具体实施方式

体现本公开特征与优点的一些典型实施例将在后段的说明中详细叙述。应理解的是本公开能够在不同的实施方式上具有各种的变化，其皆不脱离本公开的范围，且其中的说明及图示在本质上当作说明之用，而非架构于限制本公开。

请参阅图1、图2及图3，其中图1为本公开的测试架构的方框结构示意图，图2为图1所示的测试架构的测试治具及待测插头的部分立体结构示意图，图3为图1的测试架构的测试治具的上视图。如图所示，本公开的测试架构1与电源供应器5电连接，以接收电源供应器5所提供的电能，其中电源供应器5可提供多个具有相异电源规格的电源，且测试架构1包含待测电器装置、测试治具3及控制系统4。测试架构1用以测试待测电器装置，而为了精简附图，于图1及图2中仅绘出待测电器装置所包含的待测插头2，其中当待测电器装置欲利用测试治具3进行测试时，测试治具3会将从电源供应器5所接收的电源经由待测插头2提供给待测电器装置，使待测电器装置运行而开始进行测试。此外，待测插头2具有条码21，条码21注记了包含待测电器装置的待测插头2适用的电源规格的信息，例如待测插头2是适用于美国所使用的交流电电压及交流电频率(即交流电电压为120V，且交流电频率为60Hz)，此外，条码21可利用打印或烧结的方式显示于该待测插头2上，且条码21可为但不限为由二维条码所构成。

测试治具3与电源供应器5电连接，且测试治具3包含基座31及插座集成。基座31具有相对设置的第一面311及第二面312。插座集成包含多个顶针32，设置于基座31上，且穿设于基座31，每一顶针32包含第一端321及第二端322，每一顶针32的第一端321位于基座31的第一面311，每一顶针32的第二端322位于基座31的第二面312。其中多个顶针32依据不同国家的电源规格及所需形成的插座实施例而经由排列组合的方式以形成具有相异规格的多个电源插座，每一电源插座根据对应的电源规格而由电源供应器5中对应的电源进行供电。以下为了清楚说明电源插座的位置设置，将图2中的多个顶针分别标示为32a、32b、32c、32d、32e、32f、32g、32h、32i、32j及32k，于图2中，顶针32a及32d可共同构成第一电源插座，而第一电源插座是对应于印度电源规格的插座实施例，且适用于交流电电压240V且交流电频率50Hz的电能。顶针32b及32c可共同构成第二电源插座，而第二电源插座是对应于美国电源规格的插座实施例，且适用于交流电电压120V且交流电频率60Hz的电能。顶针32e及32f可共同构成第三电源插座，而第三电源插座是对应于欧洲电源规格或巴西电源规格的插座实施例，且适用于交流电电压220V且交流电频率50Hz的电能或交流电电压110V且交流电频率60Hz的电能。顶针32g及32h可共同构成第四电源插座，而第四电源插座是对应于澳洲电源规格的插座实施例，且适用于交流电电压240V且交流电频率50Hz的电能。顶针32i、32j及32k可共同构成第五电源插座，而第五电源插座是对应于英国电源规格的插座实施例，且适用于交流电电压240V且交流电频率60Hz的电能。当然多个顶针32不仅局限于构成上述的五种电源插座，可根据实际使用状况添加或删减顶针32的数量以构成不同数量及种类的电源插座。

待测插头2根据待测电器装置的电源规格而适用于多个电源插座中其中之一电源插座，例如待测插头2适用于交流电电压为120V且交流电频率为60Hz的美国电源规格的插座实施例，则当待测插头2与插座集成中第二电源插座的顶针32b及32c相接触时，交流电电压为120V且交流电频率为60Hz的电能则可经由顶针32b及32c传送至待测插头2。

控制系统4与电源供应器5电连接，且包含扫描器41及计算机42。扫描器41用以扫描待测插头2上的条码21，并产生扫描信号。计算机42与扫描器41及电源供应器5电连接，计算机42于待测插头2与插座集成中所适用的电源插座的多个顶针32相接触时，计算机42根据扫描信号确认待测插头2所适用的电源规格，进而驱使电源供应器5所提供的多个电源中适用于待测插头2的电源，经由对应的电源插座的多个顶针32传送至待测插头2，以对待测电器装置进行供电，借此测试待测电器装置是否正常运行。

由上可知，本公开的测试架构1包含待测电器装置、测试治具3及控制系统4，且待测电器装置的待测插头2上具有标记了待测电器装置的电源规格的条码21，故于待测插头2与插座集成中所适用的电源插座的顶针32相接触时，控制系统4可根据扫描信号将适用于待测插头2的电源，经由对应的电源插座传送至待测插头2，以对待测电器装置进行供电，借此测试待测电器装置是否正常运行，因此，相较于传统测试方法，本公开的测试架构1仅需设置单一的测试治具3，且测试治具3可根据待测插头2上的条码21而可提供对应的电源，借此可测试具有相异电源规格的待测插头2的多个相异的待测电器装置，因此本公开的测试架构1的生产成本及人力成本降低，且由于本公开的测试架构1无需手动调整电源，亦无需手动更换测试治具，因此本公开的测试架构1所测试的待测电器装置的电器特性不易损毁。

