阅读说明：本技术 可调速驱动设备的电压暂降耐受能力检测方法、装置 (voltage sag tolerance capability detection method and device of speed-adjustable driving equipment ) 是由 周凯 莫文雄 许中 马智远 郭倩雯 饶毅 栾乐 叶石丰 张群峰 崔晓飞 覃煜 于 2019-08-20 设计创作，主要内容包括：本申请涉及一种可调速驱动设备的电压暂降耐受能力检测方法、装置、计算机设备和存储介质。其中,可调速驱动设备的电压暂降耐受能力检测方法包括：通过建模分析计算各工况下可调速驱动设备的测试参数,根据所述测试参数确定所述可调速驱动设备的VTC曲线的膝点；根据所述可调速驱动设备在各个工况下对应的膝点分别在相应工况下对所述可调速驱动设备进行多次测试,直至测试获得的VTC曲线达到预设条件；根据达到预设条件的VTC曲线确定所述可调速驱动设备的电压暂降耐受能力。采用本方法能够高效地检测可调速驱动设备的电压暂降耐受能力。(The application relates to a voltage sag tolerance capability detection method and device of speed-adjustable driving equipment, computer equipment and a storage medium. The voltage sag tolerance detection method of the speed-adjustable driving equipment comprises the following steps: calculating test parameters of the speed-adjustable driving equipment under various working conditions through modeling analysis, and determining knee points of a VTC curve of the speed-adjustable driving equipment according to the test parameters; testing the speed-adjustable driving equipment for multiple times under corresponding working conditions according to the corresponding knee points of the speed-adjustable driving equipment under each working condition until a VTC curve obtained by the test reaches a preset condition; and determining the voltage sag tolerance capacity of the speed-adjustable driving equipment according to the VTC curve reaching the preset condition. By adopting the method, the voltage sag tolerance capability of the speed-adjustable driving equipment can be efficiently detected.)

可调速驱动设备的电压暂降耐受能力检测方法、装置

技术领域

本申请涉及电子技术领域，特别是涉及一种可调速驱动设备的电压暂降耐受能力检测方法、装置、计算机设备和存储介质。

背景技术

目前针对可调速驱动设备ASD(adjustable speed drive)暂降耐受能力的研究主要围绕电压暂降耐受曲线VTC(voltage tolerance curve)测试展开，传统的标准测试方法，包括自上而下、自左向右、封闭式等方法。该类测试方法能基本满足各类敏感设备的测试需求，但较缺乏针对性，无法解决测试精度与测试效率间的矛盾。二分测试法的提出在一定程度上提高了小步长、高精度情况测试的效率，但仍需要进行多次测试。对于ASD类设备而言，需考虑暂降类型、负载水平等因素影响，测试情况较多，且一次测试完毕后需保证电机复位，测试周期长。可见传统的ASD暂降耐受能力的测试技术存在效率低的问题。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够提高暂降耐受能力检测效率的可调速驱动设备的电压暂降耐受能力检测方法、装置、计算机设备和存储介质。

一种可调速驱动设备的电压暂降耐受能力检测方法，所述方法包括：

通过建模分析计算各工况下可调速驱动设备的测试参数，根据所述测试参数确定所述可调速驱动设备的VTC曲线的膝点；

根据所述可调速驱动设备在各个工况下对应的膝点分别在相应工况下对所述可调速驱动设备进行多次测试，直至测试获得的VTC曲线达到预设条件；

根据达到预设条件的VTC曲线确定所述可调速驱动设备的电压暂降耐受能力。

在一个实施例中，所述工况包括三相电压供电工况；所述三相电压供电工况下的测试参数包括低压耐受阈值和扰动持续时间阈值。

作为一个实施例，所述低压耐受阈值的获取过程包括：

获取所述可调速驱动设备的直流环节欠压保护整定值，将所述直流环节欠压保护整定值代入三相电压供电工况对应的第一幅值计算公式计算所述可调速驱动设备在对称暂降下欠压保护的临界幅值；所述第一幅值计算公式包括：

其中，V_3th-V表示可调速驱动设备在对称暂降下欠压保护的临界幅值，V_DCth表示直流环节欠压保护整定值；

获取所述可调速驱动设备的直流电压额定值和暂降恢复时充电电流最大瞬时值，将所述直流电压额定值和所述暂降恢复时充电电流最大瞬时值代入三相电压供电工况对应的第二幅值计算公式计算所述可调速驱动设备在对称暂降恢复时触发过流保护的临界暂降幅值；所述第二幅值计算公式包括：

