阅读说明：本技术 一种自动换样装置及中子反射实验装置 (Automatic sample changing device and neutron reflection experimental device ) 是由 肖松文 朱涛 李树发 孙远 于 2019-10-21 设计创作，主要内容包括：本发明公开了一种自动换样装置及中子反射实验装置,该自动换样装置包括支撑架、样品支持机构、驱动机构和定位反馈机构。样品支持机构可转动地连接在支撑架上,样品支持机构沿其周向方向设置有多个样品,驱动机构设于样品支持机构和支撑架之间,驱动机构能够驱动样品支持机构转动,定位反馈机构设于样品支持机构上,定位反馈机构能够读取样品支撑机构的转动行程。驱动机构和定位反馈机构能互相配合使样品依次完成中子反射实验,在实验开始前将所有样品安装于样品支持机构上,自动换样装置能完成所有样品的中子反射实验。节约了宝贵的束流时间,减少了人员进入辐射区域所停留的时间,降低了实验辐射对人员的损伤,提高了实验效率。(The invention discloses an automatic sample changing device and a neutron reflection experiment device. The sample supporting mechanism is rotatably connected to the supporting frame, a plurality of samples are arranged on the sample supporting mechanism along the circumferential direction of the sample supporting mechanism, the driving mechanism is arranged between the sample supporting mechanism and the supporting frame and can drive the sample supporting mechanism to rotate, the positioning feedback mechanism is arranged on the sample supporting mechanism, and the positioning feedback mechanism can read the rotation stroke of the sample supporting mechanism. The driving mechanism and the positioning feedback mechanism can be matched with each other to enable the samples to complete neutron reflection experiments in sequence, all the samples are installed on the sample supporting mechanism before the experiments are started, and the automatic sample changing device can complete the neutron reflection experiments of all the samples. The method saves precious beam time, reduces the stay time of personnel entering a radiation area, reduces the damage of experimental radiation to the personnel, and improves the experimental efficiency.)

一种自动换样装置及中子反射实验装置

技术领域

本发明涉及中子散射技术领域，尤其涉及一种自动换样装置及中子反射实验装置。

背景技术

中子反射技术是通过测量界面薄膜材料特别是磁性薄膜对中子的反射分析获知界面处0.5～500nm尺度范围内的结构成分及磁结构等信息的先进材料表征技术。由于磁性薄膜的厚度为纳米级别，典型的中子反射实验技术中要求样品的位置定位精度达到2um，角度定位精度达到0.001°。由于中子具有磁矩，是直接测量磁结构的唯一手段。在中子反射谱仪中一般都会配备一台电磁铁，用于提供0-1特斯拉的可变的磁场环境，且在电磁铁中心φ20×20mm区域的磁场均匀性要求好于2％，电磁铁极柱之间的间隙一般只有50～100mm左右。在常温中子反射实验当中，薄膜样品一般直接固定安装在电磁铁中心的无磁支架上。一次常温中子反射实验时间一般为几小时到十几小时，需要更换不同的样品时则需要先关闭中子谱仪束流，实验人员打开屏蔽门并进入样品室对样品进行更换及校准，样品更换完毕后，实验人员离开样品室并关闭屏蔽门，打开中子谱仪束流继续进行样品实验。

亟需设计一种可装载多个样品并可远程自动换样的装置，以节约昂贵的中子束流时间，并尽量减少实验人员进入辐射区域的停留时间。

发明内容

本发明的目的在于提出一种自动换样装置，能够自动将所有样品依次转动至实验位置，节约实验过程中宝贵的束流时间，减少实验人员进入辐射区域所停留的时间，降低实验过程中辐射对实验人员的损伤，提高实验效率及样品位置精度。

本发明的另一个目的在于提出一种中子反射实验装置，能够自动对装置中的所有样品依次进行中子反射实验，节省了实验过程中的宝贵束流时间，减少实验人员进入辐射区域所停留的时间，降低实验过程中辐射对实验人员的损伤，提高实验效率及实验结果准确性。

