具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下通过实施例，并结合附图，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

本文中为组件所编序号本身，例如“第一”、“第二”等，仅用于区分所描述的对象，不具有任何顺序或技术含义。而本申请所说“连接”、“联接”，如无特别说明，均包括直接和间接连接(联接)。在本发明的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

请参阅图1和图2，图1是本发明实施例提供的电子加速器辐照强度检测装置的结构示意图，图2是本发明实施例提供的铜板的结构示意图。本发明实施例公开了一种电子加速器辐照强度检测装置，该装置包括：辐照窗1；辐照窗1内部设置有一钛膜2，钛膜2将辐照窗1内部分隔成钛膜前真空区11和钛膜后输出区12。

其中，钛膜前真空区11为真空结构。

在本实施例中，辐照窗1竖直方向设置，钛膜前真空区11和钛膜后输出区12两个沿竖直方向设置，钛膜前真空区11在上方，钛膜后输出区12在下方，辐照窗1上方设置有结构可以产生电子束(也为电子束流)的电子枪(图未示)，产生的电子束从辐照窗1的顶端进入钛膜前真空区11，再经过钛膜2进入钛膜后输出区12，电子束经过钛膜2时，会有损耗。

本实施例中的电子加速器辐照强度检测装置还包括第一束流强度检测模块、第二束流强度检测模块以及中控室3。

进一步地，第一束流强度检测模块一端与钛膜后输出区12连接，以检测得到第一束流强度P1。其中，第一束流强度P1为钛膜后输出区12内的束流强度，也为实际辐照到物体上的束流辐照强度。

可选地，第一束流强度检测模块包括水槽4、铜板5和电流表6；

水槽4正对钛膜后输出区12的出口121，水槽4内盛装有水，铜板5浸润在水中，铜板5的一端伸出水槽4与电流表6电性连接，且电流表6一端接地设置。具体地，铜板5固定在水槽4底部。

在水槽4底部敷设铜板5，电子束流穿过钛膜2打到水槽4，水槽4中的水相对固定，不对外溢流因此所有电子基本都存在水槽4内，又由于水的导电性且和底部铜板5充分接触，电子会从高电势到低电势顺铜板5流经电流表6到接地极，这样我们就能得到电子束流在钛膜2出口处的平均流强P1。

可选地，在一些实施方式中，铜板5可以为方形板；可选地，在一些实施方式中，铜板5为格栅型铜板，例如可以为田字形铜板。

可选地，铜板5与电流表6之间通过第一抗辐照电缆7电性连接，第一抗辐照电缆7外侧套设有第一保护管8。

进一步地，铜板5与第一抗辐照电缆7之间还设置有铜导片活接9和转接片10，铜导片活接9与铜板5的侧边相连接并伸出铜板5，转接片10两端分别与铜导片活接9、第一抗辐照电缆7相连接。其中，铜导片活接9和转接片10均为导电性材质。

具体地，电流表6通过第二抗辐照电缆13进行接地。进一步地，第二抗辐照电缆13外侧套设有第二保护管14。

本实施例中的电子加速器辐照强度检测装置，通过第一束流强度检测模块检测出位于钛膜后输出区12的第一束流强度P1，可以得到实际辐照到物体上的束流辐照强度。

进一步地，还包括第二束流强度检测模块以及中控室3。

具体地，第二束流强度检测模块一端设置于钛膜前真空区11，以检测得到第二束流强度P2，另一端与中控室3电性连接，以将第二束流强度P2传送给中控室3。

具体地，第二束流强度P2为钛膜前真空区内的束流强度。

具体地，第二束流强度检测模块包括束流变压器15和束流检测器16；

束流变压器15设置于钛膜前真空区11，束流检测器16设置于辐照窗1外部，并分别与束流变压器15、中控室3电性连接。

可选地，束流检测器16与束流变压器15之间采用第三抗辐照电缆17电性连接,束流检测器16与中控室3之间采用普通线缆电性连接。

在辐照窗1上方产生的电子束虽然进入辐照窗1，但是会在辐照窗1附近产生辐射，因此，第三抗辐照电缆17外侧套设有第三保护管18。第三保护管18可以用于减弱第三抗辐照电缆17所受到的辐射，进而对其起到保护作用。可选地，第三保护管18为金属套管。

具体地，第一束流强度检测模块另一端与中控室3电性连接，以将第一束流强度P1传送给中控室3。

可选地，电流表6还与中控室3通过普通电10缆电性连接。

中控室3接收第一束流强度P1和第二束流强度P2，并计算得到第三束流强度P3，中控室3根据计算得到的第三束流强度P3进一步计算得到钛膜2的当前温度。

具体地，中控室3根据公式P1-P2＝P3，P3是经过钛膜2减损的束流强度。将P3带入导体载流温升公式可计算出钛膜2的温升温度，进一步计算出当前钛膜温度，这样可以实时监控钛膜2的温度，当钛膜2温度达到报警值采取保护措施，防止钛膜2被破坏。

本实施例中的第一保护管8、第二保护管14和第三保护管18，均可以采用金属套管，阻挡高能电子产生的电离辐射，衰减辐射，保护设在里面的电缆，延长其使用寿命。

中控室3还包括控制器(图未示)和显示器(图未示)，控制器和显示器电性连接，显示器可以用于显示电流表6得到的第一束流强度P1、钛膜2的温升以及钛膜2的当前温度等信息。

本实施例中的电子加速器辐照强度检测装置，在使用时：开启电子加速器，电流表6得到的第一束流强度P1实时显示到中控室3，通过电流表6得到的束流强度调节加速器功率直到我们需要的剂量，同时中控室3根据钛膜2前后束流强度之差计算得到钛膜2温升，将温升显示在中控室3，设定报警值和联锁值，当温度达到报警值中控弹窗提示，当温度达到联锁值，启动联锁保护钛膜2不被破坏。

以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。