具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明中的术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”、“第三”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。本申请实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。此外，术语“包括”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。

请参阅图1和图2，图1是本发明一实施例中的老化测试设备的立体结构示意图，图2是图1中的老化测试设备的分解结构示意图。本发明提供一种老化测试设备100，老化测试设备100包括测试板10、老化柜20、承载台30以及勾料机构40(图3中示出)。待测元件12设于测试板10上；老化柜20用于对待测元件12进行老化检测；承载台30设于老化柜20的外部；勾料机构40设于老化柜20内，用于将置于承载台30上的测试板10拉入老化柜20内，或者将检测完成后的设有待测元件12的测试板10推出老化柜20，以用于对老化测试设备100自动上下料。

本发明实施例通过在老化柜20的外部设置承载台30，将设置有待测元件12的测试板10放置于承载台30上，并在老化柜20内设置勾料机构40，开始检测时，勾料机构40伸出老化柜20并将放置于承载台30上的测试板10自动拉入老化柜20内，老化柜20开始对待测元件12进行老化测试，当老化柜20对待测元件12检测完成后，勾料机构40将检测完成后的测试板10推出老化柜20，以便于进行下一次检测，如此，可以实现老化柜20的自动上下料，相比于人工搬运测试板10和待测元件12，不仅可以提升老化测试设备100的检测效率，而且可以避免测试板10跌落而造成测试板10和待测元件12发生损坏，或者出现误伤检测人员等安全事故，进而提升生产安全。

可选地，在一实施例中，承载台30可以是与老化柜20单独设置的，即，承载台30可以与老化柜20可拆卸连接，以便于为承载台30上料，并且便于将检测完成后的待测元件12运走。

具体地，在本实施例中，如图2所示，老化测试设备100包括推车50，推车50与老化柜20是分离的。在开始检测之前，可以将推车50推动至老化柜20的上料位置处，然后勾料机构40开始上料，在待测元件12检测完成后，勾料机构40将检测完成后的测试板10下料，然后推动推车50将检测完成后的测试板10运走。通过将推车50和老化柜20分离设置，可以便于将测试板10放置于推车50上，且也便于推动推车50以将检测完成后的测试板10运走，以便于更换新的待测元件12和测试板10。

进一步地，设于推车50上的承载台30的数量有多个，老化柜20内设有多个勾料机构40，承载台30和勾料机构40一一对应设置。通过在推车50上设置多个承载台30，并将每一承载台30对应一个勾料机构40设置，可以使得多个勾料机构40同时工作以对放置于多个承载台30上的多个测试板10同时进行上料或者下料，进而提升上下料的效率，并且，老化柜20也可以同时对多个测试板10上的待测元件12进行检测，由此可以提升老化测试设备100的检测效率。

例如，在本实施例中，设于推车50上的承载台30的数量有8个，8个承载台30沿竖直方向平行间隔设置，以降低老化柜20的占地面积。或者，在其它可选地实施例中，设于推车50上的承载台30的数量还可以有2个、3个、4个、5个、6个、7个、9个或者10个等，多个承载台30还可以沿水平方向平行间隔设置。承载台30的数量以及排列方式具体可以根据老化柜20的尺寸灵活进行设置，本发明实施例不做具体限定。

或者，在其它可选地实施例中，也可以将承载台30与老化柜20固定连接。即，将承载台30固定连接于老化柜20的外壳上，并与勾料机构40一一对应设置，本发明实施例不对承载台30和老化柜20的连接方式进行限定。

进一步地，在本实施例中，老化柜20和推车50上分别设有相互配合的磁吸件，磁吸件用于产生吸引作用力以将推车50与老化柜20保持固定。

具体地，如图2所示，在老化柜20上靠近推车50的位置处设置有电磁铁60，推车50可以采用金属或者合金材料制成。当推动推车50靠近老化柜20时，位于老化柜20上的电磁铁60通电，电磁铁60产生的磁性吸引作用力吸引推车50，以将推车50固定于老化柜20上，避免勾料机构40进行上下料的过程中，推车50相对老化柜20移动，以提升上下料过程的稳定性。当老化柜20检测完成后，可以对电磁铁60断电，电磁铁60的磁性吸引作用力消失，如此，可以轻易的将推车50和老化柜20分离，进而便于推动推车50移动。

