本发明提供一种存储器装置的测试方法,可降低测试的错误覆盖率。内存装置的测试方法包括：关闭存储器装置的备援功能,并对第一存储单元数组写入第一数据；启动存储器装置的备援功能,并对第二存储单元数组写入第二数据,其中第一数据与第二数据互补；依据边界条件,对非易失存储区块读取备援信息,基于备援信息,读取第二存储单元数组以获得第一读取数据；以及依据比较第二数据与第一读取数据以产生第一测试结果。其中,第二存储单元数组包括第一存储单元数组的部分存储单元以及至少一备援存储单元。

本公开关于一种半导体存储器的训练方法及相关设备,属于半导体技术领域。该方法包括：获取存储的所述半导体存储的历史训练结果,所述历史训练结果包括历史期望时延值及历史期望电压；设置时延阈值和当前训练电压范围,所述时延阈值小于或等于所述历史期望时延值,所述当前训练电压范围包括所述历史期望电压；获取所述半导体存储器在所述历史期望电压下的当前最小时延值；若所述半导体存储器在所述历史期望电压下的当前最小时延值大于或等于所述时延阈值,则将存储的所述历史训练结果作为所述半导体存储器的当前训练结果。通过本公开实施例提供的方案,能够提高半导体存储器的训练速度。

本公开提供了一种存储器的测试方法、存储介质和计算机设备。存储器的测试方法包括：获取需要写入多个芯片接口的目标测试式样,多个所述芯片接口与多个物理通信接口一一对应连接；确定与各所述物理通信接口的第一信息分别对应的所述芯片接口的第二信息,并将所述第一信息和所述第二信息作为对应连接信息；对所述对应连接信息进行重映射得到映射连接信息；根据所述目标测试式样与所述映射连接信息确定需要写入所述物理通信接口的初始测试式样。本公开能够提高测试的准确性。