一种相控阵雷达驱动控制电路内嵌eeprom存储器自动化测试装置
阅读说明：本技术 一种相控阵雷达驱动控制电路内嵌eeprom存储器自动化测试装置 (Automatic testing device for embedded EEPROM (electrically erasable programmable read-Only memory) of phased array radar drive control circuit ) 是由 张鹏伟 邬君 王恪良 邵昕 赵康 姚永昶 于 2020-12-09 设计创作，主要内容包括：本发明提供了一种相控阵雷达驱动控制电路内嵌EEPROM存储器自动化测试装置,包括：主控处理器、按键启动模块、EEPROM存储器写读模块、数据比较模块、结果显示模块、供电模块等。所述主控处理器通过按键启动模块执行电路EEPROM存储器测试命令,所述EEPROM存储器写读模块按照写读时序要求实现EEPROM存储器写读操作,所述数据比较显示模块实现存储器写读结果比较,所述显示模块实现测试结果的显示功能,所述供电模块为整板元器件提供各种的电源电压。该方案可用于实现相控阵雷达驱动控制电路内嵌存储器自动化一键测试功能。(The invention provides an automatic testing device for an EEPROM (electrically erasable programmable read-Only memory) memory embedded in a phased array radar drive control circuit, which comprises: the device comprises a main control processor, a key starting module, an EEPROM memory writing and reading module, a data comparison module, a result display module, a power supply module and the like. The main control processor executes a circuit EEPROM memory test command through the key starting module, the EEPROM memory writing and reading module realizes writing and reading operations of the EEPROM memory according to writing and reading time sequence requirements, the data comparison and display module realizes writing and reading result comparison of the memory, the display module realizes a test result display function, and the power supply module provides various power supply voltages for the whole panel component. The scheme can be used for realizing the automatic one-key test function of the embedded memory of the phased array radar drive control circuit.)
技术领域
本发明涉及一种相控阵雷达驱动控制电路内嵌EEPROM存储器自动化测试装置，用于进行相控阵雷达驱动控制电路生产过程中电路内嵌EEPROM的自动化写读功能测试，可多工位并行、独立操作，大大提高电路生产测试效率。
背景技术
一般对于相控阵雷达驱动控制电路内嵌EEPROM的写读测试采用通用测试机台进行测试，需要开发复杂测试程序及向量，测试硬件板卡资源有限，只能进行单只电路测试，而测试时间因写读时序要求而固定，达120秒，需要1人操作，测试效率低。
发明内容
本发明的技术解决的问题是：克服现有技术的不足，不需外部计算机等外围仪器设备，以低成本、高效率为目的提供一种相控阵雷达驱动控制电路内嵌EEPROM自动化测试装置，能够实现对相控阵雷达驱动控制电路内嵌EEPROM进行自动化试写读功能测试，1人可同时操作多台这种测试装置，提高测试效率，节省通用测试机台和人力成本。
