本申请实施例提供的一种记录静电放电事件的电路、集成电路、微控制单元和方法,所述电路包括检测电路,用于连接微控制单元MCU的待测端口,对所述待测端口的静电放电ESD信号进行检测,输出检测信号；泄放电路,用于根据所述检测信号对所述待测端口的ESD信号进行泄放；整形电路,用于对所述检测信号进行整形,将所述检测信号由模拟信号整形为数字信号；事件判断电路,用于根据所述整形后的检测信号判断是否产生了ESD事件,其中,若判断产生了ESD事件,则输出响应信号；响应电路,用于根据所述响应信号对所述ESD事件进行记录。采用本申请实施例提供的技术方案,可以对发生的ESD事件进行记录,便于后期对芯片的ESD事件分析跟踪。