具体实施方式

下面结合附图对本申请实施例技术方案的主要实现原理、具体实施方式及其对应能够达到的有益效果进行详细的阐述。

实施例一

请参考图1，本申请实施例提供一种应用于电子零部件的测试监控系统，所述测试监控系统包括监控设备10、隔离设备20和负载电路30，负载电路30一端与隔离设备20电性连接，另一端与监控设备10连接，其中，在电子零部件的EMC测试过程中，通过监控设备10实时获取隔离设备20的第一电压电流参数，并获取负载电路30的第二电压电流参数；根据实时获取的第一电压电流参数和第二电压电流参数，获得测试校正参数；利用测试校正参数对测试结果进行修正。

本说明书实施例中，EMC测试包括电磁干扰测试(Electro-MagneticInterference，简称EMI测)和电磁抗干扰度测试(Electro-Magnetic Susceptibility，简称EMS测试)。隔离设备是指隔离DUT。

本说明书实施例中，在电子零部件的EMC测试过程中，测试监控系统与测试设备40电性相连。具体来讲，测试监控系统还包括线路阻抗稳定网络(Line ImpedanceStabilization Network，简称LISN)电路时，测试设备40通过LISN电路与测试监控系统电性相连。

具体来讲，在通过监控设备10实时获取隔离设备20的第一电压电流参数，并获取负载电路30的第二电压电流参数时，可以通过监控设备10内置的电压电流监控件来实时获取第一电压电流参数和第二电压电流参数，其中，电压电流监控件可以是电流表、电流计、电压表和电压计等。具体地，电压电流监控件包括至少两路，每路中均会包括电压表和电流表，以使得通过一路电压电流监控件获取第一电压电流参数，另一路电压电流监控件获取第二电压电流参数。

具体地，在获取第一电压电流参数和第二电压电流参数时，可以通过监控设备10实时获取隔离设备20的第一子电压参数和第一子电流参数，根据实时获取的第一子电压参数和第一子电流参数，获取到第一电压电流参数；通过监控设备10实时获取负载电路30的第二子电压参数和第二子电流参数，根据实时获取的第二子电压参数和第二子电流参数，获取到第二电压电流参数。此时，使得第一电压电流参数包括第一子电压参数和第一子电流参数，以及第二电压电流参数包括第二子电压参数和第二子电流参数。

本说明书实施例中，在电子零部件的EMC测试过程中，若电子零部件为同一批次的N个零部件，若电子零部件为同一批次的N个零部件，则根据N个零部件中每个零部件对应的第一电压电流参数和第二电压电流参数，获取隔离设备20的一致性参数，并将一致性参数作为测试校正参数，其中，N为不小于2的整数。再根据一致性参数对每个零部件的测试结果进行校正

此时，若根据一致性参数，确定出某个零部件对应的第一电压电流参数和第二电压电流参数，与其它零部件对应的第一电压电流参数和第二电压电流参数差异超过了设定范围，则根据一致性参数，将差异超过设定范围的零部件的测试结果进行修正，此时，可以重新对差异超过设定范围的零部件进行EMC测试，重新测试的结果作为差异超过设定范围的零部件的最终测试结果。若确定出某个零部件对应的第一电压电流参数和第二电压电流参数，与其它零部件对应的第一电压电流参数和第二电压电流参数差异在设定范围内，则将该零部件的测试结果作为最终测试结果。

本说明书实施例中，监控设备10包括滤波器101、去耦网络102和电压电流监控件，其中，通过滤波器101消除测试监控系统自身的干扰，确保测得第一电压电流参数和第二电压电流参数的准确度性较高；而对于那些大电流，电机类感性负载进行开关切换状态、堵转等工作模式，可能产生瞬态干扰的情况，可以通过去耦网络102，将测隔离设备20产生的干扰吸收消耗，保护测试监控系统获取的第一电压电流参数和第二电压电流参数的准确性。如此，通过滤波器101及去耦网络102，能够将辐射、传导、磁场等非必要监控的信号除去，确保了测试监控系统采集的数据的准确性。

本说明书实施例中，若对电子零部件进行EMI测试，则根据实时获取的第一电压电流参数，获取隔离设备20的第一电压电流变化率；根据实时获取的第二电压电流参数，获取负载电路30的第二电压电流变化率；再根据第一电压电流变化率和第二电压电流变化率，得到EMI特性，并将EMI特性作为测试校正参数；再利用EMI特性，对测试结果进行校正。

针对同一批零部件，若其中的某个零部件的EMI特性超过了设定特性范围，则超过了设定特性范围的零部件的测试结果进行修正，此时，可以重新对超过了设定特性范围的零部件进行EMC测试，重新测试的结果作为超过了设定特性范围的零部件的最终测试结果。若其中的某个零部件的EMI特性未超过了设定特性范围，则将该零部件的测试结果作为最终测试结果。

