阅读说明：本技术 存储器定期进行bist测试的方法、装置、计算机设备及存储介质 (Method and device for periodically performing BIST test on memory, computer equipment and storage medium ) 是由 王宏伟 张鹏 李湘锦 李华东 于 2020-03-26 设计创作，主要内容包括：本发明涉及存储器定期进行BIST测试的方法、装置、计算机设备及存储介质；其中,方法,包括：对存储器进行预设检测时间周期载入；判断是否到达存储器的检测时间周期；若到达,则启动系统内部BIST对存储器的电路进行检测；判断是否检测到存储器的电路错误；若未检测到,则反馈存储器正常,系统正常工作运行；若检测到,则对存储器进行错误标示。本发明通过在系统中预设BIST电路,周期性在系统上电后测试内部存储器是否正常工作,可以判断和保证存储器电路的性能安全,以保证该存储器在整个生命周期内工作的功能安全,且检测完成时间短、效率高。(The invention relates to a method, a device, computer equipment and a storage medium for periodically carrying out BIST test on a memory; the method comprises the following steps: loading a memory for a preset detection time period; judging whether the detection time period of the memory is reached; if the current time reaches the preset time, starting the BIST in the system to detect the circuit of the memory; judging whether a circuit error of the memory is detected; if not, the feedback memory is normal, and the system works normally; and if so, carrying out error marking on the memory. The invention can test whether the internal memory works normally or not after the system is electrified periodically by presetting the BIST circuit in the system, can judge and ensure the performance safety of the memory circuit so as to ensure the function safety of the memory working in the whole life cycle, and has short detection completion time and high efficiency.)

存储器定期进行BIST测试的方法、装置、计算机设备及存储 介质

技术领域

本发明涉及存储器测试技术领域，更具体地说是指存储器定期进行BIST测试的方法、装置、计算机设备及存储介质。

背景技术

产品的板级应用中，芯片在使用时间比较久的情况下，芯片内部的存储器(RAM)单元会出现电路失效(Failure)的情况，造成芯片的功能安全受到损害，引起数据丢失、甚至芯片不能正常工作的情况。

现有常规方法是在芯片出厂后，在测试机上进行存储单元的一次性BIST测试，经筛选后的良片用于产品上，板级工作后再没有安排相关电路的检测，也就是说，如果板级应用情况下芯片出问题是无法进行预知的。但在芯片的板级应用过程中，随着工作时间的推移，存储单元会出现老化而引起芯片失效的情况，统计数据表明，这部分电路发生失效的概率是其他电路发生失效概率的数倍；因此，现有的测试，无法满足需求。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的缺陷，提供存储器定期进行BIST测试的方法、装置、计算机设备及存储介质。

为实现上述目的，本发明采用于下技术方案：

存储器定期进行BIST测试的方法，包括以下步骤：

对存储器进行预设检测时间周期载入；

判断是否到达存储器的检测时间周期；

若到达，则启动系统内部BIST对存储器的电路进行检测；

判断是否检测到存储器的电路错误；

若未检测到，则反馈存储器正常，系统正常工作运行；

若检测到，则对存储器进行错误标示。

其进一步技术方案为：所述“对存储器进行预设检测时间周期载入”步骤中的预设检测时间周期为1-90天。

其进一步技术方案为：所述“判断是否到达存储器的检测时间周期”步骤中，通过在存储器内置计数器，计数器对存储器的检测时间周期进行判断。

其进一步技术方案为：所述“若存在错误，则对存储器进行错误标示”步骤中，还包括：对标示错误的存储器进行报修或停用。

存储器定期进行BIST测试的装置，包括：载入单元，第一判断单元，检测单元，第二判断单元，反馈运行单元，及标示单元；

所述载入单元，用于对存储器进行预设检测时间周期载入；

所述第一判断单元，用于判断是否到达存储器的检测时间周期；

所述检测单元，用于启动系统内部BIST对存储器的电路进行检测；

所述第二判断单元，用于判断是否检测到存储器的电路错误；

所述反馈运行单元，用于反馈存储器正常，系统正常工作运行；

所述标示单元，用于对存储器进行错误标示。

其进一步技术方案为：所述载入单元中的预设检测时间周期为1-90天。

其进一步技术方案为：所述第一判断单元中，通过在存储器内置计数器，计数器对存储器的检测时间周期进行判断。

其进一步技术方案为：所述标示单元中，还包括：对标示错误的存储器进行报修或停用。

一种计算机设备，所述计算机设备包括存储器及处理器，所述存储器上存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上述所述的存储器定期进行BIST测试的方法。