可选地，可以在老化柜20上设置位置传感器62，位置传感器62用于检测推车50是否与老化柜20处于预设的相对位置处。当位置传感器62检测到推车50运动至老化柜20的指定位置处时，可以控制电磁铁60通电，以使得老化柜20自动与推车50固定连接，进而提升老化测试设备100的智能化程度并提升老化测试设备100的检测效率。

在另一实施例中，还可以在老化柜20或者推车50上设置永磁铁，以将推车50固定于老化柜20的外部。

在又一实施例中，还可以在老化柜20或者推车50上设置其它的锁定结构，以在推车50运动至老化柜20的指定位置处时，将推车50与老化柜20锁定，在需要推走推车50时，解除推车50与老化柜20的锁定，本发明实施例对锁定结构的具体设置形式不做具体限定。

进一步地，如图3和图4所示，图3是本发明一实施例中的老化测试设备的部分元件的立体结构示意图，图4是图3中的老化测试设备的部分元件的分解结构示意图。在本实施例中，勾料机构40包括第一驱动件41、第二驱动件42和取料件43。第一驱动件41用于驱动取料件43沿第一方向靠近或远离测试板10，第二驱动件42用于驱动取料件43沿第二方向勾取或者松开测试板10，其中，第一方向和第二方向相互垂直。

具体地，请参阅图2至图4，在本实施例中，第一方向为图3中所示的X方向，第二方向为图3中所示的Z方向，取料件43在测试板10的底部与测试板10配合实现勾取。第一驱动件41连接于第二驱动件42，用于驱动第二驱动件42沿图3中所示的X方向移动，第二驱动件42连接于取料件43，用于驱动取料件43沿图3中所示的Z方向移动。在需要取料时，第一驱动件41首先驱动第二驱动件42沿X方向移动以伸出老化柜20，并运动至承载台30的位置处，然后第二驱动件42驱动取料件43沿图3中所示的Z方向移动至与承载台30上的测试板10接触，以勾取测试板10，最后，第一驱动件41驱动第二驱动件42沿X方向的反方向移动以将勾取的测试板10拉入老化柜20内。在测试完成后，第一驱动件41首先驱动第二驱动件42沿X方向移动以将测试板10推出老化柜20并放置于承载台30上，然后第二驱动件42驱动取料件43沿图3中所示的Z方向的反方向移动至与承载台30上的测试板10解锁，以释放测试板10，最后，第一驱动件41驱动第二驱动件42沿X方向的反方向移动以复位。

或者，在另一实施例中，第一方向为图3中所示的X方向，第二方向为图3中所示的Z方向，取料件43在测试板10的顶部与测试板10配合实现勾取。此时，第一驱动件41和第二驱动件42的运动方式与上述实施例中的大致相同，请参照上述实施例的描述。通过将第二方向设置为竖直方向，可以将勾料机构40设置于测试板10的上方或者下方，以使得老化测试设备100的结构更加紧凑，缩小老化测试设备100的占地面积。

或者，在又一实施例中，第一驱动件41和第二驱动件42也可以反过来设置，即，可以设置第二驱动件42连接于第一驱动件41，并用于驱动第一驱动件41沿第一方向靠近或远离测试板10，第一驱动件41连接于取料件43并用于驱动取料件43沿第二方向勾取或者松开测试板10。

可选地，在本实施例中，第一驱动件41可以设置为马达模组，第二驱动件42可以设置为气缸，以使得取料件43的运动更加精确。或者，在其它可选地实施例中，第一驱动件41和第二驱动件42还可以设置为电机等直线运动模组，本发明实施例对第一驱动件41和第二驱动件42的具体结构不做限定。

进一步地，在本实施例中，如图3至图5所示，图5是图2中的推车以及设置于其上的部分元件的分解结构示意图。老化测试设备100包括托架70，托架70悬置于承载台30上，测试板10放置于托架70上，托架70上设有配合部72。取料件43上设有取料部432，取料部432与配合部72连接时，取料件43能够拉动托架70移动。