为实现上述技术效果，本发明的自动换样装置的技术方案如下：

一种自动换样装置，包括：支撑架；样品支持机构，所述样品支持机构可转动地连接在所述支撑架上，所述样品支持机构沿其周向方向设置有多个样品；驱动机构，所述驱动机构设于所述样品支持机构和所述支撑架之间，所述驱动机构能够驱动所述样品支持机构转动；定位反馈机构，所述定位反馈机构设于所述样品支持机构上，所述定位反馈机构能够读取所述样品支撑机构的转动行程。

在一些实施例中，所述定位反馈机构包括：光栅，所述光栅连接在所述样品支持机构上；光栅读数件，所述光栅读数件设置于所述支撑架上，所述光栅读数件能够读取所述光栅的转动角度。

在一些实施例中，所述样品支持机构包括：支持件，所述支持件的一端可转动地连接在所述支撑架上；气管，所述气管为多个；歧管块，所述歧管块设置于所述支持件的上表面，所述歧管块一侧与多个所述气管密封相连，所述歧管块另一侧与真空泵相连；样品座，所述样品座为多个，每个所述样品座设有第二通孔，每个所述样品座与所述歧管块通过一个所述气管密封相连，所述样品座通过所述第二通孔吸附所述样品。

在一些实施例中，所述支持件的周面上设有多个间隔分布的配合槽，所述样品座通过安装座连接在所述配合槽内。

在一些实施例中，所述样品支持机构还包括：第一接头，所述第一接头的一端与所述歧管块密封连接，所述第一接头的另一端密封连接有真空泵；第二接头，所述第二接头为多个，所述歧管块通过多个所述第二接头密封与所述多个所述气管分别密封连接；第三接头，所述第三接头为多个，每个所述样品座通过一个所述第三接头与一个所述气管密封连接。

在一些实施例中，所述支持件包括：转轴部，所述转轴部的一端可转动地配合在所述支撑架上；转盘，所述转盘与所述转轴部的另一端相连。

在一些实施例中，每个样品座与所述样品的吸附面为竖直平面，多个所述样品座的吸附面与所述支持件的转轴之间的距离相等。

在一些实施例中，所述驱动机构包括：驱动件，所述驱动件与所述支撑架相连；第一转动件，所述第一转动件与所述样品支持机构相连，所述第一转动件被配置为在所述驱动件的驱动下转动；传动件，所述传动件与所述第一转动件相连；第二转动件，所述第二转动件与所述传动件相连，所述第二转动件被配置为在所述传动件的带动下转动。

在一些实施例中，所述驱动机构为同步带轮驱动机构，所述驱动件为步进电机，所述传动件为同步齿形带，所述第一转动件和所述第二转动件为同步带轮，且所述第一转动件的直径小于所述第二转动件的直径。

一种中子反射实验装置，包括：前文所述的自动换样装置。

本发明的有益效果为：

在自动换样装置中，样品支持机构能够简单快速的安装需要进行实验的样品，驱动机构和定位反馈机构能互相配合使得样品支持机构上的不同样品依次进入实验位置以完成中子反射实验。由此，只需在实验开始前将所有样品安装于样品支持机构上，即可利用自动换样装置完成所有样品的中子反射实验。从而节约了宝贵的束流时间，且减少了实验人员进入辐射区域所停留的时间，降低了实验过程中辐射对实验人员的损伤，提高了实验效率及实验结果准确性。

中子反射实验装置能够在一段时间内对自动换样装置上设置好的所有样品进行中子反射实验，无需实验人员进入辐射区域手动更换样品，降低了实验过程中辐射对实验人员的损伤，提高了中子反射实验的效率和实验结果准确性。

