具体实施方式

下面结合实施例对本发明进行详细说明。其中相同的零部件用相同的附图标记表示。需要说明的是，下面描述中使用的词语“前”、“后”、“左”、“右”、“上”和“下”指的是附图中的方向，词语“内”和“外”分别指的是朝向或远离特定部件几何中心的方向。

如图1至图3所示，本发明提供的超声爬波检测系统的分辨力测试试块1，试块1包括第一检测面3、第二检测面4和显示面5，其中：显示面5上开设有同心设置的第一圆弧11和第二圆弧12，用于通过爬波探头2校正爬波检测系统的测量距离；第一检测面3上开设有多个第一刻槽13,多个第一刻槽13之间的间距不同，且任意两个第一刻槽13在同一平面上的投影没有重叠区域；第二检测面4上开设有多个第二刻槽14，多个第二刻槽14之间的间距不同，且任意两个第二刻槽14及任意两个第一刻槽13与第二刻槽14在同一平面上的投影均没有重叠区域。

需要说明的是：所有的第一刻槽13彼此之间、所有的第二刻槽14彼此之间以及第一刻槽13与第二刻槽14之间都没有重叠的部分；第一圆弧11和第二圆弧12通同心设置，从而使超声爬波探头2能够较好地接收第一圆弧11和第二圆弧12的反射。

本发明提供的超声爬波检测系统的分辨力测试试块1包括第一检测面3、第二检测面4和显示面5，第一检测面3上设置有多个第一刻槽13，第二检测面4上设置有多个第二刻槽14，显示面5上设置有第一圆弧11和第二圆弧12，从而使试块1适用于超声爬波检测系统的分辨力测试；通过将超声爬波探头2放置于显示面5上的第一圆弧11和第二圆弧12的圆心处，从而校正爬波检测系统的测量距离，通过将超声探头放置于的第一检测面3上任意间隔的两个第一刻槽13区域或第二检测面4上任意间隔两个第二刻槽14区域，通过调整两刻槽的反射回波，从而确定超声爬波检测系统的分辨力。

如图3所示，第一圆弧11的半径大小为第二圆弧12的半径大小的一半。本实施例中，能够较方便地调整测试系统在屏幕上的显示范围，提高了超声爬波检测系统的分辨力测试试块1的使用方便性。

如图1和图2所示，第一检测面3和第二检测面4背向设置，显示面5为与第一检测面3及第二检测面4均相连接的端面，第一刻槽13的宽度和深度均相同，且第一刻槽13的宽度为第一检测面3宽度的1/3，第二刻槽14的宽度和深度均相同，且第二刻槽14的宽度为第二检测面4宽度的1/3。需要说明的是：第一刻槽13彼此之间、第二刻槽14彼此之间除了彼此之间的间距不同，其余的宽度和深度均相同；上述宽度是指试块1的宽度，上述深度是指试块1的高度方向。本实施例中，显示面5位于试块1的端面，避免了超声爬波探头2使用时，显示面5上的第一圆弧11和的第二圆弧12的设置对第一刻槽13和第二刻槽14的反射回波的干扰，第一刻槽13以及第二刻槽14彼此之前等宽度和等深度，有利于超声爬波探头2检测的方便性，提高了超声爬波检测系统的分辨力测试试块1的使用方便性。

如图2所示，任意两个第二刻槽14之间的间距大小均与任意两个第一刻槽13之间的间距大小不相等。本实施例中，所有第一刻槽13和所有第二刻槽14彼此之间的间距设置成均不相等，上述设置的试块1上的刻槽可以有12中不等的间距，进而可以对多种间距大小的刻槽进行检测测试，提高了超声爬波检测系统的分辨力测试试块1的适用性。

如图2所示，第一刻槽13为五个且包括第一中心刻槽15，第一中心刻槽15位于第一检测面3的中心；第二刻槽14为十个，平均分为两组，其中，第一组中的第二刻槽14包括第二中心刻槽16，第二组中的第二刻槽14包括第三中心刻槽17，第二中心刻槽16和第三中心刻槽17分别与第一中心刻槽15之间的间距相同，且均为第一检测面3长度的1/4。本实施例中，第一中心刻槽15、第二中心刻槽16以及第三中心刻槽17均匀地分布在试块1的长度方向，避免了当超声爬波探头2检测各刻槽时，其反射回波之间有干扰，提高了超声爬波检测系统的分辨力测试试块1的检测准确性和使用方便性。

本发明一实施例中，第一刻槽13中的其余四个第一刻槽13与第一中心刻槽15之间的间距分别为0.5mm，1mm，1.5mm，2mm，第一组中的其余四个第二刻槽14与第二中心刻槽16之间的距离分别为3mm，4mm，5mm，6mm，第二组中的其余四个第二刻槽14与第三中心刻槽17之间的间距分别为7mm，8mm，9mm，10mm，上述12中不同的刻槽间距，基本满足了超声爬波检测需要检测的损伤范围，提高了超声爬波检测系统的分辨力测试试块1的适用性。另外，还可以通过试块1对超声爬波检测系统的分辨力的能力进行筛选，为超声爬波检测系统的性能控制提供测试数据,进而对超声爬波检测系统的检测能力进行控制。

