阅读说明：本技术 显示面板、电子设备以及检测方法 (Display panel, electronic device and detection method ) 是由 吴蕴泽 于 2019-08-30 设计创作，主要内容包括：本发明提供一种显示面板、电子设备以及检测方法,显示面板包括：显示膜层,所述显示膜层包括依次堆叠的基板、驱动器件层以及发光功能层,所述显示膜层内具有通孔,位于所述通孔周围的所述显示膜层作为待检测区；裂纹检测电路,所述裂纹检测电路包括位于所述待检测区的显示膜层内且位于所述通孔周边的至少一条导电线路,所述导电线路包括相对的第一端以及第二端。本发明实施例能够及时有效的将通孔周围的显示膜层内的裂纹检出。(The invention provides a display panel, an electronic device and a detection method, wherein the display panel comprises: the display film layer comprises a substrate, a driving device layer and a light-emitting function layer which are sequentially stacked, a through hole is formed in the display film layer, and the display film layer positioned around the through hole is used as a region to be detected; the crack detection circuit comprises at least one conductive line which is positioned in the display film layer of the area to be detected and positioned on the periphery of the through hole, and the conductive line comprises a first end and a second end which are opposite. The embodiment of the invention can effectively detect the cracks in the display film layer around the through hole in time.)

显示面板、电子设备以及检测方法

技术领域

本发明实施例涉及显示技术领域，特别涉及一种显示面板、电子设备以及 检测方法。

背景技术

手机、平板电脑等终端设备除包括显示屏外，还通常具有摄像头、扬声器、 听筒等功能器件。随着终端设备不断智能化和移动化，终端设备的功能不断丰 富，其内置的功能器件也越来越多。

为了提高终端设备的显示屏占比，通常在显示区开孔用于内置功能器件。 然而，目前的终端设备仍存在可靠性问题。

发明内容

本发明提供一种显示面板、电子设备以及检测方法，提高电子设备的可靠 性。

为解决上述问题，本发明实施例提供一种显示面板，包括：显示膜层，所 述显示膜层包括依次堆叠的基板、驱动器件层以及发光功能层，所述显示膜层 内具有通孔，位于所述通孔周围的所述显示膜层作为待检测区；裂纹检测电路， 所述裂纹检测电路包括位于所述待检测区的显示膜层内且位于所述通孔周边的 至少一条导电线路，所述导电线路包括相对的第一端以及第二端。

如此，裂纹检测电路可以检测出通孔周围的待检测区内是否具有裂纹。具 体地，由于待检测区设置有环绕通孔的导电线路，通过向第一端和/或第二端输 入检测电信号，可以获知导电线路是否断路，若导电线路断路则说明待检测区 的显示膜层内具有裂纹；或者，还可以根据第一端与第二端之间的导电线路的 电学特性，获取导电线路的电阻是否发生变化，从而获知导电线路内是否有裂 纹，若导电线路内有裂纹则说明待检测区的显示膜层内具有裂纹。

另外，所述裂纹检测电路还包括：第一引出线路，所述第一引出线路与所 述第一端连接；第二引出线路，所述第二引出线路与所述第二端连接；优选的， 所述导电线路的宽度为2微米-200微米；所述导电线路的厚度为500埃～5000 埃。如此，导电线路的机械强度适中，保证导电线路跟随通孔周边其他膜层出 现裂纹的概率更高，从而有利于进一步的提高通孔周边裂纹检测准确度。

另外，所述导电线路的数量为一条；优选的，所述第一端与所述第二端之 间的距离大于等于2μm且小于等于20μm。第一端与第二端之间的距离适中，避 免了第一端与第二端过近产生的信号干扰问题，防止信号干扰影响裂纹检测效 果；且第一端与第二端距离适中，位于第一端与第二端之间的待检测区的显示 膜层出现裂纹时能够被及时检出，降低裂纹漏检概率。