本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。

附图说明

图1是本发明

具体实施方式

提供的自动换样装置的立体结构示意图；

图2是本发明具体实施方式提供的自动换样装置的俯视结构示意图；

图3是图2中A-A剖面方向的结构示意图；

图4是本发明具体实施方式提供的自动换样装置中支持件、样品座、安装座和样品的局部***结构示意图；

图5是本发明提供具体实施方式提供的自动换样装置使用状态的立体结构示意图。

附图标记：

1、支撑架；11、角接触球轴承；12、轴套；13、轴承压板；14、第一通孔；

2、样品支持机构；21、支持件；211、转轴部；212、转盘；2121、配合槽；22、气管；23、歧管块；24、样品座；241、第二通孔；25、安装座；26、第一接头；27、第二接头；28、第三接头；

3、驱动机构；31、驱动件；311、驱动件安装件；32、第一转动件；33、传动件；34、第二转动件；

4、定位反馈机构；41、光栅；42、光栅读数件；

100、样品；110、电磁铁。

具体实施方式

为使本发明解决的技术问题、采用的技术方案和达到的技术效果更加清楚，下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本发明的技术方案。

在本发明的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“相连”、“连接”、“固定”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

在本实施例的描述中，术语“上”、“下”、“右”、“左”等方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述和简化操作，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅仅用于在描述上加以区分，并没有特殊的含义。

下面参考图1-图5描述本发明实施例的自动换样装置的具体结构。

如图1-图3所示，本发明的自动换样装置包括支撑架1、样品支持机构2、驱动机构3和定位反馈机构4。样品支持机构2可转动地连接在支撑架1上，样品支持机构2沿其周向方向设置有多个样品100，驱动机构3设于样品支持机构2和支撑架1之间，驱动机构3能够驱动样品支持机构2转动，定位反馈机构4设于样品支持机构2上，定位反馈机构4能够读取样品支持机构2的转动行程。

可以理解的是，支撑架1能够将样品支持机构2稳定支撑，且支持架1在样品100的实验位置下方设置有第一通孔14，为样品100提供更好的磁场环境，提高样品100实验结果的准确性。当样品支持机构2在驱动机构3作用下转动时，沿其周向方向设置的多个样品100的位置也会随之转动。由于定位反馈机构4能够读取样品支持机构2的转动行程，因此定位反馈机构4能够对于不同样品100所处的位置进行高精度的监控并将其反馈至驱动机构3。在定位反馈机构4的作用下，当样品100转动到实验位置时，驱动机构3停转并进行实验。在实验结束后，驱动机构3驱动样品支持机构2继续转动，当下一个样品100位于实验位置时，定位反馈机构4再次将其反馈至驱动机构3，且驱动机构3停止运动，从而达到了实验位置的样品100自动切换并且进行实验的目的。此外，由于样品座24的位置精度可根据驱动机构3和样品支持机构2的精度进行调整，避免了因人工换样校准过程中产生的误差，样品100实验结果的准确性也得到了提高。

因此，本发明的自动换样装置由于具有样品支持机构2、驱动机构3和定位反馈机构4样品支持机构，能够实现多个样品100依次自动进入实验位置，并在实验位置上束流线的作用下完成中子反射实验。只需在实验开始前将所有样品100安装于样品支持机构2上，即可利用驱动机构3和定位反馈机构4互相配合使得样品支持机构2上的不同样品100依次进入实验位置，从而完成所有样品100的中子反射实验。从而节约了宝贵的束流时间，且减少了人员进入辐射区域所停留的时间，降低了实验过程中辐射对实验人员的损伤，提高了实验效率及实验结果准确性。

在一些实施例中，如图3所示，定位反馈机构4包括光栅41和光栅读数件42。光栅41连接在样品支持机构2上，光栅读数件42设置于支撑架1上，光栅读数件42能够读取光栅41的转动角度。

可以理解的是，中子反射实验过程中的高精度定位及反馈需求要求样品100的位置定位精度达到2um，角度定位精度达到0.001°。为此，在样品支持机构2上设置有光栅41，并通过光栅读数件42实时读取光栅41上的读数以反馈样品支持机构2转动过的角度。选取具有较高分辨率和精度的光栅41即可使得样品支持机构2在转动时能够达到中子反射实验所需要的高精度定位及反馈要求。

