开关管所连接的开关信号置为低电平，使得对于当前正在检测的触控电极来说，测试信号RX能够进入，而LFD信号和GND信号无法进入，触控电极返回数据后，控制模块基于该数据生成对应的积分曲线。对于组内除当前正在检测的触控电极以外的触控电极，将第一开关管所连接的开关信号置为低电平，将第二开关管和第三开关管所连接的开关信号置为高电平，使得测试信号RX无法进入这些触控电极，进入这些触控电极的是LFD信号。

第一开关信号为低电平信号，第二开关信号为高电平信号，第三开关信号为高电平信号。

下面对组内检测过程举例说明：

比如，参见图5所示，在第1组内，检测到TRX(1)时，将图3中第1个检测单元中第一开关管的开关信号SW(1)置为高电平，将第1个检测单元中第二开关管的开关信号SW(2)置为低电平，将第1个检测单元中第三开关管的开关信号SW(3)置为高电平。使得RX(1)进入TRX(1)，而LFD信号和GND信号无法进入TRX(1)，TRX(1)返回数据后，控制模块基于该数据生成TRX(1)对应的积分曲线。需要说明的是，在检测TRX(1)时，对于第1组中除TRX(1)以外的触控电极：TRX(2)至TRX(a)，将检测单元中第一开关管连接的开关信号置为低电平，第二开关管和第三开关管连接的开关信号置为高电平，使得RX(1)无法进入这些触控电极，进入这些触控电极的是LFD信号。

再如，参见图5所示，在第1组内，检测到TRX(2)时，将图3中第2个检测单元中第一开关管的开关信号SW(4)置为高电平，将第2个检测单元中第二开关管的开关信号SW(5)置为低电平，将第2个检测单元中第三开关管的开关信号SW(6)置为高电平。使得RX(1)进入TRX(2)，而LFD信号和GND信号无法进入TRX(2)，TRX(2)返回数据后，控制模块基于该数据生成TRX(2)对应的积分曲线。需要说明的是，在检测TRX(2)时，对于第1组中除TRX(2)以外的触控电极：TRX(1)、TRX(3)至TRX(a)，将检测单元中第一开关管连接的开关信号置为低电平，第二开关管和第三开关管连接的开关信号置为高电平，使得RX(1)无法进入这些触控电极，进入这些触控电极的是LFD信号。

再如，继续参见图5所示，在第N/a组内，检测到TRX(N)时，将图3中第N个检测单元中第一开关管的开关信号SW(3a-2)置为高电平，将第N个检测单元中第二开关管的开关信号SW(3a-1)置为低电平，将第N个检测单元中第三开关管的开关信号SW(3a)置为高电平。使得RX(N/a)进入TRX(N)，而LFD信号和GND信号无法进入TRX(N)，TRX(N)返回数据后，控制模块基于该数据生成TRX(N)对应的积分曲线。需要说明的是，在检测TRX(N)时，对于第N/a组中除TRX(N)以外的触控电极：TRX(N-a+1)至TRX(N-1)，将检测单元中第一开关管连接的开关信号置为低电平，第二开关管和第三开关管连接的开关信号置为高电平，使得RX(N/a)无法进入这些触控电极，进入这些触控电极的是LFD信号。

需要说明的是：N/a个组中第j个检测单元是并行检测的，比如：将第1组开关信号中SW(1)和SW(3)置为高电平，将SW(2)置为低电平。这时每个组中第1个TRX被并行检测。

图6为本申请提供的积分曲线示意图。图6示出了发生断路时的积分曲线和未发生断路时的积分曲线。在固定时间t内，未发生断路时的积分曲线与纵轴围成的面积为A+C，发生断路时的积分曲线与纵轴围成的面积为B+C。在得到TRX(1)、TRX(2)……TRX(N)对应的积分曲线后，可计算每个积分曲线在时间t处与纵轴围成的面积，将面积异常的触控电极确定为断路触控电极。

需要说明的是：在实际比较时，需要拉开A和B的面积差异，才可以较好地拉开面积差异，从而更准确地筛选中不良品。参见图6所示，可调节时间t的位置来很好地区分出面积差异。

