具体实施方式

下面将结合本揭示实施例中的附图，对本揭示实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本揭示一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本揭示中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本揭示保护的范围。

显示面板内部的线路布局较复杂，因此，显示面板各工艺制备完成后一般都需要对设置的线路好坏进行检测，传统的检测手段中往往存在着检测的精度低，并且检测工艺复杂，不能直观的反映出线路区域存在的缺陷。

本揭示实施例中，提供一种显示面板的线路缺陷的检测方法，以提高检测的精度和检测的效果。

如图1所示，图1为现有技术中显示面板的检测方法示意图。显示面板包括第一线路区100、第二线路区101以及第三线路区102，其中第一线路区100、第二线路区101和第三线路区102依次设置。当线路排布无缺陷时，第一线路区100、第二线路区101和第三线路区102各自对应像素的亮度均相同，但是当线路出现缺陷时，缺陷区域处的像素的亮度就会发生变化。

因此正常情况下，第一线路区100和第三线路区102内的第一子像素区104和第三子像素区105均完全相同，但由于第二线路区101内的线路存在缺陷，因此第二线路区101内对应的第二子像素区103与其他线路区之间存在差别。但是，当显示面板的布线结构不为周期分布时，上述各个线路区内的结构就不完全相同，而使得上述检测方法失效。

如图2所示，图2为本揭示实施例提供的显示面板的线路缺陷的方法，检测方法包括如下步骤：

S100：采集所述显示面板的待检测区域，并将采集到的所述待检测区域转换成图像；

本揭示实施例中，首先选取需要进行检测的显示面板，同时选取所述显示面板的待检测的线路设置区域，待检测区域确定后，对该检测区域进行信息采集。

具体的，在采集所述显示面板的待检测区时，可直接通过设备将其拍摄成图像，在拍摄成像时，可利用自动光学检查机等辅助设备，在成像过程中，利用光线的作用，使采集形成的图像形成亮暗间隔分布的图像。

优选的，如图3所示，图3为本揭示实施例提供的显示面板对应的线路区的成像结构示意图。本揭示实施例中，以显示面板的扇形区为例进行说明，扇形区的线路排布较复杂，较容易出现断裂等缺陷。

扇形区31包括金属走线30，金属走线30包括平直区和与所述平直区相连的扇形区31两部分。本揭示实施例中，直接对所述扇形区31内的结构进行信息采集并成像。

在通过自动光学检查机对待检测区成像时，由于扇形区内设置有金属线路，光线照射到该金属线路上时，由于金属线发光能力强，因此，金属线路对应的图像的像素灰阶就为亮区，而未布线的区域由于不能对光线进行反射，就表现为暗区。

进一步的，在对待检测区域进行采集时，对应待检测区域较大的线路布置区，可将待检测区域划分为多个子检测区域，然后分别对每个子检测区域进行采集并成像。

S101：将所述图像对应的布置线路的一边界划分为扫描起始端和扫描终止端，并对所述图像进行扫描；

采集完成该待检测的金属线路结构后，对获取到的图像进行扫描。具体的，将金属布线起始一侧的边界处，即图像中对应的线路的最外端的一侧边界设定为扫描起始端a和扫描终止端b，如图3中所示的边界线a-b。在扫描过程中，沿着扫描起始端a向扫描终止端b进行扫描。

进一步的，由于在显示面板的布线区会布置多条金属线，因此，本揭示实施例中，以扫描起始端a为标记开始，对每一条扫描得到的金属走线进行标记编号，优选的，按照1、2、3...i、i+1...N的顺序进行编号。金属线路301标记为第i条金属线路，金属线路302标记为第i+1条金属线路，其中i、N均为正整数。

因此，在标记完成后，每一条金属走线都会对应一个编号，并且在正常情况下，同一编号金属走线上的成像的情况应该是相同的。

优选的，在对成像后的图像进行标记时，还可直接对暗区进行标记。当对暗区进行标记时，可按照对亮区的标记方式进行，这里不在详细表述。

S102：从扫描开始至扫描结束，将扫描的每一个像素进行标记，得到标记数据；

本揭示实施例中，由于显示面板的布线区设置有金属线路，在成像时，由于金属的反光强，因此会形成亮区，而未布线的区域对光线的反射较差，因此会形成暗区。

优选的，在图3中，由于金属走线和未布线的成像情况不同，因此，会形成亮区和暗区相互交替的画面，当线路不存在缺陷时，两相邻的亮区对应的金属线路互相不相交。

本揭示实施例以亮区标记为例进行说明。如图4所示，图4为本揭示实施例提供的显示面板的扫描图像示意图。选取待检测区域的一部分扫描图像进行说明。

扫描图像包括亮区403和暗区402，其中亮区403对应着显示面板的金属走线，暗区402对应着显示面板的未布线区域。同时对扫描过程中的每一个像素进行标记，即对亮区403内对应的每一个第一子像素400进行标记，优选的第一子像素可标记为第一标记，如标记为A，同时对暗区402内对应的每一个第二子像素401进行标记，优选的第一子像素可标记为第二标记，如标记为B。并对这些标记的像素进行记录，得到一系列的标记数据值，其中，第一标记和第二标记不同。

并且若同一亮区或同一暗区内，同时存在所述标记A和所述标记B，则所述线路存在缺陷。

S103：根据所述标记数据对所述像素进行比对，在同一区域内，若标记的所述像素的所述标记数据相同且相邻两个区域内标记的所述像素的所述标记数据不相同，则所述线路无缺陷。

当待检测区域内所有的像素均标记完成后，对得到的标记数据进行分析。本揭示实施例中以亮区403为例进行说明。在同一亮区403内，当所检测的区域内标记的子像素的标记数据均相同时，说明该区域内成像的图像之间无差别，同时，在与该区域相邻的暗区402内的像素的标记数据不同，说明亮暗相间，即在该区域内设置的金属走线为完整连续的，金属线路不存在缺陷。

但是，如图5、图6所示，图5-图6为本揭示实施例提供的金属线路缺陷成像示意图。对该待检测区域内的金属布线成像完成后，对其成像的结果进行分析。以第i列亮区4031和第i+1列亮区403为例进行说明。取区域404内任一像素点D对应的标记数据，在统计第i列时，会统计到该像素点D，当在统计第i+1列时，由于区域D直接断开，因此，该像素点D仍旧会被统计到第i+1列中，即该像素点D会存在两个统计区域内。即表示所示像素点D对应的区域处对应的金属走线出现短路情况。

进一步的，如图6中所示，选取区域405，对该区域内的像素点F进行标记，标记完成后，对标记数据进行分析。此时，以每一行标记的像素为参考。对于第i列金属走线对应的第i亮区和第i+1列金属走线对应的第i+1列亮区，当金属走线完整无缺陷时，第i列和第i+1列金属走线对应的像素的标记数据应当完全相同。

但是，当金属走线出现断路时，如图中的区域405，此时，区域405内的子像素被标记成暗区内的数据，即该亮区对应的区域405内像素对应的标记数据与之前的亮区内的标记数据不同，此时，金属走线在第i列处出现断路的情况。

因此，本揭示实施例提供的线路缺陷的检测方法，通过将线路转化为像素单元，并根据像素单元对应的标记结果进行判断，检测方法简单高效并且检测的精度高，能将线路布线存在的缺陷直观的呈现出来，检测效果好，同时能够有效提升修补产能，提高良率。

以上对本揭示实施例所提供的一种显示面板的线路缺陷的检测方法进行了详细的介绍，以上实施例的说明只是用于帮助理解本揭示的技术方案及其核心思想；本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本揭示各实施例的技术方案的范围。