具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

请参阅图1，图1是本发明提供的一种电力芯片内时钟信号的自动校准装置的一个优选实施例的结构示意图。所述电力芯片内时钟信号的自动校准装置，包括中测机台1、待校准晶振2、振荡器4、测试控制模块3、校准模块5、参数调整模块6；所述中测机台1的信号输出端与所述待校准晶振2连接，所述待校准晶振2的第一信号输出端与所述振荡器4的输入端连接，所述振荡器4的输出端与所述测试控制模块3的输入端连接，所述测试控制模块3与所述校准模块5连接，所述校准模块5的输出端与所述参数调整模块6的输入端连接，所述参数调整模块6的输出端与所述中测机台1的信号输入端连接。

具体的，中测机台的信号输出端与待校准晶振连接，待校准晶振的第一信号输出端与振荡器的输入端连接，振荡器的输出端与测试控制模块的输入端连接，测试控制模块与校准模块连接，校准模块的输出端与参数调整模块的输入端连接，参数调整模块的输出端与中测机台的信号输入端连接。其中，校准模块通过射频与测试控制模块实现信号互通。

在另一个优选实施例中，所述待校准晶振2还连接有处理模块7和储存模块8，所述处理模块7的输入端与所述待校准晶振2的第二信号输出端连接，所述储存模块8的输入端与所述待校准晶振2的第二信号输出端连接。

具体的，待校准晶振还连接有处理模块和储存模块，处理模块的输入端与待校准晶振的第二信号输出端连接，处理模块用于对待校准晶振的时钟进行处理随后发出；储存模块的输入端与待校准晶振的第二信号输出端连接，储存模块用于对待校准晶振的时钟进行储存，避免出现突然断电的情况，导致数据丢失。

在另一个优选实施例中，所述测试控制模块3还连接有对比模块9和信号收发模块11，所述对比模块9的输入端与所述测试控制模块3的输出端连接，所述信号收发模块11的输入端与所述测试控制模块3的输出端连接。

在又一个优选实施例中，所述对比模块9还连接有数据储存器10，所述数据储存器10与所述信号收发模块10连接，且所述数据储存器10的内部设置有时间模块12。

具体的，测试控制模块还连接有对比模块和信号收发模块，对比模块的输入端与测试控制模块的输出端连接，信号收发模块的输入端与测试控制模块的输出端连接。对比模块还连接有数据储存器，数据储存器与信号收发模块连接，且数据储存器的内部设置有时间模块。其中，数据储存器通过ECal端口与信号收发模块信号相连。将需要对比的数据储存在数据储存器中，通过对比模块的作用，将接收到的数据与数据储存器内部数据进行对比，若数据发生改变则储存新的数据，并将对比完成的结果通过信号收发模块发送至校准模块。

在又一个优选实施例中，所述校准模块5还连接有接收模块13和振荡模块14，所述接收模块13的输入端与所述校准模块5的输出端连接，所述振荡模块14的输入端与所述校准模块3的输出端连接。