其中，V_3th-I表示对称暂降恢复时触发过流保护的临界暂降幅值，V_DCn表示直流电压额定值，Δi_max表示暂降恢复时充电电流最大瞬时值，L表示电机变频器直流链路中的电感，C表示电机变频器直流链路中的电容；

将所述对称暂降恢复时触发过流保护的临界暂降幅值和所述对称暂降恢复时触发过流保护的临界暂降幅值确定为所述低压耐受阈值。

在一个实施例中，所述工况包括单相电压供电工况；所述单相电压供电工况下的测试参数包括单相保护的扰动持续时间阈值；所述单相保护的扰动持续时间阈值的确定公式包括：

其中，T_x表示单相保护的扰动持续时间阈值，T_pul表示半波周期，V_DCth表示直流环节欠压保护整定值，V_LP表示线电压脉冲峰值。

在一个实施例中，所述工况包括两相电压供电工况；所述两相电压供电工况下的测试参数包括低压耐受阈值和扰动持续时间阈值。

作为一个实施例，所述低压耐受阈值的获取过程包括：

获取所述可调速驱动设备的含非暂降相线电压的峰值和相电压额定值；

根据所述含非暂降相线电压的峰值和所述相电压额定值分别计算所述可调速驱动设备在两相暂降下的欠压保护临界幅值和过流保护临界幅值；

将所述在两相暂降下的欠压保护临界幅值和过流保护临界幅值中的较大值确定为所述低压耐受阈值。

在一个实施例中，所述根据所述可调速驱动设备在各个工况下对应的膝点分别在相应工况下对所述可调速驱动设备进行多次测试，直至测试获得的VTC曲线达到预设条件包括：

在各个工况下，根据相应膝点设置初始膝点幅值，按照预设幅值步长进行上下交叉步进设置，确定每次测试的实时膝点幅值；

根据各次实时膝点幅值循环对所述可调速驱动设备进行暂降测试，直至设备失效，获得达到预设条件的VTC曲线。

一种可调速驱动设备的电压暂降耐受能力检测装置，所述装置包括：

计算模块，用于通过建模分析计算各工况下可调速驱动设备的测试参数，根据所述测试参数确定所述可调速驱动设备的VTC曲线的膝点；

测试模块，用于根据所述可调速驱动设备在各个工况下对应的膝点分别在相应工况下对所述可调速驱动设备进行多次测试，直至测试获得的VTC曲线达到预设条件；

确定模块，用于根据达到预设条件的VTC曲线确定所述可调速驱动设备的电压暂降耐受能力。

一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述任一实施例的可调速驱动设备的电压暂降耐受能力检测方法的步骤。

一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任一实施例的可调速驱动设备的电压暂降耐受能力检测方法的步骤。

上述可调速驱动设备的电压暂降耐受能力检测方法、装置、计算机设备和存储介质，通过建模分析计算各工况下可调速驱动设备的测试参数，根据所述测试参数确定所述可调速驱动设备的VTC曲线的膝点，以在各个工况下依据相应膝点分别对可调速驱动设备进行多次测试，直至测试获得的VTC曲线达到预设条件，根据达到预设条件的VTC曲线确定所述可调速驱动设备的电压暂降耐受能力，实现高效检测可调速驱动设备的电压暂降耐受能力的目的。