具体地，在本实施例中，推车50包括主体框架52和设置于主体框架52相对两侧的L形型材54。L形型材54包括垂直连接的第一板材542和第二板材544。其中，第一板材542与主体框架52连接，第二板材544向相互靠近的方向延伸，且位于同一水平面上，以形成底部镂空的承载台30。托架70的相对两侧边沿放置于两个第二板材544上，测试板10放置于托架70的背离第二板材544的一侧。采用L形型材54制作底部镂空的承载台30，不仅可以避让取料件43，便于取料件43与托架70配合连接，而且承载台30对托架70的移动具有导向的作用，可以使得托架70的移动方向更加准确，避免取料件43拉动托架70运动时发生偏转。

其中，在本实施例中，如图3和图4所示，取料件43包括连接部434和设置于连接部434上的取料部432。其中，连接部434用于与第二驱动件42连接，取料部432突出设置于连接部434的顶面。如图5所示，托架70上形成有多个贯穿托架70的通孔，通孔的形状与取料部432的形状相适配，当取料部432沿图5中所示的Z方向运动至插置于通孔内时，可以实现取料件43与托架70的锁定，便于取料件43拖动托架70和测试板10移动。当取料部432沿图5中所示的Z方向的反方向运动而移出通孔时，可以实现取料件43与托架70的解锁。

可选地，在本实施例中，通孔的形状可以呈矩形，取料部432的横截面也呈矩形，且取料部432的横截面的形状与通孔的形状相同，且取料部432的横截面尺寸略小于通孔的面积，如此，可以使得取料部432和托架70的连接更加稳定，避免取料件43拖动托架70的过程中，取料件43相对托架70晃动。或者，配合部72也可以不贯穿托架70，而仅设于托架70的底面上。通过在托架70上开设通孔可以便于对测试板10进行散热，并且也可以降低托架70的重量，以节约成本。

或者，在其它实施例中，还可以在托架70和取料件43上设置其它类型的配合结构，以实现托架70和取料件43的配合连接，本发明实施例不做具体限定。例如，可以在托架70和取料件43上分别设置电磁铁60，以通过电磁铁60的通电和断电实现托架70和取料件43的锁定或者解锁。

在又一实施例中，还可以设置第一方向为图3中所示的X方向，第二方向为图3中所示的Y方向，取料件43在测试板10的侧面与测试板10配合实现勾取。

具体地，第一驱动件41连接于第二驱动件42，用于驱动第二驱动件42沿图3中所示的X方向移动，第二驱动件42连接于取料件43，用于驱动取料件43沿图3中所示的Y方向移动。在需要取料时，第一驱动件41首先驱动第二驱动件42沿X方向移动以伸出老化柜20并运动至承载台30的位置处，然后第二驱动件42驱动取料件43沿图3中所示的Y方向移动至与承载台30上的测试板10接触，以勾取测试板10，最后，第一驱动件41驱动第二驱动件42沿X方向的反方向移动以将勾取的测试板10拉入老化柜20内。在测试完成后，第一驱动件41首先驱动第二驱动件42沿X方向移动以将测试板10推出老化柜20并放置于承载台30上，然后第二驱动件42驱动取料件43沿图3中所示的Y方向的反方向移动至与承载台30上的测试板10解锁，以释放测试板10，最后，第一驱动件41驱动第二驱动件42沿X方向的反方向移动以复位。

进一步地，如图3和图4所示，老化柜20内设有检测台80，勾料机构40将测试板10放置于检测台80上。

具体地，勾料机构40将托架70移动至老化柜20以后放置于检测台80上，以便于老化柜20对测试板10上的待测元件12进行检测。

可选地，如图3和图4所示，检测台80包括两个承载板82，承载板82的延伸方向为图4中所示的X方向，两个承载板82沿图中所示的Y方向平行间隔设置，以便于取料件43顺利的将托架70拉动至检测台80上。

