阅读说明：本技术 显示装置 (Display device ) 是由 玄昌镐 张根宁 于 2019-07-12 设计创作，主要内容包括：提供了一种显示装置。所述显示装置包括：显示面板,包括连接到多条数据线以及与多条数据线交叉的多条扫描线的多个像素；数据驱动器,包括通过导电粘合构件与显示面板上的多个垫接触的多个端子,并且被配置为检测多个端子的电阻值；以及时序控制器,被配置为将电阻值传输到外部控制器。(A display device is provided. The display device includes: a display panel including a plurality of pixels connected to a plurality of data lines and a plurality of scan lines crossing the plurality of data lines; a data driver including a plurality of terminals contacting a plurality of pads on the display panel through the conductive adhesive member, and configured to detect resistance values of the plurality of terminals; and a timing controller configured to transmit the resistance value to an external controller.)

显示装置

技术领域

发明的示例性实施例总体上涉及一种显示装置和检查该显示装置的方法，更具体地，涉及一种用于通过使用数据驱动器来检查缺陷的显示装置和检查该显示装置的方法。

背景技术

目前使用的显示装置包括液晶显示器(LCD)装置和有机发光显示器(OLED)装置。LCD装置包括LCD面板和背光组件，LCD面板使用LC的透光率来显示图像，背光组件设置在LCD面板下方并向LCD面板提供光。OLED装置包括OLED面板，OLED面板包括通过电子和空穴的复合来发光的OLED二极管。OLED装置具有快速响应时间和低功耗。

这些显示装置的制造工艺包括各种缺陷检查工艺。缺陷检查工艺包括在模块组装工艺之前其中测试电缺陷的阵列检查工艺以及其中测试照明缺陷的照明检查工艺。

在阵列检查工艺和照明检查工艺之后，执行模块组装工艺。在模块组装工艺中，在LCD面板或OLED面板上粘附偏光板、保护膜、驱动芯片和柔性电路板。

在模块组装工艺之后，执行检查诸如驱动芯片和柔性电路板的结合缺陷的结合检查工艺，以及检查可靠性缺陷的诸如高温测试、寿命测试和余像测试的可靠性检查工艺。

在背景技术部分公开的上述信息仅是为了理解发明构思的背景技术，因此其可以包含不构成现有技术的信息。

发明内容

发明构思的示例性实施例提供了一种用于通过使用数据驱动器来检查缺陷的显示装置。

发明构思的示例性实施例也提供了一种检查显示装置的方法。

发明构思的附加特征将在下面的描述中被阐述，并且部分地将通过描述而明显，或者可以通过发明构思的实践而获得。

根据发明构思的示例性实施例，提供了一种显示装置，所述显示装置包括：显示面板，包括连接到多条数据线以及与多条数据线交叉的多条扫描线的多个像素；数据驱动器，包括通过导电粘合构件与显示面板上的多个垫接触的多个端子，并且被配置为检测多个端子的电阻值；以及时序控制器，被配置为将电阻值传输到外部控制器。

数据驱动器的多个端子可以包括布置在设置在显示面板上的对准电极垫中的对准电极端子，并且数据驱动器可以被配置为检测接触到对准电极垫的对准电极端子的电阻值。

显示面板还可以包括设置在与数据驱动器相邻的区域中的开关部件，开关部件包括：开关控制线；以及开关，连接到开关控制线、奇数扇出线以及与奇数扇出线相邻的偶数扇出线。

数据驱动器可以向开关控制线提供用于导通开关的开关控制信号，并且在开关部件导通时检测多个端子的电阻值。

开关可以包括：第一开关，连接到开关控制线以及与数据驱动器的多个端子之中的第一组的端子连接的奇数扇出线和偶数扇出线；以及第二开关，连接到开关控制线以及与数据驱动器的多个端子之中的第二组的端子连接的奇数扇出线和偶数扇出线。

数据驱动器可以向开关控制线提供用于导通开关的开关控制信号，并且当开关部件导通时检测第一组的端子的电阻值和第二组的端子的电阻值。

数据驱动器可以包括：输出缓冲器，被配置为对与图像数据对应的数据电压进行放大，并且将数据电压输出到多条数据线；以及***件，被配置为检测电阻值。

***件可以在其中检测电阻值的检查模式中阻止工作电压被施加到输出缓冲器。

***件可以在检查多条数据线是否具有电缺陷的检查模式中将测试信号输出到多条数据线。

***件可以在检查模式中阻止工作电压被施加到输出缓冲器。

根据发明构思的示例性实施例，提供了一种检查显示装置的方法，所述显示装置包括：多个像素，连接到多条数据线以及与多条数据线交叉的多条扫描线；以及数据驱动器，包括通过导电粘合构件与显示面板上的多个垫接触的多个端子，所述方法包括通过数据驱动器检测多个端子的电阻值以及将电阻值传输到外部控制器。