另外，所述导电线路的数量为N条，N≥2，且所述N条导电线路顺次环绕 设置于所述通孔周边；优选的，相邻所述导电线路之间的距离大于等于2μm且 小于等于20μm。

另外，所述导电线路与所述通孔侧壁之间的最小距离大于等于10μm且小于 等于1000μm。

另外，所述裂纹检测电路的数量为多个，且每一所述裂纹检测电路设置在 所述待检测区的显示膜层的不同层位置；优选的，所述显示膜层包括金属层和 无机层，所述裂纹检测电路设置于金属层和/或无机层。

另外，所述显示膜层内具有数据线，所述裂纹检测电路与所述数据线的材 料相同；和/或，所述显示膜层内具有栅极线，所述裂纹检测电路与所述栅极线 的材料相同；和/或，所述显示膜层内具有阳极，所述裂纹检测电路的材料与所 述阳极的材料相同；和/或，所述显示膜层内具有阴极，所述裂纹检测电路的材 料与所述阴极的材料相同；和/或，所述显示膜层内具有阵列线路层，所述导电 检测线路的材料与所述阵列线路层的材料相同；和/或，所述显示膜层内具有触 控线路，所述导电检测线路的材料与所述触控线路的材料相同。

相应的，本发明实施例还提供一种电子设备，包括上述的显示面板；还包 括辅助部件，所述辅助部件的位置与所述通孔的位置相对应。

相应的，本发明实施例还提供一种检测方法，应用于上述的显示面板，包 括：对所述裂纹检测电路进行检测，获取所述导电线路的电学特性；基于检测 的所述电学特性，判断所述待检测区的显示膜层是否具有裂纹。

另外，所述对所述裂纹检测电路进行检测，包括：向第一端和/或者第二端 提供输入电信号；检测所述第一端和/或者第二端的输出电信号。

与现有技术相比，本发明实施例提供的技术方案具有以下优点：

上述技术方案中，通过在通孔周围的显示膜层内设置导电线路，该导电线 路用于构成裂纹检测电路，采用该裂纹检测电路能够及时有效的将通孔周围的 显示膜层内的裂纹检测出来，从而避免将有裂纹的电子设备出货给客户，提高 电子设备的可靠性。

附图说明

一个或多个实施例通过与之对应的附图中的图片进行示例性说明，这些示 例性说明并不构成对实施例的限定，除非有特别申明，附图中的图不构成比例 限制。

图1为本发明实施例提供的显示面板的一种俯视结构示意图；

图2为图1中沿CC1方向的剖面结构示意图；

图3为图1中区域aa的放大示意图；

图4为本发明实施例提供的显示面板的另一种俯视结构示意图；

图5为本发明实施例提供的显示面板的又一种俯视结构示意图；

图6为本发明实施例提供的显示面板的再一种俯视结构示意图；

图7为本发明实施例提供的检测方法的流程示意图。

具体实施方式

由背景技术可知，目前的终端设备存在可靠性问题。

分析发现，在终端设备的显示区开孔形成通孔后，存在通孔周围膜层出现 裂纹的问题，且该裂纹难以被检测出；而具有裂纹问题的终端设备出货至用户 手中后，将出现可靠性问题，影响终端设备的性能。此外，研究发现，当终端 设备的显示屏为柔性显示屏时，上述的裂纹问题尤其显著。

为解决上述问题，本发明实施例提供一种显示面板，显示膜层内具有用于 放置辅助部件的通孔，通孔周围的显示膜层作为待检测区，且显示面板包括用 于检测待检测区的显示膜层是否有裂纹的裂纹检测电路，裂纹检测电路包括至 少一条导电线路，导电线路位于待检测区的显示膜层内且位于通孔周边。通过 检测裂纹检测电路中的导电线路的电学特性，来判断通孔周围的待检测区的显 示膜层内是否具有裂纹。

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对 本发明的各实施例进行详细的阐述。然而，本领域的普通技术人员可以理解， 在本发明各实施例中，为了使读者更好地理解本申请而提出了许多技术细节。 但是，即使没有这些技术细节和基于以下各实施例的种种变化和修改，也可以 实现本申请所要求保护的技术方案。

