阅读说明：本技术 一种用于镀膜后的石英芯片的频率自动测量设备 (Automatic frequency measuring equipment for coated quartz chip ) 是由 李正善 李宝太 林科荣 吴明 项建辉 宋卫华 林啸 张代红 于 2019-10-23 设计创作，主要内容包括：本发明涉及一种用于镀膜后的石英芯片的频率自动测量设备,包括Y方向滑台、X方向滑台和X、Y方向手动滑台；所述的Y方向滑台用于镀膜后的产品在Y方向移动供给；所述的X方向滑台位于Y方向滑台的上方,该X方向滑台上安装有上下传动机构,所述的上下传动机构的下部安装有校正测量机构和吸嘴机构；所述的Y方向滑台一侧安装有X、Y方向手动滑台。本发明克服了镀膜后石英芯片自身振动频率易受干扰的特性,以及产品小且薄且易碎而不易准确放置的特性。通过此设备能完成产品频率的测量,而且能实现自动化,大批量生产。(The invention relates to automatic frequency measuring equipment for a coated quartz chip, which comprises a Y-direction sliding table, an X-direction sliding table and an X, Y-direction manual sliding table, wherein the Y-direction sliding table is arranged on the top of the X-direction sliding table; the Y-direction sliding table is used for moving and supplying the coated product in the Y direction; the X-direction sliding table is positioned above the Y-direction sliding table, an upper transmission mechanism and a lower transmission mechanism are arranged on the X-direction sliding table, and a correction measuring mechanism and a suction nozzle mechanism are arranged at the lower part of the upper transmission mechanism and the lower transmission mechanism; and an X, Y-direction manual sliding table is installed on one side of the Y-direction sliding table. The invention overcomes the characteristics that the self vibration frequency of the quartz chip is easy to be interfered after film coating and the characteristics that the product is small, thin, fragile and difficult to accurately place. The device can complete the measurement of product frequency and realize automatic and mass production.)

一种用于镀膜后的石英芯片的频率自动测量设备

技术领域

本发明涉及石英芯片频率测量设备技术领域，特别是涉及一种用于镀膜后的石英芯片的频率自动测量设备。

背景技术

随着crystal的尺寸越来越小，精度越来越高，对镀膜后石英芯片的工艺要求越来越高，致使原来通过人工测量镀膜后芯片的方式越来越无法满足生产要求，并且受人工只能单颗测试的限制，人工已经无法满足制造流程，研发此设备后可实现了镀膜后芯片频率的自动测量，以达到生产要求。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种用于镀膜后的石英芯片的频率自动测量设备，克服了镀膜后石英芯片自身振动频率易受干扰的特性，以及产品小且薄且易碎而不易准确放置的特性。通过此设备能完成产品频率的测量，而且能实现自动化，大批量生产。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：提供一种用于镀膜后的石英芯片的频率自动测量设备，包括Y方向滑台、X方向滑台和X、Y方向手动滑台；

所述的Y方向滑台用于镀膜后的产品在Y方向移动供给；

所述的X方向滑台位于Y方向滑台的上方，该X方向滑台上安装有上下传动机构，所述的上下传动机构的下部安装有校正测量机构和吸嘴机构；

所述的Y方向滑台一侧安装有X、Y方向手动滑台，该X、Y方向手动滑台上端设置有测试基座，所述的测试基座上端并排设置有两个测试针，该测试针连接计算机的测试卡板。

作为对本发明所述的技术方案的一种补充，所述的Y方向滑台包括横向布置的第一电缸以及安装在第一电缸上的第一滑台，所述的第一滑台上安装有治具。

作为对本发明所述的技术方案的一种补充，所述的X方向滑台包括纵向布置在Y方向滑台上方的第二电缸以及安装在第二电缸上的第二滑台，所述的第二滑台上安装有上下传动机构。

作为对本发明所述的技术方案的一种补充，所述的上下传动机构包括传动电机和固定座，所述的第二滑台上安装有固定座，该固定座的前端并排布置有两个可上下滑动的传动块，两个传动块对称布置，两个传动块相对的一端均横向开有一字缺口，所述的固定座后端安装有传动电机，该传动电机的输出轴与固定座前端安装的转盘相连，所述的转盘前端偏心设置有传动轴承，该传动轴承位于两个一字缺口内，一个传动块的前端安装有校正测量机构，另一个传动块的前端安装有吸嘴机构，所述的固定座上部的两侧均设置有复位拉伸机构，该复位拉伸机构与同侧的传动块相连。

