具体实施方式

现在结合附图对本发明作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图，仅以示意方式说明本发明的基本结构，因此其仅显示与本发明有关的构成。

如图1所示，任意波形产生器验证平台1，用于检测一待测物16，包含一主机10、一波形资料库13、一任意波形产生器14、一测试环境15以及一示波器17。主机10用于根据一指令CMD，产生第一控制讯号AWG_CTR、第二控制讯号COB_CTR和第三控制讯号OSC_CTR。任意波形产生器14耦接于主机10，用于根据第一控制讯号AWG_CTR，产生多个输入波形W_IN。测试环境15耦接于任意波形产生器14和主机10，用于接收多个输入波形W_IN和第二控制讯号COB_CTR。待测物16安装于测试环境15中，用于根据多个输入波形W_IN和第二控制讯号COB_CTR，产生多个输出波形W_OUT。示波器17耦接于测试环境15和主机10，用于根据第三控制讯号OSC_CTR，测量多个输出波形W_OUT。波形资料库13耦接于主机10，用于储存多个输出波形W_OUT。主机10包含一用户界面11以及一处理器12。用户界面11用于接收指令CMD和至少一配置参数CONF。处理器12耦接于用户界面11、波形资料库13、任意波形产生器14、测试环境15和示波器17，用于执行主机10的操作。在一实施例中，波形资料库13可以是整合在主机10内的记忆体。在一实施例中，用户界面11可以是电脑的周边输入输出界面，例如但不限于一萤幕、一键盘、一滑鼠中的至少一者。

在一实施例中，测试环境15是一板上晶片（Chip On Board，COB）环境，且待测物16是一晶片或一集成电路（Integrated Circuit，IC）。待测物16例如但不限于是用于显示装置的驱动晶片，且板上晶片环境用于模拟该显示装置的环境。

在一实施例中，主机10还用于根据至少一配置参数CONF，产生第一控制讯号AWG_CTR；任意波形产生器14还用于根据第一控制讯号AWG_CTR，产生对应于至少一配置参数CONF的多个测试波形W_TEST；示波器17还用于测量多个测试波形W_TEST；以及波形资料库13还用于储存至少一配置参数CONF和多个测试波形W_TEST。通过上述操作，任意波形产生器验证平台1可在波形资料库13中建立并储存具有任意波形的多个测试波形W_TEST，IC设计者可透过用户界面11输入至少一配置参数CONF，以获取波形资料库13储存的具有任意波形的多个测试波形W_TEST，以供IC设计者进行研究与开发IC。

如图2所示，在本实施例中，至少一配置参数CONF包含一模式、一格式、一振幅、一直流补偿值和一差分补偿值中的至少一者，用于指示任意波形产生器14的多个输出波形（即图1的测试波形W_TEST或输入波形W_IN）中的一者的一配置电压。在本实施例中，至少一配置参数CONF包含一微调延迟（Fine Delay）、一进程延迟（Course Delay）、一载波尺度（Carrier Scale）、一取样率、一基础频带取样率和一载波频率中的至少一者，用于指示任意波形产生器14的多个输出波形中的一者的一配置时序。

在实际应用中，IC设计者可通过用户界面11（绘于图1）来设定至少一配置参数CONF，也就是设定任意波形产生器14的输出通道的输出波形（即图1的测试波形W_TEST或输入波形W_IN）。举例来说， IC设计者可通过用户界面11来设定电压相关的配置参数CONF：模式为14位元，格式为不归零（Non Return to Zero，NRZ）或归零（Return to Zero，RZ），振幅为300.0毫伏特（mV），电压补偿值为500.0毫伏特，差分补偿值为0伏特，使用原始值（Direct）或内差值（Interpolation），终端电压为0伏特，选择交流放大器AC输出、直流放大器DC输出或短路输出。IC设计者可透过用户界面11来设定时序相关的配置参数CONF：微调延迟为0皮秒（picosecond）、进程延迟0皮秒、载波尺度为1、取样率为每秒8千兆取样（GSa/s）、基础频带取样率为每秒8千兆取样和载波频率为2千兆赫兹（GHz）。并且，IC设计者可透过用户界面11来选择由任意波形产生器14包含的输出通道一AMP_O1、输出通道二AMP_O2、输出通道三DIR_O1和输出通道四DIR_O2中的一者来输出设定好的输出波形（即图1的测试波形W_TEST或输入波形W_IN）。

