阅读说明：本技术 眼图量测装置与眼图量测方法 (Eye pattern measuring device and eye pattern measuring method ) 是由 康文柱 陈昱竹 高洵伟 于 2018-07-06 设计创作，主要内容包括：一种眼图量测装置与眼图量测方法。眼图量测装置包含第一映射电路系统、计数电路系统、第二映射电路系统以及记忆电路系统。第一映射电路系统映射一电子装置的多个内部信号中的一者至具有一预设位元数的一第一数据信号。计数电路系统根据该第一数据信号与关联于该预设位元数的多个信号值执行一计数操作,以产生多个计数信号。第二映射电路系统分别映射所述多个计数信号至对应于一当前相位的多个眼图量测信号。记忆电路系统储存所述多个眼图量测信号,以提供所述多个眼图量测信号至一外部系统以产生该电子装置的一眼图量测结果。本案所提供的眼图量测装置与眼图量测方法可用于量测具有多位准的信号,并可一并提供统计信号值的功能。(An eye pattern measuring device and an eye pattern measuring method. The eye diagram measuring device comprises a first mapping circuit system, a counting circuit system, a second mapping circuit system and a memory circuit system. The first mapping circuit system maps one of a plurality of internal signals of an electronic device to a first data signal with a preset bit number. The counting circuit system executes a counting operation according to the first data signal and a plurality of signal values related to the preset bit number so as to generate a plurality of counting signals. The second mapping circuitry maps the plurality of count signals to a plurality of eye measurement signals corresponding to a current phase, respectively. The memory circuit system stores the plurality of eye pattern measurement signals to provide the plurality of eye pattern measurement signals to an external system to generate an eye pattern measurement result of the electronic device. The eye pattern measuring device and the eye pattern measuring method can be used for measuring signals with multiple levels and can also provide the function of counting signal values.)

眼图量测装置与眼图量测方法

技术领域

本案是有关于一种眼图量测装置，且特别是有关于可量测具有多位准的信号的眼图量测装置与眼图量测方法。

背景技术

眼图(eye diagram)为用于量测信号品质的常见方式。当眼图中的眼高(eyeheight)与/或眼宽(eye width)越大，代表所量测到的信号品质越好。

随着数据传输速度越来越高，采用脉冲振幅调变(Pulse-amplitude modulation,PAM)信号等等的多位准信号编码的应用越来越多。然而，以往的眼图量测电路仅适用于量测不归零(non-return-to-zero,NRZ)编码的信号而无法适用于上述应用。

发明内容

为了解决上述问题，本案的一些态样是提供一种眼图量测装置，其包含第一映射电路系统、计数电路系统、第二映射电路系统以及记忆电路系统。第一映射电路系统用以映射一电子装置的多个内部信号中的一者至具有一预设位元数的一第一数据信号。计数电路系统用以根据该第一数据信号与关联于该预设位元数的多个信号值执行一计数操作，以产生多个计数信号。第二映射电路系统用以分别映射所述多个计数信号至对应于一当前相位的多个眼图量测信号。记忆电路系统用以储存所述多个眼图量测信号，以提供所述多个眼图量测信号至一外部系统以产生该电子装置的一眼图量测结果。

于一些实施例中，第一映射电路系统包含多个位元转换电路以及多工器电路。多个位元转换电路用以产生多个第二数据信号，其中所述多个第二数据信号中每一者的位元数相同于该预设位元数，且所述多个位元转换电路中每一者用以自所述多个内部信号中的一对应者撷取出所述多个第二数据信号中的一对应者。多工器电路用以接收所述多个第二数据信号，并根据一选择信号将所述多个第二数据信号中的一者输出为该第一数据信号。

于一些实施例中，计数电路系统包含多个处理电路以及多个计数器。多个处理电路用以分别比较该第一数据信号与所述多个信号值，以输出多个触发信号，其中所述多个触发信号中的一第一触发信号指示该第一数据信号相同于所述多个信号值中的一第一信号值。多个计数器用以分别根据所述多个触发信号决定是否执行该计数操作，以输出所述多个计数信号。其中所述多个计数器中的一第一计数器接收到该第一触发信号时，该第一计数器执行该计数操作以更新所述多个计数信号中的一对应者。

