具体实施方式

应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

需要说明，本发明实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

另外，在本发明中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当人认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范围之内。

参照图1、图2和图3，图1为本发明提出的面包板第一实施的主视图；

图2为本发明提出的面包板第一实施的仰视图，图3为本发明提出的面包板第一实施的俯视图。本发明提出面包板的第一实施例。

在第一实施例中，面包板包括底板10，设置有多条第一导通线40；顶板20，设置有多条第二导通线50；触点阵列30，设置于底板10与顶板20之间，触点阵列30中各触点的第一连接端与第一导通线40连接、触点的第二连接端与第二导通线50连接、触点的第三连接端与测试元件连接。

需要说明的是，第一导通线40、第二导通线50均由导体材料制成，使得在各导通线上与触点所形成的连接点之间互为连通。底板10及顶板20上导通线的数量可以根据需要进行设置，如四条或者五条，本实施方式对此不加以限制。

触点阵列30中的各触点也采用导体材料制成，各触点设置有可用于连接测试元件管脚的部位，例如插孔等；其中，测试元件包括电阻、电容等元器件。

在测试元件与触点连接后，该测试元件可通过触点与该触点对应的第一导通线40及第二导通线50连通，从而与第一导通线40或第二导通线50上与其他触点连接的测试元件连通。根据测试元件的管脚在各导通线上的不同设置关系，可以使两测试元件之间形成并联或者串联的关系，由此，可以减少测试元件之间的走线，简化测试电路。

为了使测试电路的线路规划更灵活，底板10及顶板20上各导通线的方向可以不同，例如，底板10可设置平行于一侧边的导通线，还可以设置垂直与该侧边的导通线，还可以设置相交于该侧边的导通线。

当然，为使线路更简洁，底板10及顶板20上各导通线的方向可以相同；即各第一导通线40在底板10上沿第一方向平行设置；各第二导通线50在顶板20上沿第二方向平行设置。第一方向与第二方向可以根据用户需求进行设置。

此外，为便于触点阵列的设置，使触点均布分布，便于操作，第一方向与第二方向相互垂直。在具体实现时，为了各导通线各便于印刷，底板10上各第一导通线40以如图2所示的纵向分布，顶板20上各第二导通线50以如图3所示的横向分布。

第一实施例通过设置底板10、顶板20及触点阵列30构成面包板；其中，底板10，设置有多条第一导通线40；顶板20，设置有多条第二导通线50；触点阵列30，设置于底板10与顶板20之间，触点阵列30中各触点的第一连接端与第一导通线40连接、触点的第二连接端与第二导通线50连接、触点的第三连接端与测试元件连接。在本实施例中，测试元件插接在触点上，各测试元件之间可经触点及导通线连接，从而减少额外走线，线路简洁，便于测试人员进行调整。

再次参照图2、图3以及图4，图4为本发明提出的面包板第二实施的主视图。基于上述第一实施例，本发明提出面包板的第二实施例。

在第二实施例中，触点包括第一开关60、第二开关70和导通件80。导通件80的第一连接端与第一开关60的第一端连接、导通件80的第二连接端与第二开关70的第一端连接、导通件80的第三连接端与测试元件连接，第一开关60的第二端与第一导通40线连接，第二开关70的第二端与第二导通线50连接。

需要说明的是，为了提高面包板在调整电路线路时的便利性，本实施方式中，触点包括第一开关60、第二开关70和导通件80。导通件80采用导体材料制成，导通件80上设有可用于连接测试元件管脚的插孔。

测试元件通过将管脚插入与导通件80的的插孔中实现连接，在第一开关60闭合时，测试元件与第一导通线40连通；在第二开关70闭合时，测试元件与第二导通线50连通。测试人员在调制电路路线时，可以通过控制第一开关60、第二开关70的闭合状态，以调整测试元件之间的连接关系，从而减少对测试元件的调整。