本发明的技术解决方案是：一种相控阵雷达驱动控制电路内嵌EEPROM存储器自动化测试装置，包括主控处理器、按键启动模块、EEPROM存储器写读模块、数据比较模块、结果显示模块、供电模块；
所述主控处理器供电后开始初始化，处于等待启动状态，在待测电路上电后接收按键启动模块的启动信号，对待测电路进行上电连通性检测，确保待测电路在测试插座中正确放置；待测电路进入正常工作模式，主控处理器对内嵌EEPROM进行多次试写回读操作，通过数据比较模块进行自动数据对比，将结果通过结果显示模块进行显示；
所述按键启动模块作为启动主控处理器开始工作的标志，由按键开关及相应信号驱动器件来实现；
所述EEPROM存储器写读模块对相控阵雷达驱动控制电路内嵌EEPROM按照特定时序要求产生写读并行信号，进行写入和回读数据；
所述数据比较模块实现所述试写数据与回读数据的对比，用于验证电路EEPROM功能是否正常，得出测试结果；
所述结果显示模块对测试结果进行无界面显示，通过红、黄、绿三种不同颜色的LED指示灯及信号驱动、电流保护器件来实现，红色表示测试不合格，黄色表示测试中，绿色表示测试合格；
所述供电模块为整板元器件提供各种不同幅值的电源电压，同时本装置具有5V转4.5V、5.5V电路模块，能够对在4.5V、5V、5.5V电压下工作的待测电路进行测试，增加了本测试装置的兼容性。
所述的主控处理器通过按键启动模块接收启动信号，执行测试命令，并根据相应命令依次完成连通性测试、电路初始化配置、EEPROM写入和回读数据对比得出测试结果、向结果显示模块发送测试结果的信号。
所述的按键启动模块由按键开关和相应驱动器件组成，通过按键开关产生一个低脉冲信号，主控处理器接收到这个信号后开启测试工作模式，当完成一次测试过程后，主控处理器进入等待启动信号状态，等待下一个按键启动模块发送的信号。
所述的EEPROM试写回读模块产生并行的写读时序信号，首先对待测电路的EEPROM的全地址进行逐一试写，完成全地址试写后进行回读操作，回读数据送到数据比较模块据进行后续运算处理，由数据比较模块经过数据对比处理得出测试结果，完成对电路EEPROM的试写或回读功能测试。
所述的数据比较模块对每一个地址回读的数据与试写数据进行逐一比较，数据一致则进行下一地址的数据比较，如出现数据不一致则产生测试错误信号，中断当前测试流程；所有地址测试通过后产生测试通过信号，完成数据比较功能。
所述的结果显示模块由LED及驱动、电流保护器件组成，实现对测试结果实时准确显示，无需显示界面。
所述的供电模块为主控处理器和整板元器件提供不同幅值的电源电压，具有5V、12V供电线路；所述的供电模块为待测电路提供4.5V、5V、5.5V等幅值的电源，由按键开关控制其供电，具有过热保护、欠压保护功能。
一种相控阵雷达驱动控制电路内嵌存储器自动化测试方法，步骤如下：
(1)主控处理器供电后进入等待状态，等待按键启动模块发送启动测试信号后开启测试模式；
(2)主控处理器对待测电路进行上电连通性检测，进行初始化配置，进入工作状态；
(3)主控处理器开启EEPROM试写测试模式，发送测试工作中显示信号，显示模块黄色LED灯开启；
(4)测试工作开启，首先进行EEPROM试写时序，试写数据为0x155，完成所有地址试写后开启回读EEPROM时序；
(5)回读EERPOM数据过程中，开启数据比较，每回读一个地址数据就进行一次数据比较，若出现数据比较不一致时会中断当前的EEPROM回读时序，发送测试不通过信号给主控处理器，若整个测试过程数据比较完全一致，测试结果时产生测试通过信号给主控处理器；
(6)更换试写数据为0x0AA；重复步骤(3)、(4)、(5)测试过程；
(7)主控处理器收到结果比较模块发送的结果信号，根据不同信息发送不同的结果信号给结果显示模块，测试通过开启绿色LED灯，测试不通过开启红色LED灯；
(8)测试完成后，关断待测电路电源，更换待测电路，主控处理器进入等待工作状态，等待下一次启动测试信号。
本发明与现有技术相比有益效果为：
采用本发明提出的相控阵雷达驱动控制电路内嵌EEPROM存储器自动化测试装置，能够实现该电路内嵌EEPROM存储器写读功能的一键自动化测试，体积小、成本低，可以同时进行多个待测电路的测试，大幅降低测试需要的人力物力，大大提高了相控阵雷达驱动控制电路的生产测试效率。
附图说明
图1为本发明的硬件设计方案图；
图2为本发明的测试流程图。
具体实施方式