图1为本发明实施例提供的显示面板的一种俯视结构示意图，图2为图1 中沿CC1方向的剖面结构示意图。

参考图1及图2，显示面板包括：显示膜层101，显示膜层101包括依次堆 叠的基板111、驱动器件层121以及发光功能层131，显示膜层101内通孔10， 且通孔10周围的显示膜层作为待检测区I；裂纹检测电路102，裂纹检测电路 102包括位于待检测区I的显示膜层101内且位于通孔10周边的至少一条导电 线路112，导电线路112包括相对的第一端A以及第二端B。

以下将结合附图对本实施例提供的显示面板进行详细说明。为了便于图示 和说明，在图1中以虚线示意出待检测区I的边界。

显示面板可以为OLED显示面板、LCD显示面板、LED显示面板或者 Micro-LED显示面板。以显示面板为OLED显示面板作为示例，OLED显示面 板可以为顶发光显示面板也可以为底发光显示面板。

本实施例中，显示面板应用于柔性显示装置中，相应的基板111为柔性基 底，柔性基底的材料为聚乙烯(PE)、聚丙烯(PP)、聚苯乙烯(PS)、聚对苯二 甲酸乙二醇酯(PET)、聚对萘二甲酸乙二醇酯(PEN)或者聚酰亚胺(PI)。基 板111还可以为超薄玻璃基板，超薄玻璃基板的厚度小于50μm。

可以理解的是，基板也可以为玻璃基板等刚性基板。

驱动器件层121为发光功能层131提供驱动信号。

本实施例中，驱动器件层121内具有薄膜晶体管(TFT，Thin Film Transistor)。驱动器件层121包括多层膜层结构，具体地，驱动器件层121包括：有源层； 位于有源层上的栅极结构，该栅极结构包括栅介质层以及位于栅介质层上的栅 电极层；位于栅极结构一侧的有源层内的源区(source)，位于栅极结构另一侧 的有源层内的漏区(drain)；覆盖栅极结构以及有源层的介质层；贯穿介质层且 与源区电连接的源极；贯穿介质层且与漏区电连接的漏极。

可以理解的是，驱动器件层121还可以包括其他膜层结构，上述只是列举 了最常见的驱动器件层的结构作为示例。

本实施例中，以显示面板为顶发光显示面板作为示例，发光功能层131包 括依次堆叠的阳极、发光单元以及阴极。

阳极的材料包括ITO(氧化铟锡)、IZO(氧化锌锡)或者Ag。本实施例中， 阳极为叠层结构，具体为ITO层/Ag层/ITO层的叠层结构。

发光单元包括：空穴注入层(HIL，Hole Inject Layer)、位于空穴注入层上 的空穴传输层(HTL，Hole Transport Layer)、位于空穴传输层上的发光层(EML， EmittingLayer)、位于发光层上的电子传输层(ETL，Electron Inject Layer)以及 位于电子传输层上的电子注入层(EIL，Electron Inject Layer)。

在其他实施例中，所述发光单元可以为空穴传输层、发光层和电子传输层 的三层结构，或者，发光单元还可以为发光层的单层结构，或者，发光单元还 可以为双层结构。

本实施例中，阴极的材料为Ag/Mg合金。在其他实施例中，阴极的材料还 可以为Al、Li、Ca、In、ITO或者IZO。

本实施例中，通孔10贯穿发光功能层131以及驱动器件层121，且通孔10 底部位于基板111内。在其他实施例中，通孔底部也可以为位于驱动器件层内 部；或者，通孔底部也可以为与驱动器件层与基板界面处；或者，通孔还可以 贯穿基板。

