阅读说明：本技术 一种可追溯的qfn支架结构及设计方法 (Traceable QFN support structure and design method ) 是由 金若虚 于 2019-11-29 设计创作，主要内容包括：本发明公开了一种可追溯的QFN支架结构及设计方法,其涉及QFN封装技术领域。旨在解决现有QFN支架没有标记,无法追踪单颗支架在整条支架上的位置,对于追溯不良品和研究不良发生原因,造成很大困难的问题。其技术方案要点包括支架条,所述支架条包括若干颗支架,所述支架上设置有蚀刻标记,且所述支架条上,每个所述支架上的所述蚀刻标记均不相同。本发明能够相互区分和显示单颗支架在整条支架上的位置,从而能够追溯不良品和研究不良发生原因,提升品质管理水准。(The invention discloses a traceable QFN bracket structure and a design method, and relates to the technical field of QFN packaging. The problem of current QFN support do not have the mark, can't track the position of single support on whole strip support, to tracing back defective products and study bad emergence reason, cause very big difficulty is solved to the purpose. The technical scheme is characterized by comprising a support strip, wherein the support strip comprises a plurality of supports, etching marks are arranged on the supports, and on the support strip, each etching mark on each support is different. The invention can distinguish and display the positions of the single brackets on the whole bracket, thereby tracing defective products and researching the causes of defective products and improving the quality management level.)

一种可追溯的QFN支架结构及设计方法

技术领域

本发明涉及QFN封装技术领域，更具体地说，它涉及一种可追溯的QFN支架结构及设计方法。

背景技术

QFN(Quad Flat No-lead Package，方形扁平无引脚封装)是一种无引脚封装，呈正方形或矩形，封装底部中央位置有一个大面积裸露焊盘用来导热，围绕大焊盘的封装***四周有实现电气连结的导电焊盘。

考虑到QFN金属支架的通用性，单颗支架上没有多余的空间来设计放置相应的标记。

但是，QFN金属支架上没有标记，则整条支架切单后，不能追踪单颗支架在整条支架上的位置，对于追溯不良品和研究不良发生原因，造成很大困难。

发明内容

针对现有技术存在的不足，本发明的目的之一在于提供一种可追溯的QFN支架结构，其能够相互区分和显示单颗支架在整条支架上的位置，从而能够追溯不良品和研究不良发生原因，提升品质管理水准。

为实现上述目的，本发明提供了如下技术方案：

一种可追溯的QFN支架结构，包括支架条，所述支架条包括若干颗支架，所述支架上设置有蚀刻标记，且所述支架条上，每个所述支架上的所述蚀刻标记均不相同。

进一步地，所述蚀刻标记包括若干蚀刻点，且所述蚀刻标记之间通过所述蚀刻点的数量和位置排布组合进行区分。

进一步地，所述蚀刻点为凹槽。

进一步地，所述凹槽的直径大于0.08mm，且小于0.12mm。

进一步地，所述凹槽的深度大于0.08mm，且小于0.12mm。

进一步地，所述蚀刻点为通孔。

进一步地，所述通孔的直径大于0.20mm，且小于0.24mm。

本发明的另一目的在于提供一种可追溯的QFN支架设计方法，包括在支架条的单颗支架上设置蚀刻标记，且使每颗支架上的蚀刻标记均不相同；蚀刻标记包括若干蚀刻点，在支架上定义多个用于设置蚀刻点的位置，蚀刻标记之间通过蚀刻点的数量和位置排布组合进行区分；支架封装完成后，对出现问题的封装体进行X光照射，得到支架的X光照片，通过X光照片识别出支架上的蚀刻标记，并由此确定该支架在支架条上的位置。

进一步地，所述支架上用于设置蚀刻点的位置包括四条呈长方形排布的单边，每个单边上定义有多个点位置。

进一步地，所述蚀刻点为凹槽或者通孔。

综上所述，本发明具有以下有益效果：

1、在支架条的每颗支架上分别设置均不相同的蚀刻标记，能够对支架相互区分，并显示单颗支架在支撑条上位置，从而能够追溯不良品和研究不良品发生的原因，提升品质管理水准；

