阅读说明：本技术 一种存储数据的读取方法及装置 (Method and device for reading stored data ) 是由 苏如伟 韩旭 于 2018-08-17 设计创作，主要内容包括：本发明实施例公开了一种存储数据的读取方法及装置,该方法通过采用至少两个不同的读取参考电信号,读取存储器中的存储数据；在不同的参考电压对同一存储数据进行读取的结果相同时,判断出该存储数据为可靠数据；而在不同的参考电信号对同一存储数据进行读取的结果不相同时,判断出该存储数据为存疑数据。本发明实施例提供的存储数据的读取方法及装置,能够通过采用至少两个不同的参考电信号对存储数据进行读取,并判断所读取存储数据的可靠性,从而能够采用简单的存储数据读取方法,使得存储器中存储数据的读取结果更加准确。(The embodiment of the invention discloses a method and a device for reading stored data, wherein the method comprises the steps of reading the stored data in a memory by adopting at least two different reading reference electric signals; when the reading results of different reference voltages on the same storage data are the same, judging that the storage data are reliable data; and when the reading results of different reference electric signals on the same storage data are different, judging the storage data as the doubt data. According to the method and the device for reading the stored data, the stored data can be read by adopting at least two different reference electric signals, and the reliability of the read stored data is judged, so that a simple method for reading the stored data can be adopted, and the reading result of the stored data in the memory is more accurate.)

一种存储数据的读取方法及装置

技术领域

本发明实施例涉及存储数据处理技术领域，尤其涉及一种存储数据的读取方法及装置。

背景技术

存储器中包含许多存储单元，存储单元具有存储数据和读写数据的功能。通常存储器的存储单元中的存储数据并不是直接的二进制数据“0”或“1”，而是与存储单元中存储的数据相关的电信号。在读取存储单元中存储的数据时，通过一个参考电信号与存储单元中存储的电信号相比较，并将比较结果转换成二进制数据“0”或“1”。

由于存储单元***号的电性差异较小，需采用灵敏放大器将存储单元中微弱的电性差异读取出来，再转换成二进制数据“0”或“1”。然而在存储器实际应用中，灵敏放大器会受到温度和电压等影响，同时存储单元中存储的电信号也会受温度，数据保持力，宇宙射线等影响，这可能使得从存储单元中读取的数据不可靠。为了提高对存储器的存储单元中读取数据的可靠性，可采用奇偶校验的方式对读取的数据进行验证，若验证通过，则读取的数据可靠；若验证失败，则读取的数据不可靠。可见，奇偶校验仅能判断读取的数据是否可靠。由此，现有技术中采用错误检查和纠正(Error Correcting Code，ECC)技术，通过将汉明码***存储单元的原存储数据中，即在存储单元中设置相应的校验位，以侦测并更正存储单元中单一比特的错误。

但是，ECC纠错检错的方式在存储数据较少时，汉明码占用的存储空间相对于奇偶校验大，而奇偶校验无法检测出单一比特出错的位置。且在存储数据较多时，ECC纠错检错的方式逻辑推理困难，使得读取数据的时间延迟大。因此，现有技术中没有一种高可靠性，且简单易行的存储数据读取方法。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供了一种存储数据的读取方法及装置，能够使读取的数据具有高可靠性，且读取方式简单易行，无需占用存储器较大的内存空间。

第一方面，本发明实施例提供了一种存储数据的读取方法，包括：

获取至少两个不同的读取参考电信号；

分别通过所述至少两个不同的读取参考电信号读取所述存储器中的存储数据；

判断通过所述至少两个不同的读取参考电信号读取所述存储器中的同一存储数据的读取结果是否均相同；若是，则读取的所述存储器中的存储数据为可靠数据；否则，读取的所述存储器中的存储数据为存疑数据。