附图说明

图1为一个实施例的测试平台示意图；

图2为一个实施例中可调速驱动设备的电压暂降耐受能力检测方法的流程示意图；

图3为一个实施例的VTC曲线示意图；

图4为一个实施例中可调速驱动设备的电压暂降耐受能力检测装置的结构框图；

图5为一个实施例中计算机设备的内部结构图。

具体实施方式

为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。

本申请提供的可调速驱动设备的电压暂降耐受能力检测方法，可以应用在对可调速驱动设备的电压暂降耐受能力检测的检测设备中，上述检测设备可以连接图1所示的测试平台，也可以设置在上述测试平台上，对测试平台进行可调速驱动设备的电压暂降耐受能力测试工作的控制，获得测试结果，以检测可调速驱动设备的电压暂降耐受能力。在可调速驱动设备的电压暂降耐受能力检测过程中，膝点位置估计是绘制设备VTC的关键，本申请以ASD驱动恒功率电机负荷为例，在不同负载量下，考虑ASD欠压保护与过流保护，基于少量试验数据获取不同类型暂降时评估设备VTC膝点。相应ASD耐受能力评估方案主要包括试验测试、三相对称暂降耐受能力评估、单相暂降耐受能力评估、两相暂降耐受能力评估几大阶段，各阶段评估结果为膝点特征值(临界持续时间和幅值)或是否需要进行后续测试的判断结果。所采用的测试平台依据相关标准搭建，如图1所示，确保接线正确之后，可以启动ASD使电机进入预设工况；还可以采用可编程电源生成幅值为0的对称暂降，逐步增加暂降持续时间直至设备失效，获取ASD在不同电机负载量下的供电中断耐受时间。

上述检测设备可以通过建模分析计算各工况下可调速驱动设备的测试参数，根据所述测试参数确定所述可调速驱动设备的VTC曲线的膝点，根据所述可调速驱动设备在各个工况下对应的膝点分别在相应工况下对所述可调速驱动设备进行多次测试，直至测试获得的VTC曲线达到预设条件；根据达到预设条件的VTC曲线确定所述可调速驱动设备的电压暂降耐受能力；以快速高效地对可调速驱动设备的电压暂降耐受能力进行检测。

在一个实施例中，如图2所示，提供了一种可调速驱动设备的电压暂降耐受能力检测方法，包括以下步骤：

S210，通过建模分析计算各工况下可调速驱动设备的测试参数，根据所述测试参数确定所述可调速驱动设备的VTC曲线的膝点；

上述测试参数包括低压耐受阈值和/或扰动持续时间阈值等参数。可调速驱动设备的测试工况可以包括三相电压供电工况、两相电压供电工和单相电压供电工。在各个工况下，均可以依据可调速驱动设备具有的配置参数，对低压耐受阈值和/或扰动持续时间阈值等测试参数进行计算。

具体地，在确定待测试工况后，优先通过建模分析计算出了各工况下ASD可能的低压耐受阈值和扰动持续时间阈值，确定了ASD的VTC曲线的膝点(确定膝点的内容是整个方法的关键和核心内容)。确定了膝点后也就确定了“矩形”VTC曲线的大致位置，在此基础上便能够更快的测试出受试设备的真实VTC。

S230，根据所述可调速驱动设备在各个工况下对应的膝点分别在相应工况下对所述可调速驱动设备进行多次测试，直至测试获得的VTC曲线达到预设条件；

上述步骤可以分别在每个工况下，采用相应工况对应的膝点对可调速驱动设备进行多次循环测试，直至测试获得的VTC曲线达到预设条件。上述预设条件可以包括VTC曲线的上边界对应的幅值达到相应要求等条件，以使所获得的VTC曲线可以准确表征可调速驱动设备的电压暂降耐受能力。

S250，根据达到预设条件的VTC曲线确定所述可调速驱动设备的电压暂降耐受能力。

上述步骤可以依据所获得的VTC曲线确定可调速驱动设备实际VTC的大致位置，以对可调速驱动设备的电压暂降耐受能力进行相应检测。

上述可调速驱动设备的电压暂降耐受能力检测方法，通过建模分析计算各工况下可调速驱动设备的测试参数，根据所述测试参数确定所述可调速驱动设备的VTC曲线的膝点，以在各个工况下依据相应膝点分别对可调速驱动设备进行多次测试，直至测试获得的VTC曲线达到预设条件，根据达到预设条件的VTC曲线确定所述可调速驱动设备的电压暂降耐受能力，实现高效检测可调速驱动设备的电压暂降耐受能力的目的。

在一个实施例中，所述工况包括三相电压供电工况；所述三相电压供电工况下的测试参数包括低压耐受阈值(也可以称为三相对称暂降临界幅值V)和扰动持续时间阈值(也可以称为对称暂降下欠压保护的临界持续时间)。

在可调速驱动设备的三相对称暂降耐受能力评估过程中，可以获得对称暂降下欠压保护的临界持续时间T_3th(即扰动持续时间阈值)及相关参数。

作为一个实施例，三相电压供电工况下，低压耐受阈值的获取过程包括：

获取所述可调速驱动设备的直流环节欠压保护整定值，将所述直流环节欠压保护整定值代入三相电压供电工况对应的第一幅值计算公式计算所述可调速驱动设备在对称暂降下欠压保护的临界幅值；所述第一幅值计算公式包括：