显示面板还可以包括：薄膜封装层(TFE)，该薄膜封装层用于对发光功能 层131提供密封保护作用；保护盖板(cover lens)。

本实施例中，以通孔10横截面形状为圆形作为示例。在其他实施例中，通 孔横截面形状也可以为方形、六边形或椭圆形等其他合适形状。

由于在显示膜层101内具有通孔10，受到该通孔10制作工艺的影响待检测 区I的显示膜层101内容易出现裂纹，裂纹有可能位于基板111、驱动器件层121 或者发光功能层131的任意膜层内，且该裂纹不容易被发现。其中，待检测区I 的大小可以进行灵活设置，例如，当形成通孔10的工艺相较而言容易产生裂纹 时则待检测区I设置的大一些，当形成通孔10的工艺较为温和时则待检测区I 可以设置的小一些。

裂纹检测电路102用于检测待检测区I的显示膜层101内是否有裂纹。具体 地，在制作通孔10之前，先制作该裂纹检测电路101；在制作通孔10的工艺步 骤中，若待检测区I的显示膜层101具有裂纹，则相应的位于待检测区I的导电 线路112受到该裂纹的影响相应会造成断路，或者说，当待检测区I的显示膜层 101内具有裂纹时，位于待检测区I的导电线路112中相应也具有裂纹；通过检 测导电线路112在制作通孔10前后的电学性能上是否表现出差异，以判断所述 待检测区I的显示膜层101是否具有裂纹，从而及时有效的将显示膜层101中的 裂纹检测出。

具体地，当导电线路112中的裂纹使导电线路112完全断裂时，导电线路 112在电学性能上表现出断路特性，因此通过检测导电线路112是否断路，以及 时有效的将显示膜层101中的裂纹检测出。

当导电线路112中出现裂纹但是导电线路112未完全断裂时，在制作通孔 10之前导电线路112表现出的电学特性与制作通孔10之后导电线路112表现出 的电学特性也有所不同，根据制作通孔10前后的电学特性差异，判断导电线路 112中是否有裂纹，以及时有效的将显示膜层101中的裂纹检测出。

图3为图1中区域aa的放大示意图。

导电线路112的宽度W为2微米-200微米，例如为10μm、20μm、70μm、 100μm、130μm、160μm。本实施例中，导电线路112的宽度W为5μm-50μm， 如此，导电线路112具有的宽度适中，因而当导电线路112周围的显示膜层101 内出现裂纹时，该裂纹会很容易造成导电线路112断裂，因而导电线路112在 电学性能上表现出差异，从而使得裂纹更容易被检测出；并且，由于导电线路 112的宽度W适中，使得制造导电线路112的工艺难度较低。

导电线路112的厚度D不宜过薄，也不宜过厚。若导电线路112的厚度D 过薄，导电线路112的机械强度过弱，则在制作通孔10过程中导电线路112易 先于其他膜层产生裂纹，也就是说，存在其他膜层中未出现裂纹但是导电线路 112中产生裂纹而断路的风险，影响检测的准确性；若导电线路112的厚度D过 厚，相应导电线路112的机械强度高，则在制作通孔10过程中即使其他膜层出 现裂纹也存在导电线路112中未出现的裂纹的风险。为此，本实施例中，导电 线路112的厚度D为500埃～5000埃，例如为1000埃、1500埃、2600埃、4000埃。可以理解的是，本实施例中，以导电线路112的剖面形状为方形作为示例 以说明导电线路112的宽度W和厚度D，导电线路112的剖面形状指的是，导 电线路112在沿平行于显示膜层101堆叠方向的剖面上的剖面图形。导电线路 112的剖面形状还可以为圆形，即导电线路112为圆柱形导电线，为提高裂纹检 测电路102检测裂纹的准确性，导电线路112的剖面直径为400埃～5000埃，例 如为1000埃、1500埃、2600埃、4000埃。在其他实施例中，导电线路的剖面 形状还可以为其他规则形状或者不规则形状。