图6中积分曲线上各点的纵坐标是控制模块对TRX返回的数据经过ADC换算后得到的值。可以等同理解为电容值。

在做短路检测时，同断路检测，在每个组内部，按照一定的顺序依次对组内各个触控电极进行检测，比如从左到右，以得到各个触控电极对应的积分曲线。对于当前正在检测的触控电极，将该触控电极所连接的检测单元中，第一开关管和第三开关管所连接的开关信号置为高电平，将第二开关管所连接的开关信号置为低电平，使得对于当前正在检测的触控电极来说，测试信号RX能够进入，而LFD信号和GND信号无法进入，触控电极返回数据后，控制模块基于该数据生成对应的积分曲线。对于组内除当前正在检测的触控电极以外的触控电极，将第三开关管所连接的开关信号置为低电平，将第一开关管和第二开关管所连接的开关信号置为高电平，使得测试信号RX无法进入这些触控电极，进入这些触控电极的是GND信号。

下面对组内检测过程举例说明：

比如，参见图7所示，在第1组内，检测到TRX(1)时，将图3中第1个检测单元中第一开关管的开关信号SW(1)置为高电平，将第1个检测单元中第二开关管的开关信号SW(2)置为低电平，将第1个检测单元中第三开关管的开关信号SW(3)置为高电平。使得RX(1)进入TRX(1)，而LFD信号和GND信号无法进入TRX(1)，TRX(1)返回数据后，控制模块基于该数据生成TRX(1)对应的积分曲线。需要说明的是，在检测TRX(1)时，对于第1组中除TRX(1)以外的触控电极：TRX(2)至TRX(a)，将检测单元中第三开关管连接的开关信号置为低电平，第一开关管和第二开关管连接的开关信号置为高电平，使得RX(1)无法进入这些触控电极，进入这些触控电极的是GND信号。

再如，继续参见图7所示，在第1组内，检测到TRX(2)时，将图3中第2个检测单元中第一开关管的开关信号SW(4)置为高电平，将第2个检测单元中第二开关管的开关信号SW(5)置为低电平，将第2个检测单元中第三开关管的开关信号SW(6)置为高电平。使得RX(1)进入TRX(2)，而LFD信号和GND信号无法进入TRX(2)，TRX(2)返回数据后，控制模块基于该数据生成TRX(2)对应的积分曲线。需要说明的是，在检测TRX(2)时，对于第1组中除TRX(2)以外的触控电极：TRX(1)、TRX(3)至TRX(a)，将检测单元中第三开关管连接的开关信号置为低电平，第一开关管和第二开关管连接的开关信号置为高电平，使得RX(1)无法进入这些触控电极，进入这些触控电极的是GND信号。

再如，继续参见图7所示，在第N/a组内，检测到TRX(N)时，将图3中第N个检测单元中第一开关管的开关信号SW(3a-2)置为高电平，将第N个检测单元中第二开关管的开关信号SW(3a-1)置为低电平，将第N个检测单元中第三开关管的开关信号SW(3a)置为高电平。使得RX(N/a)进入TRX(N)，而LFD信号和GND信号无法进入TRX(N)，TRX(N)返回数据后，控制模块基于该数据生成TRX(N)对应的积分曲线。需要说明的是，在检测TRX(N)时，对于第N/a组中除TRX(N)以外的触控电极：TRX(N-a+1)至TRX(N-1)，将检测单元中第三开关管连接的开关信号置为低电平，第一开关管和第二开关管连接的开关信号置为高电平，使得RX(N/a)无法进入这些触控电极，进入这些触控电极的是GND信号。

同断路检测，在做短路检测时，N/a个组中第j个检测单元是并行检测的，比如：将第1组开关信号中SW(1)和SW(3)置为高电平，将SW(2)置为低电平。这时每个组中第1个TRX被并行检测。

图8为本申请提供的积分曲线示意图。图8示出了发生短路时的积分曲线和未发生短路时的积分曲线。在固定时间t内，未发生短路时的积分曲线与横轴围成的面积为A，发生短路时的积分曲线与横轴围成的面积为A+B。在得到TRX(1)、TRX(2)……TRX(N)对应的积分曲线后，可计算每个积分曲线与横轴围成的面积，将面积异常的触控电极确定为短路触控电极。