数据驱动器的多个端子可以包括布置在设置在显示面板上的对准电极垫中的对准电极端子，并且数据驱动器可以检测接触到对准电极垫的对准电极端子的电阻值。

所述方法还可以包括通过数据驱动器导通连接到奇数扇出线以及与奇数扇出线相邻的偶数扇出线的开关，以及通过数据驱动器检测数据驱动器的连接到奇数扇出线和偶数扇出线的多个端子的电阻值。

所述方法还可以包括通过数据驱动器导通连接到开关控制线以及与多个端子之中的第一组的端子连接的奇数扇出线和偶数扇出线的第一开关；通过数据驱动器导通连接到开关控制线以及与多个端子之中的第二组的端子连接的奇数扇出线和偶数扇出线的第二开关；以及通过数据驱动器检测第一组和第二组中的端子的电阻值。

数据驱动器可以包括被配置为对与图像数据对应的数据电压进行放大且将数据电压输出到多条数据线的输出缓冲器，并且数据驱动器在其中检测电阻值的检查模式中阻止工作电压被施加到输出缓冲器。

所述方法还可以包括在检查模式中将测试信号输出到多条数据线，在检查模式中通过数据驱动器检查多条数据线是否具有电缺陷。

所述方法还可以包括通过数据驱动器阻止工作电压在检查模式下被施加到输出缓冲器。

根据发明构思，数据驱动器检测数据驱动器中的结合在显示面板上的输出端子的电阻值，并且在监视器上显示电阻值。因此，结合检查工艺可以是自动化的。另外，数据驱动器可以执行结合检查工艺和阵列检查工艺，因此，可以准确地执行检查工艺。

将理解的是，前面的总体描述和下面的详细描述都是示例性的和解释性的，并且旨在提供对如所要求的发明的进一步解释。

附图说明

附图示出了发明的示例性实施例，并且与描述一起用于解释发明构思，其中，附图被包括以提供对发明的进一步理解，并且附图被包括在本说明书中并构成本说明书的一部分。

图1是示出根据示例性实施例的显示装置的框图。

图2是示出图1中的数据驱动器的概念图。

图3是示出图2中的数据驱动器的框图。

图4是示出根据一个示例性实施例的检查显示装置的方法的流程图。

图5是示出根据一个示例性实施例的显示面板的概念图。

图6是示出图5中的数据驱动器的框图。

图7是示出根据一个示例性实施例的显示面板的概念图。

图8是示出根据一个示例性实施例的检查显示装置的方法的流程图。

具体实施方式

在下面的描述中，出于解释的目的，阐述了许多具体细节，以提供对发明的各种示例性实施例的彻底的理解。如这里使用的“实施例”是采用这里公开的一个或更多个发明构思的装置或方法的非限制性示例。然而，明显的是，各种示例性实施例可以在没有这些具体细节或者具有一个或更多个等同布置的情况下来实施。在其他情况下，为了避免使各种示例性实施例不必要地模糊，以框图形式示出了公知的结构和装置。此外，虽然各种示例性实施例可以是不同的，但不必是排他性的。例如，在不脱离发明构思的情况下，可以将示例性实施例的具体形状、构造和特性用于或实施于另一示例性实施例中。

除非另有说明，否则示出的示例性实施例将被理解为提供可以在实践中实现发明构思的一些方式的变化细节的示例性特征。因此，除非另有说明，否则在不脱离发明构思的情况下，可以对各种实施例的特征、组件、模块、层、膜、面板、区域和/或方面等(在下文中单独地或共同地称作“元件”或“多个元件”)进行另外组合、分离、互换和/或重新布置。

在附图中，出于清楚和/或描述的目的，可以夸大元件的尺寸和相对尺寸。当可以不同地实施示例性实施例时，可以与所描述的顺序不同地执行特定的工艺顺序。例如，可以基本上同时执行两个连续描述的工艺，或者可按照与所描述的顺序相反的顺序来执行两个连续描述的工艺。此外，同样的附图标记表示同样的元件。