可选的，在获取至少两个不同的读取参考电信号之前，还包括：

对所述存储器中的存储数据组设置对应的校验位。

可选的，所述方法还包括：

获取与所述存储数据组对应的校验位；

根据所述校验位，对包括所述存疑数据的所述存储数据组进行校验。

可选的，根据所述校验位，对包括所述存疑数据的所述存储数据组进行校验，包括：

若根据所述校验位，对包括所述存疑数据的所述存储数据组校验成功，则所述存疑数据为可靠数据；或者，

若采用所述校验位，对包括所述存疑数据的所述存储数据组校验失败，则将所述存疑数据取反，并作为所述存疑数据的读取数据。

可选的，所述校验位包括奇偶校验位。

可选的，所述参考电信号为电压信号或电流信号。

第二方面，本发明实施例还提供了一种存储数据的读取装置，包括：

参考电信号获取模块，用于获取至少两个不同的读取参考电信号；

存储数据读取模块，用于分别通过所述至少两个不同的读取参考电信号读取所述存储器中的存储数据；

读取结果判断模块，用于判断通过所述至少两个不同的读取参考电信号读取所述存储器中的同一存储数据的读取结果是否均相同；若是，则读取的所述存储器中的存储数据为可靠数据；否则，读取的所述存储器中的存储数据为存疑数据。

可选的，所述装置还包括：

校验位设置模块，用于在获取至少两个不同的读取参考电信号之前，对所述存储器中的存储数据组设置对应的校验位。

可选的，所述装置还包括：

校验位获取模块，用于获取所述存储数据组对应的校验位；

存疑数据校验模块，用于根据所述校验位，对包括所述存疑数据的所述存储数据组进行校验。

可选的，所述存疑数据校验模块，具体用于：

若根据所述校验位，对包括所述存疑数据的所述存储数据组校验成功，则所述存疑数据为可靠数据；或者，

若根据所述校验位，对包括所述存疑数据的所述存储数据组校验失败，则将所述存疑数据取反，并作为所述存疑数据的读取数据。

可选的，所述校验位包括奇偶校验位。

可选的，所述参考电信号为电压信号或电流信号。

本发明实施例提供的一种存储数据的读取方法及装置，该方法通过采用至少两个不同的读取参考电信号，读取存储器中的存储数据；在不同的参考电压对同一存储数据进行读取的结果相同时，判断出该存储数据为可靠数据；而在不同的参考电信号对同一存储数据进行读取的结果不相同时，判断出该存储数据为存疑数据。解决了现有技术中由于存储器自身原因和外界环境原因，致使对存储器中的存储数据读取不准确的技术问题，相对于现有的采用一个参考电信号读取存储数据的方法，能够通过采用至少两个不同的参考电信号对存储数据进行读取，并判断所读取存储数据的可靠性，从而能够采用简单的存储数据读取方法，使得存储器中存储数据读取的结果更加准确。

附图说明

图1是本发明实施例一提供的一种存储数据的读取方法的流程图；

图2是本发明实施例二提供的一种存储数据的读取方法的流程图；

图3是本发明实施例三提供的一种存储数据的读取装置的结构示意图；

图4是本发明实施例四提供的一种存储数据的读取装置的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。在不冲突的情况下，本发明实施例以及实施例中的特征可以相互组合。

实施例一

本实施例提供的存储数据的读取方法可以适用于对存储器中存储数据进行准确读取的应用场景。该存储数据的读取方法可采用本发明实施例提供的存储数据的读取装置来执行，该装置可由软件和/或硬件来实现。图1是本发明实施例一提供的一种存储数据的读取方法的流程图。参见图1所示，本实施例提供的存储数据读取方法包括：

S110、获取至少两个不同的读取参考电信号。

具体的，写入存储器中的存储数据并不是直接的二进制数据“0”或“1”，而是与存储数据相关的电信号，该电信号可以是电压信号或电流信号。在读取存储器中的存储数据时，采用参考电信号与存储数据对应的电信号进行比较，并将比较的结果转换成二进制的数据“0”或“1”。其中，所采用的参考电信号例如可以为与存储数据对应的电压信号或电流信号。因此，在对存储器中存储数据进行读取时，应首先选择合适的参考电信号，以确保存储数据读取的准确性。