于一些实施例中，所述多个触发信号中的多个第二触发信号指示该第一数据信号不同于所述多个信号值中的剩余信号值，且所述多个计数器中的剩余计数器接收到所述多个第二触发信号时，所述剩余计数器不执行该计数操作。

于一些实施例中，该记忆电路系统更用以储存所述多个计数信号，以提供所述多个计数信号至该外部系统以产生关联于该当前相位的一统计结果。

于一些实施例中，该第二映射电路系统包含多个逻辑电路。多个逻辑电路用以分别根据所述多个计数信号执行多个逻辑或操作，以产生所述多个眼图量测信号。

于一些实施例中，眼图量测装置还包含相位控制电路系统。相位控制电路系统用以根据一控制信号提供关联于该电子装置的一预设值与一眼图量测值中的一者至该电子装置中的一时脉数据回复电路，以将该电子装置的一时脉信号的相位从该当前相位切换至一次一相位。

于一些实施例中，该第一数据信号为一脉冲振幅调变信号。

本案的一些实施态样用于提供一种眼图量测方法，其包含下列操作：映射一电子装置的多个内部信号中的一者至具有一预设位元数的一第一数据信号；根据该第一数据信号与关联于该预设位元数的多个信号值执行一计数操作，以产生多个计数信号；分别映射所述多个计数信号至对应于一当前相位的多个眼图量测信号；以及储存所述多个眼图量测信号，以提供所述多个眼图量测信号至一外部系统以产生该电子装置的一眼图量测结果。

于一些实施例中，映射所述多个内部信号中的一者至该第一数据信号包含：分别自所述多个内部信号撷取出多个第二数据信号；以及根据一选择信号将所述多个第二数据信号中的一者输出为该第一数据信号。

于一些实施例中，产生所述多个计数信号包含：分别比较该第一数据信号与所述多个信号值，以输出多个触发信号，其中所述多个触发信号中的一第一触发信号指示该第一数据信号相同于所述多个信号值中的一第一信号值；以及通过多个计数器分别根据所述多个触发信号决定是否执行该计数操作，以输出所述多个计数信号，其中所述多个计数器中的一第一计数器接收到该第一触发信号时，该第一计数器执行该计数操作以更新所述多个计数信号中的一对应者。

于一些实施例中，所述多个触发信号中的多个第二触发信号指示该第一数据信号不同于所述多个信号值中的剩余信号值，且所述多个计数器中的剩余计数器接收到所述多个第二触发信号时，所述剩余计数器不执行该计数操作。

于一些实施例中，眼图量测方法还包含：储存所述多个计数信号，以提供所述多个计数信号至该外部系统以产生关联于该当前相位的一统计结果。

于一些实施例中，分别映射所述多个计数信号至所述多个眼图量测信号包含：分别根据所述多个计数信号执行多个逻辑或操作，以产生所述多个眼图量测信号。

于一些实施例中，眼图量测方法还包含：根据一控制信号提供关联于该电子装置的一预设值与一眼图量测值中的一者至该电子装置中的一时脉数据回复电路，以将该电子装置的一时脉信号的相位从该当前相位切换至一次一相位。

综上所述，本案所提供的眼图量测装置与眼图量测方法可用于量测具有多位准的信号，并可一并提供统计信号值的功能。

附图说明

为让本揭示内容的上述和其他目的、特征、优点与实施例能更明显易懂，所附附图的说明如下：

图1为根据本案一些实施例所绘示的一种眼图量测装置的示意图；

图2为根据本案的一些实施例所绘示如图1中的映射电路系统的示意图；

图3为根据本案的一些实施例所绘示如图1中的计数电路系统的示意图；

图4为根据本案的一些实施例所绘示如图1中的映射电路系统的示意图；

图5为根据本案的一些实施例所绘示如图1中的相位控制电路系统的示意图；以及

图6为根据本案的一些实施例所绘示的一种眼图量测方法的流程图。

具体实施方式

本文所使用的所有词汇具有其通常的意涵。上述的词汇在普遍常用的字典中的定义，在本说明书的内容中包含任一于此讨论的词汇的使用例子仅为示例，不应限制到本揭示内容的范围与意涵。同样地，本揭示内容亦不仅以于此说明书所示出的各种实施例为限。