于一些实施例中，测试架构1还包含开关单元6，开关单元6与计算机42电连接，且连接于电源供应器5及多个电源插座的其中之一电源插座之间，计算机42根据扫描信号控制开关单元6进行导通路径的切换，使得电源供应器5所提供的多个电源中适用于待测插头2的电源，经由开关单元6及对应的电源插座的多个顶针32传送至待测插头2。

于一些实施例中，除了根据待测插头2上的条码21确认适用于待测插头2的电源规格外，亦可以有其它方式确认适用于待测插头2的电源规格，例如于待测插头2内设置相连接的USB端22及存储器23，如图3所示，待测电器装置的电源规格经由USB端22写入存储器23中。此外，控制系统4还包含输入输出接口43，输入输出接口43与计算机42电连接，输入输出接口43经由待测插头2的USB端22读取存储器23内关于待测电器装置的电源规格的信息，并将读取结果传送至计算机42，使计算机42确认适用于待测插头2的电源规格。

待测插头2还包含插头本体24及多个导电部25，多个导电部25设置于插头本体24上，插头本体24具有一本体高度H1，导电部25具有一导电部高度H4。于一些实施例中，顶针32e及32f所构成的第三电源插座的实施例实际上适用于巴西电源规格的插座实施例或欧洲电源规格的插座实施例，故除了可以利用扫描器41扫描待测插头2上的条码21，以确认待测插头2为巴西电源规格或欧洲电源规格的插座实施例外，还可以根据适用于巴西电源规格的待测插头2的插头本体24的本体高度H1(即18.05mm)与适用于欧洲电源规格的待测插头2的插头本体24的本体高度H1(即14.75mm)不同的特性，进行待测插头2属于巴西电源规格或欧洲电源规格的判别，以达到双重确认的技术效果，借此避免待测插头2在插入由顶针32e及32f所构成的第三电源插座时，第三电源插座提供错误的电源。而为了实现前述的技术效果，测试治具3还包含接触开关33，接触开关33设置于基座31上，且位于顶针32e及32f之间，接触开关33包含第一端331及第二端332，接触开关33的第一端331位于基座31的第一面311，且接触开关33的第一端331突出于基座31的第一面311具有高度H2，接触开关33的第二端332位于基座31的第二面312。其中待测插头2适用于巴西电源规格的电源，且接触开关33的第一端331突出于基座31的第一面311的高度H2大于顶针32e及32f突出于基座31的第一面311的高度H3与导电部25的导电部高度H4之和，因此，当待测插头2与顶针32e及32f所构成的第三电源插座相接触时，待测插头2的插头本体24按压接触开关33，而接触开关33产生一形变量，使得接触开关33对应产生接触信号并传送至计算机42，计算机42根据接触信号及扫描信号控制开关单元6做路径切换，使得巴西电源规格的电源与第三电源插座的顶针32e及32f经由开关单元6而连接导通。其中待测插头2适用于欧洲电源规格的电源，且接触开关33的第一端331突出于基座31的第一面311的高度H2小于顶针32e及32f突出于基座31的第一面311的高度H3与导电部25的导电部高度H4之和，因此，当待测插头2与顶针32e及32f所构成的第三电源插座相接触时，待测插头2的插头本体24并未与接触开关33的第一端331相接触，计算机42仅根据扫描信号控制开关单元6，使得欧洲电源规格的电源与第三电源插座的顶针32e及32f经由开关单元6而连接导通。

测试治具请参阅图4，其为本公开的测试方法应用于图1的测试架构的流程示意图。如图所示，首先，执行步骤S1，提供待测电器装置，待测电器装置包含待测插头2，待测插头2具有条码21，条码21注记包含待测插头2适用的电源规格的信息，其中待测插头2根据待测电器装置的电源规格而适用于多个电源插座中其中之一电源插座，其中每一电源插座根据对应的电源规格而由电源供应器5中对应的电源进行供电。接着，执行步骤S2，扫描待测插头2上的条码21，以确认待测插头2根据待测电器装置的电源规格，并根据确认结果产生扫描信号。接着，执行步骤S3，于待测插头2与插座集成中所适用的电源插座的多个顶针32相接触时，根据扫描信号确认待测插头2所适用的电源规格，进而驱使电源供应器5所提供的多个电源中适用于待测插头2的电源，经由对应的电源插座的多个顶针32传送至待测插头2，以对待测插头2进行供电，借此测试待测电器装置是否正常运行。

综上所述，本公开的测试架构包含待测电器装置、测试治具及控制系统，且待测电器装置的待测插头上具有标记了待测电器装置的电源规格的条码，故于待测插头与插座集成中所适用的电源插座的顶针相接触时，控制系统可根据扫描信号将适用于待测插头的电源，经由对应的电源插座传送至待测插头，以对待测电器装置进行供电，借此测试待测电器装置是否正常运行，因此，相较于传统测试方法，本公开的测试架构仅需设置单一的测试治具，且测试治具可根据待测插头上的条码而可提供对应的电源，借此可测试具有相异规格的待测插头的多个相异的待测电器装置，因此本公开的测试架构的生产成本及人力成本降低，且由于本公开的测试架构无需手动调整电源，亦无需手动更换测试治具，因此本公开的测试架构所测试的待测电器装置的电器特性不易损毁。