更具体地，每一条导电线路112具有相对的第一端A和第二端B，通过向 第一端A提供输入电信号，并采集第二端B的输出电信号，基于所述输入电信 号以及输出电信号，判断导电线路112是否断路。其中，输入电信号以及输出 电信号可以均为电压信号，或者，输入电信号以及输出电信号可以均为电流信 号。或者，向第一端A提供第一电压信号，向第二端B提供第二电压信号，使 得导电线路112的第一端A与第二端B之间具有电压差，且采集导电线路112 的第一端A或者第二端B的电流，基于电压差以及电流，判断导电线路112是 否断路。

为了便于向导电线路112提供检测电信号或者采集检测电信号，裂纹检测 电路102还可以包括：第一引出线路122，第一引出线路122与第一端A连接； 第二引出线路132，第二引出线路132与第二端B连接。

第一引出线路122一端与第一端A连接，另一端与第一端口21连接；第二 引出线路132一端与第二端B连接，另一端与第二端口22连接。其中，第一端 口21和第二端口22用于提供输入电信号或者采集输出电信号。

本实施例中，第一引出线路122以及第二引出线路132的材料与导电线路 112的材料相同，且第一引出线路122、第二引出线路132以及导电线路112在 同一道工艺步骤中制作。

第一引出线路122以及第二引出线路132可以为直线型导线。如此，第一 引出线路122以及第二引出线路132的长度短，有利于降低检测电信号经由第 一引出线路122以及第二引出线路132的电损耗，降低对于判断导电线路112 是否断路的干扰。

本实施例中，如图1所示，导电线路112的数量为一条，以导电线路112 环绕通孔10一圈作为示例，可以理解的是，导电线路112具有相对的第一端A 以及第二端B，因此绕通孔10一圈的导电线路112并未构成密封环。

第一端A与第二端B之间的距离不宜过小，也不宜过大。若第一端A与第 二端B之间的距离过小，则第一端A与第二端B之间具有信号干扰问题；若第 一端A与第二端B之间的距离过大，则位于第一端A与第二端B之间的待检测 区I的显示膜层101出现裂纹时难以被检出，易出现裂纹漏检问题。为此，本实 施例中，导电线路112环绕通孔10一圈时，第一端A与第二端B之间的距离大 于等于2μm且小于等于20μm，例如，第一端A与第二端B之间的距离为5μm、 8μm、12μm。图3为显示面板的另一种俯视结构示意图，如图3所示，导电线 路112的数量为一条时，导电线路112环绕通孔10的圈数还可以大于1圈。由 于导电线路112环绕通孔10的圈数大于1圈，因而导电线路112能够对离通孔 10中心轴线不同距离处的显示膜层101的裂纹进行检测，有利于提高对于待检 测区I的显示膜层101是否具有裂纹的检测结果的准确性。

可以理解的是，如图4，为了便于第一引出线路122以及第二引出线路132 的设置，导电线路112中具有与第一端A处于同一圈且与第一端A相对的连接 部a，自第一端A指向连接部a的导电线路112围成第一圈且绕第一方向设置， 与第一圈相邻的第二圈的导电线路112自连接部a绕第二方向设置，且第二方向 与第一方向相反，第一方向为顺时针方向或者逆时针方向，第二方向为顺时针 方向或者逆时针方向。

图5为显示面板的又一种俯视结构示意图，图6为显示面板的再一种俯视 结构示意图，如图5所示，导电线路112的数量为2条，且2条导电线路112 顺次设置环绕通孔10。或者，如图6所示，导电线路112的数量为N条，N≥2， 且N条导电线路112顺次环绕设置于通孔10周边。

由于导电线路112的数量大于或等于2条，因而可以根据每条导电线路112 是否断路来判断该导电线路112对应的待检测区I的显示膜层101内是否有裂 纹，从而有利于检测出具有裂纹的显示膜层101的大致位置。可以理解的是， 导电线路112的条数越多，则相应能够检测出导电线路112中裂纹的位置更准 确。