当元件或层被称作“在”另一元件或层“上”、“连接到”或者“结合到”另一元件或层时，该元件或层可以直接在所述另一元件或层上、直接连接到或者直接结合到所述另一元件或层，或者可以存在中间元件或中间层。然而，当元件或层被称作“直接在”另一元件或层“上”、“直接连接到”或者“直接结合到”另一元件或层时，不存在中间元件或中间层。为此，术语“连接”可以指具有或不具有中间元件的物理连接、电连接和/或流体连接。此外，D1轴、D2轴和D3轴不限于直角坐标系的三个轴(诸如x轴、y轴和z轴)，并且可以以更广泛的意义来解释。例如，D1轴、D2轴和D3轴可以彼此垂直，或者可以表示彼此不垂直的不同方向。出于本公开的目的，“X、Y和Z中的至少一个(者/种)”和“从由X、Y和Z构成的组中选择的至少一个(者/种)”可以被解释为仅X、仅Y、仅Z或者X、Y和Z中的两个(者/种)或更多个(者/种)的任何组合，诸如以XYZ、XYY、YZ和ZZ为例。如这里使用的，术语“和/或”包括一个或更多个相关所列项的任何组合和所有组合。

虽然这里可以使用术语“第一”、“第二”等来描述各种类型的元件，但是这些元件不应该被这些术语所限制。这些术语用来将一个元件与另一元件区分开。因此，在不脱离本公开的教导的情况下，下面论述的第一元件可被称为第二元件。

出于描述的目的，在这里可以使用诸如“在……下面”、“在……下方”、“在……之下”、“下面的”、“在……上方”、“上面的”、“在……之上”、“较高的”和“侧”(例如，如在“侧壁”中)等的空间相对术语，从而来描述如附图中示出的一个元件与另一(另一些)元件的关系。除了附图中描绘的方位之外，空间相对术语旨在涵盖使用、操作和/或制造中的装置的不同方位。例如，如果附图中的设备被翻转，则被描述为“在”其他元件或特征“下方”或“下面”的元件或特征随后将被定位为“在”所述其他元件或特征“上方”。因此，示例性术语“在……下方”可以包括上方和下方两种方位。此外，设备可被另外定位(例如，旋转90度或者在其他方位处)，并如此相应地解释这里使用的空间相对描述语。

这里使用的术语是出于描述具体实施例的目的，并非意图限制。如这里使用的，除非上下文另外清楚地指出，否则单数形式的“一个(种/者)”和“所述(该)”也意图包括复数形式。此外，当在本说明书中使用术语“包含”和/或“包括”以及它们的变型时，这些术语说明存在所陈述的特征、整体、步骤、操作、元件、组件和/或它们的组，但是不排除存在或附加一个或更多个其他特征、整体、步骤、操作、元件、组件和/或它们的组。还注意的是，如这里所使用的，术语“基本上”、“约(大约)”和其他类似术语用作近似术语而不是用作程度术语，并且如此用于解释本领域普通技术人员将认识到的测量值、计算值和/或提供值中的固有偏差。

如本领域中惯常的，就功能块、单元和/或模块而言，在附图中描述和示出了一些示例性实施例。本领域技术人员将理解的是，这些块、单元和/或模块通过可使用基于半导体的制造技术或其它制造技术而形成的诸如，逻辑电路的电子(或光学)电路、离散组件、微处理器、硬线电路、存储器元件、布线连接等被物理实现。在块、单元和/或模块通过微处理器或其它类似硬件实现的情况下，可使用软件(例如，微代码)对它们进行编程和控制以执行这里讨论的各种功能，并且可由固件和/或软件可选择地驱动它们。还预期的是，每个块、单元和/或模块可以通过专用硬件来实现，或者可被实现为用于执行一些功能的专用硬件和用于执行其它功能的处理器(例如，一个或更多个编程的微处理器和关联电路)的组合。另外，在不脱离发明构思的范围的情况下，一些示例性实施例的每个块、单元和/或模块可被物理分成两个或更多个相互作用且分立的块、单元和/或模块。此外，在不脱离发明构思的范围的情况下，一些示例性实施例的块、单元和/或模块可被物理组合成更复杂的块、单元和/或模块。