优选地，定位反馈机构4中的光栅41为圆光栅41，定位反馈机构4的分辨率为26位，光栅读数件42在圆光栅41每转动一圈能输出67108864个脉冲，每个脉冲对应的圆光栅41转动的角度为0.000005°。

在一些实施例中，如图1-图3所示，样品支持机构2包括支持件21、气管22、歧管块23和样品座24。支持件21的一端可转动地连接在支撑架1上，气管22为多个，歧管块23设置于支持件21的上表面，歧管块23一侧与多个气管22密封相连，歧管块23另一侧与真空泵相连，样品座24为多个，每个样品座24设有第二通孔241，每个样品座24与歧管块23通过一个气管22密封相连，样品座24通过第二通孔241吸附样品100。

可以理解的是，在中子反射实验过程中，磁场方向需要与样品100的表面平行。在部分提供实验磁场中的装置中，电磁铁110的中心间距限定了样品100的安装的空间位置处于特定位置上，无法通过简单的盛放在实验器皿中去完成中子反射实验。因此，本发明通过在样品支持机构2上设置出真空环境，使得样品100在大气压作用下直接吸附在样品支持机构2上，进一步使样品100的空间位置能够任意放置，以满足不同实验场合下的位置需求。

具体的，样品支持机构2通过设置了依次连接的歧管块23、气管22和样品座24。歧管块23与样品座24之间通过气管22密封相连，样品座24中设有第二通孔241，歧管块23还与真空泵相连。将每个样品100分别贴在各个样品座24上，开启真空泵后，歧管块23和气管22中的空气即被抽离，此时每个样品100均在大气压力作用下分别吸附在各个样品座24上。该结构简单易行，且样品100的空间位置可通过调整样品座24的开口形状简单更换，从而使得自动换样装置能在不同实验场合下进行应用，提高了自动换样装置的适用范围。

在一些实施例中，如图4所示，支持件21的周面上设有多个间隔分布的配合槽2121，样品座24通过安装座25连接在配合槽2121内。

可以理解的是，为了让样品座24可以沿支持件21的周面间隔设置，需在其周面上设置多个间隔分布的配合槽2121，配合槽2121上设有安装座25，样品座24通过安装座25即可在支持件21的周面间隔设置。此外，安装座25配合在配合槽2121内，配合槽2121能够对安装座25起到一定的限位作用，从而保证了安装座25与样品座24之间的连接稳定性，避免了在支持件21转动的过程中安装座25发生晃动的可能，从而进一步保证了样品100的稳定性。此外，该结构还能使支持件21较少的暴露在实验的磁场条件中，避免了对磁场造成负面影响从而使实验结果出现误差。

优选地，样品座24采用硼铝合金件，由于硼具有优秀的中子吸收能力，使用硼铝合金能够降低样品座24产品的杂散中子反射，提高了中子反射实验结果的准确性。当然，在本发明的其他实施例中，样品座24还可以采用其他材料制成，具体可根据实际需要进行选择。

需要指出的是，虽然本发明不对样品座24在支持件21上的固定结构进行限定，只需满足样品座24在支持件21周面上间隔设置即可，但是如将样品座24设置在支持件21上表面，由于样品座24上还有光栅41和气管22等组件，则势必需要扩大支持件21的尺寸，此外，由于中子反射实验过程中应保证只有样品100位于电磁铁110的极柱中心，也必须增长样品座24的长度，这样提高了自动换样装置的制作成本，并且也无法达到其他有益效果。

在一些实施例中，如图1-图3所示，样品支持机构2还包括第一接头26、第二接头27和第三接头28。第一接头26的一端与歧管块23密封连接，第一接头26的另一端密封连接有真空泵，第二接头27为多个，歧管块23通过多个第二接头27与多个气管22分别密封连接，第三接头28为多个，每个样品座24通过一个第三接头28与一个气管22密封连接。