其中，V_3th-V表示可调速驱动设备在对称暂降下欠压保护的临界幅值，V_DCth表示直流环节欠压保护整定值；P_L表示负载功率，C表示直流环节电容大小；

获取所述可调速驱动设备的直流电压额定值和暂降恢复时充电电流最大瞬时值，将所述直流电压额定值和所述暂降恢复时充电电流最大瞬时值代入三相电压供电工况对应的第二幅值计算公式计算所述可调速驱动设备在对称暂降恢复时触发过流保护的临界暂降幅值；所述第二幅值计算公式包括：

其中，V_3th-I表示对称暂降恢复时触发过流保护的临界暂降幅值，V_DCn表示直流电压额定值，Δi_max表示暂降恢复时充电电流最大瞬时值，L表示电机变频器直流链路中的电感，C表示电机变频器直流链路中的电容；

将所述对称暂降恢复时触发过流保护的临界暂降幅值和所述对称暂降恢复时触发过流保护的临界暂降幅值确定为所述低压耐受阈值，即低压耐受阈值V_3th为：V_3th＝max(V_3th-V,V_3th-I)。

本实施例可以对三相电压供电工况下的低压耐受阈值这一测试参数进行准确获取。

在一个实施例中，所述工况包括单相电压供电工况；所述单相电压供电工况下的测试参数包括单相保护的扰动持续时间阈值(也可以称为单相保护的特征持续时间)；所述单相保护的扰动持续时间阈值的确定公式包括：

其中，T_x表示单相保护的扰动持续时间阈值，T_pul表示半波周期，V_DCth表示直流环节欠压保护整定值，V_LP表示线电压脉冲峰值。

具体地，T_pul表示半波周期，工频50Hz下，正常半波周期为10ms。对于可调速驱动设备而言，若对称暂降下欠压保护的临界持续时间T_3th大于T_x，则设备对单相暂降免疫。若对称暂降下欠压保护的临界持续时间T_3th小于T_x，则可进行进一步测试获取VTC曲线。通常在不考虑缺相保护情况下，ASD对单相暂降免疫。

在一个实施例中，所述工况包括两相电压供电工况；所述两相电压供电工况下的测试参数包括低压耐受阈值(也可以称为两相对称暂降临界幅值)和扰动持续时间阈值(也可以称为两相电压暂降的临界持续时间)。

两相电压暂降的临界持续时间(即扰动持续时间阈值)可由对称暂降下欠压保护的临界持续时间T_3th估计。

作为一个实施例，在两相电压供电工况下，低压耐受阈值的获取过程包括：

获取所述可调速驱动设备的含非暂降相线电压的峰值和相电压额定值；

根据所述含非暂降相线电压的峰值和所述相电压额定值分别计算所述可调速驱动设备在两相暂降下的欠压保护临界幅值和过流保护临界幅值；

将所述在两相暂降下的欠压保护临界幅值和过流保护临界幅值中的较大值确定为所述低压耐受阈值。

具体地，可调速驱动设备在两相暂降下的欠压保护临界幅值可通过下式确定：

其中，V_2th-V表示两相暂降下的欠压保护临界幅值，V_sLP表示含非暂降相线电压的峰值(两相暂降中，某一相电压幅值为额定值，故三个线电压分量中存在两个线电压含有非暂降相)，V_nP表示相电压额定值，α表示计算角度。

V_sLP可按如下方式获得：

式中，V_DCth表示直流环节欠压保护整定值；P_L表示负载功率。

α可通过对V_sLP下降程度进行线性估计获得，比如通过下式确定：

式中，V_LP表示线电压脉冲峰值。

ΔT可以通过下式确定：

式中，V_DCn表示直流电压额定值，V_DCth表示直流环节欠压保护整定值，T_pul表示半波周期，K表示时间误差校正系数，用于表征活校正模型误差，取值范围可以为0.8-0.9。