作为优选方案，所述振荡模块14的调整频率小于所述振荡器4的调整频率。

相应地，本发明还提供一种电力芯片内时钟信号的自动校准方法，应用于上述任意一项所述的电力芯片内时钟信号的自动校准装置，所述方法包括：

S1，接收中测机台发出的测试指令；

S2，对待校准晶振进行自校准，使芯片内时钟信号的频率与所述待校准晶振相同，并将所述芯片内时钟信号发送至测试控制模块；

S3，通过所述测试控制模块对所述芯片内时钟信号的频率进行测试，并将测试通过的时钟信号发送至校准模块；

S4，通过所述校准模块对所述测试通过的时钟信号的相位进行校准，并将校准后的时钟信号发送至参数调整模块；

S5，通过所述参数调整模块对影响时钟信号相位的参数进行调整，并将调整后的时钟信号发送至中测机台；

S6，根据所述调整后的时钟信号对所述待校准晶振进行调整，即可完成芯片内时钟信号的自动校准。

在另一个优选实施例中，所述S2，对待校准晶振进行自校准，使芯片内时钟信号的频率与所述待校准晶振相同，并将所述芯片内时钟信号发送至测试控制模块，还包括：

若所述待校准晶振与所述芯片内时钟信号的频率出现偏差，则通过振荡器对所述芯片内时钟信号的频率进行振荡修正。

在又一个优选实施例中，所述S3，通过所述测试控制模块对所述芯片内时钟信号的频率进行测试，并将测试通过的时钟信号发送至校准模块，还包括：

将所述芯片内时钟信号与时间模块的正确时间进行对比；

若所述芯片内时钟信号与所述时间模块的正确时间存在偏差，则通过所述校准模块中的振荡模块对所述芯片内时钟信号进行调整；

若所述芯片内时钟信号与所述时间模块的正确时间不存在偏差，则将所述芯片内时钟信号发送至校准模块。

作为优选方案，所述若所述芯片内时钟信号与所述时间模块的正确时间存在偏差，则通过所述校准模块中的振荡模块对所述芯片内时钟信号进行调整，具体为：

若所述芯片内时钟信号与所述时间模块的正确时间存在偏差，则通过信号收发模块将所述芯片内时钟信号发送至所述校准模块中的接收模块；

当接收到所述芯片内时钟信号后，通过所述校准模块中的振荡模块对所述芯片内时钟信号进行调整。

具体的，中测机台收到外部发来的信号后发出测试指令，通过对待校准晶振进行自校准，使芯片内时钟信号的频率与所述待校准晶振相同，若所述待校准晶振与所述芯片内时钟信号的频率出现偏差，则通过振荡器对所述芯片内时钟信号的频率进行振荡修正，并将所述芯片内时钟信号发送至测试控制模块。通过测试控制模块对所述芯片内时钟信号的频率进行测试，并将测试通过的时钟信号发送至校准模块。并将所述芯片内时钟信号与时间模块的正确时间进行对比；若所述芯片内时钟信号与所述时间模块的正确时间存在偏差，则通过信号收发模块将所述芯片内时钟信号发送至所述校准模块中的接收模块；当接收到所述芯片内时钟信号后，通过所述校准模块中的振荡模块对所述芯片内时钟信号进行调整；若所述芯片内时钟信号与所述时间模块的正确时间不存在偏差，则将所述芯片内时钟信号发送至校准模块。通过所述校准模块对所述测试通过的时钟信号的相位进行校准，并将校准后的时钟信号发送至参数调整模块。通过所述参数调整模块对影响时钟信号相位的参数进行调整，并将调整后的时钟信号发送至中测机台。根据所述调整后的时钟信号对所述待校准晶振进行调整，即可完成芯片内时钟信号的自动校准。

本发明实施例提供了一种电力芯片内时钟信号的自动校准装置及其方法，该自动校准装置包括中测机台、待校准晶振、振荡器、测试控制模块、校准模块、参数调整模块；所述中测机台的信号输出端与所述待校准晶振连接，所述待校准晶振的第一信号输出端与所述振荡器的输入端连接，所述振荡器的输出端与所述测试控制模块的输入端连接，所述测试控制模块与所述校准模块连接，所述校准模块的输出端与所述参数调整模块的输入端连接，所述参数调整模块的输出端与所述中测机台的信号输入端连接。本发明实施例通过测试控制模块、校准模块和参数调整模块的配合，能够实现对电力芯片内时钟信号的自动校准；并通过对电力芯片内时钟信号的频率和相位进行双重调整，进一步提高校准的准确性。

需说明的是，以上所描述的系统实施例仅仅是示意性的，其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。另外，本发明提供的系统实施例附图中，模块之间的连接关系表示它们之间具有通信连接，具体可以实现为一条或多条通信总线或信号线。本领域普通技术人员在不付出创造性劳动的情况下，即可以理解并实施。

以上所述是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也视为本发明的保护范围。