在本文中，使用第一、第二与第三等等的词汇，是用于描述各种元件、组件、区域、层与/或区块是可以被理解的。但是这些元件、组件、区域、层与/或区块不应该被这些术语所限制。这些词汇只限于用来辨别单一元件、组件、区域、层与/或区块。因此，在下文中的一第一元件、组件、区域、层与/或区块也可被称为第二元件、组件、区域、层与/或区块，而不脱离本案的本意。本文中所使用的“与/或”包含一或多个相关联的项目中的任一者以及所有组合。

关于本文中所使用的“耦接”或“连接”，均可指二或多个元件相互直接作实体或电性接触，或是相互间接作实体或电性接触，亦可指二或多个元件相互操作或动作。

于本文中，用语“电路系统(circuitry)”泛指包含一或多个电路(circuit)所形成的单一系统。用语“电路”泛指由一或多个晶体管与/或一或多个主被动元件按一定方式连接以处理信号的物件。

参照图1，图1为根据本案一些实施例所绘示的一种眼图(eye diagram)量测装置100的示意图。于一些实施例中，眼图量测装置100可用于量测一电子装置(例如为接收器100A，但本案并不以此为限)中的多个信号。接收器100A可包含模拟数字转换器A1、前馈等化器A2、决策器A3、时脉数据回复电路A4、决策回授电路A5等等电路，但本案并不以此为限。

如图1所示，眼图量测装置100可用于量测接收器100A的多个内部信号S1～S3，例如可为接收器100A中的模拟数字转换器A1的输出、前馈等化器A2的输出以及决策器A3的输入等等。上述关于内部信号S1～S3仅为示例，接收器100A的其他信号亦可透过眼图量测装置100进行量测。

于一些实施例中，眼图量测装置100包含映射电路系统110、计数电路系统120、映射电路系统130以及记忆电路系统140。

映射电路系统110耦接至接收器100A的内部节点，以接收这些内部信号S1～S3。映射电路系统110用以映射这些内部信号S1～S3中的一者至数据信号D1。于一些实施例中，内部信号S1～S3每一者的位元数彼此不同。通过映射电路系统110，具有不同位元数的多个内部信号S1～S3可被映射至具有一预设位元数的数据信号D1。

计数电路系统120耦接至映射电路系统110，以接收数据信号D1。于一些实施例中，计数电路系统120用以根据数据信号D1与多个信号值Q1～QM执行一计数操作，以产生多个计数信号C1～CM。于一些实施例中，前述的多个信号值Q1～QM关联于数据信号D1的预设位元数。举例而言，若预设位元数为7个位元，则多个信号值Q1～QM可依序为0、1、…、27-1。当数据信号D1相同于多个信号值Q1～QM中的一者时，计数电路系统120执行该计数操作，以更新多个计数信号C1～CM中的一对应者。如此，通过观察多个计数信号C1～CM，可确认每一对应相位下所量测到的数据信号D1的对应信号值。此处操作将于后述段落参照图3说明。

通过设置多个信号值Q1～QM，数据信号D1在多个不同位准上的信号值可被量测。换言之，于本案中，数据信号D1的信号形式可为具有多位准的脉冲振幅调变(Pulse-amplitude modulation,PAM)信号，但本案并不以此为限。