除非另有定义，否则这里所使用的所有术语(包括技术术语和科学术语)具有与本公开作为其一部分的领域的普通技术人员所通常理解的含义相同的含义。术语(诸如通用字典中定义的术语)应该被解释为具有与其在相关领域的上下文中它们的含义一致的含义，并且不应该以理想化或过于形式化的含义来解释，除非这里明确地如此定义。

在下文中，将参照附图详细解释发明构思。

图1是示出根据一个示例性实施例的显示装置的框图。

参照图1，检查系统可以包括显示装置500和检查控制器700。

显示装置500可以包括显示面板100、数据驱动器200和柔性电路板300。

显示面板100可以包括显示部分110、***部分130和扫描驱动器150。

显示部分110可以包括多条数据线DL、多条扫描线SL、多条发射线(未示出)和多个像素P。

多条数据线DL可以在列方向CD上延伸并在行方向RD上布置。

多条扫描线SL可以在行方向RD上延伸并在列方向CD上布置。

多条发射线(未示出)可以在行方向RD上延伸并在列方向CD上布置。

多个像素P可以被布置为包括多个像素列和多个像素行的矩阵类型。每个像素P可以包括连接到数据线DL和扫描线SL的至少一个晶体管、存储电容器和显示元件。显示元件可以是LC电容器或OLED二极管。

显示面板100包括显示部分110和围绕显示部分110的***部分130。

扫描驱动器150可以设置在***部分130中。扫描驱动器150可以设置在***部分130的与扫描线SL的端部相邻的部分中。扫描驱动器150可以产生多个扫描信号，并且将扫描信号顺序地输出到多条扫描线SL。扫描驱动器150可以经由与形成像素P中的晶体管的工艺基本相同的工艺在***部分130中形成。

在示例性实施例中，当像素P中的显示元件是OLED二极管时，扫描驱动器150还可以包括产生用于控制OLED二极管的操作的发射扫描信号的发射扫描驱动器(未示出)。

数据驱动器200可以设置在***部分130的与数据线DL的端部相邻的部分中。

数据驱动器200可以为包括多个端子的芯片类型。数据驱动器200的端子包括接收多个输入信号的多个输入端子和输出多个输出信号的多个输出端子。另外，数据驱动器200的端子可以包括布置在设置在***部分130中的对准电极垫上的对准电极端子。

数据驱动器200的多个端子可以通过诸如各向异性导电膜(ACF)的导电粘合构件电接触并物理地接触到其中设置有数据驱动器200的区域中的多个垫(pads，或称为“焊盘”)。

***部分130中的多个垫可以包括接触到数据驱动器200的输入端子的输入垫和接触到数据驱动器200的输出端子的输出垫。另外，***部分130中的多个垫可以包括与数据驱动器200的对准电极端子叠置的对准电极垫。

数据驱动器200可以包括数据信号处理器210和***件230。

数据信号处理器210被配置为在其中显示装置500显示图像的显示模式下，从时序控制器310以水平周期接收图像数据，使用伽马电压将图像数据转换为数据电压，并且将数据电压输出到多条数据线DL。

在结合工艺之后，可以在检查数据驱动器200与显示面板100之间的结合缺陷的结合检查工艺中基于检查控制器700的控制来驱动***件230。

***件230被配置为检测数据驱动器200的与***部分130中的多个垫接触的多个端子的电阻值。

例如，***件230被配置为检测数据驱动器200的与***部分130中的多个垫接触的多个端子的电阻值，并且输出数据驱动器200的多个端子的电阻值。***件230被配置为通过时序控制器310将电阻值传输到检查控制器700。

柔性电路板300可以设置在与显示面板100的边缘区域对应的***部分130中，所述边缘区域与数据驱动器200相邻。

时序控制器310可以设置在柔性电路板300上。可选地，虽然未在附图中示出，但是时序控制器310可以设置在连接到柔性电路板300的印刷电路板中。

时序控制器310被配置为总体控制显示装置500的操作。时序控制器310可以连接到检查控制器700。时序控制器310可以在检查中将检测信号传输到检查控制器700，并且从检查控制器700接收测试控制信号。

检查控制器700可以向显示装置500提供用于缺陷检查工艺的测试控制信号。另外，检查控制器700可以通过缺陷检查工艺从显示装置500接收检测信号，并且使用检测信号显示缺陷检查工艺的结果。

例如，检查控制器700可以向显示装置500提供用于结合检查工艺的测试控制信号。***件230可以基于测试控制信号检测数据驱动器200中的与多个垫接触的多个端子的电阻值。时序控制器310可以将电阻值传输到检查控制器700。因此，检查控制器700可以在监视器上显示电阻值。检查员可以通过监视器上显示的电阻值来检查显示装置500的结合缺陷。