具体地，低压耐受阈值V_2th为：V_2th＝max(V_2th-V,V_2th-I)。

可选地，在获得各个工况下的测试参数后，可以以各负载水平、各暂降类型下的膝点为参考，绘制矩形VTC曲线，用于大致反映ASD暂降耐受能力、指导进一步测试工作等。

在一个实施例中，所述根据所述可调速驱动设备在各个工况下对应的膝点分别在相应工况下对所述可调速驱动设备进行多次测试，直至测试获得的VTC曲线达到预设条件包括：

在各个工况下，根据相应膝点设置初始膝点幅值，按照预设幅值步长进行上下交叉步进设置，确定每次测试的实时膝点幅值；

根据各次实时膝点幅值循环对所述可调速驱动设备进行暂降测试，直至设备失效，获得达到预设条件的VTC曲线。

本实施例中各次测试的实时膝点幅值可以以初始膝点幅值为基础，以按照预设幅值步长进行递增和递减，以确定以初始膝点幅值为中间值的多个实时膝点幅值，对可调速驱动设备进行更为准确地测试。

在一个示例中，所得评估结果(可调速驱动设备在各个工况下对应的膝点)可作为参考VTC用于指导测试工作的开展，优化步长控制策略，减少测试步骤，提升测试效率并降低设备遭受的影响。具体方案可以包括：

步骤1：调节测试平台的暂降源，设置暂降持续时间为测试最大值(如：1s)，以对应负载水平、暂降类型下评估所得膝点幅值为依据，按照预设幅值步长进行上下交叉步进设置，发生测试暂降，直至设备失效，以确定VTC上边界对应的幅值。

步骤2：依据膝点坐标设置暂降持续时间，暂降幅值为最小值，逐步增加持续时长直至设备故障，记录故障时的持续时间。依据预设步长增加幅值，重复上述操作，直至VTC上边界对应的幅值。

具体测试过程可以参考图3所示，图3中，横坐标表示持续时间，纵坐标表示幅值。由于评估所得VTC反映了设备实际VTC大致位置，基于评估结果进行的测试更具针对性，所需试探步数更小，提升了测试效率并降低了受试设备所受影响。对于高度吻合的评估结果，通常经过一步试探便可确定VTC曲线点所在位置，促使测试人员进一步减小控制步长获取更精确的结果。

本实施例在研究ASD暂降响应机理的基础上，提出了基于变频器关键参数与试验结果确定VTC轮廓(或电压暂降耐受曲线膝点)的方法，并以VTC轮廓为指导依据进行测试，可以达到如下技术效果：能够为用户设备选型提供初步参考；能为不具VTC测试条件的用户提供ASD暂降耐受能力评估手段；对于相关测试机构，所得评估结果可作为参考VTC用于指导测试工作的开展，优化步长控制策略，减少测试步骤，提升测试效率并降低设备遭受的影响。上述可调速驱动设备的电压暂降耐受能力检测方法适用于不同负载量下，考虑ASD欠压保护与过流保护，基于少量试验数据获取不同类型暂降时评估设备VTC膝点的方法。

应该理解的是，虽然图2的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，图2中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段，这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些子步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。

在一个实施例中，如图4所示，提供了一种可调速驱动设备的电压暂降耐受能力检测装置，包括：

计算模块210，用于通过建模分析计算各工况下可调速驱动设备的测试参数，根据所述测试参数确定所述可调速驱动设备的VTC曲线的膝点；

测试模块230，用于根据所述可调速驱动设备在各个工况下对应的膝点分别在相应工况下对所述可调速驱动设备进行多次测试，直至测试获得的VTC曲线达到预设条件；

确定模块250，用于根据达到预设条件的VTC曲线确定所述可调速驱动设备的电压暂降耐受能力。

在一个实施例中，所述工况包括三相电压供电工况；所述三相电压供电工况下的测试参数包括低压耐受阈值和扰动持续时间阈值。

作为一个实施例，所述计算模块进一步用于：

获取所述可调速驱动设备的直流环节欠压保护整定值，将所述直流环节欠压保护整定值代入三相电压供电工况对应的第一幅值计算公式计算所述可调速驱动设备在对称暂降下欠压保护的临界幅值；所述第一幅值计算公式包括：

其中，V_3th-V表示可调速驱动设备在对称暂降下欠压保护的临界幅值，V_DCth表示直流环节欠压保护整定值；

获取所述可调速驱动设备的直流电压额定值和暂降恢复时充电电流最大瞬时值，将所述直流电压额定值和所述暂降恢复时充电电流最大瞬时值代入三相电压供电工况对应的第二幅值计算公式计算所述可调速驱动设备在对称暂降恢复时触发过流保护的临界暂降幅值；所述第二幅值计算公式包括：