作为对本发明所述的技术方案的一种补充，所述的吸嘴机构包括吸嘴本体和吸嘴细部，所述的吸嘴本体上端与对应的传动块相连，该吸嘴本体下端设置有吸嘴细部，所述的吸嘴细部下端一侧设置有凸起台阶，该凸起台阶上设置有吸气孔。

作为对本发明所述的技术方案的一种补充，所述的校正测量机构包括三个校正电阻，三个校正电阻依次为欧姆电阻、欧姆电阻和开路电阻，所述的传动块的下端并排设置有欧姆电阻、欧姆电阻以及开路电阻。

作为对本发明所述的技术方案的一种补充，所述的传动块通过吸嘴与校正电阻相连。

作为对本发明所述的技术方案的一种补充，所述的复位拉伸机构包括挡片、连接块和弹簧，所述的固定座上部的两侧均安装有挡片，每个传动块的外侧均安装有呈倒置L型的连接块，所述的连接块与同侧的挡片之间安装有弹簧。

作为对本发明所述的技术方案的一种补充，所述的测试基座上端的一侧安装有不合格产品放置盒。

作为对本发明所述的技术方案的一种补充，所述的测试基座上端并排设置有两个测试线连接柱，该测试线连接柱通过PI回路与对应的测试针相连，所述的测试线连接柱通过测试线连接计算机的测试卡板。

有益效果：本发明涉及一种用于镀膜后的石英芯片的频率自动测量设备，克服了镀膜后石英芯片自身振动频率易受干扰的特性，以及产品小且薄且易碎而不易准确放置的特性。通过此设备能完成产品频率的测量，而且能实现自动化，大批量生产。

附图说明

图1是本发明的结构示意图；

图2是本发明所述的上下传动机构的结构示意图；

图3是本发明所述的测试基座的结构示意图；

图4是本发明的局部结构示意图；

图5是本发明的局部结构示意图；

图6是本发明所述的吸嘴机构的结构示意图；

图7是本发明图6的局部放大图。

图示：1、Y方向滑台，2、X方向滑台，3、显示器，4、上下传动机构，5、校正测量机构，6、吸嘴机构，7、X、Y方向手动滑台，8、传动电机，9、校正电阻，10、挡片，11、旋钮，12、测试针，13、PI回路，14、测试线连接柱，15、不合格产品放置盒，16、测试基座，17、吸嘴，18、转盘，19、一字缺口，20、传动块，21、传动轴承，22、0欧姆电阻，23、50欧姆电阻，24、开路电阻，25、固定座，26、吸嘴本体，27、吸嘴细部，28、吸气孔，29、凸起台阶，30、弹簧，31、连接块，32、连接支架。

具体实施方式

下面结合具体实施例，进一步阐述本发明。应理解，这些实施例仅用于说明本发明而不用于限制本发明的范围。此外应理解，在阅读了本发明讲授的内容之后，本领域技术人员可以对本发明作各种改动或修改，这些等价形式同样落于本申请所附权利要求书所限定的范围。

本发明的实施方式涉及一种用于镀膜后的石英芯片的频率自动测量设备，如图1-7示，包括Y方向滑台1、X方向滑台2和X、Y方向手动滑台7；

所述的Y方向滑台1用于镀膜后的产品在Y方向移动供给；

所述的X方向滑台2位于Y方向滑台1的上方，该X方向滑台2上安装有上下传动机构4，所述的上下传动机构4的下部安装有校正测量机构5和吸嘴机构6；

所述的Y方向滑台1一侧安装有X、Y方向手动滑台7，该X、Y方向手动滑台7上端设置有测试基座16，所述的测试基座16上端并排设置有两个测试针12，该测试针12连接计算机的测试卡板。X、Y方向手动滑台7是标准件，市面上可以买到，只要转动手动滑台侧边的两个旋钮11，可以调整测试基座16X、Y方向的位置，可实现测试针12位置的微调整。

所述的X方向滑台2的后方设置有显示器3。

所述的Y方向滑台1包括横向布置的第一电缸以及安装在第一电缸上的第一滑台，所述的第一滑台上安装有治具。

所述的X方向滑台2包括纵向布置在Y方向滑台1上方的第二电缸以及安装在第二电缸上的第二滑台，所述的第二滑台上安装有上下传动机构4。

所述的上下传动机构4包括传动电机8和固定座25，所述的第二滑台上安装有固定座25，该固定座25的前端并排布置有两个可上下滑动的传动块20，两个传动块20对称布置，两个传动块20相对的一端均横向开有一字缺口19，所述的固定座25后端安装有传动电机8，该传动电机8的输出轴与固定座25前端安装的转盘18相连，所述的转盘18前端偏心设置有传动轴承21，该传动轴承21位于两个一字缺口19内，一个传动块20的前端安装有校正测量机构5，另一个传动块20的前端安装有吸嘴机构6，所述的固定座25上部的两侧均设置有复位拉伸机构，该复位拉伸机构与同侧的传动块20相连。传动块20前端通过连接支架32与校正测量机构5或者吸嘴机构6相连。