可以理解的是，为了在歧管块23和气管22内部设置出真空环境，需在歧管块23上开设出多个密封管螺纹孔，且多个密封管螺纹孔在歧管块23内部相互真空连接。此外，为了便于气管22与歧管块23之间的连接、气管22与样品座24之间的连接，还设置有第一接头26、第二接头27和第三接头28。第一接头26通过密封管螺纹孔与歧管块23密封连接，第一接头26的另一端通过软管与外部真空泵连接。第二接头27与歧管块23上的其他密封管螺纹孔密封连接，第二接头27的另一端与气管22密封连接。第三接头28的两端分别与气管22和样品座24密封连接。由此即达到了样品支持机构2中真空环境的稳定设置，使得样品100可以稳定的在大气压作用下吸附在样品座24上，并且在自动换样装置运行过程中也不会从样品座24上脱落，提高了自动换样装置整体运行的稳定性。

优选地，为了避免自动换样装置在长期实际使用过程中气管22的不必要损坏并且优化气管22在样品支持机构2上的布置，第一接头26和多个第三接头28均为呈L型气管22接头，多个第二接头27均为直通型气管22接头。由于样品支持机构2上还设置有定位反馈机构4，在部分条件下样品座24如使用普通气管22接头直接与气管22相连，L型气管22接头可以使第一接头26更加便利的连接外部真空泵，第二接头27和第三接头28之间的气管22避免与定位反馈机构4接触而将两者损坏，从而延长了自动换样装置的使用寿命。

在一些实施例中，如图3所示，支持件21包括转轴部211和转盘212。转轴部211的一端可转动地配合在支撑架1上，转盘212与转轴部211的另一端相连。

可以理解的是，当支持件21中的转轴部211与转盘212一体成型时，其加工工艺将更为复杂，导致支持件21的加工制作成本的大幅提高，因此将支持件21中的转轴部211与转盘212分离设置，且转轴部211的一端与转盘212固定连接，转轴部211的另一端设置为可转动的与支撑架1配合，从而在保证支持件21稳定转动的同时降低了支持件21的成本。

具体地，支撑架1中设有凹槽，凹槽中设置有角接触球轴承11，角接触球轴承11在轴承压板13的作用下固定在支撑架1中，转轴部211的一端通过轴套12与角接触球轴承11配合达到与支撑架1转动连接的目的。与此同时，转轴部211与支撑架1之间设有角接触球轴承11能够将滑动摩擦转化为滚动摩擦，降低了转轴部211的转动阻力，保证了转轴部211的稳定转动。

在一些实施例中，如图3所示，每个样品座24与样品100的吸附面为竖直平面，多个样品座24的吸附面与支持件21的转轴之间的距离相等。

可以理解的是，在本发明中，中子反射实验所需的磁场环境由竖直放置的电磁铁110提供，磁场方向竖直且受限于电磁铁110的中心间距，样品100在磁场中心放置时需要竖直放置才能完成中子反射实验。为此，每个样品座24与样品100的吸附面设置为竖直平面，以达到无误完成中子反射实验的目的，提高了实验结果的准确度。在本发明的其他实施例中，每个样品座24与样品100的吸附面还可以不是竖直面，还可以根据实际的磁场环境确定。

此外，为了进一步保证中子反射实验过程中的定位精度，多个样品座24的吸附面与支持件21的转轴之间的距离应该一致，且与支持件21的转轴至电磁铁110的极柱中心的距离相同，从而进一步提高了实验结果的准确度。

在一些实施例中，如图3所示，驱动机构3包括驱动件31、第一转动件32、传动件33和第二转动件34。驱动件31与支撑架1相连，第一转动件32与样品支持机构2相连，第一转动件32被配置为在驱动件31的驱动下转动，传动件33与第一转动件32相连，第二转动件34与传动件33相连，第二转动件34被配置为在传动件33的带动下转动。

可以理解的是，由于样品支持机构2需要位于电磁铁110的极柱中心，如在其下方直接设置驱动件31驱动其转动，则会对磁场均匀性造成负面影响，并进一步造成中子反射实验的误差。为此，驱动机构3中的驱动件31应位于电磁铁110的极柱中心外侧，因此，需要通过传动件33使驱动件31驱动样品支持机构2的转动。