其中，V_3th-I表示对称暂降恢复时触发过流保护的临界暂降幅值，V_DCn表示直流电压额定值，Δi_max表示暂降恢复时充电电流最大瞬时值，L表示电机变频器直流链路中的电感，C表示电机变频器直流链路中的电容；

将所述对称暂降恢复时触发过流保护的临界暂降幅值和所述对称暂降恢复时触发过流保护的临界暂降幅值确定为所述低压耐受阈值。

在一个实施例中，所述工况包括单相电压供电工况；所述单相电压供电工况下的测试参数包括单相保护的扰动持续时间阈值；所述单相保护的扰动持续时间阈值的确定公式包括：

其中，T_x表示单相保护的扰动持续时间阈值，T_pul表示半波周期，V_DCth表示直流环节欠压保护整定值，V_LP表示线电压脉冲峰值。

在一个实施例中，所述工况包括两相电压供电工况；所述两相电压供电工况下的测试参数包括低压耐受阈值和扰动持续时间阈值。

作为一个实施例，上述计算模块进一步用于：

获取所述可调速驱动设备的含非暂降相线电压的峰值和相电压额定值；

根据所述含非暂降相线电压的峰值和所述相电压额定值分别计算所述可调速驱动设备在两相暂降下的欠压保护临界幅值和过流保护临界幅值；

将所述在两相暂降下的欠压保护临界幅值和过流保护临界幅值中的较大值确定为所述低压耐受阈值。

在一个实施例中，上述测试模块进一步用于：

在各个工况下，根据相应膝点设置初始膝点幅值，按照预设幅值步长进行上下交叉步进设置，确定每次测试的实时膝点幅值；

根据各次实时膝点幅值循环对所述可调速驱动设备进行暂降测试，直至设备失效，获得达到预设条件的VTC曲线。

关于可调速驱动设备的电压暂降耐受能力检测装置的具体限定可以参见上文中对于可调速驱动设备的电压暂降耐受能力检测方法的限定，在此不再赘述。上述可调速驱动设备的电压暂降耐受能力检测装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。

在一个实施例中，提供了一种计算机设备，该计算机设备可以是终端，其内部结构图可以如图5所示。该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器、网络接口、显示屏和输入装置。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统和计算机程序。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的网络接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现一种可调速驱动设备的电压暂降耐受能力检测方法。该计算机设备的显示屏可以是液晶显示屏或者电子墨水显示屏，该计算机设备的输入装置可以是显示屏上覆盖的触摸层，也可以是计算机设备外壳上设置的按键、轨迹球或触控板，还可以是外接的键盘、触控板或鼠标等。

本领域技术人员可以理解，图5中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。

基于如上所述的示例，在一个实施例中还提供一种计算机设备，该计算机设备包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其中，处理器执行所述程序时实现如上述各实施例中的任意一种可调速驱动设备的电压暂降耐受能力检测方法。

上述计算机设备，通过所述处理器上运行的计算机程序，可以实现高效检测可调速驱动设备的电压暂降耐受能力的目的。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于一非易失性的计算机可读取存储介质中，如本发明实施例中，该程序可存储于计算机系统的存储介质中，并被该计算机系统中的至少一个处理器执行，以实现包括如上述可调速驱动设备的电压暂降耐受能力检测方法的实施例的流程。其中，所述的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read-Only Memory，ROM)或随机存储记忆体(Random Access Memory，RAM)等。

据此，在一个实施例中还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其中，该程序被处理器执行时实现如上述各实施例中的任意一种可调速驱动设备的电压暂降耐受能力检测方法。

上述计算机可读存储介质，通过其存储的计算机程序，能够提高检测可调速驱动设备的电压暂降耐受能力的效率。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM以多种形式可得，诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。

以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

需要说明的是，本申请实施例所涉及的术语“第一\第二\第三”仅仅是区别类似的对象，不代表针对对象的特定排序，可以理解地，“第一\第二\第三”在允许的情况下可以互换特定的顺序或先后次序。应该理解“第一\第二\第三”区分的对象在适当情况下可以互换，以使这里描述的本申请的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。

本申请实施例的术语“包括”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或模块的过程、方法、装置、产品或设备没有限定于已列出的步骤或模块，而是可选地还包括没有列出的步骤或模块，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或模块。

在本文中提及的“多个”是指两个或两个以上。“和/或”，描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。

以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。