传动电机8带动转盘18转动，实现传动轴承21偏心转动，传动轴承21压迫传动块20上下滑动。运用传动电机8的正反转，使得一个传动电机8能分别控制吸嘴机构6和校正测量机构5能够单独上下移动。如图5和图6所示，传动电机8在原点位置，如逆时针旋转，吸取芯片的吸嘴机构6向下移动，校正测量机构5通过复位拉伸机构拉住不动，顺时针旋转，校正测量机构5向下移动，吸取芯片的吸嘴机构6通过复位拉伸机构拉住不动。

所述的吸嘴机构6包括吸嘴本体26和吸嘴细部27，所述的吸嘴本体26上端与对应的传动块20相连，该吸嘴本体26下端设置有吸嘴细部27，所述的吸嘴细部27下端一侧设置有凸起台阶29，该凸起台阶29上设置有吸气孔28。凸起台阶29吸住待测产品一端，但是留有石英芯片正常振动的空间，使得石英芯片被吸起后，对芯片振动的特性不会造成破坏性影响，保证了镀膜后石英芯片的正常振动，从而保证能测试到镀膜后芯片的频率。凸起台阶29与吸嘴细部27下端面之间形成缺口，这个缺口是石英芯片正常振动的空间。

所述的校正测量机构5包括三个校正电阻9，三个校正电阻9依次为0欧姆电阻22、50欧姆电阻23和开路电阻24，所述的传动块20的下端并排设置有0欧姆电阻22、50欧姆电阻23以及开路电阻24。

校正测量机构5上设计三个吸嘴17(如图4所示)，分别搭载3个校正电阻9，分别为0欧姆电阻22、50欧姆电阻23、开路电阻24。三个校正电阻9的固定件为吸嘴17，固定0欧姆电阻22的吸嘴17通过Y方向滑台1移动到测试针12上，通过上下传动机构4使得0欧姆电阻22向下与测试针12对应相连，测试针12测试到0欧姆电阻22，使用测量系统的标准仪校方法，完成第一步0欧姆电阻22的校正，同样道理，分别完成50欧姆电阻23校正和开路电阻24校正。吸嘴17的一侧吸住校正电阻9。

所述的传动块20通过吸嘴17与校正电阻9相连。

所述的复位拉伸机构包括挡片10、连接块31和弹簧30，所述的固定座25上部的两侧均安装有挡片10，每个传动块20的外侧均安装有呈倒置L型的连接块31，所述的连接块31与同侧的挡片10之间安装有弹簧30。倒置L型的连接块31固定在传动块20的外侧，传动块20和连接块31向下移动，会使弹簧30伸长，传动块20向上移动，弹簧30恢复原样，弹簧30的伸长缩短对传动块20的动作有一定的缓冲作用的。

传动轴承21的主要作用于一边的传动块2向下动作时，那么另外一边传动块2就得靠弹簧30拉着连接块31保持不动，这样使得另外一边的传动块2不会掉下来，这样才合理保证两边的传动块2分别动作时不会被影响。

所述的测试基座16上端的一侧安装有不合格产品放置盒15。

所述的测试基座16上端并排设置有两个测试线连接柱14，该测试线连接柱14通过PI回路13与对应的测试针12相连，所述的测试线连接柱14通过测试线连接计算机的测试卡板。测试卡板上有测量石英芯片频率的测量系统，测量系统是一套标准的系统，属于现有技术。

待测产品放置在治具上，将治具固定在Y方向滑台1上，X方向滑台2移动到治具上方，上下传动机构4带动吸嘴机构6向下移动，将镀膜后的石英芯片吸起来，吸嘴机构6向上移动，再通过X方向滑台2移动，将吸住待测产品的吸嘴移动到X、Y方向手动滑台7上，上下传动机构4带动吸嘴机构6向下移动，使镀膜后的石英芯片的两个电极脚接触到X、Y方向手动滑台7上的测试针12，测试针12通过PI回路13与测试线的连接，将信号传到计算机的测量板卡上，从而完成镀膜后的石英芯片的频率测量，测量完成后不合格的芯片将被放置到不合格产品放置盒15内。