一种存储介质，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，所述程序指令当被处理器执行时可实现如上述所述的存储器定期进行BIST测试的方法。

本发明与现有技术相比的有益效果是：通过在系统中预设内建自测试(BIST)电路，周期性在系统上电后测试内部存储器是否正常工作，可以判断和保证存储器电路的性能安全，以保证该存储器在整个生命周期内工作的功能安全，且检测完成时间短、效率高，能够更好地满足需求。

下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步描述。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的存储器定期进行BIST测试的方法的流程示意图；

图2为本发明实施例提供的存储器定期进行BIST测试的方法的应用场景示意图；

图3为本发明实施例提供的存储器定期进行BIST测试的装置的示意性框图；

图4为本发明实施例提供的计算机设备的示意性框图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

应当理解，当在本说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”和“包含”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。

还应当理解，在此本发明说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本发明。如在本发明说明书和所附权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。

还应当进一步理解，在本发明说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。

请参阅图1到图4所示的具体实施例，其中，请参阅图1至图2所示，本发明公开了一种存储器定期进行BIST测试的方法，包括以下步骤：

S1，对存储器进行预设检测时间周期载入；

其中，在S1之前，还包括：系统上电启动，工作运行。所述预设检测时间周期为1-90天，可以根据实际需要，进行检测时间周期设置。

S2，判断是否到达存储器的检测时间周期；若未到达，则进入S7，系统正常工作运行；

其中，通过在存储器内置计数器，通过计数器对存储器的检测时间周期进行判断；在本实施例中，计数器为看门狗(Watch-Dog)计数器。

S3，若到达，则启动系统内部BIST对存储器的电路进行检测；

其中，BIST是在设计时在电路中植入相关功能电路用于提供自我测试功能的技术，以此降低器件测试对自动测试设备(ATE)的依赖程度，在本实施例中，在系统中预设内建自测试(BIST)电路。

S4，判断是否检测到存储器的电路错误；

其中，在本实施例中，假如存储器的数量为100个，根据实际需要，对100个存储器进行其中的若干或全部检测。

S5，若未检测到，则反馈存储器正常，系统正常工作运行；

S6，若检测到，则对存储器进行错误标示；

其中，还包括：对标示错误的存储器进行报修或停用。

S7，系统正常工作运行。

如图2所示，本发明通过在芯片内部设置一个看门狗(Watch-Dog)计数器，来判断用户自定义的周期测试的时间是否满足；如果满足周期测试时间，则产生信号为“1”的启动信号，进行板级存储器(RAM)BIST自测试，用以确保芯片的内置存储器RAM的功能安全，且测试模式控制(Test Control)的输出信号用于ATE测试的启动信号，在板级应用情况下为常“0”状态。

本发明在系统上电后，对芯片提前预设的检测时间进行载入，并判断是否到达存储器的检测时间周期，若是，就启动内建自测试(BIST)进行芯片内部若干或全部的RAM(存储器)单元的电路检查，从而判断芯片内部的存储单元(RAM)是否出现功能失效(Failure),以保证该芯片在整个生命周期(Life-Cycle)内工作的功能安全。

其中，本发明借助机台测试模式下芯片已有的BIST逻辑，在开机状态下定期进行内嵌存储器单元的内建自测试检查，以确保电路在板级应用过程中内嵌存储单元的功能安全。在板级即可实现，满足条件时上电后即可进行芯片的自建内测试，完成时间短、效率高；自测试的配置时间可根据需要灵活配置，实现方法简单；复用机台测试已有的BIST逻辑，物理实现的面积开销不大；保证板级应用过程中的芯片功能安全。

本发明初步应用于SSD控制电路的相关芯片上，以保证内置RAM单元在板级应用状态下的功能安全，从而保证固态硬盘数据的写入/读出的可靠性；否则控制电路的失效会导致硬盘数据的不正确，因此应用过程中时刻保证控制芯片的正常工非常重要，作为本应用的拓展，还可用于任何芯片内嵌的存储器单元的周期化测试，用于保证内部存储单元的工作正常。