图2是示出图1中所示的数据驱动器的概念图。

参照图1和图2，在结合工艺中，数据驱动器200的多个端子可以通过导电粘合构件粘附到设置在***部分130中的多个垫。

数据驱动器200可以包括布置在与显示面板100接触的粘附表面上的多个端子，并且多个端子可以包括多个输入端子201、多个输出端子203以及至少两个对准电极端子205和206。

在完成结合工艺之后，数据驱动器200的多个端子201、203、205和206可以通过导电粘合构件与***部分130中的多个垫电接触并物理接触。

根据示例性实施例，***部分130中的对准电极垫105和106可以布置在数据驱动器200的对准电极端子205和206中，并且通过导电粘合构件粘附到数据驱动器200的对准电极端子205和206。

第一对准电极端子205可以粘附到第一对准电极垫105，第二对准电极端子206可以粘附到第二对准电极垫106。

例如，如图2中所示，第一对准电极垫105可以具有十字形状。当第一对准电极垫105具有十字形状时，第一对准电极端子205可以包括与十字形状对应的第一对准电极205A、第二对准电极205B、第三对准电极205C和第四对准电极205D。

数据驱动器200可以检测来自第一对准电极205A、第二对准电极205B、第三对准电极205C和第四对准电极205D的电阻值，并且输出与电阻值对应的检测信号。

例如，数据驱动器200可以检测在第一方向上的第一对准电极205A与第三对准电极205C之间的电阻值以及在与第一方向交叉的第二方向上的第二对准电极205B与第四对准电极205D之间的电阻值。可选地，数据驱动器200可以检测第一对准电极205A与第二对准电极205B之间的电阻值以及第三对准电极205C与第四对准电极205D之间的电阻值。

对准电极垫105和106可以具有各种形状。对准电极端子205和206可以包括与对准电极垫105和106的所述各种形状对应的多个对准电极。

可以从检查控制器700接收用于检测多个对准电极端子的对准电极之间的电阻值的电源电压，或者可选地，可以在显示装置500中产生电源电压。

图3是示出图2中的数据驱动器的框图。

参照图2和图3，数据驱动器200可以包括数据信号处理器210和***件230。

数据信号处理器210可以包括移位寄存器211、采样锁存器212、保持锁存器213、伽马电压发生器214、数模转换器215和输出缓冲器216。

移位寄存器211可以从时序控制器310接收移位时钟信号和起始脉冲信号。移位寄存器211可以将起始脉冲信号移位每个移位时钟信号，然后顺序地产生k个采样信号(其中，“k”是自然数)。

采样锁存器212可以响应于k个采样信号顺序地存储与k个采样信号对应的k个图像数据。

保持锁存器213可以响应于从时序控制器310接收的加载信号，同时存储k个图像数据并将k个图像数据输出到数模转换器215。

伽马电压发生器214可以使用多个伽马数据和极性控制信号来产生正极性伽马电压或负极性伽马电压。正极性伽马电压和负极性伽马电压可以被输出到数模转换器215。

数模转换器215可以使用从伽马电压发生器214接收的极性控制信号以及正极性伽马电压或负极性伽马电压将k个图像数据转换为k个正极性数据电压或k个负极性数据电压，并且将k个正极性数据电压或k个负极性数据电压输出到输出缓冲器216。

输出缓冲器216可以对从数模转换器215接收的k个正极性数据电压或k个负极性数据电压进行放大，并且将放大的k个正极性数据电压或k个负极性数据电压输出到k条数据线。

如上所述，数据信号处理器210可以以其中显示装置500显示图像的显示模式来驱动。

***件230可以基于通过时序控制器310从检查控制器700提供的测试控制信号来执行结合检查工艺。

在结合检查工艺中，检查控制器700可以向时序控制器310提供测试控制信号，然后时序控制器310可以基于测试控制信号来控制***件230。

***件230可以检测多个端子的粘附到对准电极垫105和106的对准电极端子205和206的对准电极之间的电阻值。***件230可以向时序控制器310提供电阻值。

时序控制器310可以将检测到的电阻值传输到检查控制器700。检查控制器700可以在监视器上显示检测到的电阻值。

因此，检查员可以通过监视器上显示的检测到的电阻值来检查显示装置500的结合缺陷。例如，检查员可以在检测到的电阻值大于参考值时确定发生了结合缺陷。

图4是示出根据一个示例性实施例的检查显示装置的方法的流程图。

参照图1、图2、图3和图4，当完成显示面板100时，通过导电粘合构件将数据驱动器200和柔性电路板300粘附到显示面板100。另外，可以在显示面板100上粘附诸如偏光板、保护板等的至少一个膜构件。如上所述，可以通过模块组装工艺来完成显示装置500(步骤S110)。