以用于显示装置的驱动IC为例，IC设计者可通过用户界面11来设定共模电压（Common Mode Voltage，VCM）大小、输入差分电压（Voltage of Input DifferentialSignals，VID）大小、高速讯号的展频比例、符号间干扰（Inter Symbol Interference，ISI）等。如此一来，任意波形产生器14可产生驱动IC在显示装置中遭遇到的任意波形，借此模拟显示装置中的环境。

如图3所示，在本实施例中，波形资料库13还用于将多个测试波形W_TEST储存为多个模拟波形W_SIM。在一实施例中，波形资料库13将多个模拟波形W_SIM储存为逗号分隔值（Comma-Separated Values，CSV）档案。

在实际应用中，IC设计者可透过用户界面11（绘于图1）来将类比形式的多个测试波形W_TEST转换为数位形式的多个模拟波形W_SIM，并将以储存。如图3所示，IC设计者可通过用户界面11来设定档案格式为CSV，设定档案路径为「C:\Users\Test1.csv」，接着选择「储存至档案」按键，以储存模拟波形W_SIM。

在一实施例中，主机10还用于根据至少一配置参数CONF，从波形资料库13获取多个模拟波形W_SIM。主机10还用于输入多个模拟波形W_SIM到一模拟电路IC_SIM，以产生一模拟结果RST_SIM。以及波形资料库13还用于储存模拟电路IC_SIM和模拟结果RST_SIM。如图3所示，若模拟波形W_SIM已经存在波形资料库13，IC设计者可透过用户界面11来浏览波形资料库13，选择档案路径为「C:\Users\Test1.csv」的模拟波形W_SIM，接着选择「传送到仪器」按键，以将模拟波形W_SIM汇入到模拟电路IC_SIM。在一实施例中，IC设计者可通过用户界面11来选择「传送到仪器」按键，以将模拟波形W_SIM汇入到测试环境15和待测物16，借此模拟显示装置中的环境和驱动IC的操作。

如图4所示，主机10还用于：根据至少一配置参数CONF，从波形资料库13获取多个模拟波形W_SIM和模拟结果RST_SIM；输入多个模拟波形W_SIM到测试环境15；控制待测物16根据多个模拟波形W_SIM，产生多个输出波形W_OUT；控制示波器17分别测量多个输出波形W_OUT；以及根据模拟结果RST_SIM，验证多个输出波形W_OUT，以产生一验证结果RST。如图4所示，示波器17所测量的波形（输入波形W_IN或输出波形W_OUT）并非理论上的方波，如此较接近驱动IC在显示装置的现实环境遭遇到的输入波形W_IN或驱动IC实际产生的输出波形W_OUT；再者，IC设计者可观察示波器17所测量的眼图，判断输入波形W_IN或输出波形W_OUT是否符合预期规格，进而判断是否须修正IC设计或是提供修改建议给显示装置的设计者。

简而言之，根据图1到图4的实施例，任意波形产生器验证平台1可实现：（1）建立波形资料库；（2）建立模拟电路和模拟结果；以及（3）验证模拟结果等目的。首先，建立波形资料库13的用意在于，提供近似存在于真实环境的多个输入波形W_IN和多个模拟波形W_SIM，借此模拟显示装置的真实环境。其次，建立模拟电路IC_SIM和模拟结果RST_SIM的用意在于，提供IC设计者进行故障分析与改善设计的材料，借此针对驱动IC表现不如预期、相容性不佳的问题提出解决方案与建议。最后，验证模拟结果RST_SIM的目的在于，确认驱动IC表现符合预期并可确实解决相容性不佳的问题；也就是说，若模拟结果RST_SIM可被重复验证，则可合理推论显示装置和驱动IC的系统故障（Systematic Failure）已确实解决，借此排除半导体制程变异造成的个体故障（Individual Failure）。

如图5所示，建立波形资料库流程包含以下步骤。

步骤51：连线到任意波形产生器、测试环境、示波器。

步骤52：控制任意波形产生器产生多个测试波形。

步骤53：控制示波器分别测量多个测试波形。

步骤54：储存多个测试波形，以建立波形资料库。

在步骤51，主机10用于连线到任意波形产生器14、测试环境15和示波器17。在步骤52，主机10用于控制任意波形产生器14产生多个测试波形W_TEST。在步骤53，主机10用于控制示波器17分别测量多个测试波形W_TEST。在步骤54，主机10用于储存多个测试波形W_TEST，以建立波形资料库13。在一实施例中，在步骤51和52之间，任意波形产生器14用于传送一第一连接代码到主机10，以确认连线成功；测试环境15用于传送一第二连接代码到主机10，以确认连线成功；以及示波器17用于传送一第三连接代码到主机10，以确认连线成功。因此，通过图5的流程，可实现建立波形资料库的目的。