映射电路系统130耦接至计数电路系统120，以接收多个计数信号C1～CM。于一些实施例中，映射电路系统130分别映射这些计数信号C1～CM至多个眼图量测信号E1～EM，其中多个计数信号C1～CM分别对应至多个眼图量测信号E1～EM，且这些眼图量测信号E1～EM对应于接收器100A中的时脉数据回复电路A4所输出的时脉信号CLK的当前相位。举例而言，当时脉信号CLK处于当前相位，计数信号C1有被更新且其余计数信号C2～CM皆未被更新时，眼图量测信号E1会具有为逻辑值1，且其余眼图量测信号E2～EM会具有逻辑值0。换言之，于此例中，通过眼图量测信号E1～EM可确认数据信号D1于当前相位的信号值相同于多个信号值Q1～QM中对应于计数信号C1的一信号值。

记忆电路系统140耦接至计数电路系统120以接收多个计数信号C1～CM，并耦接至映射电路系统130以接收到多个眼图量测信号E1～EM。于一些实施例中，记忆电路系统140用以储存多个计数信号C1～CM与/或多个眼图量测信号E1～EM。于一些实施例中，记忆电路系统140耦接至一外部系统100B，以传输多个计数信号C1～CM与/或多个眼图量测信号E1～EM至该外部系统100B。于一些实施例中，记忆电路系统140可由暂存器与/或记忆体等电路实施。

外部系统100B可通过绘制多个眼图量测信号E1～EM以产生眼图量测结果R1，并可通过分析多个计数信号C1～CM产生一统计结果R2。于一些实施例中，统计结果R2可为一直方图(histogram)，其用以显示数据信号D1在该当前相位下相同于各个信号值Q1～QM的次数。

于一些实施例中，外部系统100B可包含经由一处理器所执行的一信号分析软体或设计工具实施。于一些实施例中，外部系统100B可为一示波器。上述关于外部系统100的实施方式仅为示例，本案并不以此为限。

为易于了解，图1仅绘示一组映射电路系统110，但本案并不以此为限。于一些应用中，眼图量测装置100可设置更多组的映射电路系统110，其中多个映射电路系统110平行运作，以自接收器100A接收更多不同的内部信号。于这些实施例中，如图1所示，眼图量测装置100还包含缓冲器电路系统115，其耦接于映射电路系统110与计数电路系统120之间。于此条件下，缓冲器电路系统115可缓冲来自多组的映射电路系统110所输出的多个数据信号D1以同步这些数据信号D1，并将这些数据信号D1作为多个数据信号D1’依序输出至计数电路系统120。于一些实施例中，缓冲器电路系统115可由先入先出(FIFO)电路实现，但本案并不以此为限。于一些其他实施例，映射电路系统110可在不设置缓冲器电路系统115下传输这些数据信号D1至计数电路系统120。

于一些实施例中，如图1所示，眼图量测装置100还包含相位控制电路系统150。相位控制电路系统150耦接至记忆电路系统140以及接收器100A。相位控制电路系统150耦接至前馈等化器A2、决策器A3与/或时脉数据回复电路A4。于一些实施例中，在记忆电路系统140储存好对应于当前相位的多个眼图量测信号E1～EM后，相位控制电路系统150用以根据一控制信号SC控制接收器100A中的电路(例如为前馈等化器A2、决策器A3与/或时脉数据回复电路A4)，以将时脉信号CLK的相位切换至次一相位。如此，眼图量测装置100可延续量测对应次一相位的多个眼图量测信号E1～EM。

以下段落将以说明上述多个电路系统的实施方式，但本案并不以后述实施例为限。

参照图2，图2为根据本案的一些实施例所绘示如图1中的映射电路系统110的示意图。为易于理解，图1与图2中的类似元件将被指定为相同标号。

于一些实施例中，映射电路系统110包含多个位元转换电路210-1～210-3以及多工器电路220。多个位元转换电路210-1～210-3分别耦接至图1中模拟数字转换器A1的输出、前馈等化器A2的输出以及决策器A3的输入，以分别接收多个内部信号S1～S3。