在示例性实施例中，在***部分130中的对准电极垫105和106中布置数据驱动器200的对准电极端子205和206，并且通过导电粘合构件将数据驱动器200的对准电极端子205和206粘附到对准电极垫105和106。

如图2中所示，第一对准电极端子205可以包括与第一对准电极垫105对应的第一对准电极205A、第二对准电极205B、第三对准电极205C和第四对准电极205D。

然后，将检查控制器700连接到显示装置500以使能检查控制器700与时序控制器310之间的通信。

检查控制器700可以开始结合检查工艺。

检查控制器700可以将测试控制信号传输到时序控制器310以执行结合检查工艺，并且时序控制器310可以控制***件230。

***件230可以检测粘附到对准电极垫105和106的对准电极端子205和206的对准电极之间的电阻值(步骤S130)。

***件230可以通过时序控制器310将电阻值传输到检查控制器700。检查控制器700可以在监视器上显示电阻值(步骤S150)。

因此，检查员可以通过监视器上显示的检测到的电阻值来检查显示装置500的结合缺陷。

图5是示出根据一个示例性实施例的显示面板的概念图。

参照图1和图5，与先前的示例性实施例相比，根据示例性实施例的显示面板100还可以包括开关部件170。

开关部件170可以设置在数据驱动器200与显示部分110之间，数据驱动器200设置在显示面板100上。

开关部件170可以包括开关控制线SCL和多个开关SW1和SW2。

开关控制线SCL可以从数据驱动器200接收开关控制信号。

多个开关SW1和SW2中的每个可以连接到与奇数数据线连接的奇数扇出线以及与偶数数据线连接的偶数扇出线。

例如，第一开关SW1包括与开关控制线SCL连接的控制电极、与作为奇数扇出线的第一扇出线FL1连接的第一电极以及与作为偶数扇出线的第二扇出线FL2连接的第二电极。

第一扇出线FL1连接到数据驱动器200的第一输出端子203a，第二扇出线FL2连接到数据驱动器200的第二输出端子203b。

根据示例性实施例，可以使用设置在显示装置500中的数据驱动器200来检查显示装置500的结合缺陷。

例如，当开关控制线SCL接收用于导通多个开关SW1和SW2的开关控制信号时，第一扇出线FL1和第二扇出线FL2可以通过导通的第一开关SW1形成闭环状态。

在闭环状态下，数据驱动器200可以检测第一输出端子203a与第二输出端子203b之间的电阻值。

在其中开关部件170导通的状态下，数据驱动器200可以检测数据驱动器200的粘附到显示面板100的多个垫的奇数输出端子与偶数输出端子之间的电阻值。

然而，当开关控制线SCL接收用于截止多个开关SW1和SW2的开关控制信号时，第一开关SW1截止，然后第一扇出线FL1和第二扇出线FL2彼此电开路。因此，奇数数据线和偶数数据线可以彼此电开路。

图6是示出图5中的数据驱动器的框图。

参照图5和图6，数据驱动器200可以包括数据信号处理器210和***件230A。

数据信号处理器210可以包括移位寄存器211、采样锁存器212、保持锁存器213、伽马电压发生器214、数模转换器215和输出缓冲器216。

数据信号处理器210可以包括与参照图2的先前的示例性实施例中描述的部件相同或相似的部件，除非必要，否则不重复相同的详细解释。

***件230A可以基于时序控制器310的控制来执行检查结合缺陷的结合检查工艺以及检查信号线的电缺陷的阵列检查工艺。

***件230A被配置为在结合检查工艺中产生输出控制信号OCS以阻止施加到输出缓冲器216的工作电压，输出缓冲器216是数据信号处理器210中的最后一个驱动块。

***件230A被配置为向输出缓冲器216提供输出控制信号OCS。输出缓冲器216可以响应于输出控制信号OCS而阻止工作电压被施加到输出缓冲器216。因此，在结合检查工艺中，数据信号处理器210不向***件230A输出输出信号。

在结合检查工艺中，***件230A被配置为产生用于导通开关部件170的开关控制信号SCS。另外，***件230A被配置为产生参考信号以检测数据驱动器200的奇数输出端子与偶数输出端子之间的电阻值。参考信号可以是电压或电流。