如图1所示，主控处理器受按键启动模块控制，当接收到启动信号后开始测试模式，主控处理器首先对待测电路进行上电连通性检测，正常连通后初始化待测电路，使待测电路进入正常工作模式下(即可读写EEPROM模式下)；开启写读EEPROM模块功能，产生4K×9bit的并行试写EEPROM时序信号，试写数据为0x155，试写后进行回读EEPROM时序，如果数据不为0x155，则中断测试产生测试不通过信号，如数据比较一致继续下一步测试，再次进行试写操作，试写数据为0x0AA，之后回读进行数据比较，得到测试结果，两次写读EEPROM测试保证待测电路内嵌EEPROM的每一位数据都有跳变(即0～1,1～0),保证测试覆盖率要求；经过测试产生的测试结果由主控处理器产生相应的信号由结果显示模块进行显示，显示模块中绿色LED灯亮代表测试通过、红色LED灯亮代表测试未通过、黄色LED灯亮代表正在测试中。
图2为本发明测试流程图，实施过程如下：
(1)主控处理器供电后进入等待状态，等待按键启动模块发送启动测试信号后开启测试模式；
(2)主控处理器对待测电路进行上电连通性检测，进行初始化配置，进入工作状态；
(3)主控处理器开启EEPROM试写测试模式，发送测试工作中显示信号，显示模块黄色LED灯开启；
(4)测试工作开启，首先进行EEPROM试写时序，试写数据为0x155，完成所有地址试写后开启回读EEPROM时序；
(5)回读EERPOM数据过程中，开启数据比较，每回读一个地址数据就进行一次数据比较，若出现数据比较不一致时会中断当前的EEPROM回读时序，发送测试不通过信号给主控处理器，若整个测试过程数据比较完全一致，测试结果时产生测试通过信号给主控处理器；
(6)更换试写数据为0x0AA；重复(3)、(4)、(5)测试过程；
(7)主控处理器收到结果比较模块发送的结果信号，根据不同信息发送不同的结果信号给结果显示模块，测试通过开启绿色LED灯，测试不通过开启红色LED灯；
(8)测试完成后，关断待测电路电源，更换待测电路，主控处理器进入等待工作状态，等待下一次启动测试信号。
实施例：
主控器采用高性能、低功耗AVR微处理器，内部集成SRAM、可编程FLASH、32个8位通用工作寄存器、32路可编程I/0口，工作速率达到16MHz。
按键启动模块选用高灵敏度、低电阻值、高可靠性的按键开关；试写回读EEPROM模块产生9路并行数据，每路驱动能力达到20mA。试写回读信号采用0x155、0x0AA为试写数据，分别对EEPROM全地址两次写读时序，保证每个存储位都经过‘0’与‘1’的跳变，保证测试可靠性和覆盖率，对特殊地址位可能存在的相互影响，写读模块采用特点数据码或者随机码进行特定写读操作，增加测试的灵活性及全面性。
结果显示模块采用高耐久、高可靠的LED灯和相应驱动电路、限流保护电阻组成；供电模块采用LDO电源模块，将12V电压调整为5V工作电压，为测试装置和待测电路独立供电，待测电路电源端由按键开关控制供电。同时本装置具有5V转4.5V、5.5V电路模块，能够对在4.5V、5V、5.5V电压下工作的待测电路进行测试，增加了本测试装置的兼容性。
本测试装置上电启动后，主程序在内部SRAM上进行运行，首先进入等待启动状态，启动信号触发测试工作模块，开始初始化对接其他各个模块的I/O接口和待测电路的工作状态，然后进入测试工作模式。在工作模式下，显示模块黄色LED灯启动，此时处理器屏蔽按键启动模块发送的开启信息，在写读EEPROM测试过程中，回读时序运行同时数据对比模块启动，对比模块得到测试FALSE结果，就会中断当前写读模块工作，将FLASE结果送往结果显示模块，显示模块将红色LED灯启动，表示测试不通过；如果读模块运行过程中未出现FALSE结果，当读模块完全运行完毕后，对比模块得到最终PASS结果，处理器根据测试结果PASS信号，命令结果显示模块显示测试通过结果，绿色LED灯启动表示测试通，即完成一次相控阵雷达驱动控制电路内嵌EEPROM存储器自动化测试任务。待结果显示模块显示测试结果后，主处理器重新进入等待启动模式。具体实施过程如下：
(1)主控处理器供电后进入等待状态，等待按键启动模块发送启动测试信号后开启测试模式；
(2)主控处理器对待测电路进行上电连通性检测，进行初始化配置，进入工作状态；
(3)主控处理器开启EEPROM试写测试模式，发送测试工作中显示信号，显示模块黄色LED灯开启；
(4)测试工作开启，首先进行EEPROM试写时序，试写数据为0x155，完成所有地址试写后开启回读EEPROM时序；
(5)回读EERPOM数据过程中，开启数据比较，每回读一个地址数据就进行一次数据比较，若出现数据比较不一致时会中断当前的EEPROM回读时序，发送测试不通过信号给主控处理器，若整个测试过程数据比较完全一致，测试结果时产生测试通过信号给主控处理器；
(6)更换试写数据为0x0AA；重复步骤(3)、(4)、(5)测试过程；
(7)主控处理器收到结果比较模块发送的结果信号，根据不同信息发送不同的结果信号给结果显示模块，测试通过开启绿色LED灯，测试不通过开启红色LED灯；
(8)测试完成后，关断待测电路电源，更换待测电路，主控处理器进入等待工作状态，等待下一次启动测试信号。