由于存取器的运行环境，以及存储器的结构对存储数据的储存具有一定的影响，当采用一个参考电信号读取存储数据时，可能致使所读取的存储数据与写入的存储数据不一致，因此可选用两个或多个参考电信号读取同一存储数据。在对存储数据读取前，应先获取至少两个不同的读取参考电信号，该至少两个不同的读取参考电信号具有一定的取值范围，该取值范围与存储器中的存储数据对应电信号的分布情况相关，通常读取参考电信号的选取在存储数据对应电信号中高电平信号与低电平信号中间值附近范围内。其中，至少两个不同的读取参考电信号是指两个或两个以上读取参考电信号，且各个读取参考电信号均不相同。当存储器中的存储数据为电压信号时，读取参考电信号为参考电压，所获取的读取参考电信号例如可以为3个电压值不同的参考电压，即第一参考电压V1、第二参考电压V2、以及第三参考电压V3。

本实施例仅示例性的以参考电压信号为例进行说明，该读取参考电信号还可以为参考电流信号，且读取参考电信号的个数为至少两个，即可以为两个或两个以上，不限于上例中的三个读取参考电信号，其选取方式和技术原理与上述举例相同，在此不再赘述。同时，本实施例中的所有举例皆为示例性的举例，并不代表本发明实施例的全部内容。

S120、分别通过所述至少两个不同的读取参考电信号读取所述存储器中的存储数据。

具体的，读取参考电信号选取完成后，采用读取参考电信号读取存储器中的存储数据，即将存储数据对应的电信号与读取参考信号进行比较的过程。其中，当读取参考电信号大于存储器中的存储数据对应的电信号时，则认为存储器中的存储数据对应的是低电平，存储数据的读取结果对应的二进制数据为“0”；当读取参考电信号小于存储器中存储数据对应的电信号时，则认为存储器中的存储数据对应的是高电平，存储数据的读取结果对应的二进制数据为“1”。由于读取参考电信号为至少两个不同的参考电信号，并通过不同的读取参考电信号分别读取存储器中的存储数据。如上例中分别采用第一参考电压V1、第二参考电压V2、以及第三参考电压V3读取存储器中的存储数据。在读取存储器中的存储数据时，可先采用第一参考电压V1读取存储器中的存储数据，并将存储数据的读取结果记为第一读取结果；再采用第二参考电压V2读取存储器中的存储数据，并将存储数据的读取结果记为第二读取结果；最后采用第三参考电压V3读取存储器中的存储数据，并将存储数据的读取结果记为第三读取结果。本实施例仅示例性的以三个参考电压信号为例，读存储数据的读取进行说明，该参考电信号还可以为电流信号，读取方式与参考电压信号的方法相同，在此不再赘述。

S130、判断通过所述至少两个不同的读取参考电信号读取所述存储器中的同一存储数据的读取结果是否均相同；若是，则执行S131；否则，执行S132。

S131、读取的所述存储器中的存储数据为可靠数据；

S132、读取的所述存储器中的存储数据为存疑数据。

具体的，由于存储器中的存储数据读取过程为存储数据对应的电信号与读取参考电信号进行比较的过程，当采用至少两个不同的读取参考电信号读取存储器中的同一个存储数据时，其读取结果可能相同或不同。当采用至少两个不同的读取参考电信号读取存储器中同一存储数据的读取结果相同时，即都为高电平或都为低电平，认为存储器中的存储数据为可靠数据，可直接运行；当采用至少两个不同的读取参考电信号读取存储器中同一存储数据的读取结果不相同时，即其中至少一个读取参考电信号的读取结果为高电平，而其余的读取参考电信号的读取结果为低电平，认为所读取的存储数据为存疑数据。

