一种基于半导体测试机的数据处理系统及方法
阅读说明：本技术 一种基于半导体测试机的数据处理系统及方法 (Data processing system and method based on semiconductor testing machine ) 是由 黄健 于 2020-11-13 设计创作，主要内容包括：本发明公开一种基于半导体测试机的数据处理系统及方法,属于数据处理领域。将各个芯片厂家仿码位流文件转化为测试机的专用测试码,并且在测试完成后,进行对批次芯片测试数据分析,解决了线下烧写的限制,并对批次电路数据进行分析,更好的将其进行分类；解决了主流厂家位流仿码适用于测试机台的问题,减少测试分析程中的人工操作,提高了生产效率。(The invention discloses a data processing system and method based on a semiconductor testing machine, and belongs to the field of data processing. The code-copying bit stream file of each chip manufacturer is converted into a special test code of a testing machine, and after the test is finished, the test data of the batch chips are analyzed, so that the limitation of off-line programming is solved, the batch circuit data are analyzed, and the batch circuit data are better classified; the problem that the bit stream imitation codes of mainstream manufacturers are suitable for a test machine is solved, manual operation in a test analysis process is reduced, and production efficiency is improved.)
技术领域
本发明涉及数据处理技术领域，特别涉及一种基于半导体测试机的数据处理系统及方法。
背景技术
半导体测试机提供工程师所需要的功率和精度，以及测试速度和覆盖范围，以便为数字/混合信号市场提供广泛的测试需求。其中包括最复杂和高价值半导体的数字设备到移动设备和游戏机核心的混合信号SoC器件、千万门级FPGA/CPLD器件。
常规的半导体测试数据处理是将半导体芯片测试完后，人工分拣出对应测试项的数据，主要利用Excel等软件生成对应的表格信息，然后再通过表格数据分析，从而判断批次芯片好坏，并且生成所需要的测试项相关变化量和正太分布图。但是，常规的测试数据分析摆脱不了繁琐的人工操作，在数据分析过程中花费大量的生产时间，而且测试机台不止一个，使得测试数据分析复杂且测试成本高，导致生产效率偏低。同时对于FPGA/CPLD芯片，各个芯片厂家仿码软件不同，生成的二进制位流无法适用于测试机台，工程师需要手工翻译成测试机台专用的测试码，极大的延长了开发周期。
发明内容
本发明的目的在于提供一种基于半导体测试机的数据处理系统及方法，以解决常规测试数据分析花费时间久、成本高、效率偏低的问题。
为解决上述技术问题，本发明提供了一种基于半导体测试机的数据处理系统，包括：
转码模块，将位流文件转为专用二进制码形成的测试码文件；
测试机台，通过测试机台程序调用测试码文件对芯片进行在线配置烧写，并生成对应的功能码进行测试；
数据分析模块，对批次的电路测试的数据进行分析，从而判断电路问题。
可选的，所述基于半导体测试机的数据处理系统还包括测试板，用于芯片与测试机台的硬件连接，从而获得硬件保证。
可选的，所述测试码文件中，每一行是一个周期的电平变换，由二进制数0、1组成的测试码，符合IEEE1149.1设计规则。
可选的，所述位流文件转是由各个FPGA/CPLD厂商的官方开发软件综合仿真自动生成。
本发明还提供了一种基于半导体测试机的数据处理方法，包括：
焊接测试板，连接测试板和测试机台；
对ATP、RBT或PCF文件进行转码，生成测试配置码；
测试机台将测试配置码通过JTAG接口或者从并端口在线配置芯片功能；
测试机台对测试芯片输入相应功能的信号进行验证；
通过综合软件生成的仿真信息，写出或自动生成二进制功能测试码，对比功能测试码和实际输出是否一致，进而对芯片进行功能验证及性能测试。
可选的，对芯片进行功能验证及性能测试之后，所述基于半导体测试机的数据处理方法还包括：
将数据导入数据处理软件，对数据进行正太分布分析，并使用聚类算法对批次电路进行分类，以便对封装工艺进行分析。
在本发明提供的基于半导体测试机的数据处理系统及方法中，将各个芯片厂家仿码位流文件转化为测试机的专用测试码，并且在测试完成后，进行对批次芯片测试数据分析，解决了线下烧写的限制，并对批次电路数据进行分析，更好的将其进行分类；解决了主流厂家位流仿码适用于测试机台的问题，减少测试分析程中的人工操作，提高了生产效率。
附图说明
图1是基于半导体测试机的数据处理系统结构原理框图；
图2是转码模块将FPGA/CPLD芯片进行位流转换为测试码的流程示意图；
图3是数据分析模块的工作流程示意图；
图4是基于半导体测试机的数据处理方法的流程示意图。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施例对本发明提出的一种基于半导体测试机的数据处理系统及方法作进一步详细说明。根据下面说明和权利要求书，本发明的优点和特征将更清楚。需说明的是，附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比例，仅用以方便、明晰地辅助说明本发明实施例的目的。
实施例一
本发明提供了一种基于半导体测试机的数据处理系统，用于对FPGA/CPLD芯片进行功能/性能测试，如图1所示，包括转码模块、数据分析模块、测试机台、测试板、测试机台程序、测试码文件，其中：
所述测试码文件是FPGA/CPLD厂家提供的位流码转为测试机台的专用二进制码，在测试码文件中，每一行是一个周期的电平变换，由二进制数0、1组成的测试码。位流码由各个FPGA/CPLD厂商的官方开发软件综合仿真自动生成。
如图2所示，转码模块将FPGA/CPLD芯片进行位流转换为测试码，能符合IEEE1149.1设计规则，将位流RBT文件或者位流PCF文件转换为AVC文件，对于测试机台的兼容性问题，也对其进行处理，主要针对ULTRA FLEX机台转V93000机台，将测试码ATP文件（向量格式）转换为AVC文件。所述数据分析模块如图3所示，主要负责批次电路测试数据的分析，从而判断批次电路问题。
所述测试机台通过测试机台程序调用AVC文件对FPGA/CPLD芯片进行在线配置烧写，通过配置文件生成对应的功能码进行测试。
所述测试板和测试机为方法的硬件组成部分，测试板用于芯片与测试机台的硬件连接，从而获得硬件保证。
实施例二
本发明还提供了一种基于半导体测试机的数据处理方法，能实现FPGA/CPLD芯片的功能验证及性能测试和数据分析，其流程如图4所示，包括如下步骤：
焊接测试板，连接测试板和测试机台；
对ATP、RBT或PCF文件进行转码，生成测试配置码；
测试机台将测试配置码通过JTAG接口或者从并端口在线配置芯片功能；
测试机台对测试芯片输入相应功能的信号进行验证；
通过综合软件生成的仿真信息，写出或自动生成二进制功能测试码，对比功能测试码和实际输出是否一致，进而对芯片进行功能验证及性能测试；若功能验证和性能测试中只要有一个不一致，则表明芯片失效；
否则，即表明芯片测试通过，将数据导入数据分析模块，对数据进行正太分布分析，并使用聚类算法对批次电路进行分类，以便对封装工艺进行分析。
上述描述仅是对本发明较佳实施例的描述，并非对本发明范围的任何限定，本发明领域的普通技术人员根据上述揭示内容做的任何变更、修饰，均属于权利要求书的保护范围。
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