对于导电线路112的数量为N条而言的方案而言，相邻导电线路112之间 的距离不宜过小，也不宜过大。若相邻导电线路112之间的距离过小，则相邻 导电线路112之间发生电信号干扰问题；若相邻导电线路112之间的距离过大， 则容易对待检测区I的显示膜层101的裂纹造成漏检。为此，相邻导电线路112 之间的距离大于等于2μm且小于等于20μm。

另外，离通孔10侧壁越近，显示膜层101内出现裂纹的概率越高，因此为 了提高显示膜层101内的裂纹被检测出的准确率，导电线路112与通孔10侧壁 之间的最小距离小于或等于1000μm，例如该最小距离为800μm、600μm、400μm、 200μm、80μm、50μm。可以理解的是，导电线路112与通孔10侧壁之前的最小 距离指的是，距离通孔10中心轴线最近的导电线路与通孔10侧壁之间的距离。

此外，若导电线路112与通孔10侧壁之间的最小距离过大，则形成通孔10 的工艺有可能会直接对导电线路112造成损伤，使得导电线路112中出现断路 的原因是通孔10的形成工艺直接带来的而不是由于显示膜层101出现裂纹导致 的，在这一情况下，有可能存在导电线路112断路但是实际上待检测区I的显示 膜层101中没有裂纹的情形。为此，为了避免通孔10的形成工艺对导电线路112 造成的直接损伤，提高裂纹检测准确度，导电线路112与通孔10侧壁之间的最 小距离也不宜过小。本实施例中，导电线路112与通孔10侧壁之间的最小距离 大于或等于10μm。

也就是说，导电线路11与通孔10侧壁之间的最小距离大于等于10μm且小 于等于1000μm。

由于待检测区I的显示膜层101中不同层膜层区域均有可能出现裂纹，因此， 可以设置多个裂纹检测电路102，以且每一裂纹检测电路102设置在待检测区I 的显示膜层101的不同层位置，便于及时有效的检测出不同层膜层区域的显示 膜层101的裂纹。例如，显示膜层101包括金属层和无机层，相应的，裂纹检 测电路102设置于金属层和/或无机层，具体地，裂纹检测电路可以设置于金属 层，或者设置于无机层，或者既设置于金属层还设置于无机层。举例来说，金 属层可以为驱动器件层121的导电膜层；无机层可以为驱动器件层121内的无 机膜层，如层间介质层或者平坦化层；无机层还可以为像素限定层或者封装层等。

显示膜层101内具有多层用于实现不同导电功能的导电层，该导电层包括 数据线、栅极线、阳极、阴极等，因此可以利用金属层的制作工艺同时制作裂 纹检测电路102，无需额外增加工艺步骤。

例如，显示膜层101内具有数据线(data line)，该数据线用于提供数据信号， 裂纹检测电路102与数据线的材料相同，数据线用于向显示面板提供驱动信号。

例如，显示膜层101内具有栅极线，该栅极线用于提供扫描信号，裂纹检 测电路102与栅极线的材料相同，栅极线用于向栅极提供栅极控制信号。

例如，显示膜层101内具有阳极，该阳极为发光功能层131的阳极，裂纹 检测电路102与阳极的材料相同。例如，显示膜层101内具有阴极，该阴极为 发光功能层131的阴极，裂纹检测电路102与阴极的材料相同。

例如，显示膜层101内具有阵列线路层，裂纹检测电路102与阵列线路层 的材料相同。例如，显示膜层101内具有触控线路，裂纹检测电路102与触控 线路的材料相同。

可以理解的是，裂纹检测电路102具有多个时，多个裂纹检测电路102可 以为上述列举情况中的一种或者任意多种的组合。

本实施例提供一种结构性能优越的显示面板，通过在通孔周围的待检测区 的显示膜层内设置裂纹检测电路，能够有效及时的检出裂纹，防止具有裂纹的 显示面板出货至客户端。更具体地，当通孔周围的待检测区的显示膜层出现裂 纹时，相应的位于待检测区的导电线路的电学特性将发生变化例如出现断路等， 通过检测导电线路是否具有电学特性变化来判断显示膜层中是否具有裂纹。