开关控制信号SCS通过显示面板100的开关控制线SCL输出。参考信号通过数据驱动器200的输出端子输出。

开关部件170响应于从开关控制线SCL提供的开关控制信号SCS而导通。

当开关部件170导通时，奇数扇出线(例如，FL1)和偶数扇出线(例如，FL2)可以通过导通的开关部件170形成闭环状态。

在其中开关部件170导通的状态下，***件230A可以检测数据驱动器200的粘附到显示面板100的多个垫的奇数输出端子与偶数输出端子之间的电阻值。

在检查电缺陷的阵列检查模式中，***件230A被配置为向输出缓冲器216提供输出控制信号OCS。输出缓冲器216被配置为响应于输出控制信号OCS而阻止工作电压被施加到输出缓冲器216。因此，在阵列检查模式中，数据信号处理器210不向***件230A输出输出信号。

***件230A被配置为在阵列检查模式中产生用于截止开关部件170的开关控制信号SCS。开关控制信号SCS通过显示面板100的开关控制线SCL输出。

当开关部件170截止时，奇数扇出线(例如，FL1)和偶数扇出线(例如，FL2)彼此电开路。

***件230A被配置为在阵列检查模式中将测试信号输出到多条数据线DL。

可以通过数据驱动器200的输出端子将测试信号输出到多条数据线DL。测试信号可以是诸如白色灰度级电压或黑色灰度级电压的预定灰度级电压。测试信号被施加到显示部分110的多条数据线DL。

然而，在阵列检查模式中，时序控制器310可以向扫描驱动器150提供扫描驱动信号。扫描驱动信号可以包括起始脉冲信号和多个时钟信号。扫描驱动器150可以基于扫描驱动信号将多个扫描信号输出到显示部分110的多条扫描线。

在阵列检查模式中，显示面板100的多个像素P可以显示与测试信号对应的预定灰度级。因此，可以通过不显示预定灰度级的像素来检查数据线的电缺陷。另外，可以通过不显示预定灰度级的像素行来检查扫描线的电缺陷。

如上所述，在阵列检查模式中，***件可以检查多条数据线和多条扫描线的电缺陷(例如，开路和短路)。

图7是示出根据一个示例性实施例的显示面板的概念图。

参照图1和图7，根据示例性实施例的显示面板100包括与参照图5的先前的示例性实施例的开关部件170不同的开关部件170A。

开关部件170A可以设置在数据驱动器200与显示部分110之间，数据驱动器200设置在显示面板100上。

开关部件170A可以包括分别与多个组A、B和C对应的多个开关SWa、SWb和SWc，所述多个组A、B和C选择性地对数据驱动器200中的多个输出端子进行采样。

例如，第一开关SWa连接到与第一组A的输出端子连接的多条扇出线。每个第一开关SWa包括连接到开关控制线SCL的控制电极、连接到奇数扇出线的第一电极以及连接到偶数扇出线的第二电极。

第二开关SWb连接到与第二组B的输出端子连接的多条扇出线。每个第二开关SWb包括连接到开关控制线SCL的控制电极、连接到奇数扇出线的第一电极以及连接到偶数扇出线的第二电极。

第三开关SWc连接到与第三组C的输出端子连接的多条扇出线。每个第三开关SWc包括连接到开关控制线SCL的控制电极、连接到奇数扇出线的第一电极以及连接到偶数扇出线的第二电极。

参照图6和图7，在结合检查工艺中，***件230A被配置为通过开关控制线SCL向开关部件170A提供开关控制信号SCS。另外，***件230A被配置为将用于检测电阻值的参考信号输出到数据驱动器200的输出端子。

开关部件170A响应于施加到开关控制线SCL的开关控制信号SCS而导通。

当开关部件170A导通时，连接到第一组A、第二组B和第三组C的输出端子的奇数扇出线和偶数扇出线可以分别形成闭环状态。

***件230A可以检测数据驱动器200的多个输出端子中的第一组A、第二组B和第三组C的输出端子的电阻值。

然而，在阵列检查模式中，驱动***件230A的方法可以与参照图6的先前的示例性实施例中描述的方法相同，除非必要，否则不重复相同的详细解释。

图8是示出根据一个示例性实施例的检查显示装置的方法的流程图。

参照图1、图5、图6和图8，当完成显示面板100时，通过导电粘合构件将数据驱动器200和柔性电路板300粘附到显示面板100。另外，可以在显示面板100上粘附诸如偏光板、保护板等的至少一个膜构件。如上所述，可以通过模块组装工艺来完成显示装置500(步骤S210)。

