本发明公开了一种FLASH芯片检测设备,包括底座,所述底座的顶端固定连接有支撑架,且支撑架的两端分别活动套接有齿轮,且齿轮的正面固定连接有固定盘,并且固定盘的正面开设有轨槽,所述两端齿轮的外部活动套接有传送带,且传送带的内壁等距固定分布有齿块,所述传送带通过齿块与齿轮齿轮啮合连接,通过设置电机、支杆三、活动螺柱、支杆二、支杆一、齿轮和固定盘之间相互配合传动,使得支杆二在固定盘内的轨槽回转转动,从而使得齿轮间歇性齿轮传动齿块和传送带运转,实现传送带间歇有停顿的传动的目的,使得后期对芯片输送检测时提供了检测时间,提高了工作效率。

本发明公开一种读重试测试方法、装置、可读存储介质及电子设备,根据接收的待测闪存的读重试功能的测试请求以块为单位对所述待测闪存的目标操作模式进行遍历,直至遍历完所述目标操作模式中的所有块；对于遍历到的目标块中的预设目标页进行读操作,得到目标原始数据；基于所述目标原始数据对所述预设目标页的数据进行位翻转,得到位翻转后的预设目标页；读取所述位翻转后的预设目标页的数据,得到读取结果,并根据所述读取结果得到所述读重试功能的测试结果,以此强制修改数据来进行位翻转的构造,从而触发主控的读重试功能并对其进行测试,提高了测试读重试功能的效率。

本发明涉及一种多内存芯片的产品信息辨别方法,包括以下步骤：初始化动态随机存储器芯片(S101)；获取DRAM控制器的扫描结果(S102)；读取JEDEC读取寄存器的数据(S103)；根据DRAM控制器的扫描结果、JEDEC寄存器的读取数据,计算总芯片容量信息(S104)；根据不同的角色和不同使用场景,将测量得到的动态随机存储器芯片相关数据以不同方式呈现出来(S105)。还涉及一种多内存芯片的产品信息辨别装置,包括：用户选择模块、读取模块、计算模块、对比模块、显示模块。本发明可准确的测量动态随机存储器中相关信息,根据不同的角色和不同使用场景,将上述信息以不同方式呈现出来,满足用户生产生活的需求。

本发明公开了一种flash检测方法及其检测系统,涉及存储技术领域。该flash检测方法包括以下步骤：S1、检测芯片内部是否包括flash存储器：若否,则进入步骤S5；若是,则进入步骤S2；S2、读取所述flash存储器的存储内容；S3、将所述flash存储器内的存储内容通过预设的计算方法进行计算,并将存储内容计算结果与预存的校验值进行对比；S4、判断所述存储内容计算结果与所述校验值是否相同：若不相同,则进入步骤S5；若相同,则发送检测工作完成标志；S5、接收外部命令进行flash自测：若flash存储器检测出坏块,则标记坏块位置,发送坏块位置和检测工作完成标志；若flash存储器无坏块,则发送检测工作完成标志。本发明的检测方法简单、方便,且不受TAP限速。

本发明公开了一种电能表存储器寿命测试方法及装置,用于解决如何检测电能表存储器的寿命的技术问题。其中,方法包括：对存储器执行电特性测试,判断存储器与探针卡是否接触良好；若是,对存储器执行初始化测试,确定存储器的数据保持能力测试数据；对存储器进行循环擦写,得到擦写测试数据；在循环擦写过程中执行功能校验测试、擦写速度测试和编程窗口测试,获取循环测试数据；根据数据保持能力测试数据、擦写测试数据和循环测试数据,确定存储器的寿命。

本发明提供了一种故障硬盘的定位方法及系统,周期性采集待检测RAID对应的待处理阵列卡日志；解析待处理阵列卡日志,得到在对待检测RAID执行PR前和执行PR后每一硬盘的第一预设指标的第一变化值,及得到在对待检测RAID执行PR时所需的第一执行时长,及得到对待检测RAID执行CC前和执行CC后每一硬盘的第一预设指标的第二变化值,及得到对待检测RAID执行CC时所需的第二执行时长；根据待检测RAID中每一硬盘对应的第一变化值、第一执行时长、第二变化值和第二执行时长,确定待检测RAID中是否存在故障硬盘；若存在,获取故障硬盘对应的硬盘信息,以准确和及时的对故障硬盘进行定位。