于一些实施例中，多个位元转换电路210-1～210-3根据多个内部信号S1～S3产生多个数据信号D2，其中每一数据信号D2所具有的位元数相同于前述的预设位元数。于一些实施例中，每一位元转换电路210-1～210-3根据多个内部信号S1～S3中一对应者撷取出一对应的数据信号D2。以位元转换电路210-1为例，位元转换电路210-1可撷取内部信号S1中的部分位元(例如可为内部信号S1的最低有效位元(Least Significant Bit,LSB)的部分位元)，以产生对应的数据信号D2。依此类推，位元转换电路210-2或210-3亦可撷取内部信号S2或S3中的部分位元以产生对应的数据信号D2。

上述关于位元转换电路210-1～210-3的设置方式仅为示例，其他各种产生具有固定位元数的数据信号D2的方式亦为本案所涵盖的范围。

多工器电路220耦接至多个位元转换电路210-1～210-3以接收多个数据信号D2。多工器电路220用以根据选择信号SEL将多个数据信号D2中的一者输出为数据信号D1。于一些实施例中，多工器电路220可由多组开关实施，但本案并不以此为限。

于又一些实施例中，映射电路系统110可还包含一切换电路(未绘示)，其根据一致能信号(未绘示)决定是否输出数据信号D1至计数电路系统120。换言之，通过上述设置方式，眼图量测装置100可根据该致能信号决定是否执行眼图量测的操作。

参照图3，图3为根据本案的一些实施例所绘示如图1中的计数电路系统120的示意图。为易于理解，图1与图3中的类似元件将被指定为相同标号。

于一些实施例中，计数电路系统120包含多个处理电路310-1～310-M以及多个计数器320-1～320-M。多个处理电路310-1～310-M耦接至映射电路系统110，以接收数据信号D1。多个处理电路310-1～310-M的数量关联于前述的预设位元数。举例而言，当预设位元数为7时，多个处理电路310-1～310-M的数量为27。

多个处理电路310-1～310-M分别比较数据信号D1与多个信号值Q1～QM，以产生多个触发信号TR1～TRM。其中，当确认数据信号D1相同于多个信号值Q1～QM中的一者时，多个处理电路310-1～310-M中的一对应者输出具有第一逻辑值(例如为逻辑值1)的触发信号。反的，当确认数据信号D1不同于多个信号值Q1～QM中的一者时，多个处理电路310-1～310-M中的一对应者输出具有第二逻辑值(例如为逻辑值0)的触发信号。

举例而言，假设预设位元数为7，且处理电路310-1用以比较数据信号D1与信号值Q1(即27-1＝127)。当数据信号D1相同于信号值Q1时，处理电路310-1将输出具有逻辑值1的触发信号TR1。此外，于此条件下，数据信号D1不同于剩余的信号值Q2～QM，故剩余的处理电路310-2～310-M将输出具有逻辑值0的多个触发信号TR2～TRM。通过上述设置方式，可以基于触发信号TR1～TRM判断在当前相位下所量测到的数据信号D1的信号值为何。

于一些实施例中，多个处理电路310-1～310-M可由比较器实现。于一些实施例中，多个处理电路310-1～310-M可由类似于反互斥或闸或具相同功能的逻辑电路实现。上述关于处理电路310-1～310-M的实施方式为示例，其他各种实施方式亦为本案所涵盖的范围。

多个计数器320-1～320-M分别耦接至多个处理电路310-1～310-M以接收多个触发信号TR1～TRM。多个计数器320-1～320-M分别根据多个触发信号TR1～TRM执行一计数操作，以产生多个当多个触发信号TR1～TRM中的一者具有第一逻辑值时，多个计数器320-1～320-M中一对应者执行一计数操作以更新多个计数信号C1～CM中的一对应者。

例如，在初始时，多个计数信号C1～CM皆为0。当触发信号TR1具有第一逻辑值(即逻辑1)且其他触发信号TR2～TRM具有第二逻辑值(即逻辑0)时，触发信号TR1具有逻辑值1且其余触发信号TR2～TRM具有逻辑值0。于此条件下，计数器320-1响应于具有逻辑值1的触发信号TR1执行计数操作以将计数信号C1自0增加至1。同样地，其余计数器320-2～320-M响应于具有逻辑值0的触发信号TR2～TRM而不执行计数操作。如此，其余计数信号C2～CM未被更新而维持在0。