如图6所示，建立模拟电路和模拟结果流程包含以下步骤。

步骤61：根据至少一配置参数，从波形资料库获取多个模拟波形。

步骤62：输入多个模拟波形到模拟电路，以产生模拟结果。

步骤63：判断模拟结果是否符合预期，若否，进行步骤64；若是，进行步骤65。

步骤64：调整至少一配置参数和模拟电路中的至少一者。

步骤65：储存至少一配置参数、多个模拟波形、模拟电路和模拟结果。

在步骤61，主机10用于根据至少一配置参数CONF，从波形资料库13获取多个模拟波形W_SIM。在步骤62，主机10用于输入多个模拟波形W_SIM到模拟电路IC_SIM，以产生模拟结果RST_SIM。在步骤64，当模拟结果RST_SIM不符预期时，主机10用于调整至少一配置参数CONF和模拟电路IC_SIM中的至少一者。在步骤65，当模拟结果RST_SIM符合预期时，主机10用于储存至少一配置参数CONF、多个模拟波形W_SIM、模拟电路IC_SIM和模拟结果RST_SIM。因此，通过图6的流程，可实现建立模拟电路和模拟结果的目的。

如图7所示，验证模拟结果流程包含以下步骤。

步骤71：根据至少一配置参数，从波形资料库获取多个模拟波形并输入到测试环境。

步骤72：控制待测物根据多个模拟波形，产生多个输出波形。

步骤73：控制示波器分别测量多个输出波形。

步骤74：根据模拟结果，验证多个输出波形，以产生验证结果。

在步骤71，主机10用于根据至少一配置参数CONF，从波形资料库13获取多个模拟波形W_SIM并输入到测试环境15。在步骤72，主机10用于控制待测物16根据多个模拟波形W_SIM，产生多个输出波形W_OUT。在步骤73，主机10用于控制示波器17分别测量多个输出波形W_OUT。在步骤74，主机10用于根据模拟结果RST_SIM，验证多个输出波形W_OUT，以产生验证结果RST。因此，通过图7的流程，可实现验证模拟结果的目的。

如图8所示，应用工程（Application Engineering，AE）是针对电路装置和IC的开发、测试与应用于实现相关的软件程式、应用工具等，为的是协助开发人员和使用者来操作电路装置、IC和相关测试仪器并了解其操作状态；例如应用工程可实现本发明的AWG验证平台。故障分析（Failure Analysis）是针对电路装置和IC表现不如预期的根本原因进行分析，为的是理清楚IC故障是因为电路装置环境中的影响因素、IC本身的设计缺陷、半导体制程变异或是上述组合。研究与开发（Research and Development）是针对任何可能的市场需求来设计并改良电路装置和IC。

在实际应用中，当IC出货给下游系统商进行系统整合时，很可能会发生IC表现不如预期的问题，因此IC设计商会指派相关人员到现场进行初步的故障分析与除错（Debug），并收集测试数据。接着，收集到的测试数据可汇入AWG验证平台，以供研究与开发人员进行验证。通过本发明的AWG验证平台，可在IC设计商的实验室复制系统商的环境，进行IC的故障分析，进而针对IC表现不如预期、相容性不佳的问题提出解决方案与建议。进一步地，通过本发明的AWG验证平台，可验证IC表现符合预期并可确实解决相容性不佳的问题；也就是说，若电路装置和IC表现可被重复验证，则可合理推论电路装置和IC的系统故障已确实解决，借此排除半导体制程变异造成的个体故障并降低量产风险。因此，本发明的AWG验证平台可形成AE-FA-RD的循环，协助IC设计商进行产品研发与改进，以加速研发效率、提高验证一致性并降低量产风险。

综上所述，本发明的任意波形产生器验证平台可实现：（1）建立波形资料库；（2）建立模拟电路和模拟结果；以及（3）验证模拟结果等目的。首先，建立波形资料库的用意在于，提供近似存在于真实环境的多个输入波形和多个模拟波形，借此模拟显示装置的真实环境。其次，建立模拟电路和模拟结果的用意在于，提供IC设计者进行故障分析与改善设计的材料，借此针对驱动IC表现不如预期、相容性不佳的问题提出解决方案与建议。最后，验证模拟结果的目的在于，确认驱动IC表现符合预期并可确实解决相容性不佳的问题。

以上述依据本发明的理想实施例为启示，通过上述的说明内容，相关工作人员完全可以在不偏离本项发明技术思想的范围内，进行多样的变更以及修改。本项发明的技术性范围并不局限于说明书上的内容，必须要如权利要求范围来确定其技术性范围。