在具体实现时，第一开关60或第二开关70可以采用电控开关或者手控开关，测试人员在将测试元件插接在各导通件80后，控制第一开关60或第二开关70闭合或断开，从而将电路线路调整至所需要的线路，第一开关60或第二开关70的具体构成可以根据需要进行设置，本实施方式不对此加以限制。

为了对第一开关60或第二开关70的控制做清楚的说明，本实施方式以第一开关60或第二开关70为电控开关为例进行说明。

在本实施方式中，面包板还包括控制电路，第一开关60的第三端及与第二开关70的第三端均与控制电路的输出端连接。控制电路，用于向第一开关60和/或第二开关70输出控制信号，以控制第一开关60和/或第二开关70的通断。

在具体实现时，控制电路中可设置处理器，处理器通过预设的控制程序向第一开关60或第二开关70的输出控制信息，该控制信号可以为低电平信号或者高电平信号。第一开关60或第二开关70可在接收到低电平信号时闭合，也可以在接收到高电平信号时闭合。

为便于控制，第一开关60为MOS管电子开关，MOS管电子开关的控制端与控制电路的输出端连接，MOS管电子开关的第一连通端与底板上的第一导通线连接，MOS管电子开关的第二连通端与顶板上的第二导通线连接。

同样的，第二开关70也可以为MOS管电子开关。MOS管电子开关为集成器件，可实现导通件80与各导通线之间的物理连接，其闭合与导通的逻辑控制电平与其具体型号相关，本实施方式对此不加以限制。

参照图5，图5为本发明面包板控制电路的一实施例的功能示意图。

如图5所示，控制电路包括微控制器90和多个位移缓存器100，微控制器90分别与各位移缓存器100连接，位移缓存器100与第一开关60和/或第二开关70连接。位移缓存器100，用于将微控制器90发送的控制信号转换成驱动信号，并根据驱动信号控制第一开关60和/或第二开关70的通断。

需要说明的是，控制信号及驱动信号可以为电流信号，微控制器90的输出电流较低，难以达到第一开关60或第二开关70的控制电流，因此，可通过设置位移缓存器100对控制电流进行放大，获得符合要求的驱动电流。

此外，在第一开关60和第二开关70的数量较多时，单个微控制器90的控制引脚数量不足，需要通过位移缓存器100对控制引脚进行扩充，从而对全部的第一开关60和第二开关70进行控制。微控制器90要准备输入的位数据输入至位移缓存器100的数据输入端上；位移缓存器100将数据串入；再按照控制顺序实现并行输出数据，即数据并出。

为便于对控制程序进行调整，控制电路还包括通信电路110，通信电路110与微控制器90连接；微控制器90，用于根据通信电路110发送的控制信息生成控制信号。

需要说明的是，通信电路110可采用常规的通信接口，如SCI(SerialCommunication Interface，串行通信接口)、SPI(Serial Peripheral Interface，串行外设接口)或者其它。通信电路110可从外部设备接收控制信息，再将控制信息转发至微控制器90，微控制器90通过对控制信息进行编译，生成相应的控制信息。

在具体实现时，可预先对第一开关60或第二开关70进行编号，如01、02或03等；同时对控制状态进行编好，如闭合为00，断开为01。外部设备根据需要生成保护开关编号与状态编号的信息，再将成的信号传输至微控制器90，使微控制器90确定对各开关的控制策略。

在第二实施例中，触点包括第一开关60、第二开关70和导通件80，各开关通过控制电路进行驱动，测试人员在调整电路线路时，可以通过改变开关状态进行修正，减少了对测试元件的调整，使测试更加便利。

为实现上述目的，本发明还提出一种测试设备，测试设备包括如上述的面包板。由于本面包板采用了上述所有实施例的全部技术方案，因此至少具有上述实施例的技术方案所带来的所有有益效果，在此不再一一赘述。

通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质(如只读存储器镜像(Read Only Memory image，ROM)/随机存取存储器(Random AccessMemory，RAM)、磁碟、光盘)中，包括若干指令用以使得一台终端设备(可以是手机，计算机，服务器，空调器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。

以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。