可选地，在本实施例中，如图6和图7所示，图6是本发明一实施例中的老化测试设备中的部分元件的平面结构示意图，图7是图6中的部分元件的立体结构示意图。在本实施例中，老化测试设备100包括定位机构90，定位机构90用于对放置于检测台80上的测试板10进行定位。通过在老化柜20内设置定位机构90，可以使得每一测试板10上的待测元件12的位置固定，便于进行检测。

其中，在本实施例中，如图6和图7所示，定位机构90包括定位气缸92和挡板94，挡板94设于检测台80的一侧，定位气缸92设于检测台80的另一相对侧。

具体地，在本实施例中，挡板94和定位气缸92设于检测台80的沿Y方向的相对两侧，当取料件43沿X方向拖动托架70运动至检测台80上时，定位气缸92伸出以推动托架70向靠近挡板94的方向移动，并最终抵接于挡板94上，从而实现对托架70在Y方向上的定位，使得托架70处于预设位置处。

可选地，定位气缸92的数量可以为一个、两个或者三个等。例如，在一实施例中，定位气缸92的数量可以为一个，一个定位气缸92设于托架70的中心位置处，以避免定位气缸92推动托架70的过程中托架70发生歪斜。在本实施例中，定位气缸92的数量可以为两个，两个定位气缸92沿图7中所示的X方向间隔设置于托架70的一侧，以使得托架70沿X方向的相对两端受力均匀。或者，在又一实施例中，定位气缸92的数量可以为三个，三个定位气缸92沿图7中所示的X方向间隔设置于托架70的一侧，不仅可以使得托架70的受力均匀，而且可以缩小每一定位气缸92的作用力，保护定位气缸92。

或者，在另一实施例中，定位机构90可以包括至少两个定位气缸92，至少两个定位气缸92两两相对间隔设于检测台80的沿Y方向的相对两侧。具体地，在本实施例中，当取料件43沿X方向拖动托架70运动至检测台80上时，位于检测台80相对两侧的定位气缸92伸出以推动托架70向相互靠近的方向移动，进而对托架70进行Y方向的定位，使得托架70处于预设位置处。通过在托架70的相对两侧均设置用于抵接的定位气缸92，可以缩短定位机构90进行定位的时间，进而提升待测元件12的检测效率。

其中，在本实施例中，位于检测台80每一侧的定位气缸92的设置方式可以参照上述实施例中的描述，此处不再赘述。

进一步地，如图3和图4所示，在本实施例中，可以在承载板82的朝向托架70的表面上间隔设置两个止挡部84，两个止挡部84之间形成夹持间隙，托架70位于两个止挡部84之间。通过在承载板82上设置止挡部84，一方面可以对托架70进行X方向的定位，另一方面可以避免定位机构90对托架70进行Y方向定位的过程中，托架70发生歪斜而发生旋转。

进一步地，如图6和图7所示，老化测试设备100还包括推举机构110，推举机构110设于检测台80的下方，推举机构110用于推动测试板10沿图中所示的Z方向上升至预设位置处，并在待测元件12检测完成后将测试板10复位。

其中，推举机构110包括至少两个升降气缸112，至少两个升降气缸112设于两个承载板82的下方，用于推动承载板82上升或者下降。通过设置推举机构110推动承载板82上升或者下降，可以提升设置于承载板82上的测试板10升降的稳定性。

具体地，在本实施例中，升降气缸112的数量为四个，其中两个升降气缸112设于一个承载板82的相对两端，以用于共同推举一个承载板82进行升降运动。另外两个升降气缸112设于另一个承载板82的相对两端，以用于共同推举另一个承载板82进行升降运动。通过在每一个承载板82的下方设置两个升降气缸112，可以使得承载板82的相对两端受力均匀，进而使得托架70和测试板10升降的过程更加稳定。