本发明通过在系统中预设内建自测试(BIST)电路，周期性在系统上电后测试内部存储器是否正常工作，可以判断和保证存储器电路的性能安全，以保证该存储器在整个生命周期内工作的功能安全，且检测完成时间短、效率高，能够更好地满足需求。

请参阅图3所示，本发明还公开了一种存储器定期进行BIST测试的装置，包括：载入单元10，第一判断单元20，检测单元30，第二判断单元40，反馈运行单元50，及标示单元60；

所述载入单元10，用于对存储器进行预设检测时间周期载入；

所述第一判断单元20，用于判断是否到达存储器的检测时间周期；

所述检测单元30，用于启动系统内部BIST对存储器的电路进行检测；

所述第二判断单元40，用于判断是否检测到存储器的电路错误；

所述反馈运行单元50，用于反馈存储器正常，系统正常工作运行；

所述标示单元60，用于对存储器进行错误标示。

其中，所述载入单元10中的预设检测时间周期为1-90天。

其中，所述第一判断单元20中，通过在存储器内置计数器，计数器对存储器的检测时间周期进行判断。

其中，所述标示单元60中，还包括：对标示错误的存储器进行报修或停用。

需要说明的是，所属领域的技术人员可以清楚地了解到，上述存储器定期进行BIST测试的装置和各单元的具体实现过程，可以参考前述方法实施例中的相应描述，为了描述的方便和简洁，在此不再赘述。

上述存储器定期进行BIST测试的装置可以实现为一种计算机程序的形式，该计算机程序可以在如图4所示的计算机设备上运行。

请参阅图4，图4是本申请实施例提供的一种计算机设备的示意性框图；该计算机设备500可以是终端，也可以是服务器，其中，终端可以是智能手机、平板电脑、笔记本电脑、台式电脑、个人数字助理和穿戴式设备等具有通信功能的电子设备。服务器可以是独立的服务器，也可以是多个服务器组成的服务器集群。

参阅图4，该计算机设备500包括通过系统总线501连接的处理器502、存储器和网络接口505，其中，存储器可以包括非易失性存储介质503和内存储器504。

该非易失性存储介质503可存储操作系统5031和计算机程序5032。该计算机程序5032包括程序指令，该程序指令被执行时，可使得处理器502执行一种存储器定期进行BIST测试的方法。

该处理器502用于提供计算和控制能力，以支撑整个计算机设备500的运行。

该内存储器504为非易失性存储介质503中的计算机程序5032的运行提供环境，该计算机程序5032被处理器502执行时，可使得处理器502执行一种存储器定期进行BIST测试的方法。

该网络接口505用于与其它设备进行网络通信。本领域技术人员可以理解，图4中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备500的限定，具体的计算机设备500可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。

应当理解，在本申请实施例中，处理器502可以是中央处理单元(CentralProcessing Unit，CPU)，该处理器502还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(DigitalSignal Processor，DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、现成可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。其中，通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。

本领域普通技术人员可以理解的是实现上述实施例的方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成。该计算机程序包括程序指令，计算机程序可存储于一存储介质中，该存储介质为计算机可读存储介质。该程序指令被该计算机系统中的至少一个处理器执行，以实现上述方法的实施例的流程步骤。

因此，本发明还提供一种存储介质。该存储介质可以为计算机可读存储介质。该存储介质存储有计算机程序，其中计算机程序包括程序指令，所述程序指令当被处理器执行时可实现上述的存储器定期进行BIST测试的方法。

所述存储介质可以是U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-Only Memory，ROM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的计算机可读存储介质。

本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。

在本发明所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的。例如，各个单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式。例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。

本发明实施例方法中的步骤可以根据实际需要进行顺序调整、合并和删减。本发明实施例装置中的单元可以根据实际需要进行合并、划分和删减。另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以是两个或两个以上单元集成在一个单元中。

该集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分，或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，终端，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。

上述仅以实施例来进一步说明本发明的技术内容，以便于读者更容易理解，但不代表本发明的实施方式仅限于此，任何依本发明所做的技术延伸或再创造，均受本发明的保护。本发明的保护范围以权利要求书为准。