如此，由于监控设备10包括滤波器101和去耦网络102，从而可以通过滤波器101及去耦网络102，能够将辐射、传导、磁场等非必要监控的信号除去，在EMI测试时，能够不引入各种传导及辐射干扰，确保了EMI测试时获取的数据的准确性较高。

本说明书另一实施例中，若对电子零部件进行EMS测试，可以实时获取加载到隔离设备20上的干扰电平参数；根据实时获取的第一电压电流参数、第二电压电流参数和干扰电平参数，获取测试异常参数并将其作为测试校正参数；再利用测试异常参数，对测试结果进行校正。

具体来讲，根据实时获取的第一电压电流参数、第二电压电流参数和干扰电平参数，能够确定出每个零部件在EMS测试过程是否存在异常，即，测试异常参数用于表征零部件在EMS测试过程中是否存异常；若某个零部件的测试异常参数表征测试过程存在异常，则需要重新对该零部件进行重新测试，直至测试异常参数表示未发生异常时，将未发生异常时的测试结果作为最终的测试结果。若某个零部件的测试异常参数表征测试过程未存在异常，则不需校正，直接将测试结果作为该零部件的最终测试结果。

如此，由于监控设备10包括滤波器101和去耦网络102，从而可以通过滤波器101及去耦网络102，消除测试监控系统自身的干扰，而对于那些大电流，电机类感性负载进行开关切换状态、堵转等工作模式，可能产生瞬态干扰进行吸收消耗，保护测试监控系统获取的第一电压电流参数和第二电压电流参数的准确性。

本说明书另一实施例中，若电子零部件为黑盒件，通过监控设备10实时获取隔离设备20在不同工作模式下的电压参数和电流参数作为第一电压电流参数，以及获取负载电路30在不同工作模式下的电压参数和电流参数作为第二电压电流参数；根据第一电压电流参数和第二电压电流参数，获取隔离设备20的工作状态，其中，工作状态作为测试校正参数；再根据工作状态，对测试结果进行校正。

具体来讲，黑盒件例如可以是各类控制器，不能通过音视频等具有视听效果(如信息娱乐系统、电机等)直观的判别工作状态，通过监测隔离设备20和负载电路30在不同工作模式下的电流电压情况，再对比其额定工作电流电压，能够有效确定隔离设备20的工作状态，工作状态用于确定隔离设备20是否在工作，工作模式时测试计划中定义的。

如此，针对某个黑盒件，若该黑盒件对应的工作状态表征隔离设备20未在工作，需要重新对该零部件进行重新测试，直至该黑盒件对应的工作状态表征隔离设备20正常工作时，将此时的测试结果作为最终的测试结果。若某个黑盒件对应的工作状态表征隔离设备20正常工作，则不需校正，直接将测试结果作为该黑盒件的最终测试结果。

以及，在获取测试校正参数之后，能够根据测试校正参数能够提前发现不合格的样件，避免了时间浪费，提高了测试效率。

本说明书实施例中，在电子零部件的EMC测试过程中，通过监控设备10实时获取第一电压电流参数和第二电压电流参数的采样频率在设定频率范围内。

本说明书实施例中，设定频率范围可以为100HZ-100kHz，例如可以1kHz，可以根据实际需求进行设定，本说明书不作具体限制。

本说明书实施例中，监控设备10还包括显示面板及插件，为了为提升其EMC性能，监控设备10的外壳采用金属材料制成。、

本说明书实施例中，监控设备10内部的滤波电路101、去耦网络102和电压电流监控器件用无源模块，减小对隔离设备20影响，提高获取的第一电压电流参数的准确性。

本说明书实施例中，测试监控系统的封装金属外壳接地良好，接地电阻通常小于3mΩ。

基于上述技术方案，在电子零部件的EMC测试过程中，通过监控设备实时获取隔离设备的第一电压电流参数，并获取负载电路的第二电压电流参数；再根据实时获取的第一电压电流参数和第二电压电流参数，获得测试校正参数，再利用测试校正参数对测试结果进行修正；此时，在电子零部件的EMC测试过程中，通过实时监控的第一电压电流参数和第二电压电流参数对测试结果进行校正，能够通过实时监控的第一电压电流参数和第二电压电流参数能够获取到电子零部件的EMC测试过程中的实际工作模式，利用实际工作模式来对测试结果进行校正，能够提高EMC测试的准确性。

本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后，将容易想到本发明的其它实施方案。本申请旨在涵盖本发明的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本发明的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本发明的真正范围和精神由下面的权利要求指出。

应当理解的是，本发明并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本发明的范围仅由所附的权利要求来限制

以上所述仅为本发明的较佳实施例，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。