2、蚀刻点尺寸小，且排布分散，从而不会影响支架的通用性；

3、在X光照片上可以明显识别出支架上的蚀刻标记，从而能够保证准确性。

附图说明

图1为实施例1中支架的结构示意图；

图2为实施例2中支架的结构示意图；

图3为实施例3中支架的结构示意图；

图4为实施例3中支架的X光照片；

图5为实施例4中支架的结构示意图；

图6为实施例4中支架的X光照片。

图中：1、支架；2、蚀刻点。

具体实施方式

以下结合附图对本发明作进一步详细说明。

本具体实施例仅仅是对本发明的解释，其并不是对本发明的限制，本领域技术人员在阅读完本说明书后可以根据需要对本实施例做出没有创造性贡献的修改，但只要在本发明的权利要求范围内都受到专利法的保护。

实施例1：

一种可追溯的QFN支架结构，参照图1，其包括支架条(附图中未示出)，支架条包括若干颗支架1，支架1上设置有蚀刻标记，且支架条上，每个支架1上的蚀刻标记均不相同；蚀刻标记包括若干蚀刻点2，且蚀刻标记之间通过蚀刻点2的数量和位置排布组合进行区分；本实施例中蚀刻点2为半蚀刻形成的凹槽，其中凹槽的直径大于0.08mm，且小于0.12mm，凹槽的深度大于0.08mm，且小于0.12mm，本实施例中凹槽的直径和深度均为0.10mm。

实施例2：

一种可追溯的QFN支架结构，参照图2，与实施例1的区别在于，本实施例中支架1上的蚀刻点2为全蚀刻形成的通孔，其中通孔的直径大于0.20mm，且小于0.24mm，本实施例中通孔的直径为0.22mm；同时，本实施例中支架1的整体结构与实施例1中支架1的整体结构不相同，但没有影响，即本发明的创新点适用于各种结构的支架1。

实施例3：

一种可追溯的QFN支架设计方法，其包括在支架条的单颗支架上设置蚀刻标记，且使每颗支架上的蚀刻标记均不相同；蚀刻标记包括若干蚀刻点，在支架上定义多个用于设置蚀刻点的位置，蚀刻标记之间通过蚀刻点的数量和位置排布组合进行区分；支架封装完成后，对出现问题的封装体进行X光照射，得到支架的X光照片，通过X光照片识别出支架上的蚀刻标记，并由此确定该支架在支架条上的位置。

参照图1和图2，支架1上用于设置蚀刻点2的位置包括四条呈长方形排布的单边，每个单边上定义有多个点位置，点位置分散式的设计能够保证支架的通用性；例如，其中两条相邻的单边上分别设置有三个点位置，共计六个，分别为H1、H2、H3、H4、H5和H6，另外两条相邻的单边上分别设置有两个点位置，共计四个，分别为L1、L2、L3和L4；每个支架1上可以设置蚀刻点2的数量和点位置均为10个，则蚀刻点2的数量和点位置可以形成很多组合，进而形成很多不同的蚀刻标记，用于对支架条上的单颗支架1进行区分识别。

参照图3，本实施例中支架1上在H2、H3、H4、H6以及L4的点位置处设置了蚀刻点2，且蚀刻点2为半蚀刻形成的凹槽；该支架1封装完成后，通过X光照射后其X照片如图4所示，通过X照片可以明显识别出该颗支架1的蚀刻标记，进而可以追溯其在支架条上的位置。

实施例4：

参照图5，本实施例中支架1上在H6、L1以及L3的点位置处设置了蚀刻点2，且蚀刻点2为全蚀刻形成的通孔；该支架1封装完成后，通过X光照射后其X照片如图6所示，通过X照片可以明显识别出该颗支架1的蚀刻标记，进而可以追溯其在支架条上的位置。