示例性的，如上例中采用第一参考电压V1读取存储器中的存储数据的读取结果记为第一读取结果，采用第二参考电压V2读取存储器中的存储数据的读取结果记为第二读取结果，采用第三参考电压V3读取存储器中的存储数据的读取结果记为第三读取结果。若第一读取结果、第二读取结果、以及第三读取存储器中的某一存储数据的结果相同，即采用第一参考电压V1、第二参考电压V2和第三参考电压V3与存储数据对应的参考电压比较的结果都为高电平或低电平时，第一读取结果、第二读取结果和第三读取结果都相同，对应的二进制数据都为“0”或“1”，则该存储数据为可靠数据；若第一读取结果、第二读取结果、以及第三读取存储器中的某一存储数据的结果相同，即可以为采用第一参考电压V1与存储数据对应的参考电压比较的结果为高电平，第一读取结果对应的二进制数据为“1”，而采用第二参考电压V2和第三参考电压V3与存储数据对应的参考电压比较的结果为低电平，第二读取结果和第三读取结果对应的二进制数据为“0”，则该存储数据为存疑数据。

本实施例提供的存储数据的读取方法通过采用至少两个不同的参考电信号对存储数据进行读取，并判断所读取存储数据的可靠性，从而能够采用简单的存储数据读取方法，使得存储器中存储数据读取的结果更加准确。

实施例二

本实施例在上述实施例的基础上进行了优化，提供了优选的在上述实施例的基础上在对存储器中的存储数据设置对应的校验位，具体为：在获取至少两个不同的读取参考电信号之前，对所述存储器中的存储数据组设置对应的校验位。同时，以及采用该校验位对存疑数据进行校验，具体为：获取所述存储数据组对应的校验位；根据所述校验位，对包括所述存疑数据的所述存储数据组进行校验。图2是本发明实施例二提供的一种存储数据的读取方法的流程图。如图2所示，本实施例提供的存储数据读取方法包括：

S210、对所述存储器中的存储数据组设置对应的校验位。

具体的，校验位与存储器中的存储数据相关，用于对存储数据的可靠性进行检验，本实施例中可以存储数据组为单位设置对应的校验位。在存储器中可将存储数据划分为不同的存储数据组，每个存储数据组对应一个或多个校验位，当该校验位为奇偶校验位时，每个存储数据组对应一个校验位即可。

示例性的，以校验位为奇偶校验位为例，对存储器中的存储数据组设置校验位。存储器中的存储数据划分方式可以为以存储单元为单位进行划分，即一个或多个存储单元为一组。其中，一个二进制位占据一个比特，8个比特作为一个存储单元，即可认为一个存储单元中可以存储8个二进制位的数据。当四个存储单元划分为一个存储数据组，一个存储数据组对应一个奇偶校验位，即在32个二进制位的存储数据之外再设置一个奇偶校验位。当该32个二进制位的每一位相加起来结果为奇数，则校验位就定义为二进制数据“1”，对应一高电平信号；反之，当该32个二进制位的每一位相加起来结果为偶数，则校验位就定义为二进制数据“0”，对应一低电平信号。

S220、获取至少两个不同的读取参考电信号；

S230、分别通过所述至少两个不同的读取参考电信号读取所述存储器中的存储数据；

S240、判断通过所述至少两个不同的读取参考电信号读取所述存储器中的同一存储数据的读取结果是否均相同；若是，则执行S241；否则，顺序执行S242、S250、S260。

S241、读取的所述存储器中的存储数据为可靠数据；

S242、读取的所述存储器中的存储数据为存疑数据。

S250、获取与所述存储数据组对应的校验位。

具体的，采用不同的读取参考电信号对存储器中的同一存储数据进行读取，当读取结果相同时，该存储数据为可靠数据；而当读取结果不相同时，该存储数据为存疑数据，需要对该存疑数据进一步地验证和纠错。其中，可采用存储数据组对应的校验位进行验证。如上例中，存储器中与存储数据组对应设置的校验位为奇偶校验位，则可对应获取各存储数据组对应的奇偶校验位。当存储数据组各二进制位相加的结果为奇数时，所获取的奇偶校验位为“1”；当存储数据组各二进制位相加的结果为偶数时，所获取的奇偶校验位为“0”。