或者，在另一实施例中，升降气缸112的数量还可以为两个，每一升降气缸112用于推动一个承载板82上升或者下降。

在其它可选地实施例中，升降气缸112的数量还可以为六个、八个或者十个等，具体可以根据承载板82以及托架70的大小进行设置，本发明实施例不做具体限定。

可选地，在又一实施例中，推举机构110可以与第二驱动件42复用，以利用第二驱动件42直接推举托架70和测试板10上升或者下降，进而简化老化测试设备100的结构，缩小老化测试设备100的体积。或者，推举机构110也可以和第二驱动件42分开设置，以简化老化测试设备100的控制方式。其中，推举机构110可以采用气缸、电机等，本发明实施例不做具体限定。

进一步地，如图6和图7所示，老化测试设备100包括多个温度探头120，多个温度探头120设于检测台80的上方，测试板10位于预设位置处时，每一温度探头120对应抵接于一个待测元件12。

具体地，在本实施例中，是通过采用单点接触式测量方式对待测元件12进行老化检测的。通过采用单点接触式测量方式进行检测，可以同时对多个待测元件12进行检测，且多个待测元件12的检测结果互不影响，如此，可以提升检测效率。

进一步地，如图7和图8所示，图8是图6中的老化测试设备的部分元件的俯视结构示意图。在测试板10上设有老化测试电路，待测元件12与老化测试电路电连接。老化测试设备100包括控制板130，控制板130上设有控制电路，测试板10位于预设位置处时，控制板130与测试板10对接，控制电路与老化测试电路电连接。

具体地，控制板130用于对测试板10进行供电，并且用于对待测元件12进行老化测试。当控制板130接收到测试信号后，将测试信号同时输入多个待测元件12以使多个待测元件12产生功耗，进而形成待测元件12测试所需的测试温度，从而对待测元件12进行高低温老化测试。如此，可以只对待测元件12进行高低温控制，而不会对设置于测试板10上的其他工作电路造成影响，从而避免其他工作电路在高低温的环境中出现故障影响测试结果。

其中，在一实施例中，控制板130可以固定设置于老化柜20内，测试板10在推举机构110的作用下上升至预设位置处时，与多个温度探头120接触，并与控制板130对接。

在本实施例中，如图7和图8所示，老化测试设备100包括平移组件140，平移组件140与控制板130连接，在测试板10位于预设位置处时，平移组件140驱动控制板130向靠近测试板10的方向移动并与控制板130对接，在待测元件12检测完成后，平移组件140驱动控制板130向远离测试板10的方向移动。

具体地，在本实施例中，控制板130位于老化柜20内，且设置于测试板10的背离推车50的一侧。平移组件140连接于控制板130，在需要对待测元件12进行检测时，平移组件140用于推动控制板130沿图中所示的X方向移动，以靠近测试板10，并与测试板10对接。在检测完成后，平移组件140用于推动控制板130沿图中所示的X方向的反方向移动，以远离测试板10。通过将平移组件140和控制板130设置于测试板10的背离推车50的一侧，可以避免平移组件140或者控制板130与勾料机构40以及定位机构90产生干涉，通过设置控制板130可以相对测试板10移动，可以避免推举机构110推动测试板10上升的过程中，与测试板10产生干涉，进而降低老化测试设备100出现故障的频率，使得老化测试设备100运行的更加稳定。

进一步地，本发明另一方面还提供一种老化检测方法，如图9所示，图9是本发明另一实施例中的老化检测方法的流程示意图。下面将结合附图1-8对本实施例中的老化检测方法进行详细的说明。具体地，老化检测方法包括以下步骤：

步骤S101：提供测试板10，测试板10上设置有待测元件12，将测试板10放置于承载台30上。

其中，测试板10上设置有老化测试电路，待测元件12设置于测试板10上，并与老化测试电路电连接。

步骤S102：控制勾料机构40将测试板10拉入老化柜20内。

其中，老化测试设备100控制勾料机构40伸出老化柜20，并勾取设置于承载台30上的测试板10，然后拖动测试板10向老化柜20内移动，以实现对老化柜20的自动上料。