相应的，本发明实施例还提供一种电子设备，包括上述的显示面板以及辅 助部件，且辅助部件的位置与通孔的位置相对应，具体地，外界光线可以经由 通孔到达辅助部件。例如，通孔为位于显示膜层内的盲孔时，辅助部件可以放 置于通孔底部。辅助部件可以为摄像头、听筒、超声波传感器或者红外传感器 等。

电子设备可以为手机、平板电脑、电视机、显示器、数码相框或者导航仪 等具有显示功能的产品或者部件。

相应的，本发明实施例还提供一种检测方法，应用于上述的显示面板。

图7为本发明实施例提供的检测方法的流程示意图。

参考图7，检测方法包括：对裂纹检测电路进行检测，获取导电线路的电学 特性。具体地，包括如下步骤：

步骤S1、向第一端和/或者第二端提供输入电信号。

步骤S2、检测第一端和/或者第二端的输出电信号。

具体地，在一实施例中，向第一端提供输入电信号，该输入电信号可以为 电压信号也可以为电流信号；采集第二端的输出电信号，该输出电信号类型与 输入电信号类型相同，即输出电信号和输入电信号均为电压信号或者均为电流 信号。

在另一实施例中，在第一端和第二端均提供输入电信号，该输入电信号为 电压信号，且第一端与第二端之间具有电压差；采集第一端或者第二端的输出 电信号，该输出电信号为电流信号。

以导电线路的电学特性为断路为例，当导电线路出现断路时，则表征显示 膜层内具有裂纹。

向第一端提供输入电压，检测第二端的输出电压，当输出电压小于等于电 压阈值时，认为裂纹检测电路断路，该电压阈值可以合理设置。向第一端提供 输入电流，检测第二端的输出电流，当输出电流小于等于电流阈值时，认为裂 纹检测电路断路，该电流阈值可以合理设置。

向第一端和第二端提供输入电压，且第一端与第二端之间具有电压差；检 测第一端或者第二端的输出电流；基于该电压差与输出电流，计算裂纹检测电 路的电阻值；当电阻值大于等于电阻阈值时，认为裂纹检测电路断路。

步骤S3、基于检测的电学特性，判断待检测区的显示膜层是否具有裂纹。

当裂纹检测电路断路时，判断待检测区的显示膜层具有裂纹。

上述以导电线路是否发生断裂作为判断显示膜层内是否有裂纹的标准，即， 只在制作通孔后进行电学特性的检测，基于检测结果判断显示膜层内是否具有 裂纹。

在其他实施例中，还可以在制作通孔前进行检测，获取第一检测结果，第 一检测结果表征导电线路的电学特性如电阻等；在制作通孔后进行检测，获取 第二检测结果，第二检测结果表征制作通孔后导电线路的电学特性如电阻；基 于第二检测结果与第一检测结果，分析导电线路的电学特性的改变，判断显示 膜层内是否具有裂纹。

举例来说，第一检测结果表征导电线路具有第一电阻值，第二检测结果表 征导电线路具有第二电阻值；当第二电阻值与第一电阻值之间的差值大于或等 于电阻阈值时，认为导电线路中具有裂纹。可以理解的是，该电阻阈值可以根 据检测精确度以及导电线路的材料形状进行合理设置，如电阻阈值可以为0、0.5 Ω、5Ω等。

本发明实施例提供的检测方法，通过检测导线线路的电学特性来检测通孔 周围的显示膜层内是否有裂纹，使得显示膜层内的裂纹能够被及时有效的检测 出，提高显示面板或者包含该显示面板的电子设备的可靠性。

本领域的普通技术人员可以理解，上述各实施方式是实现本发明的具体实 施例，而在实际应用中，可以在形式上和细节上对其作各种改变，而不偏离本 发明的精神和范围。任何本领域技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内， 均可作各自更动与修改，因此本发明的保护范围应当以权利要求限定的范围为 准。