如先前所述，外部系统100B可通过分析多个计数信号C1～CM产生一统计结果R2。例如，通过分析计数信号C1被更新的次数，可统计数据信号D1相同于信号值Q1(即127)的次数。依此类推，通过记录并分析所有计数信号C1～CM，可以统计数据信号D1相同于每一信号值Q1～QM的次数以产生统计结果R2。

为易于了解，图3仅绘示一组处理电路310-1～310-M，但本案并不以此为限。于一些实施例中，计数电路系统120可设置更多组的处理电路310-1～310-M，其中多组的处理电路310-1～310-M平行运作，以加快处理效率。于这些实施例中，计数电路系统120还包含多个加法器与暂存器等其他逻辑电路，以将多组的处理电路310-1～310-M中每一个对应的触发电路加总。

上述关于计数电路系统120的设置方式仅为示例，各种可实现相同操作的设置方式亦为本案所涵盖的范围。

参照图4，图4为根据本案的一些实施例所绘示如图1中的映射电路系统130的示意图。为易于理解，图1与图4中的类似元件将被指定为相同标号。

于一些实施例中，映射电路系统130包含多个逻辑电路410-1～410-M。多个逻辑电路410-1～410-M分别耦接至图3的多个计数器320-1～320-M，以接收多个计数信号C1～CM。每一个逻辑电路410-1～410-M用以根据多个计数信号C1～CM中的一对应者执行一逻辑或(OR)操作，以产生眼图量测信号E1～EM中的一对应者。

举例而言，逻辑电路410-1可根据在一预定期间所接收到的所有计数信号C1执行逻辑或操作，以产生眼图量测信号E1。例如，在时脉信号CLK的当前相位下，数据信号D1的信号值为127(即信号值Q1)，触发信号TR1将持续为1而不断更新计数信号C1，使得计数信号C1至少为1。如此，在时脉信号CLK处于当前相位的期间内，逻辑电路410-1根据计数信号C1产生具有逻辑值1的眼图量测信号E1。等效而言，具有逻辑值1的眼图量测信号E1可用以代表，在时脉信号CLK的当前相位下，数据信号D1的信号值曾相同于信号值127。

延续上述的例子，由于数据信号D1的信号值为127而不相同于其他信号值Q2～QM，触发信号TR2～TRM将持续为0而不更新计数信号C2～CM，使得计数信号C2～CM维持于0。如此一来，逻辑电路410-2～410-M根据计数信号C2～CM产生具有逻辑值0的眼图量测信号E2～EM。等效而言，具有逻辑值0的眼图量测信号E2～EM可用以代表，在时脉信号CLK的当前相位下，数据信号D1的信号值曾不相同于其他信号值Q2～QM。

上述以执行逻辑或操作的逻辑电路410-1～410-M为例说明，但本案并不以此为限。各种可侦测计数信号C1～CM有被更新过的逻辑电路皆可用于实施逻辑电路410-1～410-M。

参照图5，图5为根据本案的一些实施例所绘示如图1中的相位控制电路系统150的示意图。为易于理解，图1与图5中的类似元件将被指定为相同标号。

相位控制电路系统150包含一多工器电路510。多工器电路510用以根据控制信号SC将关联于接收器100A的一预设值PD1与一量测参考值REF1中的一者输出至接收器100A中的时脉数据回复电路A4，以将时脉信号CLK1的相位切换至次一相位。于一些实施例中，预设值PD1可为接收器100A的内部电路参数，例如可为时脉数据回复电路A4的一控制参数或一循环移位暂存器的设定值等等，但本案并不以此为限。