步骤S103：控制控制板130与测试板10对接，并控制老化柜20对待测元件12进行老化检测。

具体地，老化测试设备100控制平移组件140驱动控制板130向靠近测试板10的方向移动，以使控制板130和测试板10对接，使得设置于控制板130上的控制电路与设置于测试板10上的老化测试电路电连接。当控制板130接收到老化柜20的测试信号后，将测试信号同时输入多个待测元件12以使多个待测元件12产生功耗，进而形成待测元件12测试所需的测试温度，从而对待测元件12进行高低温老化测试。

进一步地，如图10所示，图10是图9中的步骤S102的流程示意图。在本实施例中，控制勾料机构40将测试板10拉入老化柜20内的步骤具体为：

步骤S201：控制设有承载台30的推车50与老化柜20对接。

具体地，可以推动推车50向靠近老化柜20的方向移动，以使得设于老化柜20和推车50上的相互配合的磁吸件将推车50固定于老化柜20上，避免勾料机构40上料和下料的过程中推车50相对老化柜20移动。

步骤S202：控制勾料机构40伸出老化柜20并勾取测试板10。

具体地，在取料时，第一驱动件41首先驱动第二驱动件42沿X方向移动以伸出老化柜20并运动至承载台30的位置处，然后第二驱动件42驱动取料件43沿图3中所示的Z方向移动至与承载台30上的测试板10接触，并使得设于取料件43上的取料部432和设于托架70上的配合部72配合连接，以勾取测试板10。

步骤S203：控制勾料机构40复位并将测试板10放置于检测台80上。

具体地，在取料件43与托架70配合连接后，第一驱动件41驱动第二驱动件42沿X方向的反方向移动以将勾取的测试板10拉入老化柜20内，并将测试板10放置于检测台80上。

进一步地，如图11所示，图11是本发明另一实施例中的老化检测方法的流程示意图。本实施例中的老化检测方法包括以下步骤：

步骤S301：提供测试板10，测试板10上设置有待测元件12，将测试板10放置于承载台30上。

步骤S302：控制勾料机构40将测试板10拉入老化柜20内。

其中，本实施例中的步骤S301和S302分别与上述实施例中的步骤S101和S102相同，请参照上述实施例中的描述，此处不再赘述。

步骤S303：对测试板10进行定位。

具体地，定位机构90对设置于检测台80上的测试板10进行定位。其中，请参阅图12，图12是图11中的步骤S303的流程示意图。对测试板10进行定位包括以下步骤：

步骤S401：控制定位机构90沿测试板10的相对两侧对测试板10进行定位。

具体地，定位机构90设置于检测台80的沿Y方向的相对两侧，在勾料机构40将托架70移动至检测台80上时，定位机构90运动，以对托架70和位于托架70上的测试板10进行Y方向的定位，以使得测试板10与温度探头120对应设置。

步骤S402：控制推举机构110推动测试板10运动以使测试板10运动至预设位置处，其中，测试板10位于预设位置处时，温度探头120与设于测试板10上的待测元件12接触。

具体地，老化测试设备100控制推举机构110推动测试板10沿图中所示的Z方向上升，以使得测试板10上的待测元件12与温度探头120抵接，其中，温度探头120用于检测待测元件12的温度。

步骤S304：控制控制板130与测试板10对接，并控制老化柜20对待测元件12进行老化检测。

其中，本实施例中的步骤S304与上述实施例中的步骤S303相同，请参照上述实施例中的描述，此处不再赘述。

综上所述，本领域技术人员容易理解，本发明实施例通过在老化柜20的外部设置承载台30，将设置有待测元件12的测试板10放置于承载台30上，并在老化柜20内设置勾料机构40，开始检测时，勾料机构40伸出老化柜20并将放置于承载台30上的测试板10自动拉入老化柜20内，老化柜20开始对待测元件12进行老化测试，当老化柜20对待测元件12检测完成后，勾料机构40将检测完成后的测试板10推出老化柜20，以便于进行下一次检测，如此，可以实现老化柜20的自动上下料，相比于人工搬运测试板10和待测元件12，不仅可以提升老化测试设备100的检测效率，而且可以避免测试板10跌落而造成测试板10和待测元件12发生损坏，或者出现误伤检测人员等安全事故，进而提升生产安全。

以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其它相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。