例如，如图5中所示，通过导电粘合构件将数据驱动器200粘附到显示面板100上的多个垫。

然后，将检查控制器700连接到显示装置500以使能检查控制器700与时序控制器310之间的通信。

检查控制器700可以开始结合检查工艺。

检查控制器700可以将测试控制信号传输到时序控制器310以执行结合检查工艺(步骤S230)。

数据驱动器200的***件230A被配置为基于时序控制器310的控制产生用于执行结合检查工艺的输出控制信号OCS和具有ON电压的开关控制信号SCS。

***件230A被配置为向输出缓冲器216提供输出控制信号OCS，并且输出缓冲器216被配置为响应于输出控制信号OCS而阻止工作电压被施加到输出缓冲器216。

***件230A被配置为将具有ON电压的开关控制信号SCS输出到显示面板100的开关控制线SCL。

参照图5，根据示例性实施例，开关部件170响应于施加到开关控制线SCL的具有ON电压的开关控制信号SCS而导通。

当开关部件170导通时，奇数扇出线和偶数扇出线通过导通的开关部件170形成闭环状态。

在其中开关部件170导通的状态下，***件230A可以检测数据驱动器200的粘附到显示面板100的多个垫的奇数输出端子与偶数输出端子之间的电阻值。

另外，参照图7，根据示例性实施例，开关部件170A响应于施加到开关控制线SCL的具有ON电压的开关控制信号SCS而导通。

当开关部件170A导通时，连接到第一组A、第二组B和第三组C的输出端子的奇数扇出线和偶数扇出线可以分别形成闭环状态。

***件230A可以检测数据驱动器200的多个输出端子中的第一组A、第二组B和第三组C的输出端子的电阻值。

如上所述，***件230A通过时序控制器310将电阻值传输到检查控制器700。检查控制器700在监视器上显示电阻值以完成结合检查工艺(步骤S230)。

然后，检查控制器700可以执行阵列检查工艺。

数据驱动器200的***件230A被配置为基于时序控制器310的控制来产生用于执行阵列检查工艺的输出控制信号OCS和具有OFF电压的开关控制信号SCS。

输出缓冲器216被配置为响应于输出控制信号OCS而阻止工作电压被施加到输出缓冲器216。

开关部件170A响应于具有OFF电压的开关控制信号SCS而截止。显示面板100的奇数扇出线和偶数扇出线彼此电开路。

***件230A被配置为产生测试信号，并且通过数据驱动器200的输出端子将测试信号输出到显示部分110的多条数据线。

与测试信号的输出时序同步，扫描驱动器150被配置为将多个扫描信号输出到显示部分110的多条扫描线。

如上所述，在阵列检查模式中，***件230A可以检查多条数据线和多条扫描线的电缺陷(例如，开路和短路)(步骤S250)。

根据示例性实施例，可以使用显示装置中的数据驱动器来执行显示装置的结合检查工艺和阵列检查工艺。

根据示例性实施例，数据驱动器检测数据驱动器中的结合在显示面板上的输出端子的电阻值，并且在监视器上显示电阻值，因此，结合检查工艺可以是自动化的。另外，数据驱动器可以执行结合检查工艺和阵列检查工艺，因此，可以准确地执行检查工艺。

本发明构思可以应用于显示装置和具有该显示装置的电子设备。例如，本发明构思可以应用于计算机监视器、膝上型计算机、数码相机、蜂窝电话、智能电话、智能平板、电视、个人数字助理(PDA)、便携式多媒体播放器(PMP)、MP3播放器、导航系统、游戏机、视频电话等。

尽管这里已经描述了特定示例性实施例，但是其他实施例和修改通过该描述将是明显的。在权利要求中，装置加功能(means-plus-function)项意在覆盖在这里被描述为执行所述功能的结构，且不仅覆盖结构等同物，而且覆盖等同的结构。因此，发明构思不限于这样的实施例，而是限于所附权利要求以及对于本领域普通技术人员将明显的各种明显的修改和等同布置的更宽的范围。