同断路检测，在实际比较时，需要拉开A和B的面积差异，才可以较好地拉开面积差异，从而更准确地筛选中不良品。参见图8所示，可调节时间t的位置来很好地区分出面积差异。

图8中积分曲线上各点的纵坐标是控制模块对TRX返回的数据经过ADC换算后得到的值。可以等同理解为电容值。

本申请提供的检测电路，包括N×M个检测单元和控制模块，N×M个检测单元分别和N×M个端子连接，N×M个端子为显示面板上阵列排布的N×M个触控电极对应的端子。控制模块用于通过N×M个检测单元获取N×M个触控电极对应的积分曲线，并根据N×M个触控电极对应的积分曲线确定N×M个触控电极中的异常触控电极。和现有技术相比，本申请的方案可以在bondingTDDI IC之前将不良面板筛选出来，避免了在不良面板上bonding TDDIIC造成的芯片资源浪费。

图9为本申请提供的异常触控电极的检测方法的流程示意图。本实施例提供的异常触控电极的检测方法可应用于上述控制模块，控制模块可以为软件和/或硬件，如图9所示，本实施例提供的异常触控电极的检测方法，包括：

S901、通过N×M个检测单元获取待检测显示面板上N×M个触控电极对应的积分曲线。

S901的具体实现过程参见上文描述，本实施例在此不再赘述。

S902、根据待检测显示面板上N×M个触控电极对应的积分曲线以及测试配置文件，判断待检测显示面板上N×M个触控电极中是否存在异常触控电极。

具体的，对黄金样品上N×M个触控电极进行断短路检测，得到黄金样品上N×M个触控电极在断路检测下的积分曲线以及在短路检测下的积分曲线。黄金样品为功能完好的显示面板，即不存在断短路触控电极的显示面板。进一步，将黄金样品断路检测下的积分曲线以及短路检测下的积分曲线均写入测试配置文件中，控制模块得到待检测显示面板上N×M个触控电极在断路检测下的积分曲线后，将其与测试配置文件中黄金样品在断路检测下的积分曲线进行对比，对比方法参见图6，从而判断出待检测显示面板上N×M个触控电极中是否存在断路的触控电极。控制模块得到待检测显示面板上N×M个触控电极在短路检测下的积分曲线后，将其与测试配置文件中黄金样品在短路检测下的积分曲线进行对比，对比方法参见图8，从而判断出待检测显示面板上N×M个触控电极中是否存在短路的触控电极。若断短路触控电极的数量超过一定阈值，则将该显示面板视为不良品。对任一待检测显示面板均可使用本实施例提供的方法进行检测。

本申请提供的检测方法，控制模块通过N×M个检测单元获取待检测显示面板上N×M个触控电极对应的积分曲线，然后根据待检测显示面板上N×M个触控电极对应的积分曲线以及测试配置文件，判断待检测显示面板上N×M个触控电极中是否存在异常触控电极，若异常触控电极的数量超过一定阈值，则将该显示面板视为不良品。通过上述方法可以在bonding TDDI IC之前将不良面板筛选出来，避免了在不良面板上bonding TDDI IC造成的芯片资源浪费。

本申请提供一种芯片，可以包括：存储器，用于存储程序指令。处理器，用于在所述程序指令被执行时实现上述检测方法，其实现原理和技术效果类似，在此不再赘述。

本申请提供的显示面板可以应用在终端设备上。终端设备可以是手机，平板电脑，智能手表，电视机以及其他具有显示屏且摄像头在屏下的电子设备。作为示例而非限定，在本申请中，该终端设备还可以是可穿戴设备。可穿戴设备也可以称为穿戴式智能设备，是应用穿戴式技术对日常穿戴进行智能化设计、开发出可以穿戴的设备的总称，如眼镜、手套、手表、服饰及鞋等。可穿戴设备即直接穿在身上，或是整合到用户的衣服或配件的一种便携式设备。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本申请的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本申请进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的范围。