具体的，驱动件31设置在支撑架1上，驱动件31驱动第一转动件32转动，第二转动件34和第一转动件32之间通过传动件33相连，第二转动件34在传动件33的带动下转动，第二转动件34与样品支持机构2相连并带动其转动。由此即达到了驱动件31在实验场所外驱动样品支持机构2转动的目的。

在一些实施例中，驱动机构3为同步带轮驱动机构3，驱动件31为步进电机，传动件33为同步齿形带，第一转动件32和第二转动件34为同步带轮，且第一转动件32的直径小于第二转动件34的直径。

可以理解的是，同步齿形带可通过增大步进电机与样品支持机构2的转轴之间的中心距进行张紧，并且同步齿形带可在张紧作用下实现对样品支持机构2完全同步的驱动，因此使用同步带轮驱动机构3能够驱动样品支持机构2完成高精度的转动，从而保证了每个样品100都位于电磁铁110的极柱中心位置，提高了样品100实验结果的准确度。

具体的，步进电机为带有行星轮减速箱的五相步进电机组合体，步进电机通过驱动件安装件311固定安装在支撑架1上，第一转动件32通过锁紧螺钉固定安装在步进电机的伸出轴上且与其同轴设置。同步齿形带的两侧分别与第一转动件32和第二转动件34啮合。第二转动件34通过锁紧螺钉固定安装在样品支持机构2的转轴上且与其同轴设置。

优选地，步进电机的基本步距角为0.0072°，同步带轮驱动机构3的转动分辨率为0.000144°，在此基础上与定位反馈机构4配合即可使自动换样装置满足中子反射实验所要求的样品100转动重复定位精度0.001°的要求。

需要补充说明的是，如果使用链条传动驱动样品支持机构2转动，链条与链轮之间的较大间隙会导致从动侧链轮的转动定位精度无法达到千分之一度以下，过差的精度将使得实验过程中样品100定位出现较大误差，并进一步影响到中子反射实验，使其实验结果可信度下降。

如图1-图5所示，本发明实施例的中子反射实验装置包括前文的自动换样装置。

可以理解的是，在本发明实施例提供的中子反射实验装置中，当样品100在自动换样装置作用下转动至电磁铁110的极柱中心时，驱动机构3停转并在中子谱仪束流作用下对样品100完成中子反射实验。在实验结束后，驱动机构3驱动样品支持机构2继续转动，当下一个样品100位于电磁铁110的极柱中心时，定位反馈机构4再次将其反馈至驱动机构3，并且样品支持机构2再次在驱动机构3的作用下停止运动。整个实验过程中，中子谱仪束流的开关可根据驱动机构的运行或停止进行设定，这样能节约宝贵的中子谱仪束流时间，减少了中子反射实验的成本。多个样品100同时进行中子反射实验，提高了整体实验的效率。样品100的自动换样避免了人工换样校准造成的样品100的位置误差，提高了整体实验的准确度和可信性。

需要补充说明的是，无磁材料不影响电磁铁110的极柱中心的磁场均匀性，如电磁铁110的极柱中心的磁场分布被自动换样装置影响，将导致电磁铁110极柱中心的磁场均匀性不满足中子反射实验条件要求，在此条件下进行实验，所得的实验结果将是不可靠的。因此，为了使自动换样装置可在强磁场条件下应用并能得到可靠可信的实验结果，支撑架1、样品支持机构2、驱动机构3及定位反馈机构4均为无磁件。

优选地，光栅41、转轴部211、第一接头26、第二接头27和第三接头28均为不锈钢件，角接触球轴承11为陶瓷件，支撑架1、支持件21、轴承压板13、轴套12、驱动件安装件311、歧管块23、安装座25、第一转动件32和第二转动件34均为铝合金件。当然，在本发明的其他实施例中，上述组件还可以采用其他材料制成，具体可根据实际需要进行选择。

在本说明书的描述中，参考术语“有些实施例”、“其他实施例”、等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

以上内容仅为本发明的较佳实施例，对于本领域的普通技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。