本发明一实施例中，第一圆弧11的半径为6mm～20mm。上述第一圆弧11大小，一方面便于试块1的加工，另一方面，方便了通过超声爬波探头2调整系统在屏幕上的显示范围，提高了超声爬波检测系统的分辨力测试试块1的使用方便性。

本发明一实施例中，第一刻槽13的深度和第二刻槽14的深度相等，且均为0.5mm～8mm；第一刻槽13的宽度和第二刻槽14的宽度均相等，且均为6mm～20mm；第一中心刻槽15到端面的距离大于等于60mm，上述数据大小的设置，一方面，避免了被测试的两刻槽之间的反射回波互相干扰，提高了超声爬波检测系统的分辨力测试试块1的检测准确性和使用方便性，另一方面，使试块1的设计尺寸比较紧凑，降低了试块1的生产难度和生产成本。

本发明另一实施例中，试块1中的第一刻槽13和第二刻槽14均可用相同间距的近表面不同类型反射体替代(如圆弧、横孔、平底孔等)，且任意两种反射体回波的波峰高度h₁与波谷高度h₂的函数换算关系，如20lg^(h1/h2)等，视为与本方法等效；此处任意两种反射体意思是任意两个圆弧、任意两个相同直径的横孔或任意两个相同直径的平底孔。

本发明一实施例中，试块1为经过无损探伤检测后的合格试块1。需要说明的是：试块1材料与需检测工件材质一致，加工前应进行无损探伤检测，要求表面无任何裂纹存在，内部不存在超过Φdmm(d＝0.5～3)平底孔当量缺陷。无损探伤检测就是利用声、光、磁和电等特性，在不损害或不影响被检对象使用性能的前提下，检测被检对象中是否存在缺陷或不均匀性，给出缺陷的大小、位置、性质和数量等信息，进而判定被检对象所处技术状态(如合格与否、剩余寿命等)的所有技术手段的总称，提高了超声爬波检测系统的分辨力测试试块1的质量。

如图1至图9所示，基于同一发明构思，本发明一实施例中还提供一种超声爬波检测系统的分辨力测试方法，包括以下步骤：步骤S1、如图5所示，将爬波探头2设置于试块1的端面的圆弧区，将仪器测量距离校准为50mm爬波声程范围；以试块1中第一圆弧11半径为8mm为例，如图5所示，找到试块1第一圆弧的反射回波6(圆弧半径为8mm)和第二圆弧的反射回波7(第二圆弧12半径为16mm)，移动超声爬波探头2，使第一圆弧的反射回波6与第二圆弧的反射回波7等高；调节检测仪器使两等高反射回波分别置于显示屏幕面板水平刻度的1.6与3.2大格(共10大格)；步骤S2、如图6至图9所示，将爬波探头2设置于试块1的第一刻槽13区域或第二刻槽14区域，找到同一平面上任一间隔的两个第一刻槽13的两反射回波或两个第二刻槽14的两反射回波，移动爬波探头2使两反射回波的波峰等高，并调至显示屏幕面板的100％高度；步骤S3、如图6和图7所示，将两反射回波的波谷不高于显示屏幕面板的5％高度作为分辨力认定条件，满足条件的位于同一平面的两个第一刻槽13或两个第二刻槽14之间的间距即为分辨力，以试块1上的刻槽深度为3mm为例，从两个第一刻槽13之间的间距为0.5mm起始依次测试，将超声爬波探头2置于如图9所示位置，两回波波谷不高于屏幕面板的5％高度，则认定分辨力为0.5mm；若两回波波谷高于屏幕面板的5％高度，则依次对刻槽间距为1～10mm的两相邻刻槽进行测试，直至确定满足认定条件的最小间距即为分辨力。

本发明提供的超声爬波检测系统的分辨力测试试块1与测试方法，试块1包括第一检测面3、第二检测面4和显示面5，第一检测面3上设置有多个第一刻槽13，第二检测面4上设置有多个第二刻槽14，显示面5上设置有第一圆弧11和第二圆弧12，从而使试块1适用于超声爬波检测系统的分辨力测试；通过将超声爬波探头2放置于显示面5上的第一圆弧11和第二圆弧12的圆心处，从而校正爬波检测系统的测量距离，通过将超声探头放置于的第一检测面3上任意间隔的两个第一刻槽13区域或第二检测面4上任意间隔两个第二刻槽14区域，通过调整两刻槽的反射回波，从而确定超声爬波检测系统的分辨力，从而确定超声爬波检测系统的分辨力。

最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。