在一些实施例中，通过输出量测参考值REF1至接收器100A，可使眼图量测装置100较易于确认并控制时脉信号CLK的相位来量测眼图。然而，在一些情况下，若使用量测参考值REF1来改变时脉信号CLK的相位，可能导致接收器100A的操作不准确。在这些情况下，可通过输出预设值PD1至接收器100A以确保接收器100A可正确操作。如此，可避免眼图量测装置100量测到不正确的眼图。

图6为根据本案的一些实施例所绘示的一种眼图量测方法600的流程图。为易于理解，眼图量测方法600将参照前述各附图进行描述。

于操作S610，根据控制信号SC将关联于接收器100A的一预设值PD1与一量测参考值REF1中的一者输出至接收器100A，以切换时脉信号CLK的一相位。

例如，如图5所示，相位控制电路系统150可输出量测参考值REF1至接收器100A，以控制时脉信号CLK的相位。或者，为避免影响接收器100A的操作，相位控制器电路系统150可输出预设值PD1至接收器100A。

于操作S620，映射这些内部信号S1～S3中的一者至数据信号D1。例如，如图2所示，映射电路系统110可通过撷取多个内部信号S1～S3的部分位元数以产生数据信号D1。等效而言，通过操作S620，可能具有不同位元数的多个内部信号S1～S3将被转换成具有相同位元数的数据信号(如图2的数据信号D2)。

于操作S630，根据数据信号D1与多个信号值Q1～QM执行一计数操作，以产生多个计数信号C1～CM。

例如，如先前图3所示，当确认数据信号D1相同于信号值Q1(例如为127)时，处理电路310-1输出具有逻辑值1的触发信号TR1。如此，计数器320-1响应于触发信号TR1执行计数操作，以更新计数信号C1。于此条件下，数据信号D1不同于多个信号值Q2～QM，多个处理电路310-2～310-M输出具有逻辑值0的触发信号TR2～TRM。如此，计数器320-2～320-M响应于触发信号TR2～TRM而不执行计数操作，而不更新计数信号C2～CM。

于操作S640，分别映射多个计数信号C1～CM至多个眼图量测信号E1～EM。例如，如先前图4所示，映射电路系统130可分别对一预定期间内所收到的计数信号C1～CM分别执行逻辑或操作，以产生多个眼图量测信号E1～EM。

于操作S650，储存多个眼图量测信号E1～EM，并判断量测次数是否达到一预定次数。若是，则执行操作S660；若否，则执行操作S610。

如先前图1所示，记忆电路系统140可储存计数信号C1～CM与/或多个眼图量测信号E1～EM，以提供外部系统100B进行分析而产生统计结果R2与/或眼图量测结果R1。于一些实施例中，外部系统100B可收集对应至不同相位的多个眼图量测信号E1～EM以产生眼图量测结果R1。通过判断预定次数，可收集一定量的多个眼图量测信号E1～EM提供给外部系统100B。举例而言，预定次数可设置为512。当量测次数未到达512前，通过重复执行操作S610，相位控制电路系统150可控制接收器100A以将时脉信号CLK切换至次一相位，以收集对应于次一相位的多个眼图量测信号E1～EM。

于操作S660，输出预设值PD1至接收器100A，以结束眼图量测。当收集到足够量的眼图量测信号E1～EM后，外部系统100B可据此产生眼图量测结果R1。因此，相位控制电路系统150可输出预设值PD1给接收器100A，以使接收器100A回复原有操作。

上述眼图量测方法600的多个步骤仅为示例，并非限定需依照此示例中的顺序执行。在不违背本揭示内容的各实施例的操作方式与范围下，在眼图量测方法600下的各种操作当可适当地增加、替换、省略或以不同顺序执行。

综上所述，本案所提供的眼图量测装置与眼图量测方法可用于量测具有多位准的信号，并可一并提供统计信号值的功能。

虽然本案已以实施方式揭露如上，然其并非限定本案，任何熟习此技艺者，在不脱离本案的精神和范围内，当可作各种的更动与润饰，因此本案的保护范围当视所附的权利要求书所界定的范围为准。