S260、根据所述校验位，对包括所述存疑数据的所述存储数据组进行校验。

可选的，若根据所述校验位，对包括所述存疑数据的所述存储数据组校验成功，则所述存疑数据为可靠数据；或者，

若采用所述校验位，对包括所述存疑数据的所述存储数据组校验失败，则将所述存疑数据取反，并作为所述存疑数据的读取数据。

具体的，由于存储器中的存储数据组对应设置有校验位，而包括存疑数据的存储数据组的校验位可用于对包括存疑数据的存储数据组进行校验。如上例中，校验位为奇偶校验位。当采用其中一个读取参考电信号读取该存疑数据的结果为高电平，对应二进制数据“1”。此时，对包括存疑数据的存储数据组进行奇偶校验，将存储数据组中存储数据对应的二进制位和奇偶校验位相加，所得结果为偶数，则校验成功，该存疑数据的读取结果可靠，即该存疑数据为高电平；当将存储数据组中存储数据对应的二进制位和奇偶校验位相加，所得结果为奇数时，则校验失败，该存疑数据的读取结果不可靠，可将存疑数据取反后输出，作为该存疑数据的最终读取结果，从而实现对存疑数据的检错和纠错的过程。

本实施例提供的存储数据的读取方法，通过为存储器中的存储数据设置对应的校验位，以使得校验位和存储数据一同存储至存储器中，并采用相应的校验位对包括存疑数据的存储数据组进行校验，从而能够进一步确定存储数据的可靠性，使得存储器中存储数据读取的结果更加准确。

实施例三

本实施例还提供一种存储数据的读取装置，该装置可采用硬件和/或软件来实现，可以适用于对存储器中存储数据进行准确读取的应用场景。图3是本发明实施例三提供的一种存储数据的读取装置的结构示意图。如图3所示，该存储数据的读取装置包括：参考电信号获取模块10、存储数据读取模块20和读取结果判断模块30。

所述参考电信号获取模块10，用于获取至少两个不同的读取参考电信号。

所述存储数据读取模块20，用于分别通过所述至少两个不同的读取参考电信号读取所述存储器中的存储数据。

所述读取结果判断模块30，用于判断通过所述至少两个不同的读取参考电信号读取所述存储器中的同一存储数据的读取结果是否均相同；若是，则读取的所述存储器中的存储数据为可靠数据；否则，读取的所述存储器中的存储数据为存疑数据。

其中，至少两个不同的读取参考电信号可以为电压信号或电流信号，与存储数据对应即可。

本实施例通过采用至少两个不同的参考电信号对存储数据进行读取，并判断所读取存储数据的可靠性，从而能够采用简单的存储数据读取方法，使得存储器中存储数据读取的结果更加准确。

实施例四

本实施例在上述实施例的基础上进行了优化，提供了优选的在上述实施例的基础上，本发明实施例提供的存储数据的读取装置增加了校验位设置模块。图4是本发明实施例四提供的一种存储数据的读取装置的结构示意图。如图4所示，本实施例提供的存储数据的读取装置还设置有校验位设置模块40。该校验位设置模块40用于在获取至少两个不同的读取参考电信号之前，对所述存储器中的存储数据组设置对应的校验位。其中，对所述存储器中的存储数据组对应设置的校验位可以是奇偶校验位。

可选的，继续参看图4所示，本发明实施例提供的存储数据的读取装置还包括：校验位获取模块50和存疑数据校验模块60。

所述校验位获取模块50，用于获取所述存储数据组对应的校验位。

所述存疑数据校验模块60，用于根据所述校验位，对包括所述存疑数据的所述存储数据组进行校验。

可选的，所述存疑数据校验模块，具体用于：

若根据所述校验位，对包括所述存疑数据的所述存储数据组校验成功，则所述存疑数据为可靠数据；或者，

若根据所述校验位，对包括所述存疑数据的所述存储数据组校验失败，则将所述存疑数据取反，并作为所述存疑数据的读取数据。

本实施例提供的存储数据的读取装置，可执行本发明任意实施例所提供的存储数据的读取方法，具备执行该方法相应的功能模块和有益效果。未在上述实施例中详尽描述的技术细节，可参见本发明任意实施例所提供的存储数据的读取方法。

注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。